JPS5850307Y2 - 磁粉探傷装置 - Google Patents

磁粉探傷装置

Info

Publication number
JPS5850307Y2
JPS5850307Y2 JP8833579U JP8833579U JPS5850307Y2 JP S5850307 Y2 JPS5850307 Y2 JP S5850307Y2 JP 8833579 U JP8833579 U JP 8833579U JP 8833579 U JP8833579 U JP 8833579U JP S5850307 Y2 JPS5850307 Y2 JP S5850307Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flaw detection
magnetic particle
magnetic
light
magnetization
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP8833579U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS567057U (ja
Inventor
十二良 永田
鉄男 中村
和彦 藤原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Steel Corp filed Critical Nippon Steel Corp
Priority to JP8833579U priority Critical patent/JPS5850307Y2/ja
Publication of JPS567057U publication Critical patent/JPS567057U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPS5850307Y2 publication Critical patent/JPS5850307Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は磁粉探傷装置の改良に係るものである。
従来、紫外線によって発光する蛍光磁粉を用いる磁粉探
傷方式は、種々提案されており、その代表的なものとし
て、第1図に示すように無端状に形成されたコア一本体
1に複数個の巻線2−1゜2−2.2−3.2−4を施
し、該巻線2−1゜2−2..2−3.2−4間にそれ
ぞれ着磁部3−1.3−2.3−3.3−4を設けた磁
化装置Aが知られており、さらにこの磁化装置Aには、
コア一本体1の上方全周に反射板5を備えたランプ(ブ
ラックランプ)4たらなる照明具Bが施された構造のも
のが知られている。
そしてこの種の磁化装置Aを用いた磁粉探傷方式は磁化
装置Aで図示しない被検材を磁化しなかか、紫外線によ
り発光する蛍光磁粉を用いて被検材に散布し、欠陥部か
ら漏洩する磁束によって磁粉が吸着され、欠陥部に形成
される蛍光磁粉模様に紫外線を照射しながら目視検査が
行われる。
しかしながら、この方式においては被検材探傷面に可視
光線が存在すると、探傷面の性状(色むら)が現われ、
欠陥部の磁粉模様が著しく鮮明さを欠く要因となるため
に、一般には紫外線照射による探傷作業は遮光した室内
で行うか、あるいは夜間に実施しているのが現状である
。
従って、磁粉散布作業及び検出記録等の付随作業が非能
率的となり、また小さな欠陥の見落しなどの欠点があり
、さらには磁粉供給が手作業となる等、作業性が悪く複
数の人員で行うことがなされていた。
本考案は上述の欠点を解決するためになされたもので、
探傷作業の時期及び場所及び条件等の制約をなくし、か
つ検出を容易にし、省力化及び能率化を図ることを目的
とする磁粉探傷装置を提供するものである。
以下、本考案の実施例を図面に基いて説明する。
第2,3図はおいて11はコア一本体であって、このコ
ア一本体11には、はぼ等間隔毎に脚部が突出しており
、各脚部間の胴部には巻線12が施されており、着磁部
13と共に磁化装置A′を構成している。
B′は照明具であって、この照明具B′は前記コア一本
体11の上方全周に設けられており、ライト(ブラック
ライト)14と反射板15から構成されている。
16は磁化部組縁カバーであって、前記磁化装置A′の
全体を覆うものであって、この絶縁カバー16にはコ・
ネクター25と、取手17が付設されており、ふたこの
取手1Tには第2図で示すように磁化スイッチ30、磁
粉散布用スイッチ31.ライト切替スイッチ32等が設
けられている。
18は遮光壁であって、この遮光壁18は前記反射板1
5と、レンズ付き覗窓20を設けた上部フレーム37間
に伸縮自在に設けられている。
19は遮光壁18の調節治具であって、この調節治具1
9は前記上部フレーム37と、反射板18間に調整自在
に設けられており、調整ねじ22によって調節される。
21は照明用ライトであって、前記上部フレームの一角
に備えられており、探傷部の照明に用いられる。
23は磁粉供給ノズルであって、この磁粉供給ノズル2
3は電磁弁24を介して探傷部内へ挿通されている。
汀は磁化電源回路38、磁粉供給電源回路39、ライト
切替電源回路40等を内蔵する制御装置であって、この
制御装置え1には、主電源スイッチ28及びコネクター
25′及び26′等が設けられている。
亀」は磁粉供給装置であって、この磁粉供給装置亀」に
は撹拌機構36及びポンプ35等が内蔵されており、磁
粉吸入管33−1と、磁粉排出管33−2とから構成さ
れた磁粉供給管33が設けられ、前記電磁弁24に取付
けられている。
なお26は磁粉供給装置亀【側のコネクター、29゜2
9′は磁化装置A′と磁粉供給装置34を結ぶケーブル
である。
次に本考案の使用例を説明する。
先ず探傷に先立って、調整ねじ22をゆるめて調節治具
19により遮光壁18の高さを調節し適宜位置にセット
する。
次に取手17を持ち、被検材探傷面に磁化装置A′を設
置し、取手17に備えられたライト切替スイッチ32を
ブラックライト14側に切替え、ブラックライト14を
点灯させる(同時に照明ランプは消灯する)。
しかして取手17の磁化スイッチ30を押し、被検材を
磁化させながら、磁粉散布用スイッチ31を押すと電磁
弁24が作動して磁粉供給装置υ内の撹拌機構36及び
ポンプ35が作動し、磁粉が磁粉排出管33−2及び磁
粉供給ノズル23を経て探傷面へ散布される。
このようにして、被検材の欠陥は欠陥部から漏れる漏洩
磁束によって磁粉が吸着されて欠陥部に形成される磁粉
模様を目視確認することで検出されるので、紫外線によ
って発光する蛍光磁粉を用いた探傷作業が常時開るい場
所(可視光線の存在場面で行えると共に、探傷が確実に
かつ迅速に行え、また磁粉供給装置34を備えることに
より作業の省力化は勿論、関連する探傷作業の能率化が
図れる等の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案に用いられる磁化装置の一例を示す斜視
図、第2図は本考案の実施例を示す配置図、第3図は第
2図のX−X部を示す断面図である。 図において、A′:磁化装置、B′:照明具、11:コ
ア一本体、12:巻線、13:着磁部、14ニブラツク
ライト、15:反射板、16:絶縁カバー 17:取手
、18:遮光壁、19:調節治具、20:覗窓、21:
照明ライト、22:調整ねじ、23:磁粉供給ノズル、
24:電磁弁、25:コネクター、26:コネクター
えl:制御装置、28:主電源スイッチ、29:ケーブ
ル、30:磁化スイッチ、31:散布用スイッチ、32
:ランプ切替スイッチ、33:磁粉供給管、l:゛磁粉
供給装置、35:ポンプ、36:撹拌機構、37:上部
フレーム、38:磁化電源回路、39:磁粉供給電源回
路、40ニライト切替電源回路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 無端状に形成したコア本体11のほぼ等間隔毎に脚部を
    突出させ、各脚部間の胴部にそれぞれ巻線12を巻回し
    た磁気探傷用磁化装置に、前記コア本体11の上方全周
    に有効照射範囲を均一に照射できるように反射板15を
    備えたライト14からなる照明具を配置すると共に、該
    照明具の上方に沿って伸縮自在な遮光壁18を配設し、
    一方前記磁化装置に送電ケーブルを介して磁化、磁粉供
    給、ライト切替のための電源回路を内蔵した制御装置2
    7と、磁粉撹拌機構36及びポンプ35を内設した磁粉
    供給装置を付設した磁粉探傷装置。
JP8833579U 1979-06-29 1979-06-29 磁粉探傷装置 Expired JPS5850307Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8833579U JPS5850307Y2 (ja) 1979-06-29 1979-06-29 磁粉探傷装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8833579U JPS5850307Y2 (ja) 1979-06-29 1979-06-29 磁粉探傷装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS567057U JPS567057U (ja) 1981-01-22
JPS5850307Y2 true JPS5850307Y2 (ja) 1983-11-16

