JPS5852298B2 - X線検出器列 - Google Patents
X線検出器列Info
- Publication number
- JPS5852298B2 JPS5852298B2 JP52064917A JP6491777A JPS5852298B2 JP S5852298 B2 JPS5852298 B2 JP S5852298B2 JP 52064917 A JP52064917 A JP 52064917A JP 6491777 A JP6491777 A JP 6491777A JP S5852298 B2 JPS5852298 B2 JP S5852298B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detector array
- ray detector
- ray
- array according
- dielectric sheet
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J47/00—Tubes for determining the presence, intensity, density or energy of radiation or particles
- H01J47/02—Ionisation chambers
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電離箱型のX線検出器に関するものである。
更に詳しく言えば、本発明はコンピユータ化されたX線
断層撮影システムにおいて使用すべき二次元的配列の高
圧電隣箱群から成る多室式X線検出器に関する。
断層撮影システムにおいて使用すべき二次元的配列の高
圧電隣箱群から成る多室式X線検出器に関する。
コンピユータ化されたX線断層撮影法に釦いては、X線
強度の空間分布を電気信号に変換し、次いでその電気信
号を処理して画像情報を得ることが必要である。
強度の空間分布を電気信号に変換し、次いでその電気信
号を処理して画像情報を得ることが必要である。
かかるシステムにむいて使用すべき検出器は、高度の空
間解像力をもってX線の電磁エネルギーを効率的に検出
するものでなければならない。
間解像力をもってX線の電磁エネルギーを効率的に検出
するものでなければならない。
X線断層撮影システムに釦ける情報速度は一般にX線検
出器の回復時間によって制限される。
出器の回復時間によって制限される。
それ故、回復時間が早く、感度が高く、かつ空間解像力
の大きいX線検出器を使用することが望ましいわけであ
る。
の大きいX線検出器を使用することが望ましいわけであ
る。
ここで提唱されるX線断層撮影システムは数百のかかる
X線検出器群を使用するものである。
X線検出器群を使用するものである。
このようなシステムを製造するための経済的な方法とし
ては、空間的に分離された多数のX線検出室を単一のア
センブリ中に組込んだ多室式構造を利用すればよい。
ては、空間的に分離された多数のX線検出室を単一のア
センブリ中に組込んだ多室式構造を利用すればよい。
コンピユータ化されたX線横軸断層撮影装置における強
度分布の測定のためには、電離箱列が通例使用される。
度分布の測定のためには、電離箱列が通例使用される。
かかる装置の典型的な応用例によれば、移動するX線源
から繰返してパルスが発信される。
から繰返してパルスが発信される。
その結果、同一平面内に位置しかつ検査中の人体を通過
する多数の独立した光路に沿ってX線エネルギーが透過
される。
する多数の独立した光路に沿ってX線エネルギーが透過
される。
人体を通って透過されたエネルギーを電離箱列にむいて
検出しかつディジタルコンピュータを用いて解釈すれば
、検査平面内にお−ける人体内部構造の横断面画像が得
られる。
検出しかつディジタルコンピュータを用いて解釈すれば
、検査平面内にお−ける人体内部構造の横断面画像が得
られる。
X線断層撮影法による典型的な診断作業の場合には、狭
い間隔をむいて配置されかつ人体のある領域を通過する
一連の実質的に平行な平面内の画像が求められる。
い間隔をむいて配置されかつ人体のある領域を通過する
一連の実質的に平行な平面内の画像が求められる。
継続的に走査を行うためには、人体を通る軸線に沿って
患者またはX線装置を並進させればよい。
患者またはX線装置を並進させればよい。
こうして求められた一群の画像から人体内部構造を三次
元的に復元することができる。
元的に復元することができる。
コノようなX線断層撮影システムにおける画像の形成速
度は、言う1でもなく、機構の物理的回転釦よび並進を
達成するのに要する時間によって制限される。
度は、言う1でもなく、機構の物理的回転釦よび並進を
達成するのに要する時間によって制限される。
典型的には、単一平面内にふ・いて画像を形成するのに
要するデータを蓄積するために1秒以上の時間が必要と
される。
要するデータを蓄積するために1秒以上の時間が必要と
される。
それ故、大きな人体領域の復元を行う場合には、検査作
業中にむける患者またはその体内器官の動きによって混
乱の生じることが多い。
業中にむける患者またはその体内器官の動きによって混
乱の生じることが多い。
さて本発明に従えば、X線の電磁エネルギーは大きい原
子量を持った高圧気体中に耘いて検出される。
