JPS5856820B2 - シンクウドソクテイソウチ - Google Patents
シンクウドソクテイソウチInfo
- Publication number
- JPS5856820B2 JPS5856820B2 JP49146000A JP14600074A JPS5856820B2 JP S5856820 B2 JPS5856820 B2 JP S5856820B2 JP 49146000 A JP49146000 A JP 49146000A JP 14600074 A JP14600074 A JP 14600074A JP S5856820 B2 JPS5856820 B2 JP S5856820B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vacuum
- tuning fork
- crystal resonator
- frequency
- degree
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は真空装置の圧力トランスデュ・−サーに関する
。
。
本発明の目的は、真空装置の圧力トランステユーサーに
音叉型水晶振動子を用い、その発振周波数対真空度特性
および発振周波数の安定性を利用して真空度測定の精度
を上げようとするものである。
音叉型水晶振動子を用い、その発振周波数対真空度特性
および発振周波数の安定性を利用して真空度測定の精度
を上げようとするものである。
従来の真空度測定方法には、カイスラー管で放電させ、
そのグルックス暗部の長さで測る方法、ビラニ真空計で
測る方法、電離真空計で計る方法などがある。
そのグルックス暗部の長さで測る方法、ビラニ真空計で
測る方法、電離真空計で計る方法などがある。
しかし、いずれも、そ0カバーできる領域が狭く、真空
度の各段階において、真空装置を取り替える必要があっ
た。
度の各段階において、真空装置を取り替える必要があっ
た。
ガイスラー管では10 tor以下、ピラニ真空計で
は1.0 for以下、電離真空計では10 to
r以上という具合で、1o−4forまで測ろうとする
と、2つ以上の真空装置を併置しないと、各段階の真空
度が測れなかった。
は1.0 for以下、電離真空計では10 to
r以上という具合で、1o−4forまで測ろうとする
と、2つ以上の真空装置を併置しないと、各段階の真空
度が測れなかった。
また、その測定精度も低く、最近のように高精度測定が
要求されている時には不満足な測定器であった。
要求されている時には不満足な測定器であった。
また振動子を圧力センサーとした圧力測定装置が、特公
昭49−1234号公報に提示されているが、従来用い
られていた振動子はATあるいはGT等の高周波数振動
子であり、これらの振動子は大気中で発振させても周波
数の変動はほとんど無いものであり、本発明の対象とし
ている真空度測定装置−の適用は不可能なものであった
。
昭49−1234号公報に提示されているが、従来用い
られていた振動子はATあるいはGT等の高周波数振動
子であり、これらの振動子は大気中で発振させても周波
数の変動はほとんど無いものであり、本発明の対象とし
ている真空度測定装置−の適用は不可能なものであった
。
本発明はかかる欠点を除去して十数torから、10
torまての広い領域を一台の真空装置と1つの圧カ
ドランスデューサーでカバーし、しかもその測定精度は
水晶振動子の発振周波数の変化を使うため非常に高いも
のとすることができる。
torまての広い領域を一台の真空装置と1つの圧カ
ドランスデューサーでカバーし、しかもその測定精度は
水晶振動子の発振周波数の変化を使うため非常に高いも
のとすることができる。
以下、本発明を図に従って説明する。
第1図は本発明で圧力トランステユーサーとして用いる
音叉型水晶振動子の外観図である。
音叉型水晶振動子の外観図である。
1は音叉型の水晶振動子でフォトエツチングによって形
成され、2,3は電極で少なくとも一方の叉の周辺に沿
う電極と叉の中央に沿う電極とで1対の電極対を形成し
ており、図から明らかなように、一方の叉の周辺に沿う
電極が他方の叉の中央に沿う電極となるよう電極配置さ
れ、2端子を形成している。
成され、2,3は電極で少なくとも一方の叉の周辺に沿
う電極と叉の中央に沿う電極とで1対の電極対を形成し
ており、図から明らかなように、一方の叉の周辺に沿う
電極が他方の叉の中央に沿う電極となるよう電極配置さ
れ、2端子を形成している。
上述した振動子は電界を加えることにより電極が付与さ
れた面と平行な方向に各々の叉が相反する方向に振動を
する。
れた面と平行な方向に各々の叉が相反する方向に振動を
する。
4,5はポンチインク線、6は振動子固定台、tは水晶
薄板の板厚で200μ以下であり、直接には、この振動
子の発振周波数とは関係ない。
薄板の板厚で200μ以下であり、直接には、この振動
