JPS585685A - 放射線測定装置 - Google Patents
放射線測定装置Info
- Publication number
- JPS585685A JPS585685A JP10404381A JP10404381A JPS585685A JP S585685 A JPS585685 A JP S585685A JP 10404381 A JP10404381 A JP 10404381A JP 10404381 A JP10404381 A JP 10404381A JP S585685 A JPS585685 A JP S585685A
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- pulse
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- radiation
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
- G01T1/178—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector for measuring specific activity in the presence of other radioactive substances, e.g. natural, in the air or in liquids such as rain water
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はパルス式放射線測定装置の構成に関するもの
である。
である。
第１図は従来のこの徳の装置の一例を示す構成図で、（
１）は放射縁検出器、（２）１ま増幅器、（３）は波高
弁別器、（４）はワンショット回路、鬼５）は対数特性
積分器、（６）は直流増幅器、（７）は出力端子、（８
）は高圧＠流電源である。
１）は放射縁検出器、（２）１ま増幅器、（３）は波高
弁別器、（４）はワンショット回路、鬼５）は対数特性
積分器、（６）は直流増幅器、（７）は出力端子、（８
）は高圧＠流電源である。
次に第１図で示す従来の装置の動作について説明する。
放射線検出器（１）で検出された放射線は増幅器（２）
で増幅され波高弁別器（３）で一定波高値以上のパルス
信号のみを通過させ、ワンショット回路（４）で一定の
振幅と一定のパルス幅を有する矩形波信号に変換される
。この変換された矩形波信号は対数特性積分器（５）で
積分される。一定の振幅と一定のパルス幅會有する矩形
波信号全直線特性で積分すればその出力電圧はパルス数
（矩形波の数）に比例することになる。対数特性積分器
では上記比例関係が入力矩形波数の対数に比例するよう
な特性になる。この対数特性積分器（５）の出力を直流
増幅器（６）により増幅し出力端子（７）から出力する
。
で増幅され波高弁別器（３）で一定波高値以上のパルス
信号のみを通過させ、ワンショット回路（４）で一定の
振幅と一定のパルス幅を有する矩形波信号に変換される
。この変換された矩形波信号は対数特性積分器（５）で
積分される。一定の振幅と一定のパルス幅會有する矩形
波信号全直線特性で積分すればその出力電圧はパルス数
（矩形波の数）に比例することになる。対数特性積分器
では上記比例関係が入力矩形波数の対数に比例するよう
な特性になる。この対数特性積分器（５）の出力を直流
増幅器（６）により増幅し出力端子（７）から出力する
。
この出力信号に指示計や記録計など（図示せずンに送ら
れ処理される。なお高圧直流電源（８）は放射線検出器
（１） （：、供給する電源である。
れ処理される。なお高圧直流電源（８）は放射線検出器
（１） （：、供給する電源である。
従来のパルス式放射線測定装置は以上のように構成され
ているので放射線測定を行う場合、バックグラウンド以
下の強さの放射線は検出できないという欠点があった。
ているので放射線測定を行う場合、バックグラウンド以
下の強さの放射線は検出できないという欠点があった。
この発明は上述のような従来のものの欠点を除去するた
めになされたもので、パルス発生器により放射線検出器
のバックグラウンド計数率（二近接した繰返し周波数を
有するパルス信号を発生し、その信号を放射線検出器の
バックグラウンド計数率により同時計数し、バックグラ
ウンドだけの場合には出力端子レベルを零に近ずけるこ
とにより、放射線検出器のバックグラウンド計数率レベ
ル以下の放射線の測定ができる放射線測定装置を提供す
ることを目的としている。
めになされたもので、パルス発生器により放射線検出器
