JPS585621A - 光学的温度計測方法 - Google Patents
光学的温度計測方法Info
- Publication number
- JPS585621A JPS585621A JP10374581A JP10374581A JPS585621A JP S585621 A JPS585621 A JP S585621A JP 10374581 A JP10374581 A JP 10374581A JP 10374581 A JP10374581 A JP 10374581A JP S585621 A JPS585621 A JP S585621A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- delay time
- light
- temperature
- excited
- phosphor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/58—Photometry, e.g. photographic exposure meter using luminescence generated by light
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は光刺激によるシル螢光体のホトルミネッセン
スが温度に依存することを利用して、被測温体のＩＬ変
を測定する光学的温度計測方法（関する。
スが温度に依存することを利用して、被測温体のＩＬ変
を測定する光学的温度計測方法（関する。
周知のように、被測温体の温度雰囲気中に配置されたシ
ん螢光体に光刺激を与えると、シん螢光体性ホトルミネ
ッセンスを発生する。第１図は光刺激として励起光パル
スＡと、これによるホトルミネッセンスＢとの関係を示
してお夛、ホトルミネッセンスＢの発光強直Ｉｔと残光
の減衰時間Ｔｄとはそれぞれ温度（依存した特性を有し
ている。
ん螢光体に光刺激を与えると、シん螢光体性ホトルミネ
ッセンスを発生する。第１図は光刺激として励起光パル
スＡと、これによるホトルミネッセンスＢとの関係を示
してお夛、ホトルミネッセンスＢの発光強直Ｉｔと残光
の減衰時間Ｔｄとはそれぞれ温度（依存した特性を有し
ている。
従来％シん螢光体を温度センナとする光学的温度計測方
法には、励起光パルスＡの持続時間中にりん螢光体の発
光強度Ｉｔを測定する方法がある。
法には、励起光パルスＡの持続時間中にりん螢光体の発
光強度Ｉｔを測定する方法がある。
この場合には、励起光性パルスである必＊１１．ないが
、測定はリアルタイムに行なう必要がある。また、励起
光とそれ（よるホトルミネッセンスとが近接した波長で
ある場合には、これらを分離して検出することが困難で
、そのため特別のフィルターを要するなど検出器の光学
、系が複雑になるという欠点がある。
、測定はリアルタイムに行なう必要がある。また、励起
光とそれ（よるホトルミネッセンスとが近接した波長で
ある場合には、これらを分離して検出することが困難で
、そのため特別のフィルターを要するなど検出器の光学
、系が複雑になるという欠点がある。
そこで、この欠点を除く方法として、減衰時間Ｔｄｔ−
測定する方法が提案されている。この方法によれば、励
起光パルスＡとホトルミネッセンスＢとの分離検出は容
易となる。しかし、減衰時間Ｔｄはシん螢光体の材質（
もよるが、数十時間のオーダ（及ぶものもあり、計測時
間が長くなるという欠点がある。
測定する方法が提案されている。この方法によれば、励
起光パルスＡとホトルミネッセンスＢとの分離検出は容
易となる。しかし、減衰時間Ｔｄはシん螢光体の材質（
もよるが、数十時間のオーダ（及ぶものもあり、計測時
間が長くなるという欠点がある。
この発明唸このような従来の欠点罠鑑みなされたもので
あり％シん螢光体を一励起停止してからホトルミネッセ
ンスの残光強度が減衰を始めるまでの減衰遅れ時間にも
温度依存性があることに着口して、この減衰遅れ時間を
測定することにより、励起光とホトルミネッセンスとの
分離検出が容易で、かつ、高速な電電計測を可能とする
光学的温度計測方法を提供することを目的とするもので
ある。
あり％シん螢光体を一励起停止してからホトルミネッセ
ンスの残光強度が減衰を始めるまでの減衰遅れ時間にも
温度依存性があることに着口して、この減衰遅れ時間を
測定することにより、励起光とホトルミネッセンスとの
分離検出が容易で、かつ、高速な電電計測を可能とする
光学的温度計測方法を提供することを目的とするもので
ある。
以下、この発明の実施例を添付図面に基づいて詳細に説
明する。
明する。
第１図および第２図はこの発明の一実施例を示す図であ
る。第１図において、発光器１社制御回路２の電気信号
に基づいて一定の励起光パルスＡを発生し、この励起光
パルスＡｔｅ光学系３を介してシん螢光体４に照射され
るよう（なっている。
る。第１図において、発光器１社制御回路２の電気信号
