JPS5856401B2 - Sizing device for non-round workpieces - Google Patents
Sizing device for non-round workpiecesInfo
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- JPS5856401B2 JPS5856401B2 JP53102648A JP10264878A JPS5856401B2 JP S5856401 B2 JPS5856401 B2 JP S5856401B2 JP 53102648 A JP53102648 A JP 53102648A JP 10264878 A JP10264878 A JP 10264878A JP S5856401 B2 JPS5856401 B2 JP S5856401B2
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は加工中の非真円形工作物の寸法を測定しその寸
法が所定値に達した時に定寸信号を出力する非真円形工
作物用定寸装置、更に詳しくは脈動する測定信号の最高
点または最低点の変化をサンプリング回路で捕らまえる
ようにした非真円形工作物用定寸装置に関するもので、
その目的とするところは、測定信号の脈動周期の変化に
応じてサンプリングの時期が自動的に変わるようにして
脈動周期が変化しても最高点または最低点における測定
信号が常にサンプリングされるようにし、工作物の回転
速度の変化に応じて強電回路等から送出される信号によ
ってサンプリング時期の切換を行わなくてもよいように
することにある。Detailed Description of the Invention The present invention provides a sizing device for a non-perfect circular workpiece that measures the dimensions of a non-perfect circular workpiece being processed and outputs a sizing signal when the dimension reaches a predetermined value. relates to a sizing device for non-circular workpieces that uses a sampling circuit to catch changes in the highest or lowest point of a pulsating measurement signal.
The purpose of this is to automatically change the sampling timing according to changes in the pulsation period of the measurement signal, so that even if the pulsation period changes, the measurement signal at the highest or lowest point is always sampled. Another object of the present invention is to eliminate the need to switch the sampling timing using a signal sent from a high-voltage circuit or the like in response to changes in the rotational speed of the workpiece.
一般にスプラインシャフト等のように不連続な加工面を
有する工作物の寸法を測定すると、その測定信号は工作
物の回転速度に応じた周期で脈動するため、かかる工作
物の寸法を測定するには、測定信号の最高点または最低
点の変化を捕まえる必要がある。Generally, when measuring the dimensions of a workpiece that has a discontinuous machined surface, such as a spline shaft, the measurement signal pulsates at a frequency that corresponds to the rotational speed of the workpiece. , it is necessary to capture the change in the highest or lowest point of the measured signal.
このような脈動する測定信号の最高点または最低点の変
化を捕まえるには、測定信号のピーク値を検出するピー
ク値検出回路を用いる方式と、測定信号が最高点または
最低点になった時点で測定信号をサンプリングする方式
とがあるが、スプラインシャフト等の非真円形工作物の
寸法を測定する場合には、測定フイーラが溝の立上りで
撥ね上がり測定信号に第3図a、l)の矢印Aで示すよ
うな寄生ピークが発生するため、このような寄生ピーク
を最高点としてとらまえてしまうことをサンプリングす
るタイミングを変更して避けろことができるサンプリン
グ方式で最高点をとらまえた方が正確な寸法測定が行え
る。To catch such changes in the highest or lowest point of a pulsating measurement signal, there is a method that uses a peak value detection circuit that detects the peak value of the measurement signal, and a method that detects the peak value of the measurement signal when it reaches the highest or lowest point. There is a method of sampling the measurement signal, but when measuring the dimensions of a non-circular workpiece such as a spline shaft, the measurement feeler bounces at the rise of the groove and the measurement signal is reflected by the arrows in Figure 3 a, l). Since a parasitic peak as shown in A occurs, it is more accurate to capture the highest point using a sampling method that can avoid capturing such a parasitic peak as the highest point by changing the sampling timing. It is possible to measure dimensions.
