JPS58612B2 - 容器検査装置 - Google Patents
容器検査装置Info
- Publication number
- JPS58612B2 JPS58612B2 JP51082678A JP8267876A JPS58612B2 JP S58612 B2 JPS58612 B2 JP S58612B2 JP 51082678 A JP51082678 A JP 51082678A JP 8267876 A JP8267876 A JP 8267876A JP S58612 B2 JPS58612 B2 JP S58612B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- container
- ultrasonic
- transducer
- ultrasonic waves
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Measuring Fluid Pressure (AREA)
- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、容器検査装置、特に容器等の良否の判別を高
速且つ信頼性を以って行い得る容器検査装置に関するも
のである。
速且つ信頼性を以って行い得る容器検査装置に関するも
のである。
従来、備品等の密封容器の内圧測定又は検査、（備品の
良否の検査）は、備品を打つ所謂打検による聴覚検査（
感能検査）が広く持いられて来たが、近年に到り、衝撃
的電気エネルギーを備品等の容器に与えて、容器を振動
させ、この容器の振動により生じた各種周波数のエネル
ギー分布を測定し、容器の良否を検査する方法が提案さ
れた。
良否の検査）は、備品を打つ所謂打検による聴覚検査（
感能検査）が広く持いられて来たが、近年に到り、衝撃
的電気エネルギーを備品等の容器に与えて、容器を振動
させ、この容器の振動により生じた各種周波数のエネル
ギー分布を測定し、容器の良否を検査する方法が提案さ
れた。
然し乍ら、この方法では、例えば備品等の容器の肉厚や
、キャップの巻締具合等の微少な相違により、各種周波
数のエネルギー分布が変化し、更に比較的大きな衝撃的
電気エネルギーを備品等の容器に与えると、容器の有す
る共振周波数以外の雑音的な有害信号も、同時に発生す
るので、備品等の密封容器の内圧と相関関係を持つ正確
な電気信号を取り出すことが困難であり、従って、上述
の従来方法では、正確な検査が不可能であると云う欠点
がある。
、キャップの巻締具合等の微少な相違により、各種周波
数のエネルギー分布が変化し、更に比較的大きな衝撃的
電気エネルギーを備品等の容器に与えると、容器の有す
る共振周波数以外の雑音的な有害信号も、同時に発生す
るので、備品等の密封容器の内圧と相関関係を持つ正確
な電気信号を取り出すことが困難であり、従って、上述
の従来方法では、正確な検査が不可能であると云う欠点
がある。
通常、雑音の消去、各種周波数のエネルギーの個別検出
等には、複雑な電気的処理が必要なので、処理時間が長
くなる。
等には、複雑な電気的処理が必要なので、処理時間が長
くなる。
従って、上述した従来の技術は、例えば高速ベルトコン
ベア上を流れる備品等の製品の良否の検査には、不適で
あった。
ベア上を流れる備品等の製品の良否の検査には、不適で
あった。
従って、本発明の主目的は、備品等の容器の良否の検査
を高速、且つ信頼性を以って行い得る容器検査装置を提
案せんとするにある。
を高速、且つ信頼性を以って行い得る容器検査装置を提
案せんとするにある。
本発明の特徴とするところは、超音波トランスデユーサ
より超音波を被検容器に投射し、該検容器の固有振動に
より変調された反射超音波を上記超音波トランスデユー
サで受信し、これを電気信号に変換し、該電気信号を処
理して被検容器の良否を判別する容器検査装置に於て、
上記超音波トランスデユーサを上記被検容器より離間し
て配置し、該超音波トランスデユーサより発射される超
音波を極めて短い一定時間継続する超音波パルスとなし
、該超音波パルスを上記被検容器に一方から投射するよ
うになした容器検査装置に存する。
より超音波を被検容器に投射し、該検容器の固有振動に
より変調された反射超音波を上記超音波トランスデユー
サで受信し、これを電気信号に変換し、該電気信号を処
理して被検容器の良否を判別する容器検査装置に於て、
上記超音波トランスデユーサを上記被検容器より離間し
て配置し、該超音波トランスデユーサより発射される超
音波を極めて短い一定時間継続する超音波パルスとなし
、該超音波パルスを上記被検容器に一方から投射するよ
うになした容器検査装置に存する。
以下、図面を参照して、本発明による容器検査装置の一
例を説明しよう。
例を説明しよう。
第１図は本発明による容器検査装置の一例の路線図で、
同図に於て、符号１は超音波送受波器又はトランスデユ
ーサで、これは例えばチタン酸バリウム磁器、結晶又は
フェライト等より形成される。
同図に於て、符号１は超音波送受波器又はトランスデユ
ーサで、これは例えばチタン酸バリウム磁器、結晶又は
フェライト等より形成される。
２は超音波パルス発生器で、これよりの、例えば約５０
〜２００ＭＨｚの電気パルス信号を、例えばトランスＴ
１及びブリッジ回路３を介してトランスデユーサ１に供
給する。
〜２００ＭＨｚの電気パルス信号を、例えばトランスＴ