子の発振周波数とは関係ない。
第2図は、第1図に示す音叉型水晶振動子の真空1p(
tor)と周波数変化量の関係を示す。
tor)と周波数変化量の関係を示す。
第2図のように、一般に真空度が上がると発振周波数は
減少する。
減少する。
これは、振動子の振巾特性が主要原因である。
また振巾%性は振動子の厚さtと密接に関係し、第2図
曲線7゜8.9,10に示すごとく、tが小さくなると
真空度変化△pに対して周波数変化△fが大きくなる。
曲線7゜8.9,10に示すごとく、tが小さくなると
真空度変化△pに対して周波数変化△fが大きくなる。
即ち、振動子を薄くすると△f/△pが大きくなり、測
定感度が上昇する。
定感度が上昇する。
さらに高真空では発振周波数は飽和して一定値を示すこ
とから、この時の周波数f。
とから、この時の周波数f。
を基準にとり、周波数変化量△fと真空度pとの関係を
求めておけは△fからpがわかる。
求めておけは△fからpがわかる。
また、測定感度を上げるためには、振動子を薄くして、
△f/△pを大きくすれはよい。
△f/△pを大きくすれはよい。
そのため、超薄型の振動子を作らねばならないか、近年
フォトエツチング技術と研摩技術の向上により、25μ
tという超薄型の振動子までできるようになった。
フォトエツチング技術と研摩技術の向上により、25μ
tという超薄型の振動子までできるようになった。
このような振動子を使えは、十数torから10 f
orまでの広い範囲で周波数が2.5X10”以上変化
するので非常に精度がよく真空度の測定ができる。
orまでの広い範囲で周波数が2.5X10”以上変化
するので非常に精度がよく真空度の測定ができる。
第3図は、本発明による真空度測定装置の一例である。
1は第1図に示す200μを以下の超薄型の音叉型水晶
振動子、4,5はホンティング線、6は固定台、11は
振動子を入れたプローブ、12は発振回路、△fを求め
るための比較回路、△fを真空度pに換算するための回
路、そして表示部分を含んだ本体である。
振動子、4,5はホンティング線、6は固定台、11は
振動子を入れたプローブ、12は発振回路、△fを求め
るための比較回路、△fを真空度pに換算するための回
路、そして表示部分を含んだ本体である。
このプローブを測定容器に入れて、水晶振動子を発振さ
せ、発振周波数を調べれは測定容器の真空度は簡単に求
まる。
せ、発振周波数を調べれは測定容器の真空度は簡単に求
まる。
尚、本発明にかかる真空度測定装置のシステムの概略を
、第4図にブロック図で示す。
、第4図にブロック図で示す。
メモリ14に記憶させた基準周波数f。
と、センサーとなる音叉型水晶振動子1の発振回路13
の出力fを比較回路15て比較し、ビート回路16て周
波数面差△foを得る。
の出力fを比較回路15て比較し、ビート回路16て周
波数面差△foを得る。
換算回路17は△f。と圧力値を変換させるための回路
であり、その出力を通常用いられるデコーダ18、表示
体19によって表示し、一目で圧力値が判るように構成
されている。
であり、その出力を通常用いられるデコーダ18、表示
体19によって表示し、一目で圧力値が判るように構成
されている。
本発明によれは、厚さ200μ以下の音叉型水晶振動子
が、雰囲気圧力に応じて連続的に変化することに着目し
、真空容器の雰囲気中に露呈させた音叉型水晶振動子の
周波数の変化量を比較回路を用いて測定し、その出力を
周波数照準△fの大きさと圧力値を換算するための換算
回路を通過させ、最終的にデコーダ部表示部を用いて一
目で真空度が判かるように構成しであるので、次のよう
な効果を有する。
が、雰囲気圧力に応じて連続的に変化することに着目し
、真空容器の雰囲気中に露呈させた音叉型水晶振動子の
周波数の変化量を比較回路を用いて測定し、その出力を
周波数照準△fの大きさと圧力値を換算するための換算
回路を通過させ、最終的にデコーダ部表示部を用いて一
目で真空度が判かるように構成しであるので、次のよう
な効果を有する。
a)センサーとして厚さ200μ以下の音叉型水晶振動
子を用い、その周波数面差を真空度として固定するもの
であるので、たいへん小型で、高精度の真空度測定装置
が提供できる。
子を用い、その周波数面差を真空度として固定するもの
であるので、たいへん小型で、高精度の真空度測定装置
が提供できる。
何故なら、音叉型水晶振動子は屈曲モードで振動するた
めに、雰囲気圧力の影響を極めて敏感に受は易く、大き
な周波数変動を発生するためセンサーとして最適であり
、また同じ屈曲振動子でも、音叉型水晶振動子は対称性
かあるために、振動子が小型になっても安定した振動が
得られるものである。
めに、雰囲気圧力の影響を極めて敏感に受は易く、大き
な周波数変動を発生するためセンサーとして最適であり
、また同じ屈曲振動子でも、音叉型水晶振動子は対称性
かあるために、振動子が小型になっても安定した振動が
得られるものである。
b)また測定量として周波数扁差を用いているために、
