JPS5868165A - マイクロプロセツサ内の追加的機能単位およびその作動方法 - Google Patents
マイクロプロセツサ内の追加的機能単位およびその作動方法Info
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- JPS5868165A JPS5868165A JP57170787A JP17078782A JPS5868165A JP S5868165 A JPS5868165 A JP S5868165A JP 57170787 A JP57170787 A JP 57170787A JP 17078782 A JP17078782 A JP 17078782A JP S5868165 A JPS5868165 A JP S5868165A
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- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
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- G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G06F11/2736—Tester hardware, i.e. output processing circuits using a dedicated service processor for test
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はマイクロプロセッサ内の追加的機能単位に関す
る。
る。
高度に集積されたモジュールたとえば集積された32ビ
ツト・マイクロプロセッサの検査は少なからぬ問題を有
する。このような集積されたモジュールの機能の健全性
に関する検査を通常の検査および試験方法(自動検査)
により妥当な短時間のうちに高い誤り検出能力をもって
行t【うことは可能でない。
ツト・マイクロプロセッサの検査は少なからぬ問題を有
する。このような集積されたモジュールの機能の健全性
に関する検査を通常の検査および試験方法(自動検査)
により妥当な短時間のうちに高い誤り検出能力をもって
行t【うことは可能でない。
従来、このような高度に集積されたモジュールはたいて
い外部で検査された。これは自動検査装置、テストパタ
ーン発生装置まだは既知の良好な構成部分を有する比較
回路により行なわれだ。多くの集積されたプロセッサ・
モジュール(たとえ法ではそのすべての機能範囲を検査
しつくさt’Lない。
い外部で検査された。これは自動検査装置、テストパタ
ーン発生装置まだは既知の良好な構成部分を有する比較
回路により行なわれだ。多くの集積されたプロセッサ・
モジュール(たとえ法ではそのすべての機能範囲を検査
しつくさt’Lない。
ます1す多くのマイクロプロセッサ、特に16ピツトま
たはそれ以」−の語長を有する新世代のマイクロプロセ
ッサが中規模または大規模計算システム内のプロセッサ
として用いられる。シングルおよびマルチプロセッサシ
ステムとして種々の大きさのものが種々の分野に用いら
れている。その場合、システムが正しく作動しているか
否かを任意の時点で知り得ることがユーザーにとって1
すまず重要になる。
たはそれ以」−の語長を有する新世代のマイクロプロセ
ッサが中規模または大規模計算システム内のプロセッサ
として用いられる。シングルおよびマルチプロセッサシ
ステムとして種々の大きさのものが種々の分野に用いら
れている。その場合、システムが正しく作動しているか
否かを任意の時点で知り得ることがユーザーにとって1
すまず重要になる。
作動進行中のオンライン誤り検出は非常に費用がかかる
ので、それほどシビアでない用途では、計算機をシステ
ム始動後に一定の時間間隔で1だけ休止時間中にその機
能に関して検査することで満足される。データ路および
メモリのみがオンラインで誤り検出コード捷たは誤り訂
正コード(たとえばパリティ、ハミング・コードなど)
により試験される。このような公知の機能検査はブート
ストララフ法(VDI−Berichte 、 第3
28号(1,978年)第77〜85頁)による自己検
査の形態で試験マイクロプログラムを用いて行なわれる
。
ので、それほどシビアでない用途では、計算機をシステ
ム始動後に一定の時間間隔で1だけ休止時間中にその機
能に関して検査することで満足される。データ路および
メモリのみがオンラインで誤り検出コード捷たは誤り訂
正コード(たとえばパリティ、ハミング・コードなど)
により試験される。このような公知の機能検査はブート
ストララフ法(VDI−Berichte 、 第3
28号(1,978年)第77〜85頁)による自己検
査の形態で試験マイクロプログラムを用いて行なわれる
。
機能の健全なテストコアから出発して、との公知の装置
では順次にシステムのすベニの構成要素が検査され、そ
の際にそのつど別の構成要素の検査のため既に検査され
た構成要素のみが用いられる。
では順次にシステムのすベニの構成要素が検査され、そ
の際にそのつど別の構成要素の検査のため既に検査され
た構成要素のみが用いられる。
この公知の装置では、テストコアの試験に、検査順序の
正1〜い進行に、また誤り指示に問題が生ずる。類似の
自己検査方法は欧州特許出願第0018736A1号か
ら公知であり、その明細書には主として自己検査プログ
ラムおよびその公知のマイクロコンピュータへの応用が
開示されている。
正1〜い進行に、また誤り指示に問題が生ずる。類似の
自己検査方法は欧州特許出願第0018736A1号か
ら公知であり、その明細書には主として自己検査プログ
ラムおよびその公知のマイクロコンピュータへの応用が
開示されている。
欧州特許出願第QO10194A1号から、中央処理装
置およびサービスプロセッサを有するデータ処理装置に
対する保守インターフェイス装置は公知である。この保
守インターフェイス装置はサービスプロセッサの作動を
中央処理装置の作動と同期させなければならない。保守
インターフェイス装置はサービスプロセッサの命令も中
央処理装置からの命令も解釈するだめの回路を含んでお
り、両者間の妨げられないデータ交換を可能にする。中
央処理装置はマイクロプロセッサを含んでいる。保守イ
ンターフェイス装置は保守作業を診断および検査方法の
可能化により容易にするような原理で構成されている。
置およびサービスプロセッサを有するデータ処理装置に
対する保守インターフェイス装置は公知である。この保
守インターフェイス装置はサービスプロセッサの作動を
中央処理装置の作動と同期させなければならない。保守
インターフェイス装置はサービスプロセッサの命令も中
央処理装置からの命令も解釈するだめの回路を含んでお
り、両者間の妨げられないデータ交換を可能にする。中
央処理装置はマイクロプロセッサを含んでいる。保守イ
ンターフェイス装置は保守作業を診断および検査方法の
可能化により容易にするような原理で構成されている。
サービスプロセッサは一般に中央処理装置と非同期でそ
れよりもはるかに低速で作動するので、この特許出願に
よる検査および保守作動は比較的費用がかかる。高度に
集積されたモジュールのすべての機能を通常のサービス
プロセッサにより妥当な短時間のうちに高い誤り検出能
力をもって試験することはできない。
れよりもはるかに低速で作動するので、この特許出願に
よる検査および保守作動は比較的費用がかかる。高度に
集積されたモジュールのすべての機能を通常のサービス
プロセッサにより妥当な短時間のうちに高い誤り検出能
力をもって試験することはできない。
マルチプロセッサシステムの場合、この特許出願による
装置では、各プロセッサに対して固有のサービスプロセ
ッサを設けるか、サービスプロセッサをfit−です寸
せ試験に時間がかかるのをやむをえないとするかのいず
れかになる。
装置では、各プロセッサに対して固有のサービスプロセ
ッサを設けるか、サービスプロセッサをfit−です寸
せ試験に時間がかかるのをやむをえないとするかのいず
れかになる。
成するのに適したマイクロプロセッサを検査対象として
いる。それに対する診断システ・ムも相応に可変でなけ
ればならない。最小構成では、1つのマイクロプロセッ
サ、1つのメモリ、1つのクロックパルス発生器および
1つの電源装置から完全な計算機が構成される。さらに
、場合によっては、必要な周辺装置が追加される。本発
明の目的は、このような場合にも高能力かつ高信頼性の
検査および診断システムを可能にすることである。
いる。それに対する診断システ・ムも相応に可変でなけ
ればならない。最小構成では、1つのマイクロプロセッ
サ、1つのメモリ、1つのクロックパルス発生器および
1つの電源装置から完全な計算機が構成される。さらに
、場合によっては、必要な周辺装置が追加される。本発
明の目的は、このような場合にも高能力かつ高信頼性の
検査および診断システムを可能にすることである。
この目的は、本発明によれば、マイクロプロセッサ内の
追加的機能単位がマイクロプロセッサ・チップ」二で検
査経過の独立した制御を行ない得る制御手段を有するこ
とにより達成される。
追加的機能単位がマイクロプロセッサ・チップ」二で検
査経過の独立した制御を行ない得る制御手段を有するこ
とにより達成される。
本発明の実施態様は特許請求の範囲第2項ないし第27
項、以下の説明および図面に示されている。
項、以下の説明および図面に示されている。
マイクロプロセッサの検査および診断にあたり、本発明
により構成されたマイクロプロセッサでは、本発明によ
る検査および保守作動は従来の方法よりも短い時間しか
必要としない。自己検査の制御および結果の評価がユー
ザーにより行なわれる必要はない。本発明により可能と
される検査および保守能力スペクトラムは公知の方法に
よる場合にくらべてはるかに広範である。
により構成されたマイクロプロセッサでは、本発明によ
る検査および保守作動は従来の方法よりも短い時間しか