子量を持った高圧気体中に耘いて検出される。
X線光子が気体と作用し合えば、電界の存在下において
光電子−イオン対が生成する。
光電子−イオン対が生成する。
こうして生成した電子は正に帯電した二次元的配列の電
極上に集められる結果、それらの電極付近に於けるX線
強度に比例した電流が生じる。
極上に集められる結果、それらの電極付近に於けるX線
強度に比例した電流が生じる。
本発明の一実施例は直線状に配列されたX線検出室から
成っていて、各室はある極性を持った平面状の電極督よ
びそれと向い合って配置されかつ反対の極性を持った分
節状の電極列を含んでいる。
成っていて、各室はある極性を持った平面状の電極督よ
びそれと向い合って配置されかつ反対の極性を持った分
節状の電極列を含んでいる。
その結果、複数の平行線に沿ったX線強度分布を同時に
測定することができる。
測定することができる。
コンピユータ化されたX線断層撮影システムにかいて本
発明のX線検出器列を使用すれば、複数の平行な平面内
に耘けるX線透過データを同時に記録することができる
。
発明のX線検出器列を使用すれば、複数の平行な平面内
に耘けるX線透過データを同時に記録することができる
。
すなわち、2つ以上のX線断層撮影画像に関するデータ
を平行して得ることができる。
を平行して得ることができる。
その結果、全身のX線断層撮影検査に要する時間は短縮
され、しかも患者の動きによるゆがみ効果も削減される
。
され、しかも患者の動きによるゆがみ効果も削減される
。
本発明に固有なものと信じられる新規な特徴は前記特許
請求の範囲中に示されている。
請求の範囲中に示されている。
とは言え、添付の図面に関連してなされる以下の詳細な
説明を参照すれば、本発明それ自体並びにその目的3よ
び利点が最も良く理解されよう。
説明を参照すれば、本発明それ自体並びにその目的3よ
び利点が最も良く理解されよう。
ところで、X線光子が重い検出気体の原子と作用し合え
ば電子−イオン対が生成する。
ば電子−イオン対が生成する。
一般に、気体原子がX線光子を吸収すると、その電子エ
ネルギー準位の1つから光電子が放出される。
ネルギー準位の1つから光電子が放出される。
かかる光電子が気体中を移動し、そして他の気体原子と
作用し合って電離を引起せば、電子むよび陽イオンのシ
ャワーが生じる。
作用し合って電離を引起せば、電子むよび陽イオンのシ
ャワーが生じる。
それらを適当な電極上に集めれば、電流の流れを得るこ
とができる。
とができる。
たとえば約10気圧のキセノンガスを60KeVOX線
光子で照射した場合、34.5 KeVのキセノンに殻
から約25.5 KeVの光電子が放出される。
光子で照射した場合、34.5 KeVのキセノンに殻
から約25.5 KeVの光電子が放出される。
約0.1關の飛程を有する2 5.5 KeVの光電子
はそれぞれ約800の電子−イオン対を生成する。
はそれぞれ約800の電子−イオン対を生成する。
互いに反対の極性を持った2つの電極間の区域内にそれ
らの電子−イオン対が生成すれば、それらは電気力線に
沿って電極へ移動し、従って両者間には正味の電流が流
れることになる。
らの電子−イオン対が生成すれば、それらは電気力線に
沿って電極へ移動し、従って両者間には正味の電流が流
れることになる。
従って、両極間に流れる電流は電極付近において作用を
及ぼしたX線光子の総数の関数となる。
及ぼしたX線光子の総数の関数となる。
X線光子が検出される確率は、気体の原子量および集電
電極間に存在する気体原子の数の関数である。
電極間に存在する気体原子の数の関数である。
従って、高感度の検出器を作るためには原子量の大きい
気体を比較的高い圧力下で使用すればよい。
気体を比較的高い圧力下で使用すればよい。
検出器の感度はまた、電極の間隔従って電極間の気体分
子数を増大させることによっても上昇し得る。
子数を増大させることによっても上昇し得る。
しかるに、電極の間隔が増大すれば電子−イオン対が移
動しなければならない距離は増大し、従って検出器の回
復時間が長くなる傾向を生じる。
動しなければならない距離は増大し、従って検出器の回
復時間が長くなる傾向を生じる。
また、電極間の電界勾配を増大させれば電子−イオン対
の移動速度は増大し、従って検出器の回復時間は短かく
なる傾向を生じる。
の移動速度は増大し、従って検出器の回復時間は短かく
なる傾向を生じる。
この場合にも、電界勾配が過大になればなだれ現象によ
る気体の絶縁破壊が起り、そのため検出感度が廃蜜の非
直線的応答を示すことが公知である。
る気体の絶縁破壊が起り、そのため検出感度が廃蜜の非
直線的応答を示すことが公知である。
本発明の検出器は、電子の増倍をもたらすには不十分な
電界勾配の下で動作する。
電界勾配の下で動作する。
すなわち、かかる検出器は比例計数管ではなくて電離箱
であると言うことができる。
であると言うことができる。
上記のごとき電子−イオン対の生成はに殻より放出され
た光電子からのエネルギー伝達にのみ起因するものであ
って、印加された電界の影響下で移動する電子またはイ
オンの衝突に起因するものではない。
た光電子からのエネルギー伝達にのみ起因するものであ
って、印加された電界の影響下で移動する電子またはイ
オンの衝突に起因するものではない。
電離箱型X線検出器に釦いて使用するのに適した電界勾
配の値は当業界に釦いて公知であって、ダブリュー・ア
