JPS585666A - 回路パタ−ン自動検査機用基板接触子体 - Google Patents
回路パタ−ン自動検査機用基板接触子体Info
- Publication number
- JPS585666A JPS585666A JP56103509A JP10350981A JPS585666A JP S585666 A JPS585666 A JP S585666A JP 56103509 A JP56103509 A JP 56103509A JP 10350981 A JP10350981 A JP 10350981A JP S585666 A JPS585666 A JP S585666A
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- JP
- Japan
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- receptacle
- adapter
- circuit pattern
- board
- bin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 10
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract description 13
- 230000004075 alteration Effects 0.000 abstract 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical group [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 2
- 244000223014 Syzygium aromaticum Species 0.000 description 1
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- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はプリント配線板の印刷回路パターン自動検査機
用基板接触子（以下ビンアダプターと称す）ｌこ関する
。
用基板接触子（以下ビンアダプターと称す）ｌこ関する
。
従来、この種の自動検査機は回路パターンの不良を判定
する検査機本体と、プリント配線板と接触し検査信号を
入出力するビンアダプターとから構成されている。この
ビンアダプターは、接触子となるビンプローブ（ビン接
触子）の配列が規則的ζこ配列され多品種の印刷回路パ
ターンが検査でキルユニバーサルタイプ（以下ユニバー
サルビンアダプターと称す）と、配列を特定の印刷回路
パターンに合わせた専用タイプ（以下専用ビンアダプタ
ーと称す）とに分類されるが、ユニバーサルタイプの方
が理論的には多品種の印刷回路パターン検査に適用でき
るため理想的である。しかし、現実の部品形態は多種・
多様にわたり、しかも部品リードピッチも、ミリ系イン
チ系と混在していルタメ、ユニバーサルビンアダプター
を使用すると検査不可能な回路パターンが発生する。こ
のため、このような検査不可能な印刷回路パターンの検
査には７゛リント配線板の種類ごとｉこ専用アダプター
の製作が必要となる。一方、従来の専用ビンアダプター
には、次の様な欠点がある。
する検査機本体と、プリント配線板と接触し検査信号を
入出力するビンアダプターとから構成されている。この
ビンアダプターは、接触子となるビンプローブ（ビン接
触子）の配列が規則的ζこ配列され多品種の印刷回路パ
ターンが検査でキルユニバーサルタイプ（以下ユニバー
サルビンアダプターと称す）と、配列を特定の印刷回路
パターンに合わせた専用タイプ（以下専用ビンアダプタ
ーと称す）とに分類されるが、ユニバーサルタイプの方
が理論的には多品種の印刷回路パターン検査に適用でき
るため理想的である。しかし、現実の部品形態は多種・
多様にわたり、しかも部品リードピッチも、ミリ系イン
チ系と混在していルタメ、ユニバーサルビンアダプター
を使用すると検査不可能な回路パターンが発生する。こ
のため、このような検査不可能な印刷回路パターンの検
査には７゛リント配線板の種類ごとｉこ専用アダプター
の製作が必要となる。一方、従来の専用ビンアダプター
には、次の様な欠点がある。
（１） 専用ビンアダプターでは、通常接触子となる
ビングローブはビンアダプタ一本体番こ完全に固定され
るため、プリント配線板の種類ごとにビンアダプターが
１台必要不可欠となる。
ビングローブはビンアダプタ一本体番こ完全に固定され
るため、プリント配線板の種類ごとにビンアダプターが
１台必要不可欠となる。
（２） ビンプローブがビンボード（ビン取付板）に
固定されるため、プリント配線板の回路パターン変更が
生じた場合そのビンアダプターは使用できなくなる。
固定されるため、プリント配線板の回路パターン変更が
生じた場合そのビンアダプターは使用できなくなる。
（３） ピングローブが固定式のため、プリント配線
板の種類ごとにビンアダプターを製作しなくてはならな
い。またビンプローブは構造が精密で非常に高価であり
、更にビンアダプター一台尚りのビン７Ｅ：ｌ−プ使用
本数が非常に多くなるためビンアダプタ一本体の価格が
高価なものになる。以上の点からプリント配線板一点の
製作枚数が多い量産品だけしか自動検査機による回路パ
ターン検査を適用できない。
板の種類ごとにビンアダプターを製作しなくてはならな
い。またビンプローブは構造が精密で非常に高価であり
、更にビンアダプター一台尚りのビン７Ｅ：ｌ−プ使用
本数が非常に多くなるためビンアダプタ一本体の価格が
高価なものになる。以上の点からプリント配線板一点の
製作枚数が多い量産品だけしか自動検査機による回路パ
ターン検査を適用できない。
（４） ピングローブが永久固定式で耐久性を重要視
するためビンアダプターの製作日数が長い。
するためビンアダプターの製作日数が長い。
本発明の目的は上述の欠点を除去し簡単、且つ、短期間