必要としない。自己検査の制御および結果の評価がユー
ザーにより行なわれる必要はない。本発明により可能と
される検査および保守能力スペクトラムは公知の方法に
よる場合にくらべてはるかに広範である。
本発明によれば、高度に集積されたマイクロプロセッサ
の可制御性および可観測性が顕著に改善される。それに
より、高度に集積されたマイクロプロセッサの開発の際
に既に固有の検査も試験準備も非常に簡単化される。製
造完了時の検査の際に、本発明によれば、検査費用が可
能なかぎりわずかに保たれる。本発明は比較的簡単な手
段で、高度に集積されたマイクロプロセッサ内のエラー
・ロケーションに関する追加的情報を可能とし、その統
計的評価により設計上の弱点に関する価値ある指摘を与
える。
の可制御性および可観測性が顕著に改善される。それに
より、高度に集積されたマイクロプロセッサの開発の際
に既に固有の検査も試験準備も非常に簡単化される。製
造完了時の検査の際に、本発明によれば、検査費用が可
能なかぎりわずかに保たれる。本発明は比較的簡単な手
段で、高度に集積されたマイクロプロセッサ内のエラー
・ロケーションに関する追加的情報を可能とし、その統
計的評価により設計上の弱点に関する価値ある指摘を与
える。
高能力の計算機には、1つの共通のシステムパスを介し
て接続されている(部分的に)異なる機能を有する複数
個のプロセッサが存在する。これらの場合に、本発明に
よる1つのマイクロプロセッサがサービスプロセッサと
解される。このサービスプロセッサは個々のマイクロプ
ロセッサ・チップ上の追加的機能単位と特殊な通信網を
介して接続され℃いる。
て接続されている(部分的に)異なる機能を有する複数
個のプロセッサが存在する。これらの場合に、本発明に
よる1つのマイクロプロセッサがサービスプロセッサと
解される。このサービスプロセッサは個々のマイクロプ
ロセッサ・チップ上の追加的機能単位と特殊な通信網を
介して接続され℃いる。
本発明は製造完了時の検査に対する新しい検査方法を可
能にする。本発明による追加的機能単位は純粋なスイッ
チ機能も制御課題も実行する。本発明による追加的機能
単位の複雑さはマイクロプロセッサ自体の複雑さにくら
べて小さい。W!!!造完了時の検査の際、本発明によ
る追加的機能単位は、現在自動検査装置により行なわれ
る課題を引き受ける。追加的機能単位がマイクロプロセ
ッサ・チップ上で自己検査を制御する。それにより種々
のマイクロプロセッサ・チップの並列検査が可能である
。本発明による追加的機能単位自体はハードコアとして
外部から比較的簡単な自動試験装置により検査される。
能にする。本発明による追加的機能単位は純粋なスイッ
チ機能も制御課題も実行する。本発明による追加的機能
単位の複雑さはマイクロプロセッサ自体の複雑さにくら
べて小さい。W!!!造完了時の検査の際、本発明によ
る追加的機能単位は、現在自動検査装置により行なわれ
る課題を引き受ける。追加的機能単位がマイクロプロセ
ッサ・チップ上で自己検査を制御する。それにより種々
のマイクロプロセッサ・チップの並列検査が可能である
。本発明による追加的機能単位自体はハードコアとして
外部から比較的簡単な自動試験装置により検査される。
マルチプロセッサシステムでは1つのマイクロプロセッ
サがサービスプロセッサと解され得る。サービスプロセ
ッサは、現在方形計算機内の相応のプロセッサにおいて
通常実行されるような機能を実行する。サービスプロセ
ッサはすべてのシステム構成要素(マイクロプロセッサ
、主メモリ、中央電源装置など)へのアクセス機能を有
する。作動システムに対してサービスプロセッサは機能
インターフェイスを有する。
サがサービスプロセッサと解され得る。サービスプロセ
ッサは、現在方形計算機内の相応のプロセッサにおいて
通常実行されるような機能を実行する。サービスプロセ
ッサはすべてのシステム構成要素(マイクロプロセッサ
、主メモリ、中央電源装置など)へのアクセス機能を有
する。作動システムに対してサービスプロセッサは機能
インターフェイスを有する。
製造完了時の検査の際、本発明は、比較的簡単な検査装
置により比較的迅速に、マイクロプロセッサ・チップが
誤りを有さないか否かを確認すること(go/no−g
o検査)を可能にする。
置により比較的迅速に、マイクロプロセッサ・チップが
誤りを有さないか否かを確認すること(go/no−g
o検査)を可能にする。
本発明によれば、3段階の高能力かつ高信頼性の診断シ
ステムが構成され得る。
ステムが構成され得る。
1)第1段階では各マイクロプロセッサの自己検査が行
なわれる。マイクロ診断プログラムを用いてこの自己検
査では、テストコアは誤りを有さないことが前提とされ
る。また、マイクロプロセッサの個々の構成要素はその
際に特殊な試る。この段階で部分的に、進行中のオンラ
イン誤り検出もノ・−ドウエアの冗長性により行なわれ
得る。
なわれる。マイクロ診断プログラムを用いてこの自己検
査では、テストコアは誤りを有さないことが前提とされ
る。また、マイクロプロセッサの個々の構成要素はその
際に特殊な試る。この段階で部分的に、進行中のオンラ
イン誤り検出もノ・−ドウエアの冗長性により行なわれ
得る。
2)自己検査の制御および結果の評価が第2段階でそれ
ぞれ本発明による追加的機能単位により行なわれる。追
加的機能単位は、マイクロプロセッサの自己検査のため
に必要なテストコアをも検査し、試験ロジックの指示を
評価し、また誤りの存在時には相応に反応する(、たと
えばマイクロプロセッサ番チップを停止させる)。
ぞれ本発明による追加的機能単位により行なわれる。追
加的機能単位は、マイクロプロセッサの自己検査のため
に必要なテストコアをも検査し、試験ロジックの指示を
評価し、また誤りの存在時には相応に反応する(、たと
えばマイクロプロセッサ番チップを停止させる)。
3)第3段階では、マルチプロセッサシステムにおいて
、サービスプロセッサが全診断に対するコオーデイネー
ションを引き受ける。サービスプロセッサは個々の追加
的機能単位および自己検査不可能な構成要素たとえば作
業メモリなどを検査する。障害時にはサービスプロセッ
サが、もし相応の冗長性が存在していれば、機器再構成
を行なう。
、サービスプロセッサが全診断に対するコオーデイネー
ションを引き受ける。サービスプロセッサは個々の追加
的機能単位および自己検査不可能な構成要素たとえば作
業メモリなどを検査する。障害時にはサービスプロセッ
サが、もし相応の冗長性が存在していれば、機器再構成
を行なう。
第1図は本発明によるマイクロプロセッサ・チップ5の
ブロック回路図である。本発明による追加的機能単位6
は高度に集積されたマイクロプロセッサ・チップ5の通
常の機能単位群に追加して一体に構成されている。この
集積された追加的機能単位6の複雑さは集積された主シ
ステムの複雑さよりも小さい。追加的機能単位6はその
機能の健全性を通常の検査装置により比較的短い時間の
うちに検査され得る。その後に追加的機能単位6が、集
積された主システムの検査を引き受ける。
ブロック回路図である。本発明による追加的機能単位6
は高度に集積されたマイクロプロセッサ・チップ5の通
常の機能単位群に追加して一体に構成されている。この
集積された追加的機能単位6の複雑さは集積された主シ
ステムの複雑さよりも小さい。追加的機能単位6はその
機能の健全性を通常の検査装置により比較的短い時間の
うちに検査され得る。その後に追加的機能単位6が、集
積された主システムの検査を引き受ける。
この検査はマイクロプロセッサ・チップ5上で内部で行
tCわれるので、多くのマイクロプロセッサ・チップ上
で並列に進行可能であり、1つの自動検査装置を占有し
ない。追加的機能単位6は1つのプログラム・メモリ9
を有していてよく、寸だマイクロプロセッサのすべての
機能単位7と接続されている。追加的機能単位6はシグ
ニチュア・レジスタに対する機能検査捷たはスキャン・
パス法にも用いられ得る。追加的機能単位6はVLSI
(191 マイクロプログラム部分を含めてマイクロプログラムプ
の独立部分である。追加的機能711位6はマイクロプ
ロセッサ・チップ5に対するインターフェイス8を介し
て外部への接続を引き受ける。さらに、追加的機能単位
6はマイクロプログラムによるプロセッサにおいてマイ
クロプログラムのロードを引き受けることができ、マイ
クロプロセッサ・チップ・システム内のハードウェアの
誤りを監視することができ、まだマイクロプログラムに
ヨルコンピュータの保守領域支援のようなモニタ機能を
実行することができる。
tCわれるので、多くのマイクロプロセッサ・チップ上
で並列に進行可能であり、1つの自動検査装置を占有し
ない。追加的機能単位6は1つのプログラム・メモリ9
を有していてよく、寸だマイクロプロセッサのすべての
機能単位7と接続されている。追加的機能単位6はシグ
ニチュア・レジスタに対する機能検査捷たはスキャン・
パス法にも用いられ得る。追加的機能単位6はVLSI
(191 マイクロプログラム部分を含めてマイクロプログラムプ
の独立部分である。追加的機能711位6はマイクロプ
ロセッサ・チップ5に対するインターフェイス8を介し
て外部への接続を引き受ける。さらに、追加的機能単位
6はマイクロプログラムによるプロセッサにおいてマイ
クロプログラムのロードを引き受けることができ、マイ
クロプロセッサ・チップ・システム内のハードウェアの
誤りを監視することができ、まだマイクロプログラムに
ヨルコンピュータの保守領域支援のようなモニタ機能を
実行することができる。
マイクロプロセッサ・チップ5上の追加的機能単位6は
純粋なスイッチ機能も制御機能も実行する。追加的機能
単位6はたとえば保守および初期化機能を実行する。追
加的機能単位6はマイクロプロセッサの接近不能部分を
外部から接近可能にする(ステータス・レジスタを含む
すべてのレジスタ、フラグ、パイプライン・レジスタ、
バスナど)。追加的機能単位6は、所定の初期状態をマ
イクロプロセッサ内に生ぜしめること(リセッ日(20
) び制御を引き受ける。追加的機能単位は可能なかりおよ