ールヘンディー(W 、 R、Hendee )著「メ
ディカル・ラデイエーション・フィジックス(Medi
calRadiation Physics)j (イ
ヤー・ブック・メディカル・パブリツシャーズ社、シカ
ゴ)の第4耘よび]7章に一層詳しく記載されている。
配の値は当業界に釦いて公知であって、ダブリュー・ア
ールヘンディー(W 、 R、Hendee )著「メ
ディカル・ラデイエーション・フィジックス(Medi
calRadiation Physics)j (イ
ヤー・ブック・メディカル・パブリツシャーズ社、シカ
ゴ)の第4耘よび]7章に一層詳しく記載されている。
なお、本発明の検出器は約10〜約] 000 V/m
mの電界勾配の下で動作する。
mの電界勾配の下で動作する。
重い原子のに殻から光電子が放出されたことによって生
じた空所を埋めるため、L殻の電子が落込むのが普通で
ある。
じた空所を埋めるため、L殻の電子が落込むのが普通で
ある。
L殻準位からに殻準位への電子の落込みに起因するエネ
ルギー差は二次X線光子の形で放射される。
ルギー差は二次X線光子の形で放射される。
たとえばキセノンガスの場合、L殻準位からに殻準位へ
の移行は29 KeVのX線光子を生じる。
の移行は29 KeVのX線光子を生じる。
高圧気体中にむけるこれらの二次X線光子の飛程は一般
に光電子の飛程よりも遥かに太きい。
に光電子の飛程よりも遥かに太きい。
たとえば10気圧のキセノンの場合、25.5KeVの
光電子が約0. ] 7It7ILの飛程を有するのに
対し、29KeVのX線光子は約20山の飛程を有する
。
光電子が約0. ] 7It7ILの飛程を有するのに
対し、29KeVのX線光子は約20山の飛程を有する
。
入射X線光子によって励起された重い気体分子の螢光現
象から生じる二次X線光子は検出器内の他の重い気体原
子によって吸収されるが、それらは入射X線光子と区別
できない。
象から生じる二次X線光子は検出器内の他の重い気体原
子によって吸収されるが、それらは入射X線光子と区別
できない。
このように、ある検出室の区域内に釦いて螢光現象によ
り生じた光子が多室式検出器を通過して別の検出室の区
域内へ移動し、そこに耘いて入射X線光子と同様にして
検出されることがある。
り生じた光子が多室式検出器を通過して別の検出室の区
域内へ移動し、そこに耘いて入射X線光子と同様にして
検出されることがある。
それ故、K殻からの螢光効果は電離箱型の多室式X線検
出器における空間解像力の低下の一因を成すことがわか
る。
出器における空間解像力の低下の一因を成すことがわか
る。
第1図は本発明の多室式X線検出器の一実施例を示して
いる。
いる。
圧力容器(図示されていない)の中に高圧の検出気体1
6が封入されている。
6が封入されている。
圧力容器の一方の側には、X線波長の電磁放射線に対し
て実質的に透明な薄い窓が設けられている。
て実質的に透明な薄い窓が設けられている。
この窓は、放射線検出器業界に於いて公知でありかつか
かる目的のために広く使用されている任意の材料から成
り得る。
かる目的のために広く使用されている任意の材料から成
り得る。
そのような材料としては、たとえば、アルミニウム、プ
ラスチック樹脂、または原子番号の小さい金属で強化さ
れたプラスチック樹脂母体が挙げられる。
ラスチック樹脂、または原子番号の小さい金属で強化さ
れたプラスチック樹脂母体が挙げられる。
本明細書中に於いて使用される「実質的に透明」という
表現は、X線が窓材と作用し合う確率とそのX線が検出
気体16と作用し合う確率とを比べれば、前者の方が遥
かに小さいことを意味する。
表現は、X線が窓材と作用し合う確率とそのX線が検出
気体16と作用し合う確率とを比べれば、前者の方が遥
かに小さいことを意味する。
第1図の場合、X線は図面の平面に対してほぼ垂直な方
向から検出器列に入射する。
向から検出器列に入射する。
圧力容器を満たす検出気体16は、X線波長の電磁放射
線に対して実質的に不透明となるように選ばれている。
線に対して実質的に不透明となるように選ばれている。
本明細書中にち・いて使用される「実質的に不透明」と
いう表現は、X線が検出気体16と作用し合う確率とそ
のX線が窓材と作用し合う確率とを比べれば、前者の方
が遥かに大きいことを意味する。
いう表現は、X線が検出気体16と作用し合う確率とそ
のX線が窓材と作用し合う確率とを比べれば、前者の方
が遥かに大きいことを意味する。
気体の種類、気体の圧力、および電極の間隔は、当業界
に釦いて公知の方法により、入射X線光子の大部分(典
型的には70%以上)が気体の内部で吸収されるように
選ばれる。
に釦いて公知の方法により、入射X線光子の大部分(典
型的には70%以上)が気体の内部で吸収されるように
選ばれる。
検出気体16としては、典型的な場合、原子番号の大き
い稀ガスたとえばキセノン、クリプトン、アルゴンなど
、あるいはアルゴンの原子量(すなわち39.9)より
大きい原子量を持った原子から成る分子状気体を約10
〜約100気圧の圧力下で使用すればよい。
い稀ガスたとえばキセノン、クリプトン、アルゴンなど
、あるいはアルゴンの原子量(すなわち39.9)より
大きい原子量を持った原子から成る分子状気体を約10
〜約100気圧の圧力下で使用すればよい。
圧力容器内部の検出気体16中には複数の平面状陰極板