のバックグラウンド計数率（二近接した繰返し周波数を
有するパルス信号を発生し、その信号を放射線検出器の
バックグラウンド計数率により同時計数し、バックグラ
ウンドだけの場合には出力端子レベルを零に近ずけるこ
とにより、放射線検出器のバックグラウンド計数率レベ
ル以下の放射線の測定ができる放射線測定装置を提供す
ることを目的としている。
以下、この発明の実施例を図について説明する。
第２図はこの発明の一実施例を示す構成図で、第１図と
同一符号は同一部分を示し、（９）はパルス発生器、鵠
はパルス発生器（９）のパルス発生周波数調整用可変抵
抗器、ａυは同時計数器、α渇はワンショット回路、（
１３は位相反転器である。
同一符号は同一部分を示し、（９）はパルス発生器、鵠
はパルス発生器（９）のパルス発生周波数調整用可変抵
抗器、ａυは同時計数器、α渇はワンショット回路、（
１３は位相反転器である。
次（二この発明の動作を図について説明する。可変抵抗
器の抵抗値を変化させることによってパルス発生器（９
）で発生しているパルスの繰返し周期を変化させ、それ
音放射線検出器（１）のバックグラウンド計数率に近接
した周期にし、同時計数器ａυに導く。一方、同時計数
器ａυには放射線検出器（１）からの信号が入力してお
り、この２つの信号が同時に入力した時に信号出力があ
り、この出方がワンショット回路０により所定の振幅、
所定のパルス幅の矩形波に変換される。ワンショット回
路（４）とαりの出力矩形波の振幅とパルス幅とは互に
等しいように調整される。°即ち、ワンショット回路（
４）。
器の抵抗値を変化させることによってパルス発生器（９
）で発生しているパルスの繰返し周期を変化させ、それ
音放射線検出器（１）のバックグラウンド計数率に近接
した周期にし、同時計数器ａυに導く。一方、同時計数
器ａυには放射線検出器（１）からの信号が入力してお
り、この２つの信号が同時に入力した時に信号出力があ
り、この出方がワンショット回路０により所定の振幅、
所定のパルス幅の矩形波に変換される。ワンショット回
路（４）とαりの出力矩形波の振幅とパルス幅とは互に
等しいように調整される。°即ち、ワンショット回路（
４）。
ｒｉりはパルス信号を入力し入力パルスを所定の振幅、
所定のパルス幅の矩形波に変換して出力する回路であれ
ばよいのでワンショット回路（４）ヲ第１の波形整形回
路、ワンショット回路αりを第２の波形整形回路という
。波形整形されたワンショット回路αａの出力は位相反
転器Ｑ３においてその極性上反転されてワンショット回
路（４）の出力矩形波と逆位相の矩形波となり、互に打
消し合う方向で対数特性積分器（５）に加えられる。バ
ックグラウンドだけのとき、この対数特性積分器（５）
の出方信号を零にするようパルス発生器（９）の出力周
波数を調整する。
所定のパルス幅の矩形波に変換して出力する回路であれ
ばよいのでワンショット回路（４）ヲ第１の波形整形回
路、ワンショット回路αりを第２の波形整形回路という
。波形整形されたワンショット回路αａの出力は位相反
転器Ｑ３においてその極性上反転されてワンショット回
路（４）の出力矩形波と逆位相の矩形波となり、互に打
消し合う方向で対数特性積分器（５）に加えられる。バ
ックグラウンドだけのとき、この対数特性積分器（５）
の出方信号を零にするようパルス発生器（９）の出力周
波数を調整する。
即ち放射線検出器（１）のバックグラウンド計数率（：
よる対数特性積分器（５）の出方、直流増幅器（６）の
出力信号レベルを零にする。
よる対数特性積分器（５）の出方、直流増幅器（６）の
出力信号レベルを零にする。
次に検出したい放射線が入射し次場合には放射線検出器
（１１からの当該信号は増幅器（２）、波高弁別器（３
）、ワンショット回路（４）、対数特性積分器（５）お
よび直流増幅器（６）ｔ−経て出力端子（７）に導かれ
、放射線の入射数の増加に比例して出力端子（７）の信
号レベルは増加するが、パルス発生器（９）、可変抵抗
器（ＩＩ、同時計数器ａυ、ワンショット回路０及び位
相反転器（１３ｔ−経た信号は放射線検出器（１）のバ
ックグラウンド計数率に対応した信号のみである。この
ようにして放射線検出器（１）のバックグラウンド計数
率を打消し、放射線検出器（１）のバックグラウンド以
下の放射線の測定が可能となる。
（１１からの当該信号は増幅器（２）、波高弁別器（３
）、ワンショット回路（４）、対数特性積分器（５）お
よび直流増幅器（６）ｔ−経て出力端子（７）に導かれ
、放射線の入射数の増加に比例して出力端子（７）の信
号レベルは増加するが、パルス発生器（９）、可変抵抗
器（ＩＩ、同時計数器ａυ、ワンショット回路０及び位