びフラグをセット1−かつ読むことを許す。
純粋なスイッチ機能も制御機能も実行する。追加的機能
単位6はたとえば保守および初期化機能を実行する。追
加的機能単位6はマイクロプロセッサの接近不能部分を
外部から接近可能にする(ステータス・レジスタを含む
すべてのレジスタ、フラグ、パイプライン・レジスタ、
バスナど)。追加的機能単位6は、所定の初期状態をマ
イクロプロセッサ内に生ぜしめること(リセッ日(20
) び制御を引き受ける。追加的機能単位は可能なかりおよ
びフラグをセット1−かつ読むことを許す。
それによって、マイクロプロセッサに命令を外部から″
強制“することも可能である。追加的機能単位の支援に
より個別命令実行(シングル・ステップ・モード)が可
能である。
強制“することも可能である。追加的機能単位の支援に
より個別命令実行(シングル・ステップ・モード)が可
能である。
追加的機能単位6は監視機能を実行する。マイクロプロ
セッサの自己検査に対して追加的機能単位は、マイクロ
プロセッサ上で診断プログラムが進行1〜でいる間に時
間監視さらに場合によってはアドレス監視を実行する能
力を有する。試験ロジックからの個々の結果の評価は大
部分試験ロジック自体がハードウェア的に引き受ける。
セッサの自己検査に対して追加的機能単位は、マイクロ
プロセッサ上で診断プログラムが進行1〜でいる間に時
間監視さらに場合によってはアドレス監視を実行する能
力を有する。試験ロジックからの個々の結果の評価は大
部分試験ロジック自体がハードウェア的に引き受ける。
追加的機能111位6は用意された最終結果(単なる誤
り存否の報知)に相応に反応する。それはたとえば命令
反復の刺戟または無条件のプロセッサ停止であってよい
。
り存否の報知)に相応に反応する。それはたとえば命令
反復の刺戟または無条件のプロセッサ停止であってよい
。
セッサのハードコアの、特殊な試験ロジックによっては
カバーされていない部分を、マイクロ診断プログラムを
用いて検査する。追加的機能単位6はさらにマイクロプ
ロセッサ自己検査の結果の評価を引き受ける。追加的機
能単位6は命令統計の導出および個々の構成要素(たと
えば中央処理装置、バス、チャネルなど)のワークロー
ドの監視のような作動システム機能をも引き受ける。こ
の機能を引き受けることは、追加的機能単位6がそれに
必要な能力を他の要求により既に有17がっ作動進行中
にそれによって空き時間が満たされ得る場合には、有意
義である。
カバーされていない部分を、マイクロ診断プログラムを
用いて検査する。追加的機能単位6はさらにマイクロプ
ロセッサ自己検査の結果の評価を引き受ける。追加的機
能単位6は命令統計の導出および個々の構成要素(たと
えば中央処理装置、バス、チャネルなど)のワークロー
ドの監視のような作動システム機能をも引き受ける。こ
の機能を引き受けることは、追加的機能単位6がそれに
必要な能力を他の要求により既に有17がっ作動進行中
にそれによって空き時間が満たされ得る場合には、有意
義である。
第2図はマルチプロセッサシステムにおける星形通信網
を示す。マルチプロセッサシステムでは診断システムに
対するハードウェアはザービスプロセッサ21と他の機
能プロセッサ5内の追加的るデータおよびコマンドの交
換のためサービスプロセッサ21と追加的機能単位6と
の間に適当な通信システムが存在しなければならない。
を示す。マルチプロセッサシステムでは診断システムに
対するハードウェアはザービスプロセッサ21と他の機
能プロセッサ5内の追加的るデータおよびコマンドの交
換のためサービスプロセッサ21と追加的機能単位6と
の間に適当な通信システムが存在しなければならない。
その際、先ず2つの極端なケースが可能である。
a)既存の1由信路すなわちシステムバスが共用される
。
。
1〕)固有の通信網が存在している。
サービスプロセッサ21が現在大形計算機における相応
のプロセッサで通常実行されているような機能を実行す
る場合、個々の機能プロセッサ5における信号(たとえ
ばυセント信号)がサービスプロセッサ21からコマン
ド(データ語)の形態で外部へ与えられなければなら?
Cい。次いで適当な特効ゴcロジックユニット(コオー
デイネータ22)がこのコマンドを選択された目標にお
ける制御信号に変換しなければならない。コオーデイネ
ータ22がシステムバスに依存していると、その複雑さ
が過大になる。従って、本発明の一つの実施例では、コ
オーディネータ22を有する固有の星形通信網(データ
線共)が、第2図に示され(いろように、中心に形成さ
れる。
のプロセッサで通常実行されているような機能を実行す
る場合、個々の機能プロセッサ5における信号(たとえ
ばυセント信号)がサービスプロセッサ21からコマン
ド(データ語)の形態で外部へ与えられなければなら?
Cい。次いで適当な特効ゴcロジックユニット(コオー
デイネータ22)がこのコマンドを選択された目標にお
ける制御信号に変換しなければならない。コオーデイネ
ータ22がシステムバスに依存していると、その複雑さ
が過大になる。従って、本発明の一つの実施例では、コ
オーディネータ22を有する固有の星形通信網(データ
線共)が、第2図に示され(いろように、中心に形成さ
れる。
第2図に示されている通信網は主として保守および誤り
時に寸だシステムまだは個々のシステム構成要素の初期
化のために用いられる。作動時にサービスプロセッサ2
1は作動システムに対する機能インターフェイスを利用
する。その際に必要fxf−タ交換はシステムバスおよ
び主メモリヲ介17て行なわれる。
時に寸だシステムまだは個々のシステム構成要素の初期
化のために用いられる。作動時にサービスプロセッサ2
1は作動システムに対する機能インターフェイスを利用
する。その際に必要fxf−タ交換はシステムバスおよ
び主メモリヲ介17て行なわれる。
マルチプロセッサシステムにおける第2の通信システム
の重要な利点は、システムバスの故障の際にも個々のプ
ロセッサの間の機能的接続が確保されていることにもあ
る。
の重要な利点は、システムバスの故障の際にも個々のプ
ロセッサの間の機能的接続が確保されていることにもあ
る。
第2図に示されている通信システムの通信インターフェ
イスは10 KBi t/secの最大速度での情報の
流れを可能にしなければならなず、また割込み可能でな
ければならない。
イスは10 KBi t/secの最大速度での情報の
流れを可能にしなければならなず、また割込み可能でな
ければならない。
以下に、サービスプロセッサ21(アクティブ・パート
ナ−)と追加的機能単位6(パッシブ・パートナ−)と
の間の通信システムの説明をインターフェイスの説明に
より行なう。
ナ−)と追加的機能単位6(パッシブ・パートナ−)と
の間の通信システムの説明をインターフェイスの説明に
より行なう。
ステータス信号5TATUS i (2〜7線)の状
態の際に機能プロセッサ5が停止されることはない。
態の際に機能プロセッサ5が停止されることはない。
データ信号DTO8P(サービスプロセッサへのデータ
)上にデータが読取り動作の際にビット直列に呼出され
る。データはパリティ検査をされていてよい。m続信号
5T(IF’Tがすべての読取り動作を進行させる。ス
テップタクトとしてストローブ5ST(IFTが用いら
れる。5TRANS(ストローブ・トランスファ)」−
のパルスが読取り動作の先頭に立ち、かつ追加的機能単
位により、アドレスされたソースレジスタからシフトレ
ジスタへの並列転送のだめのストローブと17で用いら
れ得る。
)上にデータが読取り動作の際にビット直列に呼出され
る。データはパリティ検査をされていてよい。m続信号
5T(IF’Tがすべての読取り動作を進行させる。ス
テップタクトとしてストローブ5ST(IFTが用いら
れる。5TRANS(ストローブ・トランスファ)」−
のパルスが読取り動作の先頭に立ち、かつ追加的機能単
位により、アドレスされたソースレジスタからシフトレ
ジスタへの並列転送のだめのストローブと17で用いら
れ得る。
5DATA上のパルスが読取り動作を終了させる。
データ信号DFR8P(サービスプロセッサからのデー
タ)上にビット直列にデータが追加的機能単位6に伝送
される。このようなデータは追加的機能単位6への命令
であってもよい。これは信号C0DA(コマンド/デー
タ)により指示される。命令は制御命令(データ転送な
1〜)、ロード命令(サ−−夕転送あり)および読取り
命令(追加的機能単位6からサービスプロセッサ21へ
のデータ転送あり)であってよい。
タ)上にビット直列にデータが追加的機能単位6に伝送
される。このようなデータは追加的機能単位6への命令
であってもよい。これは信号C0DA(コマンド/デー
タ)により指示される。命令は制御命令(データ転送な
1〜)、ロード命令(サ−−夕転送あり)および読取り
命令(追加的機能単位6からサービスプロセッサ21へ
のデータ転送あり)であってよい。
正常なタイミングを確実に守り得ないサービス動作の実
行の際、追加的機能単位6は、動作がまだ終了していt
c、い間は、指示信号WAITをセットする。
行の際、追加的機能単位6は、動作がまだ終了していt
c、い間は、指示信号WAITをセットする。
信号S T OP S T A T E J、I K追
加的機能単位6は、誤りが存在しかつプロセッサ5が停
止状態に移行17ていることを知らせる。それからコオ
ーデイネータ22は、サービスプロセッサ21を経ての
時間のかかる迂回tcシに、すべての機能プロセッサ5
に対する信号5TOP(直接的停止)を、この機能がス
イッチオンされていることを前提として、形成し得る。
加的機能単位6は、誤りが存在しかつプロセッサ5が停
止状態に移行17ていることを知らせる。それからコオ
ーデイネータ22は、サービスプロセッサ21を経ての
時間のかかる迂回tcシに、すべての機能プロセッサ5
に対する信号5TOP(直接的停止)を、この機能がス
イッチオンされていることを前提として、形成し得る。
それによって、全システムが迅速に凍結され得るので、