10が配置されている。
10が配置されている。
陰極板10同士の間には、(詳しく後述されるような)
複数の分節状陽極アセンブリ12が両方の陰極板から等
距離となるように配置されている。
複数の分節状陽極アセンブリ12が両方の陰極板から等
距離となるように配置されている。
陰極板10釦よび陽極アセンブリ12はポルト20によ
って支持されかつ絶縁体18によって分離されている。
って支持されかつ絶縁体18によって分離されている。
所望ならば、絶縁体18に沿って流れて測定誤差を持込
むことのある電流を排流させるため、陰極板10と陽極
アセンブリ12との間の絶縁体18中に接地された保護
環22を挿入してもよい。
むことのある電流を排流させるため、陰極板10と陽極
アセンブリ12との間の絶縁体18中に接地された保護
環22を挿入してもよい。
陰極板10は電圧源24によって大地に対し負の電位に
維持されている。
維持されている。
本発明の好適な実施例の記載に際しては、説明を容易に
するため、電極を「陰極」釦よび「陽極」と呼んできた
。
するため、電極を「陰極」釦よび「陽極」と呼んできた
。
しかしながら、これらの検出器に印加される電位の極性
を逆転させても本発明の動作原理には影響がないこと、
そしてまた「陰極」電位に対して負の電位を印加しても
「陽極」構造物の動作には差支えがないことが了解され
るべきである。
を逆転させても本発明の動作原理には影響がないこと、
そしてまた「陰極」電位に対して負の電位を印加しても
「陽極」構造物の動作には差支えがないことが了解され
るべきである。
要するに、本明細書中で使用される「陰極」および「陽
極」という表現は互いに反対の極性を持った電極を意味
するに過ぎないのである。
極」という表現は互いに反対の極性を持った電極を意味
するに過ぎないのである。
陽極アセンブリ12の各々は、入射X線ビームの方向に
ほぼ平行な方向に沿いながら薄い誘電体シート15の表
面上に配置された複数の独立したストリップ状陽極素子
14a乃至14fから戒っている。
ほぼ平行な方向に沿いながら薄い誘電体シート15の表
面上に配置された複数の独立したストリップ状陽極素子
14a乃至14fから戒っている。
個々の陽極素子は陰極板10および誘電体シート15に
対して垂直に位置する複数の平面に沿って群を成すよう
に配列されている。
対して垂直に位置する複数の平面に沿って群を成すよう
に配列されている。
すなわち、陽極素子14aおよび14bは検出器列を通
る第1の平面を規定するのに対し、陽極素子14cおよ
び14dは第2の平面を規定し、また陽極素子14eお
よび14fは第3の平面を規定する。
る第1の平面を規定するのに対し、陽極素子14cおよ
び14dは第2の平面を規定し、また陽極素子14eお
よび14fは第3の平面を規定する。
検出器列中には任意の数の陽極素子を組込み、それによ
って多数の独立した平面を規定することもできる。
って多数の独立した平面を規定することもできる。
とは言え、X線源の強度、電子回路部品の費用、および
螢光X線の解像力制限効果がもたらす制約のため、実用
的な検出器における平面の数は一般に2筐たは3に制限
される。
螢光X線の解像力制限効果がもたらす制約のため、実用
的な検出器における平面の数は一般に2筐たは3に制限
される。
第1図の場合、陽極素子14a、14cおよび14eは
1つの検出室用の陽極構造物を槽底する一方、陽極素子
14b、14a釦よび14fは隣接した検出室用の陽極
構造物を槽底する。
1つの検出室用の陽極構造物を槽底する一方、陽極素子
14b、14a釦よび14fは隣接した検出室用の陽極
構造物を槽底する。
しかるに、陽極素子14a〜14fを単一の誘電体シー
ト15上に設置した結果、個々の部品の数釦よび検出器
列の複雑さが実質的に削減されている。
ト15上に設置した結果、個々の部品の数釦よび検出器
列の複雑さが実質的に削減されている。
典型的な場合、誘電体シート15は雲母、ガラス繊維で
強化されたシリコーン樹脂、または検出器業界にかいて
かかる目的のために広く使用されているその他任意の材
料から成り得る。
強化されたシリコーン樹脂、または検出器業界にかいて
かかる目的のために広く使用されているその他任意の材
料から成り得る。
第2図は陽極アセンブリ12の断面図である。
個々の陽極素子14a>よび14bはリード線25に接
続され、そしてそのリード線は絶縁ブツシュ27を介し
て圧力容器26の後壁を通過している。
続され、そしてそのリード線は絶縁ブツシュ27を介し
て圧力容器26の後壁を通過している。
各々の陽極素子14a乃至14fは電流測定回路28を
介して接地されている。
介して接地されている。
典型的な場合、電流測定回路28は圧力容器の外部に位
置するもので、陽極素子からの電流をディジタルコンピ
ュータで処理可能な信号に変換する電子回路から成り得
る。
置するもので、陽極素子からの電流をディジタルコンピ
ュータで処理可能な信号に変換する電子回路から成り得
る。
陰極板10はX線波長の電磁放射線に対して実質的に不
透明な金属から作られている。
透明な金属から作られている。
陰極板として使用するには、原子番号の大きい金属たと
えばモリブデン、タンタルまたはタングステンが適して
いる。
えばモリブデン、タンタルまたはタングステンが適して
いる。
実例を挙げれば、典型的な検出器に訃ける陰極板は0.