１及びブリッジ回路３を介してトランスデユーサ１に供
給する。
すると、このトランスデユーサ１は、第２図Ａに示す如
く、例えば１〜３ミリセカンドの如き非常に短い一定時
間、ビーム状超音波パルスを発射する。
く、例えば１〜３ミリセカンドの如き非常に短い一定時
間、ビーム状超音波パルスを発射する。
このビーム状超音波を、例えば備品又は曇詰の如き被検
材或は容器４に投射する。
材或は容器４に投射する。
この時、容器４の外壁は、超音波により附勢されて、そ
の内圧と相関関係を以って微小な固有振動を行い、従っ
て、容器４はトランスデユーサ１よりの超音波を、その
固有振動で変調する。
の内圧と相関関係を以って微小な固有振動を行い、従っ
て、容器４はトランスデユーサ１よりの超音波を、その
固有振動で変調する。
即ち、第２図Ｂ及びＣに示す如き超音波が、容器４より
発射する。
発射する。
通常、備品又は曇詰等の密封容器４の真空度が良い（良
品に相当する）と、容器４の共振周波数は高く、従って
高いＱを持ち、逆に密封容器４の真空度が悪い（悪品に
相当する）と、容器４の共振周波数が低く、従って低い
Ｑを持つ。
品に相当する）と、容器４の共振周波数は高く、従って
高いＱを持ち、逆に密封容器４の真空度が悪い（悪品に
相当する）と、容器４の共振周波数が低く、従って低い
Ｑを持つ。
即ち、真空度が良く、高いＱを示す容器４により変調さ
れた超音波は、第２図Ｂに示す如く、その振動勢力（エ
ネルギー）が高く、例えば約数ミリセカンド継続する。
れた超音波は、第２図Ｂに示す如く、その振動勢力（エ
ネルギー）が高く、例えば約数ミリセカンド継続する。
一方、真空度が悪く、低いＱの容器４により変調された
超音波は、第２図Ｃに示す如く、第２図Ｂに示す超音波
より、その振動勢力（エネルギー）が低く、第２図Ｂに
示す超音波より短い継続時間、例えは約２〜３ミリセカ
ンドしか継続しない。
超音波は、第２図Ｃに示す如く、第２図Ｂに示す超音波
より、その振動勢力（エネルギー）が低く、第２図Ｂに
示す超音波より短い継続時間、例えは約２〜３ミリセカ
ンドしか継続しない。
従って、容器４により変調された超音波のエネルギー量
を測定することにより、容器４の良否を判別することが
できる。
を測定することにより、容器４の良否を判別することが
できる。
従って、第１図に示す本発明の一例に於ては、トランス
デユーサ１により容器４で変調された超音波を受信し、
これを対応電気信号に変換し、この電気信号をブリッジ
回路３、トランスＴ２及び増巾器５を介して、検出回路
６に供給し、そのエネルギーを検出する。
デユーサ１により容器４で変調された超音波を受信し、
これを対応電気信号に変換し、この電気信号をブリッジ
回路３、トランスＴ２及び増巾器５を介して、検出回路
６に供給し、そのエネルギーを検出する。
次に、この検出回路６の出力を、良否判定回路７に供給
し、これに於て、予め定められた基準値（閾値）、即ち
良品に対応するエネルギー値と比較し、容器の良否を判
別する。
し、これに於て、予め定められた基準値（閾値）、即ち
良品に対応するエネルギー値と比較し、容器の良否を判
別する。
本発明に於ては、第２図Ａに示す如き一定時間巾の超音
波を、超音波パルス発生器２より、トランスＴ１及びブ
リッジ回路３を介して、トランスデユーサ１へ供給して
いるが、増巾器５には、超音波パルス発生器２よりのパ
ルス信号は供給されず、容器４により変調された超音波
をトランスデユーサ１が受信し、これよりの対応電気信
号のみを、ブリッジ回路３及びトランスＴ２を介して、
増巾器５に供給するのは、勿論である。
波を、超音波パルス発生器２より、トランスＴ１及びブ
リッジ回路３を介して、トランスデユーサ１へ供給して
いるが、増巾器５には、超音波パルス発生器２よりのパ
ルス信号は供給されず、容器４により変調された超音波
をトランスデユーサ１が受信し、これよりの対応電気信
号のみを、ブリッジ回路３及びトランスＴ２を介して、
増巾器５に供給するのは、勿論である。
尚、第１図に於て、３１はブリッジを平衡させるための
等価回路である。
等価回路である。
尚、ブリッジ回路３を使用せず、トランスデユーサ１が
超音波を発射している間は、増巾器５の動作を停止する
ような回路構成を使用しても、上述と同様の効果が得ら
れ、更には、１個のトランスデユーサ１の代りに、超音
波送波及び超音波受波用に、２個のトランスデユーサを
夫々別々に設けた回路構成を用いても、同様の効果が得
られるものである。
超音波を発射している間は、増巾器５の動作を停止する
ような回路構成を使用しても、上述と同様の効果が得ら
れ、更には、１個のトランスデユーサ１の代りに、超音
波送波及び超音波受波用に、２個のトランスデユーサを
夫々別々に設けた回路構成を用いても、同様の効果が得
られるものである。
又、ベルトコンベヤ８等により順次搬送されて来る容器
４を、順次検査する場合でも、本発明による装置に於て
は、超音波発生時間を、例えば１〜３ミリセカンドの如
く極めて短い時間に選択しており、又、被検容器による
変調超音波の発生時間も、例えば数ミリセカンド以内の
非常に短い時間であるので、ベルトコンベヤ８等により
順次搬送されて来る容器４を、順次自動的に検査するこ
と、即ち高速で検査を行うことも、容易である。
４を、順次検査する場合でも、本発明による装置に於て
は、超音波発生時間を、例えば１〜３ミリセカンドの如
く極めて短い時間に選択しており、又、被検容器による