検出表示回路はすべて簡単なデジタル回路によって構成
することができ、安価で高精度の真空度測定装置を提供
できる。
検出表示回路はすべて簡単なデジタル回路によって構成
することができ、安価で高精度の真空度測定装置を提供
できる。
C)更に音叉型水晶振動子が真空容器に対して着脱自在
に装着されるプローブに固定される構成なので、間+定
真空度の範囲に応じて、最適な厚さの水晶振動子に簡単
に取替えられる利点を有する。
に装着されるプローブに固定される構成なので、間+定
真空度の範囲に応じて、最適な厚さの水晶振動子に簡単
に取替えられる利点を有する。
第1図は、厚さtの音叉型水晶振動子。
第2図は水晶振動子の真空度pと周期変化△Tとの関係
を示す。 第3図は本発明によって構成された真空度測定装置であ
る。 第4図は本発明による真空度測定装置のシステムのフロ
ック図。 1・・・・・・音叉型水晶振動子、2,3・・・・・・
電極、4゜5・・・・・・ホンティング線、6・・・・
・・振動子固定台、7・・・・・・板厚200μの振動
子のp−△f/f曲線、8・・・・・・板厚100μの
振動子のp−△f/f曲線、9・・・・・・板厚50μ
の振動子のp−△f/f曲線、10・・・・・・板厚2
5μの振動子のp−△f/f曲線、11・・・・・・プ
ローブ、12・・・・・・真空度測定装置本体。
を示す。 第3図は本発明によって構成された真空度測定装置であ
る。 第4図は本発明による真空度測定装置のシステムのフロ
ック図。 1・・・・・・音叉型水晶振動子、2,3・・・・・・
電極、4゜5・・・・・・ホンティング線、6・・・・
・・振動子固定台、7・・・・・・板厚200μの振動
子のp−△f/f曲線、8・・・・・・板厚100μの
振動子のp−△f/f曲線、9・・・・・・板厚50μ
の振動子のp−△f/f曲線、10・・・・・・板厚2
5μの振動子のp−△f/f曲線、11・・・・・・プ
ローブ、12・・・・・・真空度測定装置本体。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 板厚200μ以下の水晶薄板からなる音叉型水晶振
動子を真空容器の圧カドランスジューサーとして用い、
且つ基準周波数f。 と前記音叉型水晶振動子の測定周波数fとを比較する比
較回路を含み発振周波数重着を検出する手段と、前記検
出結果に応じて応力値を設定する換算回路を含み該換算
回路の出力に接続され圧力を表示する手段とを備えると
ともに、前記真空容器に対して着脱自存なグローブに備
えられた固定台に前記音叉型水晶振動子の基部を固定し
、前記音叉水晶振動子を真空容器の雰囲気中に露呈させ
るよう配置したことを特徴とする真空度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP49146000A JPS5856820B2 (ja) | 1974-12-19 | 1974-12-19 | シンクウドソクテイソウチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP49146000A JPS5856820B2 (ja) | 1974-12-19 | 1974-12-19 | シンクウドソクテイソウチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5172380A JPS5172380A (ja) | 1976-06-23 |
| JPS5856820B2 true JPS5856820B2 (ja) | 1983-12-16 |
Family
ID=15397825
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP49146000A Expired JPS5856820B2 (ja) | 1974-12-19 | 1974-12-19 | シンクウドソクテイソウチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5856820B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2529670A1 (fr) * | 1982-07-01 | 1984-01-06 | Asulab Sa | Element sensible pour capteur de contraintes et capteur en faisant application |
-
1974
- 1974-12-19 JP JP49146000A patent/JPS5856820B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5172380A (ja) | 1976-06-23 |
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