05mmのモリブデンまたはタングステンシートから作
られている。
05mmのモリブデンまたはタングステンシートから作
られている。
X線光子は、陽極アセンブリ12および陰極板10とほ
ぼ平行な方向に沿って検出器の窓から入射する。
ぼ平行な方向に沿って検出器の窓から入射する。
かかる光子は陽極アセンブリ12と陰極板10との間の
区域内にある検出気体16と作用し合う。
区域内にある検出気体16と作用し合う。
検出気体16と光子との相互作用によって生成した電子
−イオン対が電気力線に沿って移動し、そして陽極素子
釦よび陰極板上に集められれば、電流信号が生じる。
−イオン対が電気力線に沿って移動し、そして陽極素子
釦よび陰極板上に集められれば、電流信号が生じる。
個々の陽極素子14&乃至14fから流れる電流は、そ
の陽極素子と隣接する陰極板10との間の区域内にある
検出気体16と作用し合うX線光子の数に比例する。
の陽極素子と隣接する陰極板10との間の区域内にある
検出気体16と作用し合うX線光子の数に比例する。
このような検出器は、K殻からの螢光X線の解像力制限
効果に対してはそれほど敏感でない。
効果に対してはそれほど敏感でない。
陽極アセンブリ12と陰極板10との間の区域内に釦い
て螢光現象により生成したX線光子が隣接する検出室内
で電子−イオン対を生成するためには、陰極板10を通
過することが必要である。
て螢光現象により生成したX線光子が隣接する検出室内
で電子−イオン対を生成するためには、陰極板10を通
過することが必要である。
しかるに前述のごとく、陰極板10はX線光子に対して
実質的に不透明な材料から作られているため、隣接する
検出室内において電流を生じるのに十分なだけの飛程を
持った螢光X線光子の入射は著しく削減されることにな
る。
実質的に不透明な材料から作られているため、隣接する
検出室内において電流を生じるのに十分なだけの飛程を
持った螢光X線光子の入射は著しく削減されることにな
る。
本実施例の陽極アセンブリ12および陰極板10は光子
の入射方向と平行に位置している。
の入射方向と平行に位置している。
それ故、誘電体シート15″J=−よび陰極板10を割
合に接近させて配置することによって回復時間の短かい
検出器を得ることができる一方、両者の長さを大きくす
ることによって感度の高い検出器を得ることもできる。
合に接近させて配置することによって回復時間の短かい
検出器を得ることができる一方、両者の長さを大きくす
ることによって感度の高い検出器を得ることもできる。
実例を挙げれば、典型的な検出器における陽極アセンブ
リ12釦よび陰極板10は中心距離が2mπとなるよう
に配置される。
リ12釦よび陰極板10は中心距離が2mπとなるよう
に配置される。
かかる実施例の平行な陰極板10はまた、外部の物体(
たとえば検査中の組織)による散乱を受けて斜め方向か
ら検出器に入射する光子を吸収するためにも役立つ。
たとえば検査中の組織)による散乱を受けて斜め方向か
ら検出器に入射する光子を吸収するためにも役立つ。
陽極アセンブリ12の個々の陽極素子14&乃至14f
は薄い誘電体シートの両側に配置されている。
は薄い誘電体シートの両側に配置されている。
それ故、誘電体シート15の両側において互いに対を威
す陽極素子(たとえば14aおよび14b)の間にはか
なりの静電容量が存在する。
す陽極素子(たとえば14aおよび14b)の間にはか
なりの静電容量が存在する。
このような余分の静電容量は、電流測定回路28中に通
例組込1れている積分回路や前置増幅器に負荷やその他
の妨害を加え、従ってかかる回路の応答時間を遅らせる
傾向を生じる。
例組込1れている積分回路や前置増幅器に負荷やその他
の妨害を加え、従ってかかる回路の応答時間を遅らせる
傾向を生じる。
第3および4図は電極間の静電容量が小さい陽極アセン
ブリ12の変形実施例を示している。
ブリ12の変形実施例を示している。
個々の陽極素子30&、30b、32aトよび32bは
、誘電体シート15の表面上に配置された1群の平行な
導電性ストリップから成っている。
、誘電体シート15の表面上に配置された1群の平行な
導電性ストリップから成っている。
たとえば、陽極素子30bは空隙35によって分離され
た複数の平行な導電性ストリップ34から戒っている。
た複数の平行な導電性ストリップ34から戒っている。
典型的な場合、ストリップ340幅は空隙350幅に等
しい。
しい。
各陽極素子中のストリップ34は電気的に並列接続され
、それから電流測定回路を介して接地される。
、それから電流測定回路を介して接地される。
誘電体シート15の一方の側にあるストリップ(たとえ
ば陽極素子32bのストリップ36)は、誘電体シート
150反対側にある陽極素子のス) IJシッフ間空隙
(たとえば陽極素子30bのス)Qラフ34間の空隙3
5)と背中合せ配置されている。
ば陽極素子32bのストリップ36)は、誘電体シート
150反対側にある陽極素子のス) IJシッフ間空隙
(たとえば陽極素子30bのス)Qラフ34間の空隙3
5)と背中合せ配置されている。
その結果、誘電体シートの両側にある陽極素子間の静電
容量は著しく小さくなっている。
容量は著しく小さくなっている。
典型的な場合、各ストリップの幅は約0.25 mrt
tかつ長さは約2.5crf1であって、それはスクリ
ーン印刷またはエツチングによって形成することができ
る。
tかつ長さは約2.5crf1であって、それはスクリ
ーン印刷またはエツチングによって形成することができ
る。
また、保護環22(第1図)を検出器列の内部に独立し
た構造物として形成する必要はない。
た構造物として形成する必要はない。
第5図は検出器列の変形実施例を示すもので、この場合
には絶縁体18と隣接しながら誘電体シート15の表面
上に保護電極40が配置されている。
には絶縁体18と隣接しながら誘電体シート15の表面
上に保護電極40が配置されている。
その結果、所望ならば1.陽極素子14a乃至14fと