しかしながら、サンプリング方式を用いた場合には工作
物の回転に応じてサンプリングのタイミングを変更しな
げれば測定信号の最高点または最低点の変化を捕まえる
ことができない上、工作物の回転速度の変化によってフ
イーラの立上がりによって発生する寄生ピークを最高点
として捕まえてしまうこともあり、正確な測定が行えな
い。However, when using the sampling method, changes in the highest or lowest point of the measurement signal cannot be detected unless the sampling timing is changed according to the rotation of the workpiece, and changes in the rotational speed of the workpiece cannot be detected. Therefore, the parasitic peak generated by the rise of the filler may be taken as the highest point, making it impossible to perform accurate measurements.
このため、従来においては、工作物の回転速度の変更に
伴って強電回路から切換信号が送出されるようにし、こ
の切換信号に応じてサンプリングの時期を切換えるよう
にしていた。For this reason, in the past, a switching signal was sent from a high-voltage circuit as the rotational speed of the workpiece was changed, and the sampling timing was switched in response to this switching signal.
したがって、従来ニオいては強電回路に切換信号を送出
するための回路を設けなげればならないだけでなく、強
電回路から定寸装置へ切換信号を伝送するための信号線
を設けなげればならず、強電回路の配線が複雑化し、ま
た、定寸装置内部にも、異なったタイミングでサンプリ
ングパルスを出力するサンプリングパルス発生回路を切
換えられる速度の段数に応じた数だけ設けろとともにこ
れらを切換える切換回路を設けなげればならず、定寸装
置の回路が複雑になる欠点も有していた。Therefore, in the past, it was not only necessary to provide a circuit to send the switching signal to the high-voltage circuit, but also a signal line to transmit the switching signal from the high-voltage circuit to the sizing device. , the wiring of high-power circuits has become complicated, and it is also necessary to install sampling pulse generation circuits that output sampling pulses at different timings in a number corresponding to the number of switching speed stages within the sizing device, as well as a switching circuit to switch between them. This also has the drawback that the circuit of the sizing device becomes complicated.
本発明はこのような従来の欠点に鑑みてなされたもので
、定寸装置の内部に、測定信号の脈動周期を検出する周
期検出回路を設け、この周期検出回路によって検出され
た周期に応じてサンプリングの時期を変更するようにし
たことを特徴とするものである。The present invention has been made in view of these conventional drawbacks, and includes a period detection circuit for detecting the pulsation period of the measurement signal inside the sizing device, and a period detection circuit that detects the pulsation period of the measurement signal. This method is characterized in that the timing of sampling is changed.
以下本発明の実施例を図面に基づいて説明する。Embodiments of the present invention will be described below based on the drawings.
第1図において1は測定ヘッドで、この測定ヘッド1の
外枠1aには、先端部に工作物Wの加工面と接触する接
触子10a、10aが取付けられたフイーラ10.10
が枢着されている。In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a measuring head, and on the outer frame 1a of this measuring head 1, a feeler 10.
is pivoted.
このフィー710.10と外枠1aとの間にはスプリン
グ11.11が張設され、フイーラ10.10の接触部
10a、10aに工作物Wの中心に向った力が付与され
ている。A spring 11.11 is stretched between the feeler 710.10 and the outer frame 1a, and applies a force toward the center of the workpiece W to the contact portions 10a, 10a of the feeler 10.10.
また、フイーラ10.10の右端部には可動コア12.
12が固着されており、この可動コア12.12の変位
が検出コイル13゜13により検出されるようになって
いる。Also, at the right end of the feeler 10.10, a movable core 12.
12 is fixed, and the displacement of this movable core 12.12 is detected by a detection coil 13.13.
さらに、フイーラ10.10と外枠1aとの間にはオイ
ルダンパ14,14が設けられており、適当な制動力が
付与されている。Further, oil dampers 14, 14 are provided between the filler 10.10 and the outer frame 1a to apply an appropriate braking force.