誤り伝搬が防止され得る。
誤り伝搬が防止され得る。
信号T< ES E T−Itにすべての機能プロセッ
サ5Klゴするリセント命令が伝達される。この命令は
コオーデイネータ22によりサービスプロセッサ21の
命令に基づいて発せられる。このことは信号TMHAL
T(テストモード/ホルト)に対してもあては捷る。こ
の信号は機能プロセッサ5のホルトおよびテストモード
への移行を行なわせる。
サ5Klゴするリセント命令が伝達される。この命令は
コオーデイネータ22によりサービスプロセッサ21の
命令に基づいて発せられる。このことは信号TMHAL
T(テストモード/ホルト)に対してもあては捷る。こ
の信号は機能プロセッサ5のホルトおよびテストモード
への移行を行なわせる。
データ伝送のだめの両データ線DTO8PおよびDFR
8Pならびに制御線に対しては、追加的機能単位6への
上記のインターフェイスのところで説明したことと同じ
ことがあてはまる。しかし、この部分へのコマンドはコ
オーデイネータ22への命令(たとえば制御信号の発生
用)もしくは追加的機能中位6へのコマンドであってよ
い。信号5PRQ(サービスプロセッサ・リフニス日は
追加的機能単位6の誤り指示の場合にコオーデイネータ
22により発せられ、サービスプロセッサ21内で中断
を生せしめる。追加的機能単位6からコオーデイネータ
22へ与えられたWAIT信号はデータ線DTOS P
上でサービスプロセッサ21へ伝達すれる。
8Pならびに制御線に対しては、追加的機能単位6への
上記のインターフェイスのところで説明したことと同じ
ことがあてはまる。しかし、この部分へのコマンドはコ
オーデイネータ22への命令(たとえば制御信号の発生
用)もしくは追加的機能中位6へのコマンドであってよ
い。信号5PRQ(サービスプロセッサ・リフニス日は
追加的機能単位6の誤り指示の場合にコオーデイネータ
22により発せられ、サービスプロセッサ21内で中断
を生せしめる。追加的機能単位6からコオーデイネータ
22へ与えられたWAIT信号はデータ線DTOS P
上でサービスプロセッサ21へ伝達すれる。
追加的機能単位6の構造は、上記の課題のうちいくつが
内部で実行されなければならないかに関係する。この観
点で次の2つの極端なケースがある。
内部で実行されなければならないかに関係する。この観
点で次の2つの極端なケースがある。
1)最も簡tlなケースでは、追加的機能単位6はマイ
クロプロセッサ・チップ5上で試験ロジックに対する制
御信号のみを供給し、たとえばパリティ検査による誤り
報知を記憶し、それからサービスプロセッサ21への割
込み信号を発生たらす。マイクロプロセッサ・チップ5
上でのテストパターン発生器およびシグニチュア・アナ
リシスによる自己検査の際、追加的機能単位6は制御を
行なう。
クロプロセッサ・チップ5上で試験ロジックに対する制
御信号のみを供給し、たとえばパリティ検査による誤り
報知を記憶し、それからサービスプロセッサ21への割
込み信号を発生たらす。マイクロプロセッサ・チップ5
上でのテストパターン発生器およびシグニチュア・アナ
リシスによる自己検査の際、追加的機能単位6は制御を
行なう。
そのだめの追加的機能単位6は演算および制御ユニット
なしの純粋な進行制御のみから成り、捷たたとえばPL
A(プログラマブル論理アレイ)を後に接続されたカウ
ンタから成る。従って、プロセッサ機能への干渉は制限
付きで1−か可能でない。しかし、このように簡単な追
加的機能単位ハ、高いシーケンシャル・デプス(seq
ue−ntielle Tiefe )が相応の措置に
より解決されるならば、容易に検査され得る。
なしの純粋な進行制御のみから成り、捷たたとえばPL
A(プログラマブル論理アレイ)を後に接続されたカウ
ンタから成る。従って、プロセッサ機能への干渉は制限
付きで1−か可能でない。しかし、このように簡単な追
加的機能単位ハ、高いシーケンシャル・デプス(seq
ue−ntielle Tiefe )が相応の措置に
より解決されるならば、容易に検査され得る。
2)ハードウェア的に最も費用がかかるが最も広範な能
力を有するのは、制御ユニットおよび演算ユニットのよ
うなプロセッサのすべての構造要素と固有のマイクロプ
ログラムメモリとを有する追加的機能単位6である。こ
のケースはさa)追加的機能単位6がマイクロプログラ
ム可能である。マイクロプログラムは外部からそのつど
の課題に最適に適合するようにロードされ得る。必要の
際に別のプログラムが事後ロードされ得るので、マイク
ロプログラム・メモリは比較的小形であってよい。サー
ビスプロセッサ21と追加的機能単位6との間の通信の
ために固有のバスシステムが存在していれば、プログラ
ムの事後ロードはプロセッサの動作の進行を妨げること
なく行なわれ得る。マイクロプログラムを自立的にロー
ド可能とするため、WCS(書込み可能マイクロプログ
ラム・メモリ)に加えて追加的機能単位61(対して初
期ロードプログラム用の固定値メモリが必要である。
力を有するのは、制御ユニットおよび演算ユニットのよ
うなプロセッサのすべての構造要素と固有のマイクロプ
ログラムメモリとを有する追加的機能単位6である。こ
のケースはさa)追加的機能単位6がマイクロプログラ
ム可能である。マイクロプログラムは外部からそのつど
の課題に最適に適合するようにロードされ得る。必要の
際に別のプログラムが事後ロードされ得るので、マイク
ロプログラム・メモリは比較的小形であってよい。サー
ビスプロセッサ21と追加的機能単位6との間の通信の
ために固有のバスシステムが存在していれば、プログラ
ムの事後ロードはプロセッサの動作の進行を妨げること
なく行なわれ得る。マイクロプログラムを自立的にロー
ド可能とするため、WCS(書込み可能マイクロプログ
ラム・メモリ)に加えて追加的機能単位61(対して初
期ロードプログラム用の固定値メモリが必要である。
h) 追加的機能6が固定的にプログラムされている
Oa)のケースよねも費用は少なくてすむが全体とl−
で大きな固定値メモリが必要とされる。
Oa)のケースよねも費用は少なくてすむが全体とl−
で大きな固定値メモリが必要とされる。
01)
い0さらに、マイクロプロセッサ機能の広範な監プロセ
ッサ自体の複雑さにくらべて、“I真の“プロセッサと
して構成されている追加的機能単位の複雑さはやはり小
さい。すなわち、いくつかの機能単位たとえばパイプラ
イン・レジスタ、ナノプログラム・メモリなどは追加的
機能単位では完全に省略され得るし、他のいくつかの機
能単位たとえば命令デコーダ、ALUなどは追加的機能
単位6ではより簡単に構成され得る。命令文も非常t【
簡単化されている。語幅は追加的機能単位6では最大8
ビツトに制限され得る。
ッサ自体の複雑さにくらべて、“I真の“プロセッサと
して構成されている追加的機能単位の複雑さはやはり小
さい。すなわち、いくつかの機能単位たとえばパイプラ
イン・レジスタ、ナノプログラム・メモリなどは追加的
機能単位では完全に省略され得るし、他のいくつかの機
能単位たとえば命令デコーダ、ALUなどは追加的機能
単位6ではより簡単に構成され得る。命令文も非常t【
簡単化されている。語幅は追加的機能単位6では最大8
ビツトに制限され得る。
追加的機能単位6はマイクロプロセッサ6の5TATU
S報知を監視し、選別しかつ場合によっては評価し、ま
た検査経過を制御しなければならない。従って、マイク
ロプロセッサ・チップ5上の試験ロジック、すなわちレ
ジスタをデータバスと接続するだめのマルチプレクサ、
試験バス、初期化ロジックおよび誤り検出(たとえばパ
リティ検査)用回路、は固有の制御および報知線を経て
追加的機能単位6と接続されていなければならな(32
1 を経て伝送される。しかし、これらのプロセッサ視を行
なうためには、重要なマイクロプロセッサ制御信号たと
えばマイクロおよびナノプログラム・メモリに対する読
取り信号を追加的機能単位6に与える接続線を必要とす
る。同一の接続線が検査時には個々のマイクロプロセッ
サ機能の制御のために用いられ得る。
S報知を監視し、選別しかつ場合によっては評価し、ま
た検査経過を制御しなければならない。従って、マイク
ロプロセッサ・チップ5上の試験ロジック、すなわちレ
ジスタをデータバスと接続するだめのマルチプレクサ、
試験バス、初期化ロジックおよび誤り検出(たとえばパ
リティ検査)用回路、は固有の制御および報知線を経て
追加的機能単位6と接続されていなければならな(32
1 を経て伝送される。しかし、これらのプロセッサ視を行
なうためには、重要なマイクロプロセッサ制御信号たと
えばマイクロおよびナノプログラム・メモリに対する読
取り信号を追加的機能単位6に与える接続線を必要とす
る。同一の接続線が検査時には個々のマイクロプロセッ
サ機能の制御のために用いられ得る。
マイクロプロセッサと追加的機能単位6との間のデータ
、すなわち試験ビットパターン、検査結果または(直接
的にシグニチュア・レジスタで評価されt「い場合の)
シグニチュア、の伝送のため、本発明の構成では、試験
バスが用いられる。試験バスは語長の異なるレジスタの
内容をデータバスから隔てられた経路で直列伝送するこ
とを許す。
、すなわち試験ビットパターン、検査結果または(直接
的にシグニチュア・レジスタで評価されt「い場合の)
シグニチュア、の伝送のため、本発明の構成では、試験
バスが用いられる。試験バスは語長の異なるレジスタの
内容をデータバスから隔てられた経路で直列伝送するこ
とを許す。
さらに、試験バスは容易に自己試験可能である。
試験バスによるデータ伝送のために必要なタクトは追加
的機能i14位6により供給される。
的機能i14位6により供給される。
マイクロプロセッサ・チップ5 J−に試験ハスがバス
はそれらの機能の健全性に関して追加的機能単位6によ
り、たとえば検査パターンをレジスタに書込みその結果
を読み出すことによって、試験されなければならない。
はそれらの機能の健全性に関して追加的機能単位6によ
り、たとえば検査パターンをレジスタに書込みその結果