同様にして保護電極40を誘電体シート15上に配置す
ることができる。
同様にして保護電極40を誘電体シート15上に配置す
ることができる。
本発明の検出器列は複数の平行な平面内にむけるX線透
過データの迅速な記録を可能にし、従って高速かつ高解
像力のX線断層撮影検査を可能にする。
過データの迅速な記録を可能にし、従って高速かつ高解
像力のX線断層撮影検査を可能にする。
かかる検出器列に合資れる構成部品の数は単一の圧力容
器内に収容できる程度に少ないため、X線装置内に容易
に設置できるコンパクトな構造物が得られることになる
。
器内に収容できる程度に少ないため、X線装置内に容易
に設置できるコンパクトな構造物が得られることになる
。
以上、若干の好適な実施例に関連して本発明の詳細な説
明したが、当業者によれば更に数多くの変形や変更を加
えることが可能となろう。
明したが、当業者によれば更に数多くの変形や変更を加
えることが可能となろう。
それ故、本発明の精神釦よび範囲に反しない限り、かか
る変形や変更の全てが前記特許請求の範囲中に包含され
るものとする。
る変形や変更の全てが前記特許請求の範囲中に包含され
るものとする。
第1図は本発明の検出器列を示す略図、第2図は第1図
の検出器夕1沖に使用される集電電極の平面断面図、第
3および4図は電極間の静電容量が小さい集電電極の変
形実施例を示す略図、そして第5図は第1図の検出器列
の変形実施例を示す略図である。 図中、10は陰極板、12は陽極アセンブリ、14a乃
至14fは陽極素子、15は誘電体シート、16は検出
気体、18は絶縁体、22は保護環、24は電圧源、2
8は電流測定回路、30a乃至30 b 釦よび32a
乃至32bは陽極素子、34および36はス) IJツ
ブ、35は空隙、そして40は保護電極を表わす。
の検出器夕1沖に使用される集電電極の平面断面図、第
3および4図は電極間の静電容量が小さい集電電極の変
形実施例を示す略図、そして第5図は第1図の検出器列
の変形実施例を示す略図である。 図中、10は陰極板、12は陽極アセンブリ、14a乃
至14fは陽極素子、15は誘電体シート、16は検出
気体、18は絶縁体、22は保護環、24は電圧源、2
8は電流測定回路、30a乃至30 b 釦よび32a
乃至32bは陽極素子、34および36はス) IJツ
ブ、35は空隙、そして40は保護電極を表わす。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 X線波長の電磁放射線に対して実質的に不透明な気
体媒質、前記気体媒質中に配置された複数の実質的に平
面状の陰極、各々が2つの前記陰極間に釦いて両者から
ほぼ等距離となるようにして前記気体媒質中に配置され
た複数の実質的に平面状の陽極アセンブリ、および前記
陰極と前記陽極アセンブリとの間に電圧を印加する手段
の諸要素から成る形式のX線検出器列にむいて、前記陽
極アセンブリの各々が入射X線ビームと実質的に平行と
なるようにして平面状誘電体シートの1つ以上の表面上
に配置された複数の導電性ストリップから成ることを特
徴とするX線検出器列。 2 互いに隣接する陽極アセンブリの平面同士が実質的
に平行である、特許請求の範囲第1項記載のX線検出器
列。 3 前記陰極の各々がX線波長の電磁放射線に対して実
質的に不透明な材料から成る、特許請求の範囲第1また
は2項記載のX線検出器列。 4 前記陽極アセンブリ中の導電性ストリップが前記入
射X線ビームと実質的に平行かつ前記誘電体シートに垂
直な複数の測定平面を威すように配置されている、特許
請求の範囲第1〜3項のいずれか1項に記載のX線検出
器列。 5 各々の前記陽極アセンブリ中の前記ストリップの少
なくとも1つが各々の前記測定平面中に配置されている
、特許請求の範囲第4項記載のX線検出器夕110 6 前記ストリップが前記誘電体シートの相対する表面
上に配置されている、特許請求の範囲第1〜5項のいず
れか1項に記載のX線検出器列。 7 前記誘電体シートの第1の表面上にある前記ストリ
ップの各々が前記誘電体シートの第2の表面上にある前
記ス) IJツブの1つと背中合せに配置されている、
特許請求の範囲第6項記載のX線検出器列。 8 前記ス) IJツブの各々が電気的に並列接続され
た複数の導電性部分から戒り、かつ前記部分の各々が隣
接する部分から間隔をむいて配置されている結果として
それらの間に複数の空隙が形成されている、特許請求の
範囲第6項記載のX線検出器列。 9 前記誘電体シートの第1の側にある前記部分が前記
誘電体シートの第2の側にある前記空隙と背中合せに配
置されている、特許請求の範囲第8項記載のX線検出器
列。 10 前記ストリップの各々が隣接するス) IJツブ
から電気的に絶縁され、かつ前記ス) IJツブの各各
および電圧を印加する前記手段と直列に接続された電流
測定手段が追加包含されている、特許請求の範囲第1〜
9項のいずれか1項に記載のX線検出器列。 11 電圧を印加する前記手段がこの検出器列を電離箱
方式で動作させるようなものである、特許請求の範囲第
10項記載のX線検出器列。 12前記電圧の大きさが前記気体媒質中になだれ増倍を
誘発捷たは維持する程度に1で達しない、特許請求の範
囲第10または11項記載のX線検出器列。 13前記電流測定手段が前記ストリップをほぼ大地電位
に維持するのに役立つ、特許請求の範囲第10〜12項
のいずれか1項に記載のX線検出器列。 14電圧を印加する前記手段が前記陰極と大地電位との
間に接続された電圧源である、特許請求の範囲第13項
記載のX線検出器列。 15前記気体媒質がアルゴンの原子量以上の原子量を持
った元素から成り、かつ前孔気体媒質の圧力が約10〜
約100気圧である、特許請求の範囲第1〜14項のい
ずれか1項に記載のX線検出器列。 16前記気体媒質がキセノンから成る、特許請求の範囲
第15項記載のX線検出器列。 17前記陰極がモリブデン、タンタル渣たはタングステ
ンから成る、特許請求の範囲第1〜16項のいずれか1