に基づいて一定の励起光パルスＡを発生し、この励起光
パルスＡｔｅ光学系３を介してシん螢光体４に照射され
るよう（なっている。
りん螢光体４け、被測温体の温度の影響を受ける雰囲気
５内に配置され、励起パルスＡＫよって発生し九ホトル
ミネッセンスＢは光学系６を介して受光器７に導かれて
いる。このとき、ホトルミネッセンスＢは、雰囲気５の
温度に依存した発光特性を有しており、受光器７で第３
図（示すような電気信号（変換され、制御回路２に入力
される。
５内に配置され、励起パルスＡＫよって発生し九ホトル
ミネッセンスＢは光学系６を介して受光器７に導かれて
いる。このとき、ホトルミネッセンスＢは、雰囲気５の
温度に依存した発光特性を有しており、受光器７で第３
図（示すような電気信号（変換され、制御回路２に入力
される。
制御回路２では１周知のサンプリング・ホールド技術な
どによって、減衰遅れ時間Ｔｄｄｌ 、 Ｔ４ｄ露
を計測して、この減衰遅れ時間Ｔｄｄ１． Ｔｄｄｔ
に対応する温［Ｔｔ、Ｔ意がそれぞれ求められる。
どによって、減衰遅れ時間Ｔｄｄｌ 、 Ｔ４ｄ露
を計測して、この減衰遅れ時間Ｔｄｄ１． Ｔｄｄｔ
に対応する温［Ｔｔ、Ｔ意がそれぞれ求められる。
減衰遅れ時間Ｔｄｄｔ 、 Ｔｄｄｌは一定の基準であ
る励起停止、この実施例ではりん螢光体を励起する励起
光パルスの立ち下がりを基準として測定され、ホトルミ
ネツセンろＢの残光強度が一定レベルから減衰を始める
点までの時間である。この残光強度が一定レベルから減
衰を始める点は周知の技術。
る励起停止、この実施例ではりん螢光体を励起する励起
光パルスの立ち下がりを基準として測定され、ホトルミ
ネツセンろＢの残光強度が一定レベルから減衰を始める
点までの時間である。この残光強度が一定レベルから減
衰を始める点は周知の技術。
例えばサンプリング技術（よって容易に検出できるＯ
なお、一定の基準である励起停止呟発光器１を駆動する
制御回路２の電気信号パルスの立ち下がシでも構わない
。
制御回路２の電気信号パルスの立ち下がシでも構わない
。
ホトルミネッセンスＢの残光の減衰遅れ時間Ｔｄｄ呟第
１図で説明した減衰時間Ｔｄよシ龜一般に４１１いので
、この発明（係る方法とすれば、温度計測が迅速に行な
える。また、残光特性を利用するので、励起光とホトル
きネッセンスとの分離は自然になされている。
１図で説明した減衰時間Ｔｄよシ龜一般に４１１いので
、この発明（係る方法とすれば、温度計測が迅速に行な
える。また、残光特性を利用するので、励起光とホトル
きネッセンスとの分離は自然になされている。
従って、第４図（示すように、当誼温賓計測装置を簡単
化できる。すなわち、往復の光学系を１つの光ファイバ
１０で実現し、ビームスグリツタ１１に：よって、励起
光パルス人とホトルミネッセンスＢと分離すれば良い。
化できる。すなわち、往復の光学系を１つの光ファイバ
１０で実現し、ビームスグリツタ１１に：よって、励起
光パルス人とホトルミネッセンスＢと分離すれば良い。
次に、第５図はこの発明の他の実施例を示す図である。
第１の実施例では、励起光パルスＡの繰り返し周期を残
光時間よりも長くシ九場合の例であるが、残光の減衰遅
れ時間を測定するのであるから、励起光パルスＡの繰〕
返し周期は減衰遅れ時間よりも若干長くすれば、第５図
に示すよう（、減衰遅れ時間Ｔｄｄｔ −Ｔｄｄｎ
を繰り返し測定することができる。従って、減衰遅れ時
間Ｔ’ｄｄ ｔｉ 、減衰過程から再励起されるＴ（１
（１ｔ〜’ｒｃｉｄ＝の平均値、Ｔｄｄ−一んＴｄｄｋ ｉ−１ として求められ、計測の精度を高めることができる。
光時間よりも長くシ九場合の例であるが、残光の減衰遅
れ時間を測定するのであるから、励起光パルスＡの繰〕
返し周期は減衰遅れ時間よりも若干長くすれば、第５図
に示すよう（、減衰遅れ時間Ｔｄｄｔ −Ｔｄｄｎ
を繰り返し測定することができる。従って、減衰遅れ時
間Ｔ’ｄｄ ｔｉ 、減衰過程から再励起されるＴ（１
（１ｔ〜’ｒｃｉｄ＝の平均値、Ｔｄｄ−一んＴｄｄｋ ｉ−１ として求められ、計測の精度を高めることができる。
以上詳述したように、この発明忙よれば、りん螢光体が
発するホトルミネッセンスの減衰遅れ時間を測定するよ
う（したので、励起光とそれ（よる発光との分離が容易
にでき、かつ高速な温度計測のできる光学的温度計測方
法を提供することができる。
発するホトルミネッセンスの減衰遅れ時間を測定するよ
う（したので、励起光とそれ（よる発光との分離が容易
にでき、かつ高速な温度計測のできる光学的温度計測方
法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第１図はりん螢光体のホトルミネッセンスの残光特性説
明図、第２図および第４図はこの発明忙係る光学的温度
計測装置を示す概略構成図、第３図はこの発明に係る光
学的温度計測方法の一実施例を示す説明図、第５ｖＡは