を読み出すことによって、試験されなければならない。
報知線上の情報の誤り制御のため、本発明の1つの実施
例では、それぞれ反転信号が追加的に伝送される。それ
によって簡単なスタック・アット・エラー(5tack
−a t−Febler )が検出され得る。
例では、それぞれ反転信号が追加的に伝送される。それ
によって簡単なスタック・アット・エラー(5tack
−a t−Febler )が検出され得る。
サービスプロセッサ21と他の機能プロセッサ5との間
の第2図に示されている通信システムを実現しかつマイ
クロ診断プログラムによるマイクロプロセッサの自己検
査を実行し得るように、マルチプロセッサシステム内の
診断目的の固有通信システムに対して10個の追加的な
ピンがマイクロプロセッサ・チップに必要である。なお
、ステータス信号、υセット信号および停止信号tcら
びに割込み入力のだめのビンはいずれにせよ必要でサー
ビスプロセッサ21は、他の機能プロセッサ5が必要と
しない追加ピンを必要と1〜tcい。個別プロセッサと
してこのようなマイクロプロセッサ・チップを使用する
際、追加ビンは通常の直列入出力インターフェイスとし
て用いられ得る。WA I T信号のみは個別プロセッ
サ使用の際は必要とされない。サービスプロセッサ21
としてマイクロプロセッサ・チップを使用する際、必要
とされるメモリは、書込み可能マイクロプログラム・メ
モリ(WCS)のローダおよびいくつかの診断ルーチン
のだめの約4〜8kbitのROMと、診断プログラム
の事後ロードのだめの少なくともSkb口のWCSとで
ある。同一規模のメモリが他の機能プロセッサ5内のマ
イクロ診断プログラムのために必要である。サービスプ
ロセッサ21は周辺メモリおよびコンソールの接続のた
めいくつかの入出力チャネルを必要とする。
の第2図に示されている通信システムを実現しかつマイ
クロ診断プログラムによるマイクロプロセッサの自己検
査を実行し得るように、マルチプロセッサシステム内の
診断目的の固有通信システムに対して10個の追加的な
ピンがマイクロプロセッサ・チップに必要である。なお
、ステータス信号、υセット信号および停止信号tcら
びに割込み入力のだめのビンはいずれにせよ必要でサー
ビスプロセッサ21は、他の機能プロセッサ5が必要と
しない追加ピンを必要と1〜tcい。個別プロセッサと
してこのようなマイクロプロセッサ・チップを使用する
際、追加ビンは通常の直列入出力インターフェイスとし
て用いられ得る。WA I T信号のみは個別プロセッ
サ使用の際は必要とされない。サービスプロセッサ21
としてマイクロプロセッサ・チップを使用する際、必要
とされるメモリは、書込み可能マイクロプログラム・メ
モリ(WCS)のローダおよびいくつかの診断ルーチン
のだめの約4〜8kbitのROMと、診断プログラム
の事後ロードのだめの少なくともSkb口のWCSとで
ある。同一規模のメモリが他の機能プロセッサ5内のマ
イクロ診断プログラムのために必要である。サービスプ
ロセッサ21は周辺メモリおよびコンソールの接続のた
めいくつかの入出力チャネルを必要とする。
計算システムの自己検査は前記の°゛ブートストラツプ
法で行なわれる。自己検査は外部がらたとえばサービス
プロセラν−によりもしくはコンソールを介してたとえ
ば追加的試験ロジックから指示された誤り状態の際に内
部からの事象によりまたは作動システムによりトリガさ
れる。自己検査の制御とならんで追加的機能単位6はマ
イクロプロセッサのテストコアを検査する。追加的機能
単位6はマイクロプロセッサのテストコアを検査する。
法で行なわれる。自己検査は外部がらたとえばサービス
プロセラν−によりもしくはコンソールを介してたとえ
ば追加的試験ロジックから指示された誤り状態の際に内
部からの事象によりまたは作動システムによりトリガさ
れる。自己検査の制御とならんで追加的機能単位6はマ
イクロプロセッサのテストコアを検査する。追加的機能
単位6はマイクロプロセッサのテストコアを検査する。
追加的機能単位6自体は誤りが存在しないとと寸たは既
に外部から検査されていることが前提とされている。テ
ストコアとは、最初の検査対象の検査のために必要なマ
イクロプロセッサの構成要素のすべてを指している。テ
ストコアば、その構成要素を゛外部゛から検査されなけ
ればならないので、できるかぎり最小範囲にとどめられ
るべきである。シングルプロセッサシステムでは追加的
機能単位6が全検査に対して責任を持つ。追加的機能単
位6自体はその際に誤りが存在しないことを前提とされ
、捷たけ基本検査中に自己検査を行なう。この基本検査
に続いて追加的機能単位6は以後の全計算機の自己検査
のために必要なマイクロプロセッサの・・−ドコアを検
査する。との自己検査の際、追加的機能単位6は検査結
果の評価を引き受ける。
に外部から検査されていることが前提とされている。テ
ストコアとは、最初の検査対象の検査のために必要なマ
イクロプロセッサの構成要素のすべてを指している。テ
ストコアば、その構成要素を゛外部゛から検査されなけ
ればならないので、できるかぎり最小範囲にとどめられ
るべきである。シングルプロセッサシステムでは追加的
機能単位6が全検査に対して責任を持つ。追加的機能単
位6自体はその際に誤りが存在しないことを前提とされ
、捷たけ基本検査中に自己検査を行なう。この基本検査
に続いて追加的機能単位6は以後の全計算機の自己検査
のために必要なマイクロプロセッサの・・−ドコアを検
査する。との自己検査の際、追加的機能単位6は検査結
果の評価を引き受ける。
マルチプロセラサンステムではサービスプロセッサ21
が全診断に対して責任を持ちその監視を引き受ける。サ
ービスプロセッサ21も固有の追加的機能!−1j位6
を有するので、サービスプロセッサ21はシングルプロ
セッサシステムにおける機能プロセッサ5と同様に自己
検査を行なう。続いてサービスプロセッサ6は順次に他
の機能プロセッサ5内の個々の進加的機能11位6を検
査する。
が全診断に対して責任を持ちその監視を引き受ける。サ
ービスプロセッサ21も固有の追加的機能!−1j位6
を有するので、サービスプロセッサ21はシングルプロ
セッサシステムにおける機能プロセッサ5と同様に自己
検査を行なう。続いてサービスプロセッサ6は順次に他
の機能プロセッサ5内の個々の進加的機能11位6を検
査する。
この検査の際、サービスプロセッサ21はそれぞれの追
加的機能fit位6にある情報を与え、追加的機能中位
6がそれによって回答を計算するのを待つ。力える情報
は、追加的機能単位6が正しい回答に気付き得t【いよ
うに種々の時点で種々の回答が必′Wであることを保証
する。回答の計算の際、されるいわゆる監視手続きが実
行される。回答を発するまでに追加的機能単位6は特定
の時間しか許されない。誤った回答が与えられれば、ま
たは特定の時間中に回答が与えられなければ、追加的機
能単位6は故障しているものとみなされる。すべての追
加的機能単位6の検査が終ると、個々のプロセッサ5の
自己検査が行なわれ得る。その際、それぞれの追加的機
能単位6がテストコアの監視および検査を引き受ける。
加的機能fit位6にある情報を与え、追加的機能中位
6がそれによって回答を計算するのを待つ。力える情報
は、追加的機能単位6が正しい回答に気付き得t【いよ
うに種々の時点で種々の回答が必′Wであることを保証
する。回答の計算の際、されるいわゆる監視手続きが実
行される。回答を発するまでに追加的機能単位6は特定
の時間しか許されない。誤った回答が与えられれば、ま
たは特定の時間中に回答が与えられなければ、追加的機
能単位6は故障しているものとみなされる。すべての追
加的機能単位6の検査が終ると、個々のプロセッサ5の
自己検査が行なわれ得る。その際、それぞれの追加的機
能単位6がテストコアの監視および検査を引き受ける。
作業メモリおよびシステムバスの検査に対しては、シン
グルプロセッサシステムの場合と同様のことがあては捷
る。サービスプロセッサ21がこれらの構成要素の検査
を引き受け、もしくはこれらの構成要素が完全な自己検
査に必要な“インテリジェンス“′を有しサービスプロ
セッサ21は検査のトリガおよび検査結果の評価のみを
引き受ける。作業メモリおよびシステムパスは機能プロ
セッサ5の自己検査の前に、この自己検査の範囲内で診
断プログラムが事後口己検査の結果は追加的機能単位6
からサービスプロセッサ21に報知される。サービスプ
ロセッサ21はこの報知に相応に、たとえば機能プロセ
ッサ5の切離1.により、反応する。
グルプロセッサシステムの場合と同様のことがあては捷
る。サービスプロセッサ21がこれらの構成要素の検査
を引き受け、もしくはこれらの構成要素が完全な自己検
査に必要な“インテリジェンス“′を有しサービスプロ
セッサ21は検査のトリガおよび検査結果の評価のみを
引き受ける。作業メモリおよびシステムパスは機能プロ
セッサ5の自己検査の前に、この自己検査の範囲内で診
断プログラムが事後口己検査の結果は追加的機能単位6
からサービスプロセッサ21に報知される。サービスプ
ロセッサ21はこの報知に相応に、たとえば機能プロセ
ッサ5の切離1.により、反応する。
第3図は本発明による追加的機能単位(検査および監視
装置、以下ではTUWEと呼ぶ)の構造を示す。本発明
はマイクロプロセッサのテストコアを“′準外部から゛
検査することを許す。マイクロプロセッサのすべてのレ
ジスタへのTUWBのアクセス可能性によりテストコア
の要素が最初ニ事前検査され得る。それに続く基本検査
の正しい進行が、すべてのマイクロプログラム・アドレ
スおよび実行時間が特殊tΩ検査ロジックにより監視さ
れることによって保証される。TUWEは最後に検査経
過の結果を試験する。
装置、以下ではTUWEと呼ぶ)の構造を示す。本発明
はマイクロプロセッサのテストコアを“′準外部から゛
検査することを許す。マイクロプロセッサのすべてのレ
ジスタへのTUWBのアクセス可能性によりテストコア
の要素が最初ニ事前検査され得る。それに続く基本検査
の正しい進行が、すべてのマイクロプログラム・アドレ