Family

ID=29321526

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8833579U Expired JPS5850307Y2 (ja) 1979-06-29 1979-06-29 磁粉探傷装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5850307Y2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0418933U (ja) * 1990-06-06 1992-02-18

Also Published As

Publication number Publication date
JPS567057U (ja) 1981-01-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4232971A (en) Integrating sphere type standard light source device
EP2280270A1 (en) Optical detection system of surface defects, in particular of an O-ring.
US4464708A (en) Lighting fixture
CN218298728U (zh) 一种孔内用散射环形光源以及带有环形光源的拍照设备
JP3184267B2 (ja) 磁粉探傷装置
KR200281305Y1 (ko) 자분탐상검사장치
CN205607418U (zh) 一种室内空气环境监测设备的显示装置
DE69730284D1 (de) Magnetisches Abschirmgehäuse für Photovervielfacher und Lichtwahrnehmungsgerät mit einem solchen Gehäuse
CN218268705U (zh) 一种mr检查室照明用无磁平板灯
CN117825382A (zh) 一种用于光伏胶膜的表面缺陷检测装置以及检测方法
JPH05232040A (ja) 外観検査用投光装置
JP4115753B2 (ja) 試料検査装置
CN108286673B (zh) 一种用于汽车轮毂安装孔视觉测量的光源
JPS6312488Y2 (ja)
JPH0635166Y2 (ja) プリント配線基板目視検査装置
CN224066668U (zh) 一种薄膜缺陷检测装置
CN217422966U (zh) 一种模拟天空的led灯具
JPH075121A (ja) 鋼材の表面きず検査方法
CN109115464A (zh) 一种新型机动车车灯照明检测装置
JPH04276536A (ja) 半導体検査装置
CN108871738A (zh) 一种机动车车灯照明快速检测装置
CN203202841U (zh) 自动光学检测用新型光源
JP3253942B2 (ja) 外観検査用投光装置
JPS57207853A (en) Lighting device for inspecting thin plate having semitransmission characteristics
JPH0424693Y2 (ja)