発振回路2、増幅回路3、同期整流回路4は測定ヘッド
1とともに測定手段を構成するもので、発振回路2から
検出コイル13.13に対して交流電圧が印加されると
、検出コイル13.13からフイーラ10.10の動き
に応じた大きさの交流信号が出力される。The oscillation circuit 2, the amplification circuit 3, and the synchronous rectification circuit 4 together with the measurement head 1 constitute a measuring means. When an AC voltage is applied from the oscillation circuit 2 to the detection coil 13.13, the detection coil 13.13 An alternating current signal having a magnitude corresponding to the movement of the filler 10.10 is output.
この交流信号は増幅回路3に与えられ増幅された後、同
期整流回路4によって同期整流され、同期整流回路4か
らは第3図aに示すような工作物Wの回転速度に応じた
周期の脈動を伴った測定信号が出力されろ。This alternating current signal is given to the amplifier circuit 3, amplified, and then synchronously rectified by the synchronous rectifier circuit 4. The synchronous rectifier circuit 4 outputs a pulsation signal with a period corresponding to the rotational speed of the workpiece W as shown in FIG. 3a. A measurement signal with .
サンプルホールド回路5は、周期整流回路4から出力さ
れる測定信号の最高点で測定信号をサンプリングして出
力するもので、工作物Wの回転数が変化して測定信号の
脈動周期が変化すると、これに応じてサンプリングのタ
イミングを変化させ、測定信号の脈動周期の変化にかか
わらず、測定信号の最高点で測定信号をサンプリングす
るようにしている。The sample hold circuit 5 samples and outputs the measurement signal at the highest point of the measurement signal output from the periodic rectifier circuit 4. When the rotational speed of the workpiece W changes and the pulsation period of the measurement signal changes, The sampling timing is changed accordingly, so that the measurement signal is sampled at the highest point of the measurement signal, regardless of changes in the pulsation period of the measurement signal.
このため、工作物Wの回転数が高速回転から低速回転に
切換えられた場合でも、サンプルホールド回路5からは
第3図すに示すように、測定信号の最高点の変化を表わ
す信号が出力される。Therefore, even when the rotational speed of the workpiece W is switched from high-speed rotation to low-speed rotation, the sample-and-hold circuit 5 outputs a signal representing the change in the highest point of the measurement signal, as shown in Figure 3. Ru.
判定回路6はサンプルホールド回路5から出力される信
号を設定電圧VS1.VS2と比較し、サンプルホール
ド回路5から出力される信号が設定電圧VS1を上回る
と第1定寸信号AS1を出力し、設定電圧VS2を上回
ると第2定寸信号AS2を出力するようになっている。The determination circuit 6 converts the signal output from the sample hold circuit 5 into a set voltage VS1. In comparison with VS2, when the signal output from the sample hold circuit 5 exceeds the set voltage VS1, the first sizing signal AS1 is output, and when it exceeds the set voltage VS2, the second sizing signal AS2 is output. There is.
本実施例では、工作e7Wの寸法が粗研削を完了する寸
法になると第1定寸信号AS1が出力され、工作物Wが
仕上げ寸法になると第2定寸信号を出力するように設定
電圧VS1とVS2が設定されており、図略の強電回路
は定寸装置から第1定寸信号AS1が送出されると、工
作物Wの回転数を粗研削時の例えば半分にして精研削を
行い第2定寸信号AS2が送出されろと加工を停止する
ようになっている。In this embodiment, the set voltage VS1 is set so that the first sizing signal AS1 is output when the dimensions of the workpiece e7W reach the dimensions that complete rough grinding, and the second sizing signal is output when the dimensions of the workpiece W reach the finishing dimensions. VS2 is set, and when the first sizing signal AS1 is sent from the sizing device, the unillustrated heavy-duty circuit performs fine grinding by reducing the rotational speed of the workpiece W to, for example, half that of rough grinding, and performs second sizing. The processing is stopped when the sizing signal AS2 is sent out.