スおよび実行時間が特殊tΩ検査ロジックにより監視さ
れることによって保証される。TUWEは最後に検査経
過の結果を試験する。
マイクロプロセッサのユーザーは個々のレジスタの内容
を読みかつ変更し得る手段を必要とする。
を読みかつ変更し得る手段を必要とする。
従来はこのモニタ機能はソフトウェアいわゆるモニタプ
ログラムにより実現された。その際、ユーザーデータが
変更されないことが保証されていなければならなかった
。本発明はこのようなモニタ機能をハードウェア的に、
ユーザーデータへの干渉なしに実行することを許す。こ
のことは著しい簡単化および大きな速度の獲得に通ずる
。
ログラムにより実現された。その際、ユーザーデータが
変更されないことが保証されていなければならなかった
。本発明はこのようなモニタ機能をハードウェア的に、
ユーザーデータへの干渉なしに実行することを許す。こ
のことは著しい簡単化および大きな速度の獲得に通ずる
。
′P贈Eは複数のブロック(特に制御ユ=ツ)LWおよ
び演算ユニッ)RW)から成るマイクロプロセッサ5内
の追加的機能単位6である。個々の機能単位7は1つの
共通のシステム(データバスDBおよび制御バスSB)
により互いに接続されている0 すべてのプロセッサは2つの異なるモードにあり得る。
び演算ユニッ)RW)から成るマイクロプロセッサ5内
の追加的機能単位6である。個々の機能単位7は1つの
共通のシステム(データバスDBおよび制御バスSB)
により互いに接続されている0 すべてのプロセッサは2つの異なるモードにあり得る。
いわゆるシステム/ユーザーモードではユーザープログ
ラムが実行される。制御ユニットLWはこのモードでは
プロセッサのすべての制御に灯して責任を有する。TU
WEはこのモードではインアクティブである。制御ユニ
ツ)LW内の命令によ1lll捷たは外部から導線(T
MT(ALT)への信号によりトリガされて、システム
はテストモードに移行する。制御ユニツ)LWはその制
御機能をTUWEに与える。外部信号によるテストモー
ドへの移行の際、シーケンサSQ内のマイクロプログラ
ム・カウンタμPZはリセットされ、寸だアドレス零が
次回に実行すべきマイクロ命令に対するアドレスとして
マルチプレクサMUXIを介してマイクロプログラムメ
モリμPMI/C与えられる。制御ユニット■JWによ
り惹起されるテストモードへの移行の際、マイクロプロ
グラムカウンタ7+PZiその瞬時内容をもってシーケ
ンサSQの出力’IIL4に接続される。TOwEはマ
イクロプログラム・メモリllPMV、含外れているマ
イクロ命令を実行する。次回のマイクロ命令のアドレス
に対するノースとして交互に、インクリメンタINCR
内でまたけ高められた前回命令のアドレスを含むマイク
ロプログラムカウンタμPZとならんでレジスタR8(
外部ジャンプ)捷たは前回マイクロ命令からの定数(内
部ジャンプ)も用いられる。
ラムが実行される。制御ユニットLWはこのモードでは
プロセッサのすべての制御に灯して責任を有する。TU
WEはこのモードではインアクティブである。制御ユニ
ツ)LW内の命令によ1lll捷たは外部から導線(T
MT(ALT)への信号によりトリガされて、システム
はテストモードに移行する。制御ユニツ)LWはその制
御機能をTUWEに与える。外部信号によるテストモー
ドへの移行の際、シーケンサSQ内のマイクロプログラ
ム・カウンタμPZはリセットされ、寸だアドレス零が
次回に実行すべきマイクロ命令に対するアドレスとして
マルチプレクサMUXIを介してマイクロプログラムメ
モリμPMI/C与えられる。制御ユニット■JWによ
り惹起されるテストモードへの移行の際、マイクロプロ
グラムカウンタ7+PZiその瞬時内容をもってシーケ
ンサSQの出力’IIL4に接続される。TOwEはマ
イクロプログラム・メモリllPMV、含外れているマ
イクロ命令を実行する。次回のマイクロ命令のアドレス
に対するノースとして交互に、インクリメンタINCR
内でまたけ高められた前回命令のアドレスを含むマイク
ロプログラムカウンタμPZとならんでレジスタR8(
外部ジャンプ)捷たは前回マイクロ命令からの定数(内
部ジャンプ)も用いられる。
れ得る。その後、TUWBは外部からのコマンドを持つ
。このコマンドをマルチプロセッサシステムではサービ
スプロセッサ21が、またシングルプロセツザシステム
ではコンソールが供給する。それによってユーザーは個
々の機能を選択し得る。
。このコマンドをマルチプロセッサシステムではサービ
スプロセッサ21が、またシングルプロセツザシステム
ではコンソールが供給する。それによってユーザーは個
々の機能を選択し得る。
コマンドは2つのデータ線および4つの制御線を有する
直列インターフェイスを介して入力される。
直列インターフェイスを介して入力される。
もう1つの導線(COMMAND)が、入力されたデー
タがコマンドであることを指示する。コマンドはマイク
ロプログラムに対するジャンプアドレスおよび場合によ
ってはパラメータとしてのデータから成る。入力はバイ
ト形式で行なわれる。先ずジャンプアドレスはバッファ
付き人出カシフタfOB内にシフトされる。そこからジ
ャンプアドレスハ内部ハスIBt介1−で7−ケンサS
QのレジスタR8内にロードされ、捷だマルチプレクサ
MUXIはジャンプアドレスが次回のマイクロ命令に対
するアドレスとして用いられるように制御のデータが面
夕1」インターフェイスを介して読み入れられ得る。逆
方向はこれらの直列インターフェイスを介してデータが
バイト形式で出力され得る。
タがコマンドであることを指示する。コマンドはマイク
ロプログラムに対するジャンプアドレスおよび場合によ
ってはパラメータとしてのデータから成る。入力はバイ
ト形式で行なわれる。先ずジャンプアドレスはバッファ
付き人出カシフタfOB内にシフトされる。そこからジ
ャンプアドレスハ内部ハスIBt介1−で7−ケンサS
QのレジスタR8内にロードされ、捷だマルチプレクサ
MUXIはジャンプアドレスが次回のマイクロ命令に対
するアドレスとして用いられるように制御のデータが面
夕1」インターフェイスを介して読み入れられ得る。逆
方向はこれらの直列インターフェイスを介してデータが
バイト形式で出力され得る。
T時Eは共通データバスDBおよび制御バスS 13を
介してマイクロプロセッサ5の他の機能中位7に接続さ
れている。いまTOwEがその機能の実行の際に他の機
能単位7内の構成要素へのアクセスを必要とすると、T
tJWEはその機能単位7へ相応の命令を制御バスSB
を介1−で送る。この機能単位7はその命令をTUWE
と無関係に実行する。続いてTUWBはたとえば演算ユ
ニットRW内でレジスタからデータバスDB上に与えら
れたデータをデータバスDBをレジスタRE内に受は入
れかつその後の処理をしたとえばバイト形式でれ得る。
介してマイクロプロセッサ5の他の機能中位7に接続さ
れている。いまTOwEがその機能の実行の際に他の機
能単位7内の構成要素へのアクセスを必要とすると、T
tJWEはその機能単位7へ相応の命令を制御バスSB
を介1−で送る。この機能単位7はその命令をTUWE
と無関係に実行する。続いてTUWBはたとえば演算ユ
ニットRW内でレジスタからデータバスDB上に与えら
れたデータをデータバスDBをレジスタRE内に受は入
れかつその後の処理をしたとえばバイト形式でれ得る。
他の機能111位への命令は直接に定数の形態でマイク
ロ命令から到来し、かつバッファB1を介して制(財)
バスS B上に与えられる。
ロ命令から到来し、かつバッファB1を介して制(財)
バスS B上に与えられる。
TtJWEの他の構成要素は、第3図に示されているよ
うに、カウント動作、データのマスクなどのためのシフ
タSHおよび2つの入力レジスタERI。
うに、カウント動作、データのマスクなどのためのシフ
タSHおよび2つの入力レジスタERI。
ER2を有する8ビツト算術論理装置ALU、フラグビ
ット(零、キヤ1)、負)に対する3ビツト・ステータ
スレジスタSR,条件コード・マルチプレクサ00M1
データの一時記憶のだめのランダムアクセスメモリRA
M、内部バスIBと制御バスSBとの間のバッファB2
およびマイクロ命令から個々の制御信号を発生するプロ
グラマブル論理アレイP L Aである。
ット(零、キヤ1)、負)に対する3ビツト・ステータ
スレジスタSR,条件コード・マルチプレクサ00M1
データの一時記憶のだめのランダムアクセスメモリRA
M、内部バスIBと制御バスSBとの間のバッファB2
およびマイクロ命令から個々の制御信号を発生するプロ
グラマブル論理アレイP L Aである。
マイクロプロセッサ・チップ5上での試験プログラムの
実行の際、オンラインアドレス監視および実行時間監視
が実行され得る。そのだめに必要な検査ロジックは確か
に制御コーニツ)LW内におさめられているが、論理的
にばTowEK属し、またTOwEからも制御される。
実行の際、オンラインアドレス監視および実行時間監視
が実行され得る。そのだめに必要な検査ロジックは確か
に制御コーニツ)LW内におさめられているが、論理的
にばTowEK属し、またTOwEからも制御される。
アドレス監視は制御ユニツ)LWのマイクロプログラム
・メモリμPM内でアドレスされるマイ(43) クロ命令のアドレスに及んでいる。あるアドレスが有効
とみ4【されるのは、それが特定の範囲内すなわち上限
と下限との間にあるときである。上下限との比較のため
2つのコンパレータv1.v2および2つのレジスタV
RL 、VH2が必要である。比較の結果は制御ユニツ
)LWのS TATU Sレジスタ内で指示される。比
較アドレスを有する両レジスタVRI、、VR2はデー
タバス’DBからセットされ得る。
・メモリμPM内でアドレスされるマイ(43) クロ命令のアドレスに及んでいる。あるアドレスが有効
とみ4【されるのは、それが特定の範囲内すなわち上限
と下限との間にあるときである。上下限との比較のため
2つのコンパレータv1.v2および2つのレジスタV
RL 、VH2が必要である。比較の結果は制御ユニツ