項に記載のX線検出器列。 18前記誘電体シートの両側の表面上に配置された接地
保護電極および前記保護電極の各々と隣接する陰極との
間に配置された絶縁手段が追加包含される、特許請求の
範囲第1〜17項のいずれか1項に記載のX線検出器列
。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US000000692287 | 1976-06-03 | ||
| US05/692,287 US4047039A (en) | 1976-06-03 | 1976-06-03 | Two-dimensional x-ray detector array |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS534591A JPS534591A (en) | 1978-01-17 |
| JPS5852298B2 true JPS5852298B2 (ja) | 1983-11-21 |
Family
ID=24779973
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52064917A Expired JPS5852298B2 (ja) | 1976-06-03 | 1977-06-03 | X線検出器列 |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4047039A (ja) |
| JP (1) | JPS5852298B2 (ja) |
| DE (1) | DE2724594C2 (ja) |
| ES (1) | ES459356A1 (ja) |
| FR (1) | FR2353953A1 (ja) |
| GB (1) | GB1582291A (ja) |
| IL (1) | IL51642A (ja) |
| NL (1) | NL7705106A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60117998U (ja) * | 1984-01-20 | 1985-08-09 | 新日軽株式会社 | 引戸門扉 |
| JPS60117997U (ja) * | 1984-01-20 | 1985-08-09 | 新日軽株式会社 | 引戸門扉 |
| JPH0445896U (ja) * | 1990-08-23 | 1992-04-17 |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4217499A (en) * | 1976-09-13 | 1980-08-12 | General Electric Company | Tomographic scanning apparatus with ionization detector means |
| US4275305A (en) * | 1976-09-13 | 1981-06-23 | General Electric Company | Tomographic scanning apparatus with ionization detector means |
| JPS54138688U (ja) * | 1978-03-20 | 1979-09-26 | ||
| US4359661A (en) * | 1980-08-29 | 1982-11-16 | The Harshaw Chemical Company | Geiger-Mueller tube with tungsten liner |
| JPS5749879A (en) * | 1980-09-10 | 1982-03-24 | Toshiba Corp | Detector for radiation |
| US4558223A (en) * | 1981-03-02 | 1985-12-10 | Sysmed, Inc. | Electronic x-ray recording |
| JPS57161677A (en) * | 1981-03-31 | 1982-10-05 | Toshiba Corp | Radiation detector |
| US4420689A (en) * | 1981-12-22 | 1983-12-13 | Medical And Scientific Designs Inc. | Multi-anode deep well radiation detector |
| EP0089148B1 (en) * | 1982-03-15 | 1987-02-25 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Multiple line detector for use in radiography |
| US4590401A (en) * | 1983-02-25 | 1986-05-20 | Westinghouse Electric Corp. | Ion chamber with a flat sensitivity response characteristic |
| NL8701122A (nl) * | 1987-05-12 | 1988-12-01 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Inrichting voor spleetradiografie met beeldharmonisatie. |
| FR2626379B1 (fr) * | 1988-01-26 | 1990-05-11 | Commissariat Energie Atomique | Detecteur pour tomographie a rayons x |
| FR2629215B1 (fr) * | 1988-03-23 | 1990-11-16 | Commissariat Energie Atomique | Ensemble de detection pour tomographie a rayonnements ionisants |