したがって、工作物Wが粗研削完了の寸法になったがど
うかの判別は工作物Wが高速で回転している状態で行わ
れ、仕上げ寸法になったかどうかの判別は工作物Wが低
速で回転しているときに行われることになる。Therefore, it is determined whether the workpiece W has reached the rough grinding completion dimensions while the workpiece W is rotating at high speed, and whether the workpiece W has reached the finishing dimension is determined when the workpiece W is rotating at low speed. It will be done when the
また、サンプルホールド回路5から出力されろ信号は表
示器7にも与えられろようになっており、加工中の工作
物Wの寸法が表示される。Further, the signal outputted from the sample hold circuit 5 is also applied to a display 7, and the dimensions of the workpiece W being processed are displayed.
第2図はサンプルホールド回路5の具体的な回路構成を
示すもので、測定装置より与えられる測定信号は、オペ
アンプOPIの非反転端子十に与えられろとともに方形
波発生回路20に与えられるようになっている。FIG. 2 shows a specific circuit configuration of the sample-and-hold circuit 5, in which the measurement signal given from the measuring device is given to the non-inverting terminal 1 of the operational amplifier OPI and also given to the square wave generation circuit 20. It has become.
オペアンプOP1によって構成される回路は増幅度1の
ボルテージフォロア回路を構成しており、このオペアン
プOP1から出力される信号はアナログゲー)AGを介
してコンデンサC1に与えられろようになっている。The circuit constituted by the operational amplifier OP1 constitutes a voltage follower circuit with an amplification degree of 1, and the signal output from the operational amplifier OP1 is applied to the capacitor C1 via an analog game (AG).
したがって、アナログゲー)AGが開かれると、測定信
号に応じた電圧がコンデンサC1に充電されてサンプリ
ングが行われ、アナログゲー)AGが閉じられると、サ
ンプリングされた測定信号が記憶保持される。Therefore, when the analog gate (AG) is opened, a voltage corresponding to the measurement signal is charged to the capacitor C1 and sampling is performed, and when the analog gate ()AG is closed, the sampled measurement signal is stored and held.
そして、このコンデンサC1の電圧がボルテージフォロ
ア回路を構成するオペアンプOP2を介して出力され、
判別回路6に与えられろ。Then, the voltage of this capacitor C1 is outputted via an operational amplifier OP2 that constitutes a voltage follower circuit.
Give it to the discrimination circuit 6.
なお、アナログゲーLAGのドレイン端子りとゲート端
子Gとの間に接続されている抵抗Rと、ゲート端子りに
接続されているダイオ−トラ■はアナログゲー)AGを
開閉するための補助的な回路で、ダイオードDIのカソ
ードに側の電位が15Vになるとアナログゲー)AGが
閉じ、カソードに側の電位が+15Vになるとアナログ
ゲー)AGが開かれろ。Note that the resistor R connected between the drain terminal of the analog game LAG and the gate terminal G and the diode controller connected to the gate terminal are auxiliary resistors for opening and closing the analog game LAG. In the circuit, when the potential on the cathode side of diode DI reaches 15V, the analog gate (AG) closes, and when the potential on the cathode side reaches +15V, the analog gate (AG) opens.
方形波発生回路20は、測定信号の脈動分のみをとり出
しこの取出された脈動波形と同じ周期の方形波を脈動波
形に同期して出力するもので、第3図Cに示すように、
測定信号の脈動周期の変化に応じて周期の変化する方形
波信号が出力される。The square wave generating circuit 20 extracts only the pulsating component of the measurement signal and outputs a square wave having the same period as the extracted pulsating waveform in synchronization with the pulsating waveform, as shown in FIG. 3C.
A square wave signal whose period changes in accordance with a change in the pulsation period of the measurement signal is output.