)LWのS TATU Sレジスタ内で指示される。比
較アドレスを有する両レジスタVRI、、VR2はデー
タバス’DBからセットされ得る。
時間監視のだめのプログラム可能な時間発生器が存在す
る。この時間発生器は、イネーブル信号のセット後にダ
ウンカウントするロード可能なカウンタZと、カウンタ
Zが零に等1ツいときに出力が” TT i gh”に
なる零検出器NDどから成る。カウンタZのロードはデ
ータバスD Bを介して行なわれる。零検出器NDの結
果は制御ユニツ)LWのS’l’A’l”USレジスタ
内で指示される。予め設定さおだ時間の満了はさらにテ
ストモードへの移行(44) 以上に説明されかつ第3図に示されている・・−ドウエ
アによりTowEなどのなかで以下の個別機能が実施さ
れ得る。
る。この時間発生器は、イネーブル信号のセット後にダ
ウンカウントするロード可能なカウンタZと、カウンタ
Zが零に等1ツいときに出力が” TT i gh”に
なる零検出器NDどから成る。カウンタZのロードはデ
ータバスD Bを介して行なわれる。零検出器NDの結
果は制御ユニツ)LWのS’l’A’l”USレジスタ
内で指示される。予め設定さおだ時間の満了はさらにテ
ストモードへの移行(44) 以上に説明されかつ第3図に示されている・・−ドウエ
アによりTowEなどのなかで以下の個別機能が実施さ
れ得る。
a)RESBT : マイクロプロセッサの1つまた
はそれ以上の機能単位7がリセットさ れる。これは、機能単位7内の相応 のレジスタ(バス)がクリアされる ことによって行なわれる。
はそれ以上の機能単位7がリセットさ れる。これは、機能単位7内の相応 のレジスタ(バス)がクリアされる ことによって行なわれる。
b) 5TART : 全システムにわたる制御が制御
ユニツ)LWに返還される。全システ ムがシステム/ユーザーモードに移 行する。
ユニツ)LWに返還される。全システ ムがシステム/ユーザーモードに移 行する。
c) S I NGT、E :全システムにわたる制御
が個々のマイクロ命令の実行のため制御ユニ ッ1.LWに委託される。続いて全シ ステムは再びテストモードにある。
が個々のマイクロ命令の実行のため制御ユニ ッ1.LWに委託される。続いて全シ ステムは再びテストモードにある。
d) LOADREG 任意の機能単位7内のレジス
タの内容が新たにセットされる。そ を経て読み入れられる。
タの内容が新たにセットされる。そ を経て読み入れられる。
c) RF、ADREG : 任意の機能単位7内の
レジスタの内容が読まれかつ出力される。
レジスタの内容が読まれかつ出力される。
f) TESTREG : 任意のレジスタが′01
′で書かれ、読まれかつベリファイされ、 続いて111. I+で書かれ、読捷れかクベリファイ
される。
′で書かれ、読まれかつベリファイされ、 続いて111. I+で書かれ、読捷れかクベリファイ
される。
g)CLEARREG:任意のレジスタ方リセットされ
る。
る。
h) 5TARTTPR:全システムにわたる制御が制
御ユニツ)LWに委託され、かつ診 断プログラムが開始される。その 際、マイクロプログラムアドレス およびプログラム実行時間の監視 のため((用意されている特殊な検 査ロジックがアクティブ化される。
御ユニツ)LWに委託され、かつ診 断プログラムが開始される。その 際、マイクロプログラムアドレス およびプログラム実行時間の監視 のため((用意されている特殊な検 査ロジックがアクティブ化される。
i) 5TTII;’TTN10[J’r’: 外fi
i列イア ター 7−f−イスを経て1バイトが読み入
れら れまたは出力される。
i列イア ター 7−f−イスを経て1バイトが読み入
れら れまたは出力される。
4、発明の詳細な説明
第1図は本発明1cよるマイクロプロセッサ・チップの
ブロック回路図、 第2図はマルチプロセラサンステムにおける星形通信網
を示す図、 第3図は本発明による追加的機能単位のストラクチュア
を示す図である。
ブロック回路図、 第2図はマルチプロセラサンステムにおける星形通信網
を示す図、 第3図は本発明による追加的機能単位のストラクチュア
を示す図である。
5・・・マイクロプロセッサ・チップ、 6・・・追加
的機能単位、 7・・・機能単位、 8・・・インター
フェイス、 9・・プログラム・メモリ、 21・・・
サービス・プロセッサ、 22・・・コオーデイネー
タ、ALU・・・演算ユニット、 B2・・・バッファ
、DB・・・データバス、 1B・・・内部パス、 I
OB・・・バッファ付き人出カシフタ、 LW・・・制
御ユニット、MUXI・・・マルチプレクサ、 ND・
・・零検出器、PLA・・・プログラマブル論理アレイ
、 RE、R8・・・レジスタ、 SB・・制御バス、
SQ・・・シーケンサ、 V]、、V2・・・コンパ
レータ、 VRI。
的機能単位、 7・・・機能単位、 8・・・インター
フェイス、 9・・プログラム・メモリ、 21・・・
サービス・プロセッサ、 22・・・コオーデイネー
タ、ALU・・・演算ユニット、 B2・・・バッファ
、DB・・・データバス、 1B・・・内部パス、 I
OB・・・バッファ付き人出カシフタ、 LW・・・制
御ユニット、MUXI・・・マルチプレクサ、 ND・
・・零検出器、PLA・・・プログラマブル論理アレイ
、 RE、R8・・・レジスタ、 SB・・制御バス、
SQ・・・シーケンサ、 V]、、V2・・・コンパ
レータ、 VRI。
VH2・・・比較レジスタ、 2.、、カウンタ、7r
PM・・・マイクロプログラム・メモリ、 μPZ・
・マイクロプログラム・カウンタ。
PM・・・マイクロプログラム・メモリ、 μPZ・
・マイクロプログラム・カウンタ。
h118)代理人弁理士冨村 滲
fG 1
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ■)マイクロプロセッサ・チップ(5)上で検査経過の
独立した制御を行ない得る制御手段を有することを特徴
とするマイクロプロセッサ内の追加的機能単位。 2)制御手段がカウンタ(Z)およびプログラマブル論
理アレイ(PLA)を含んでいることを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の追加的機能単位。 3)制御手段が制御ユニット、演算ユニット(A L
U )およびマイクロプログラムメモリ()IPM)の
ようなマイクロプロセッサの構造要素を含んでいること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の追加的機能l
i位。 とを特徴とする特許請求の範囲第1項ないし第3項のい
ずれかに記載の追加的機能単位。 5)マイクロプロセッサ・チップ(5)上に誤りが存在
する際にマイクロプロセッサを所定の停止状態にもたら
す手段を有することを特徴とする特許請求の範囲第1項
ないし第4項のいずれかに記載の追加的機能単位。 6)マイクロプロセッサの自己検査の監視および制御の
だめの手段を有することを特徴とする特許請求の範囲第
1項ないし第5項のいずれかに記載の追加的機能単位。 7)マイクロプロセッサ・チップ(5)上のハードウェ
ア誤りの監視のだめの手段を有することを特徴とする特
許請求の範囲第1項ないし第6項のいずれかに記載の追
加的機能単位。 8)複数個の追加的機能単位が各1つのマイクロプロセ
ッサ内に用いられているマイクロプロセッサシステムに
おいて、複数個の機能プ(21)および1個のコオーデ
イネータ(22)を有することを特徴とする特許請求の
範囲第1項ないし第7項記載の追加的機能単位09)個
々の機能プロセッサ(5)内にザービスプロセソサ(2
1)と追加的機能単位(6)との間でデータおよびコマ
ンドを交換するだめの固有通信システムを有することを
特徴とする特許請求の範囲第8項記載の追加的機能単位
。 10)システム/ユーザーモードおよびテストモードで
作動することを特徴とする追加的機能単位の作動方法。 11)テストモードへの移行が内部でマイクロプロセッ
サ・チップ(5)上でトリガされることを特徴とする特
許請求の範囲第10項記載の追加的機能単位の作動方法
。 12)テストモードへの移行が外部でトリガされること
を特徴とする特許請求の範囲10項捷たは第11項記載
の追加的機能単位の作動方法0 13)テストモードでは追加的機能単位(6)がマイク
ロプロセッサ・チップ(5) J−の全制御を引き受け
ることを特徴とする特許請求の範囲第10項t【いし第
12項のいずれかに記載の追加的機能単位の作動方法。 14)追加的機能単位(6)がマイクロプロセッサの自
己検査のために必要な・・−ドコアを検査し、その後に
マイクロプロセッサの自己検査をトリガ1〜かつ監視し
、かつ検査結果の評価を引き受けることを特徴とする特
許請求の範囲第10項ないし第13項のいずれかに記載
の追加的機能単位の作動方法。 15)追加的機能単位(6)がプログラムの実行中にマ
イクロプロセッサ・チップ’(5)J−でオンライン・
アドレス監視および実行時間監視を行なうことを特徴と
する特許請求の範囲第10項ないし第14項のいずれか
に記載の追加的機能単位の作動方法。 】6)追加的機能単位(6)に制御ユニツ)(LW)内
の命令によりマイクロプロセッサ・チップ(5)の全制
御が制御ユニツ)(LW)から委託されることを特徴と
する特許請求の範囲第11項記載の追加的機能単位の作
動方法。 17)追加的機能単位(6)に導線(TMT−TALT
)上の外部信号によりマイクロプロセッサ・チップ(5
)の全制御が委託されるととを特徴とする特許請求の範
囲第12項記載の追加的機能単位の作動方法。 18)シーケンサ(SQ)内のマイクロプログラム・カ
ウンタ(μPZ)がリセットされ、アドレス零が次回に
実行すべきマイクロ命令に対するアドレスとしてマルチ
プレクサ(MUXI)を介してマイクロプログラム・メ
モリ(μPM)(C与えられることを特徴とする特許請
求の範囲第17項記載の追加的機能単位の作動方法。 19)マイクロプログラム・カウンタ(μPZ)の出力