でしかもビンアダプターさしての機能を十分満足する専
用ビンアダプターを提供することにある。
でしかもビンアダプターさしての機能を十分満足する専
用ビンアダプターを提供することにある。
次に、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第１図に示す従来のビンアダプターにおいては、リセプ
タクル１の中央部に設けられた圧入用リング５によりピ
ンボード６とリセプタクル１を圧入・固ずし、スズリン
ググローブ２（バネ接触子）はリセプタクルに差し込ま
れている。しかし、第１図の構成では、リセプタクル１
の取りはずしかできないためビンアダプター全体を分解
・再組立することができないという欠点がある〇第２Ｗ
Ｊに示すビンアダプターはスプリングスロープは交換で
きないが、構造が簡単で廉価なビンアダプターで、ピン
ボード６との間の固定は、第１図と同様１こプローブ中
央に設けられた圧入用リング５により行なわれる。この
ような専用ビンアダプターにおいては、ピンボードに直
接ピンクロープを圧入固定するため、一度作りだ専用ビ
ンアダプターは分解・再組立できないという欠点がある
。
タクル１の中央部に設けられた圧入用リング５によりピ
ンボード６とリセプタクル１を圧入・固ずし、スズリン
ググローブ２（バネ接触子）はリセプタクルに差し込ま
れている。しかし、第１図の構成では、リセプタクル１
の取りはずしかできないためビンアダプター全体を分解
・再組立することができないという欠点がある〇第２Ｗ
Ｊに示すビンアダプターはスプリングスロープは交換で
きないが、構造が簡単で廉価なビンアダプターで、ピン
ボード６との間の固定は、第１図と同様１こプローブ中
央に設けられた圧入用リング５により行なわれる。この
ような専用ビンアダプターにおいては、ピンボードに直
接ピンクロープを圧入固定するため、一度作りだ専用ビ
ンアダプターは分解・再組立できないという欠点がある
。
絡３図は本発明の一実施例を示す分解図である。
図において、本発明のビンアダプターは、リセプタクル
７と、スプリングクローブ８と、接続端子９とから構成
されている。本発明のアダプターの製作は、先ずピンボ
ード１０にリセプタクル７の外径と同径の穴をあけ、リ
セプタクル７を挿入すれる。しかし、このリセプタクル
７の固定は圧入固定でないため、ビンアダプターの分解
時には容易にピンボード１０からはずすことが可能であ
る。
７と、スプリングクローブ８と、接続端子９とから構成
されている。本発明のアダプターの製作は、先ずピンボ
ード１０にリセプタクル７の外径と同径の穴をあけ、リ
セプタクル７を挿入すれる。しかし、このリセプタクル
７の固定は圧入固定でないため、ビンアダプターの分解
時には容易にピンボード１０からはずすことが可能であ
る。
次に、ピンボード１０に固定されたりセプククル７の中
にスズリンググローブ８を挿入する。リセプタクル７の
内壁の一部にはかしめ部１２が設けられているため、こ
のスズリングプローブ８は簡単に固定することができ、
しかもビンアダプターを分解するときは、容易にリセプ
タクル７から取りはずせる。次に、リセプタクル７の下
方からスプリンググローブ８の固定に採用したかしめ１
２を利用して接続端子９を固定する。最後に、接続端子
９の先端部を利用しハンダ何才たはラッピング等により
検査機本体とアダプターの接続を行なう。崗第４図に示
すように、リセプタクル７と接続端子９とを一体化構造
にした一体化すセブタクル１３を使用することも可能で
ある。
にスズリンググローブ８を挿入する。リセプタクル７の
内壁の一部にはかしめ部１２が設けられているため、こ
のスズリングプローブ８は簡単に固定することができ、
しかもビンアダプターを分解するときは、容易にリセプ
タクル７から取りはずせる。次に、リセプタクル７の下
方からスプリンググローブ８の固定に採用したかしめ１
２を利用して接続端子９を固定する。最後に、接続端子
９の先端部を利用しハンダ何才たはラッピング等により
検査機本体とアダプターの接続を行なう。崗第４図に示
すように、リセプタクル７と接続端子９とを一体化構造
にした一体化すセブタクル１３を使用することも可能で
ある。
このような構成のビンアダプターは次のような利点を有
する。
する。
（１） グローブ８が着脱可能であり不要になったビ
ンアダプターはプローブ８を分解書取りはずし別のピン
ボード１ｏに再利用できる。
ンアダプターはプローブ８を分解書取りはずし別のピン
ボード１ｏに再利用できる。
（２） グローブ８が着脱可能であり回路パターンの
変更が生じてもパターン削除のｍｔ所はグローブ８をは
ずし、パターン追加の箇所は逆にグローブを追加するこ
とによりビンアダプターヲソノまま使用できる。
変更が生じてもパターン削除のｍｔ所はグローブ８をは
ずし、パターン追加の箇所は逆にグローブを追加するこ
とによりビンアダプターヲソノまま使用できる。
（３）グローブ８が着脱可能の為自動検査機側に着脱の
容易なコネクタを設けることにより常に一足数ノ７ ｏ
−２Ｂを用意するだけでピンボード１０だけを変えグ
ローブ８の埋め込み位置を組み換えるだけで回路パター
ン自動検査ができ、新たにグローブを購入しなくとも良
く、非常に経済的に自動検査機を運用可能となる。
容易なコネクタを設けることにより常に一足数ノ７ ｏ
−２Ｂを用意するだけでピンボード１０だけを変えグ
ローブ８の埋め込み位置を組み換えるだけで回路パター
ン自動検査ができ、新たにグローブを購入しなくとも良
く、非常に経済的に自動検査機を運用可能となる。
（４）グローブ８が着脱式で簡単にセットできるため、
ビンアダプタ゛−の製作日数は短縮される。
ビンアダプタ゛−の製作日数は短縮される。
（５）簡単に短期間で、しかも安価にビンアダプターを
供給できるので量産品以外の一般品にも幅広く回路パタ
ーン自動検査の適用拡大をはかれる・
供給できるので量産品以外の一般品にも幅広く回路パタ
ーン自動検査の適用拡大をはかれる・
８１図および第２図は従来のビンアダプターを示す断面
図、第３図および４図は本発明の一実施例を示す断面図