この方形波発生回路20から出力される方形波信号は、
方形波信号の周期の長さを検出して周期の長さに比例し
た直流信号を出力する周期検出回路21と、方形波信号
の立上りを検出する立上り検出回路22とに与えられろ
ようになっており、周期検出回路21からは第3図dに
示すような脈動周期の長さに比例した検出信号が出力さ
れ、立上り検出回路22からは第3図eに示すような方
形波信号の立上りに同期したタイミング信号が出力され
る。The square wave signal output from this square wave generation circuit 20 is
A period detection circuit 21 detects the period length of the square wave signal and outputs a DC signal proportional to the period length, and a rise detection circuit 22 detects the rise of the square wave signal. The period detection circuit 21 outputs a detection signal proportional to the length of the pulsation period as shown in FIG. 3d, and the rise detection circuit 22 outputs a detection signal proportional to the length of the pulsation period as shown in FIG. A timing signal synchronized with is output.
サンプリングパルス発生回路23は、通常は15Vの電
圧をダイオードDIに印加してアナログゲー)AGを閉
じておき、立上り検出回路22からタイミング信号が与
えられろと、周期検出回路21から出力されろ検出信号
の大きさに比例した時間が経過した後で+15Vのサン
プリングパルスを一定時間だけ送出してアナログゲート
AGを開くもので、これによってコンデンサC1に測定
信号が記憶されろ。The sampling pulse generation circuit 23 normally applies a voltage of 15V to the diode DI to close the analog gate (AG), and detects whether a timing signal is given from the rise detection circuit 22 or output from the period detection circuit 21. After a time proportional to the magnitude of the signal has elapsed, a +15V sampling pulse is sent out for a certain period of time to open the analog gate AG, thereby storing the measurement signal in the capacitor C1.
タイミング信号が与えられてからサンプリングパルスを
出力するまでの時間dは周期検出回路21から出力され
る検出信号の大きさに比例するようになっているが、こ
の比例定数は測定信号の脈動周期が変化しても、つねに
フイーラ10.10の撥ね上りがなくなった後で測定信
号がサンプリングされろように調整されている。The time d from when the timing signal is given until the sampling pulse is output is proportional to the magnitude of the detection signal output from the period detection circuit 21, but this proportionality constant is determined by the pulsation period of the measurement signal. Adjustment is made so that the measurement signal is always sampled after the bounce of the filler 10.10 has ceased, even if the change in temperature has changed.
したがって、サンプリングパルス発生回路23からサン
プリング信号の出力される時期は、第3図fに示すよう
に測定信号の脈動周期が長くなると、これに応じて遅く
なり、脈動周期が変化してもフイーラ10.10の撥ね
上りによる寄生ピークを避けた最高点の値が確実にサン
プリングされる。Therefore, as shown in FIG. 3f, the timing at which the sampling signal is output from the sampling pulse generation circuit 23 is delayed as the pulsation period of the measurement signal becomes longer. The highest point value that avoids the parasitic peak due to the jump of .10 is reliably sampled.
このため、工作物Wの回転速度が変化しても工作物Wの
寸法を正確に測定することができろ。Therefore, even if the rotational speed of the workpiece W changes, the dimensions of the workpiece W can be accurately measured.
なお、上記実施例は、スプライン軸の外径寸法を測定す
るものであったが、スプライン軸に嵌まりあうスプライ
ン穴の内径寸法を測定するようにしてもよい。In the above embodiment, the outer diameter of the spline shaft is measured, but the inner diameter of the spline hole that fits into the spline shaft may be measured.
この場合には立上り検出回路22の替わりに方形波の立
下りを検出する立下り検出回路を設け、この立下り検出
回路から出力されるタイミング信号をサンプリングパル
ス発生回路23に与えるようにすればよい。In this case, a fall detection circuit for detecting the fall of the square wave may be provided in place of the rise detection circuit 22, and the timing signal output from this fall detection circuit may be given to the sampling pulse generation circuit 23. .