| US20050194541A1 (en) * | 2004-03-03 | 2005-09-08 | Clark Brett M. | Large area ionization detector and methods for detecting low level radiation |
Family Cites Families (11)
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|---|---|---|---|---|
| US3509339A (en) * | 1967-08-30 | 1970-04-28 | Gunther Anthony Doehner | Apparatus and method for producing photographic records of distribution pattern of radioactive isotopes in the human body |
| FR1572385A (ja) * | 1968-04-18 | 1969-06-27 | ||
| US3609435A (en) * | 1968-10-30 | 1971-09-28 | Randolph G Taylor | Fast-response ionization chamber for detecting ionizing radiation from 0.1 to 60 angstroms |
| FR2054433A1 (ja) * | 1969-05-23 | 1971-04-23 | Commissariat Energie Atomique | |
| GB1364065A (en) * | 1971-08-11 | 1974-08-21 | Nat Res Dev | Ionisation chamber |
| GB1408292A (en) * | 1972-05-12 | 1975-10-01 | Gec Medical Equipment Ltd | Ionisation chambers |
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| US3991312A (en) * | 1975-11-25 | 1976-11-09 | General Electric Company | Ionization chamber |
| DE2609626A1 (de) * | 1976-03-09 | 1977-09-15 | Philips Patentverwaltung | Strahlennachweisvorrichtung |
| US4047040A (en) * | 1976-05-06 | 1977-09-06 | General Electric Company | Gridded ionization chamber |
-
1976
- 1976-06-03 US US05/692,287 patent/US4047039A/en not_active Expired - Lifetime
-
1977
- 1977-03-10 IL IL51642A patent/IL51642A/xx unknown
- 1977-05-09 NL NL7705106A patent/NL7705106A/xx not_active Application Discontinuation
- 1977-05-17 FR FR7715039A patent/FR2353953A1/fr active Granted
- 1977-05-31 ES ES459356A patent/ES459356A1/es not_active Expired
- 1977-06-01 DE DE2724594A patent/DE2724594C2/de not_active Expired
- 1977-06-01 GB GB23157/77A patent/GB1582291A/en not_active Expired
- 1977-06-03 JP JP52064917A patent/JPS5852298B2/ja not_active Expired
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60117998U (ja) * | 1984-01-20 | 1985-08-09 | 新日軽株式会社 | 引戸門扉 |
| JPS60117997U (ja) * | 1984-01-20 | 1985-08-09 | 新日軽株式会社 | 引戸門扉 |
| JPH0445896U (ja) * | 1990-08-23 | 1992-04-17 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| NL7705106A (nl) | 1977-12-06 |
| ES459356A1 (es) | 1978-08-01 |
| FR2353953A1 (fr) | 1977-12-30 |
| DE2724594A1 (de) | 1977-12-15 |
| FR2353953B1 (ja) | 1982-05-14 |
| JPS534591A (en) | 1978-01-17 |
| IL51642A0 (en) | 1977-05-31 |
| GB1582291A (en) | 1981-01-07 |
| DE2724594C2 (de) | 1985-05-09 |
| IL51642A (en) | 1978-12-17 |
| US4047039A (en) | 1977-09-06 |
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