である。 ＃ｇ１図〜第４図において、ｌ・・・・・・リセプタク
ル、２・・・・・・スプリンググローブ、３・・・・・
・リード線接続ポスト、４・・・・・・一体化式スプリ
ングプローブ、５・・・・・・圧入用リング、６・・・
・・・ビンボード、７・・・・・・リセプタクル、８・
・・・・・スプリンググローブ、９・・川・接続端子、
１０・・・・・・ビンボード、１１・・・・・・リセプ
タクルストッパー、１２・・・・・・かしめ、１３・・
・・・・一体化リセプタクル。
図、第３図および４図は本発明の一実施例を示す断面図
である。 ＃ｇ１図〜第４図において、ｌ・・・・・・リセプタク
ル、２・・・・・・スプリンググローブ、３・・・・・
・リード線接続ポスト、４・・・・・・一体化式スプリ
ングプローブ、５・・・・・・圧入用リング、６・・・
・・・ビンボード、７・・・・・・リセプタクル、８・
・・・・・スプリンググローブ、９・・川・接続端子、
１０・・・・・・ビンボード、１１・・・・・・リセプ
タクルストッパー、１２・・・・・・かしめ、１３・・
・・・・一体化リセプタクル。
Claims (1)
- 接触子とこの接触子が取り付けられる板とから構成され
るプリント配線板の回路パターン自動検査機用基板接触
子体−こおいて、前記板に取り付けられ一端に係止部を
有し中間部に凸部を有するリセプタクルと、前記リセプ
タクルの凸部により固定されたバネ接触子と、前記リセ
プタクルの他端に取り付けられ前記検査機への検査信号
供給用接続端子とから構成された回路パターン自動検査
機用基板接触子体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56103509A JPS585666A (ja) | 1981-07-02 | 1981-07-02 | 回路パタ−ン自動検査機用基板接触子体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56103509A JPS585666A (ja) | 1981-07-02 | 1981-07-02 | 回路パタ−ン自動検査機用基板接触子体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS585666A true JPS585666A (ja) | 1983-01-13 |
Family
ID=14355933
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56103509A Pending JPS585666A (ja) | 1981-07-02 | 1981-07-02 | 回路パタ−ン自動検査機用基板接触子体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS585666A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59171873A (ja) * | 1983-03-18 | 1984-09-28 | Chiyuushiyou Kigyo Shinko Jigyodan | 布線検査装置用アダプタ |
| JPS62128378U (ja) * | 1986-02-07 | 1987-08-14 | ||
| JPS63122266U (ja) * | 1987-02-03 | 1988-08-09 | ||
| JPS63165574U (ja) * | 1987-04-17 | 1988-10-27 | ||
| EP0405323A3 (en) * | 1989-06-24 | 1992-04-08 | Feinmetall Gesellschaft Mit Beschraenkter Haftung | Elastic contact probe |
| US6967492B2 (en) * | 2003-11-26 | 2005-11-22 | Asm Assembly Automation Ltd. | Spring contact probe device for electrical testing |
| JP2008098277A (ja) * | 2006-10-10 | 2008-04-24 | Kiyota Seisakusho:Kk | クッション性を有する電気接点 |
-
1981
- 1981-07-02 JP JP56103509A patent/JPS585666A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59171873A (ja) * | 1983-03-18 | 1984-09-28 | Chiyuushiyou Kigyo Shinko Jigyodan | 布線検査装置用アダプタ |
| JPS62128378U (ja) * | 1986-02-07 | 1987-08-14 | ||
| JPS63122266U (ja) * | 1987-02-03 | 1988-08-09 | ||
| JPS63165574U (ja) * | 1987-04-17 | 1988-10-27 | ||
| EP0405323A3 (en) * | 1989-06-24 | 1992-04-08 | Feinmetall Gesellschaft Mit Beschraenkter Haftung | Elastic contact probe |
| US6967492B2 (en) * | 2003-11-26 | 2005-11-22 | Asm Assembly Automation Ltd. | Spring contact probe device for electrical testing |
| JP2008098277A (ja) * | 2006-10-10 | 2008-04-24 | Kiyota Seisakusho:Kk | クッション性を有する電気接点 |
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