また、本発明の定寸装置は、スプラインの山部の寸法を
測定するのに用いることができるだけでなく、工作物W
の回転によって測定信号に脈動が生ずる非真円形工作物
であれば異った形状の工作物でも正確な寸法測定が行え
る。Furthermore, the sizing device of the present invention can not only be used to measure the dimensions of the mountain portion of a spline, but also
As long as the rotation of the workpiece causes pulsations in the measurement signal, it is possible to accurately measure the dimensions of workpieces of different shapes, as long as they are not perfectly circular.
以上述べたように、本発明の非真円形工作物用定寸装置
においては、定寸装置の内部に、測定信号の脈動周期を
検出する周期検出回路と、この周期検出回路によって検
出された周期の変化に応じて異った時点でサンプリング
パルスを出力し脈動周期の変化にかかわらずフイーラの
撥ね上がりによる寄生ピークを避けた測定信号の最高点
の値をサンプリングさせるサンプリングパルス発生回路
とを設けたから、工作物の回転速度の切換えに伴って強
電回路から定寸装置へ切換信号が与えられろようにし与
えられた切換信号によってサンプリングの時期の切換え
を行うようにしなくても、工作物Wの回転速度の変化に
対応することができ、工作物の回転速度にかかわらず正
確な寸法測定ができろ。As described above, in the sizing device for non-perfect circular workpieces of the present invention, the sizing device includes a period detection circuit for detecting the pulsation period of the measurement signal, and a period detected by the period detection circuit. This is because a sampling pulse generation circuit is provided that outputs sampling pulses at different times according to changes in the pulsation period, and samples the highest point value of the measurement signal, avoiding parasitic peaks due to bounce of the filler, regardless of changes in the pulsation cycle. As the rotational speed of the workpiece W is changed, a switching signal is given from the high-voltage circuit to the sizing device, so that the rotation of the workpiece W is controlled even if the sampling timing is not switched by the given switching signal. It can respond to changes in speed and can accurately measure dimensions regardless of the rotational speed of the workpiece.
このため、強電回路に切換信号を発生するための回路を
設けなくてもよいだけでなく、切換信号を定寸装置へ伝
送するための信号線も不要となり、強電回路が簡素化さ
れる。Therefore, not only is it unnecessary to provide a circuit for generating a switching signal in the high-voltage circuit, but also a signal line for transmitting the switching signal to the sizing device is not required, and the high-voltage circuit is simplified.
また、定寸装置内部に、異ったタイミングでサンプリン
グパルスを発生するタイミングパルス発生回路を工作物
回転速度の切換段数に応じた数だけ設ける必要もなく、
定寸装置の回路構成も簡単となる。In addition, there is no need to provide timing pulse generation circuits that generate sampling pulses at different timings in the sizing device in a number corresponding to the number of switching stages of the workpiece rotation speed.
The circuit configuration of the sizing device is also simplified.
第1図は本発明にかかる非真円形工作物用定寸装置の実
施例を示すブロフク図、第2図は第1図におげろサンプ
ルホールド回路5の具体的な構成を示す回路図、第3図
はサンプルホールド回路5の各部の動作波形を示すタイ
ミングチャートである。
1・・・・・・測定ヘンド、2・・・・・・発振回路、
3・・・・・・増幅回路、4・・・・・・周期整流回路
、5・・・・・・サンプルホールド回路、6・・・・・
・判別回路、1010・・・・・・ツイーン、13・・
・・・・検出コイル、20・・・・・・方形波発生回路
、21・・・・・・周期検出回路、22・・・・・・立
上り検出回路、23・・・・・・サンプリングパルス発
生回路、AG・・・・・・アナログゲート、C1・・・
・・・コンデンサ、DI・・・・・・ダイオード、OP
I 、OP2・・・・・・オペアンプ、R・・・・・・
抵抗、W・・・・・・工作物。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the sizing device for non-circular workpieces according to the present invention, FIG. FIG. 3 is a timing chart showing operating waveforms of each part of the sample and hold circuit 5. In FIG. 1...Measurement hand, 2...Oscillation circuit,
3... Amplifier circuit, 4... Periodic rectifier circuit, 5... Sample hold circuit, 6...