端に接続されることを特徴とする特許請求の範囲第16
項記載の追加的機能単位の作動方法。 20)2つのデータ線、4つの制御線および1つのCO
MMAND線から成る外部直列インターフェイスを経て
コマンドがマイクロプログラムに対するジャンプアドレ
スの形態で入力され、その際追加的機能単位(6)は■
−■ALT命令の実行により待ち状態に位置し、ジャン
プアドレスは先ずバッファ付きlN10UTシフタ(I
OB)内にシフトされ、そこから内部バス(IB)を経
てシーケンサ(SQ)のレジスタ(R8)にロードされ
、捷だマルチプレクサ(MUXI)が、ジャンプアドレ
スが次回のマイクロ命令に対するアドレスとして用いら
れるように制御されることを特徴とする特許請求の範囲
第12項または第17項記載の追加的機能単位の作動方
法。 その際バッファ付きlN10UTシフタ(IOB)がデ
ータを受入、n−4たけ送出しかつ内部バス(I B
)に接続されていることを特徴とする特許請求の範囲第
20項記載の追加的機能単位の作動方法。 22)他の機能単位(7)内の構成要素へのアクセスの
際に追加的機能単位(6)が相応の機能Fit位(7)
に相応の命令を送り、この命令が直接に定数の形態でマ
イクロ命令から生じかつバッファ(131)を経て制御
バス(SB)上に与えられることを特徴とする特許請求
の範囲第10項ないし第21項のいずれかに記載の追加
的機能単位の作動方法。 23)演算ユニット内のレジスタにアクセスする場合に
レジスタアドレスが内部バス(I B )およびバッフ
ァ(B2)を経て制御バス(SB)上に−りえられるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第22項記載の追加的機
能単位の作動方法。 24)追加的機能単位(6)が、場合によっては他の機
能単位(7)へのアクセスと結びつけられるデータ伝送
の方向に応じて、他の機能単位(7)内の命令の実行の
前に、内部バス(I B )を経てロード可能なレジス
タ(RE)からのデータをデータバス(DB)上に与え
、または他の機能単位(7)内の命令の実行の後ニ、デ
ータバス(DB)からのデータをレジスタ(RE)内に
受入れることを特徴とする特許請求の範囲第22項また
は第23項記載の追加的機能単位の作動方法。 25)制御ユニット(LW)内の試験マイクロプログラ
ムの実行の際にオンライン・アドレス監視および実行時
間監視が行f、cゎれ、その際アドレス監視は制御ユニ
ッ)(LW)のマイクロプログラム・メモリ(μPM)
内で要求されるマイクロ命令のアドレスに関連し、捷だ
その際アドレスは比較レジスタ(VRI。 VH2)を有する2つのコンパレータ(Vl。 れかつ結果が制御二二ツ)(LW)の5TATUSレジ
スタ内に指示され、またその際に時間監視は零検出器(
ND)を有するロード可能なカウンタ(Z)Kより行な
われかつ結果が同様に制御ユニット(LW)の57rA
TUS レジスタ内に指示されることを特徴とする特許
請求の範囲第15項記載の追加的機能単位の作動方法。 26)時間監視の際に予め設定された時間の満了がテス
トモードへの移行に通ずることを特徴とする特許請求の
範囲第15項1だは第25項記載の追加的機能単位の作
動方法。 27)サービスプロセッサ(21)が固有の追加的機能
単位(6)Kより最初に検査され、次いでサービスプロ
セッサ(21)がシステムバスおよび作業メモリの検査
を惹起し、かつ最後にサービスプロセッサ(21)が順
次に10項ないし第26項のいずれかに記載の追加的機
能単位の作動方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE31389899 | 1981-09-30 | ||
| DE19813138989 DE3138989A1 (de) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | Zusaetzliche funktionseinheit in einem mikroprozessor, mikroprozessorsystem und verfahren zu seinem betrieb |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5868165A true JPS5868165A (ja) | 1983-04-22 |
Family
ID=6143108
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57170787A Pending JPS5868165A (ja) | 1981-09-30 | 1982-09-29 | マイクロプロセツサ内の追加的機能単位およびその作動方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0075713A3 (ja) |
| JP (1) | JPS5868165A (ja) |
| DE (1) | DE3138989A1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61112248A (ja) * | 1984-11-07 | 1986-05-30 | Hitachi Ltd | テスト容易な論理大規模集積回路 |
| JPS62210548A (ja) * | 1986-03-11 | 1987-09-16 | Nec Corp | 二重化情報処理システムの診断方法 |
| JPH02110745A (ja) * | 1988-07-28 | 1990-04-23 | Digital Equip Corp <Dec> | 回路板の欠陥探知方法 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4583222A (en) * | 1983-11-07 | 1986-04-15 | Digital Equipment Corporation | Method and apparatus for self-testing of floating point accelerator processors |
| EP0160428B1 (en) * | 1984-05-01 | 1992-09-30 | Texas Instruments Incorporated | Self-testing data processing system with system test master arbitration |
| DE3526485A1 (de) * | 1985-07-24 | 1987-02-05 | Heinz Krug | Schaltungsanordnung zum pruefen integrierter schaltungseinheiten |
| JPS63108741A (ja) * | 1986-10-27 | 1988-05-13 | Nec Corp | 半導体集積回路装置 |
| FR2657182A1 (fr) * | 1990-01-15 | 1991-07-19 | Cit Alcatel | Dispositif d'aide au diagnostic. |
| JP3576457B2 (ja) | 1999-05-11 | 2004-10-13 | シャープ株式会社 | 1チップマイクロコンピュータおよびその制御方法、ならびにそれを用いたicカード |
| US6629116B1 (en) | 2000-05-05 | 2003-09-30 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Random sequence generators |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4025767A (en) * | 1973-03-16 | 1977-05-24 | Compagnie Honeywell Bull (Societe Anonyme) | Testing system for a data processing unit |
| WO1981001066A1 (en) * | 1979-10-11 | 1981-04-16 | Nanodata Computer Corp | Data processing system |
-
1981
- 1981-09-30 DE DE19813138989 patent/DE3138989A1/de not_active Withdrawn
-
1982
- 1982-08-17 EP EP82107494A patent/EP0075713A3/de not_active Withdrawn
- 1982-09-29 JP JP57170787A patent/JPS5868165A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61112248A (ja) * | 1984-11-07 | 1986-05-30 | Hitachi Ltd | テスト容易な論理大規模集積回路 |
| JPS62210548A (ja) * | 1986-03-11 | 1987-09-16 | Nec Corp | 二重化情報処理システムの診断方法 |
| JPH02110745A (ja) * | 1988-07-28 | 1990-04-23 | Digital Equip Corp <Dec> | 回路板の欠陥探知方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0075713A3 (de) | 1986-02-19 |
| DE3138989A1 (de) | 1983-04-14 |
| EP0075713A2 (de) | 1983-04-06 |
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