この発明の他の実施例を示す説明図である。 ４−・・・・・・・ りん螢光体 Ａ・・・・・・・・・励起光ハルス Ｂ・・・・・・・・・ホトルミネッセンス（）（ルス発
光）Ｔｄｄｌ、Ｔｄｄ＠、・・−・・Ｔｄｄｎ””・・
・減衰遅れ時間特許出願人 立石電機株式会社 第１図 ｄ 第２図 第３図 手続補正書 昭和５６年８Ａ１４日 特許庁長官 島 １）春 樹 殿 ｌ 事件の表示 特願昭５６−１０３７４５号 ２、発明の名称 光学的温度計測方法 ３、 補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 京都市右京区花園土堂町１０番地名 称 （２
９４）立石電機株式会社 代表者立石孝雄 ４、代理人 住 所 東京都千代田区内神田１丁目１５番１６号６、
補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の橢 ７、補正の内容 明細書の第３頁第３行目に［数十時間−１とあるのを、
［数十ｍｓＪと補正する。
明図、第２図および第４図はこの発明忙係る光学的温度
計測装置を示す概略構成図、第３図はこの発明に係る光
学的温度計測方法の一実施例を示す説明図、第５ｖＡは
この発明の他の実施例を示す説明図である。 ４−・・・・・・・ りん螢光体 Ａ・・・・・・・・・励起光ハルス Ｂ・・・・・・・・・ホトルミネッセンス（）（ルス発
光）Ｔｄｄｌ、Ｔｄｄ＠、・・−・・Ｔｄｄｎ””・・
・減衰遅れ時間特許出願人 立石電機株式会社 第１図 ｄ 第２図 第３図 手続補正書 昭和５６年８Ａ１４日 特許庁長官 島 １）春 樹 殿 ｌ 事件の表示 特願昭５６−１０３７４５号 ２、発明の名称 光学的温度計測方法 ３、 補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 京都市右京区花園土堂町１０番地名 称 （２
９４）立石電機株式会社 代表者立石孝雄 ４、代理人 住 所 東京都千代田区内神田１丁目１５番１６号６、
補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の橢 ７、補正の内容 明細書の第３頁第３行目に［数十時間−１とあるのを、
［数十ｍｓＪと補正する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 Ｕ） 光刺激によるりん螢光体の発光特性の温度依存性
を利用する光学的温度計測方法において。 被測温体の温度の影響を受ける位置にシん螢光体を配置
し、これに一定の励起光パルスを照射してパルス発光さ
せ、骸りん螢光体を励起停止してから前記パルス発光の
発光強度が減衰を開始するまでの減衰遅れ時間を測定す
るようにし危ことを特徴とする光学的温度計測方法。 セ） 前記）ん螢光体を一定の励起光パルスで連続的に
照射して、前記減衰遅れ時間を繰に返し測定するように
したことを特徴とする特許請求の範囲第１現記、載の光
学的温度計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10374581A JPS585621A (ja) | 1981-07-02 | 1981-07-02 | 光学的温度計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10374581A JPS585621A (ja) | 1981-07-02 | 1981-07-02 | 光学的温度計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS585621A true JPS585621A (ja) | 1983-01-13 |
Family
ID=14362129
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10374581A Pending JPS585621A (ja) | 1981-07-02 | 1981-07-02 | 光学的温度計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS585621A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02223865A (ja) * | 1988-12-16 | 1990-09-06 | Eslab Srl | エネルギー測定用センサ及びエネルギー測定装置 |
-
1981
- 1981-07-02 JP JP10374581A patent/JPS585621A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02223865A (ja) * | 1988-12-16 | 1990-09-06 | Eslab Srl | エネルギー測定用センサ及びエネルギー測定装置 |
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