・Discrimination circuit, 1010...Tween, 13...
...Detection coil, 20...Square wave generation circuit, 21...Period detection circuit, 22...Rise detection circuit, 23...Sampling pulse Generation circuit, AG...analog gate, C1...
・・・Capacitor, DI・・・Diode, OP
I, OP2... operational amplifier, R...
Resistance, W... Workpiece.
Claims (1)
測定手段から送出され工作物の回転速度に応じた周期で
脈動する測定信号が与えられるゲートと、このゲートを
介して与えられる測定信号を記憶する記憶手段と、前記
測定信号の立上りまたは立下りを検出しタイミング信号
を出力するタイミング信号発生回路と、前記測定信号の
脈動周期を検出し脈動周期に応じた検出信号を出力する
周期検出回路と、前記タイミング信号発生回路からタイ
ミング信号が出力されてから前記周期検出回路から出力
される検出信号の大きさに応じた時間が経過した時点で
前記ゲートにサンプリングパルスを送出して前記ゲート
を所定時間だけ開き工作物の回転速度の変化に関わらず
脈動する測定信号の最高点または最低点における測定信
号を前記記憶手段に記憶させろサンプリングパルス発生
回路と、前記記憶手段に記憶された測定信号を設定電圧
と比較し測定電圧が設定電圧に一致すると定寸信号を出
力する判定回路とから構成されることを特徴とする非真
円形工作物用定寸装置。1 Measuring means for measuring the dimensions of a non-perfect circular workpiece, a gate to which a measurement signal sent out from the measuring means and pulsating at a period corresponding to the rotational speed of the workpiece, and a measurement signal given through this gate. a timing signal generation circuit that detects the rise or fall of the measurement signal and outputs a timing signal; and a period detection circuit that detects the pulsation period of the measurement signal and outputs a detection signal according to the pulsation period. circuit, and when a time period corresponding to the magnitude of the detection signal output from the period detection circuit has elapsed after the timing signal is output from the timing signal generation circuit, a sampling pulse is sent to the gate to activate the gate. A sampling pulse generation circuit that is opened for a predetermined period of time and causes the storage means to store the measurement signal at the highest or lowest point of the measurement signal that pulsates regardless of changes in the rotational speed of the workpiece, and the measurement signal stored in the storage means. A sizing device for a non-circular workpiece, comprising a determination circuit that compares the measured voltage with a set voltage and outputs a sizing signal when the measured voltage matches the set voltage.
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53102648A JPS5856401B2 (en) | 1978-08-23 | 1978-08-23 | Sizing device for non-round workpieces |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53102648A JPS5856401B2 (en) | 1978-08-23 | 1978-08-23 | Sizing device for non-round workpieces |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5531545A JPS5531545A (en) | 1980-03-05 |
| JPS5856401B2 true JPS5856401B2 (en) | 1983-12-14 |
Family
ID=14333052
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53102648A Expired JPS5856401B2 (en) | 1978-08-23 | 1978-08-23 | Sizing device for non-round workpieces |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5856401B2 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63208201A (en) * | 1987-02-24 | 1988-08-29 | イビデン株式会社 | Printed wiring board with printed resistor |
| JPH0328702U (en) * | 1989-07-28 | 1991-03-22 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5775669U (en) * | 1980-10-21 | 1982-05-10 | ||
| CN103851996A (en) * | 2013-02-26 | 2014-06-11 | 洛阳量云精密仪器有限公司 | Device and method for measuring height of wedge block |
-
1978
- 1978-08-23 JP JP53102648A patent/JPS5856401B2/en not_active Expired
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63208201A (en) * | 1987-02-24 | 1988-08-29 | イビデン株式会社 | Printed wiring board with printed resistor |
| JPH0328702U (en) * | 1989-07-28 | 1991-03-22 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5531545A (en) | 1980-03-05 |
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