相反転器（１３ｔ−経た信号は放射線検出器（１）のバ
ックグラウンド計数率に対応した信号のみである。この
ようにして放射線検出器（１）のバックグラウンド計数
率を打消し、放射線検出器（１）のバックグラウンド以
下の放射線の測定が可能となる。
なお、上記実施例では対数特性積分器を使用しているが
゛直線特性積分器を使用してもよく、又パルス計数回路
を使用して単位時間のパルス数を表示する場合（＝も同
様な効果がある。
゛直線特性積分器を使用してもよく、又パルス計数回路
を使用して単位時間のパルス数を表示する場合（＝も同
様な効果がある。
以上のよう（：この発明によれば放射線検出器のバック
グラウンドを打消すためにパルス発生器、同時計数器を
備えたパルス式放射線測定器を構成したので放射線の低
いレベルにおける測定が容易にできる効果がある。
グラウンドを打消すためにパルス発生器、同時計数器を
備えたパルス式放射線測定器を構成したので放射線の低
いレベルにおける測定が容易にできる効果がある。
第１図は従来の装置の一例を示すｗｇ図、第２図はこの
発舅による装置の一実施例を示す構成図である。 （１）−−一放射線検出器、（３１−波高弁別器、（４
）−一 ワンショット回路、（５１−対数特性積分器、
（９）−−−パルス発生器、（１（１−−一可変抵抗器
、αυ−−−同時計数器、０−−−ワンショット回路、
Ｑ；１−−一位相反転器。 なお、各図中同一符号は同一部分を示す。 代理人 葛 野 信 −
発舅による装置の一実施例を示す構成図である。 （１）−−一放射線検出器、（３１−波高弁別器、（４
）−一 ワンショット回路、（５１−対数特性積分器、
（９）−−−パルス発生器、（１（１−−一可変抵抗器
、αυ−−−同時計数器、０−−−ワンショット回路、
Ｑ；１−−一位相反転器。 なお、各図中同一符号は同一部分を示す。 代理人 葛 野 信 −
Claims (2)
- （１）放射線検出器と、この放射線検出器の出方を増幅
してその増幅出力のうち所定電圧値１ｒ超す部分だけを
抽出する波高弁別器と、発生周仮数を調整することがで
きるパルス発生器と、このパルス発生器の出力と上記放
射線検出器の民力を入力とする同時計数器と、単位時間
肉感＝おける上記波高弁別器の出力パルス数から上記同
時計数器の出力パルス数を減算した数値を表す−ｆｌｌ
ｌ生成するデータ処理装置と、バックグラウンドのみの
放射−量の場合に上記データ処理装置の出力上塔とする
よう上記パルス発生器の発生周波数を調整する手段とを
備えたこと１−特徴とする放射線測定装置。 - （２）波高弁別器の出力パルス数から同時計数器の出力
パルス数を減算した数値全表す童會生成するデータ処理
装置は、上記波高弁別器の出力パルスを所定の振幅及び
所定の幅を有する矩形波信号６：変換する第１の波形整
形回路と、上記同時引数器の出力パルス會上記所定の振
幅及び上記所定の幅を有する矩形波信号に変換する第２
の波形整形回路と、上記第１の波形整形回路の出力をそ
のままの極性で、上記第２の波形整形回路の出力全反転
した極性で入力する積分回路とを備えたことｔ特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の放射線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10404381A JPS585685A (ja) | 1981-07-01 | 1981-07-01 | 放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10404381A JPS585685A (ja) | 1981-07-01 | 1981-07-01 | 放射線測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS585685A true JPS585685A (ja) | 1983-01-13 |
Family
ID=14370186
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10404381A Pending JPS585685A (ja) | 1981-07-01 | 1981-07-01 | 放射線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS585685A (ja) |
-
1981
- 1981-07-01 JP JP10404381A patent/JPS585685A/ja active Pending
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