変調超音波の発生時間も、例えば数ミリセカンド以内の
非常に短い時間であるので、ベルトコンベヤ８等により
順次搬送されて来る容器４を、順次自動的に検査するこ
と、即ち高速で検査を行うことも、容易である。
以上の如く、本発明による装置によれば、パルス状の超
音波を、非常に短かい一定時間被検材に投射し、この被
検材により変調された短い時間継続する超音波を受信し
、これを対応電気信号に変換し、そのエネルギー値を良
品に相当するエネルギー値と比較し、被検材の良否を判
別するようになしたものであるから、その良否の判別は
正確で、信頼性に富み、加えて高速に搬送される被検材
をも、正確且つ確実に検査し得るものである。
音波を、非常に短かい一定時間被検材に投射し、この被
検材により変調された短い時間継続する超音波を受信し
、これを対応電気信号に変換し、そのエネルギー値を良
品に相当するエネルギー値と比較し、被検材の良否を判
別するようになしたものであるから、その良否の判別は
正確で、信頼性に富み、加えて高速に搬送される被検材
をも、正確且つ確実に検査し得るものである。
尚、上述は、本発明を備品等の密封容器の良否を判別す
るに適用した例に就き説明したが、本発明は、備品等の
密封容器の良否の判別に限定される必要はなく、超音波
に対して上述と同様の作用を有する容器及び材料等の検
査に使用し得ることは勿論、上述した本発明の範囲を逸
脱せずに、多くの変化、変更がなし得ることも、明らか
であろう。
るに適用した例に就き説明したが、本発明は、備品等の
密封容器の良否の判別に限定される必要はなく、超音波
に対して上述と同様の作用を有する容器及び材料等の検
査に使用し得ることは勿論、上述した本発明の範囲を逸
脱せずに、多くの変化、変更がなし得ることも、明らか
であろう。
第１図は本発明の一例の系統図、第２図は本発明の説明
に使用する波形図である。 図に於て、１はトランスデユーサ、２は超音波パルス発
生器、３はブリッジ回路、３１は等何回路、４は被検材
、５は増巾器、６は検出回路、７は良否判定回路、８は
ベルトコンベヤ、Ｔ１及びＴ２はトランスを夫々示す。
に使用する波形図である。 図に於て、１はトランスデユーサ、２は超音波パルス発
生器、３はブリッジ回路、３１は等何回路、４は被検材
、５は増巾器、６は検出回路、７は良否判定回路、８は
ベルトコンベヤ、Ｔ１及びＴ２はトランスを夫々示す。
Claims (1)
- １ 超音波トランスデユーサより超音波を被検容器に投
射し、該被検容器の固有振動により変調された反射超音
波を上記超音波トランスデユーサで受信し、これを電気
信号に変換し、該電気信号を検出回路及び良否判定回路
で処理して被検容器の良否を判定する容器検査装置に於
いて、上記超音波トランスデユーサを上記被検容器より
離間して配置すると共に、該超音波トランスデユーサに
超音波パルス発生器よりの一定時間巾のパルス信号を供
給し、該超音波トランスデユーサより発射される超音波
を極めて短い一定時間継続する超音波パルスとなし、該
超音波パルスを上記被検容器に一方から投射するように
なしたことを特徴とする容器検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51082678A JPS58612B2 (ja) | 1976-07-12 | 1976-07-12 | 容器検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51082678A JPS58612B2 (ja) | 1976-07-12 | 1976-07-12 | 容器検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS538191A JPS538191A (en) | 1978-01-25 |
| JPS58612B2 true JPS58612B2 (ja) | 1983-01-07 |
Family
ID=13781064
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51082678A Expired JPS58612B2 (ja) | 1976-07-12 | 1976-07-12 | 容器検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58612B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63182613U (ja) * | 1987-05-18 | 1988-11-24 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54680B2 (ja) * | 1972-01-07 | 1979-01-13 |
-
1976
- 1976-07-12 JP JP51082678A patent/JPS58612B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63182613U (ja) * | 1987-05-18 | 1988-11-24 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS538191A (en) | 1978-01-25 |
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