JPS58702A - 受光位置検出装置 - Google Patents
受光位置検出装置Info
- Publication number
- JPS58702A JPS58702A JP9916281A JP9916281A JPS58702A JP S58702 A JPS58702 A JP S58702A JP 9916281 A JP9916281 A JP 9916281A JP 9916281 A JP9916281 A JP 9916281A JP S58702 A JPS58702 A JP S58702A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- photodetecting
- value
- receiving
- light receiving
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Transform (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は複数の受光素子が配列されて゛いる受光盤か
らの光を受は受光盤における入射位置を検出する装置に
関する・ この種の検出装置は例えばトンネル等の掘削機における
先導管の姿勢制御機構のために用いられる。すなわち掘
削機の姿勢制御機構は先導管ｌこ取付けた受光盤に多数
の受光素子がマトリクス状に配設されており、この受光
素子に向けて発光器より光を照射することにより受光素
子が作動し、この作動した受光素子を検出して先導管の
掘削位置を知り、ＪＩＰＡ方向が基準線より外れている
とき姿勢制御機構により先導管の１ｊＡ削姿勢を修正す
るものである・ところがこのような受光素子は発光器よ
り照射される光を受光すると同時に周囲光をも受光する
ので、発光器よりの光と周囲光との区別がつかなくなり
正確な受光位置を検出することができなくなることがあ
る。（以下発光器よりの党を周囲光と区別する意味で特
定光という）。
らの光を受は受光盤における入射位置を検出する装置に
関する・ この種の検出装置は例えばトンネル等の掘削機における
先導管の姿勢制御機構のために用いられる。すなわち掘
削機の姿勢制御機構は先導管ｌこ取付けた受光盤に多数
の受光素子がマトリクス状に配設されており、この受光
素子に向けて発光器より光を照射することにより受光素
子が作動し、この作動した受光素子を検出して先導管の
掘削位置を知り、ＪＩＰＡ方向が基準線より外れている
とき姿勢制御機構により先導管の１ｊＡ削姿勢を修正す
るものである・ところがこのような受光素子は発光器よ
り照射される光を受光すると同時に周囲光をも受光する
ので、発光器よりの光と周囲光との区別がつかなくなり
正確な受光位置を検出することができなくなることがあ
る。（以下発光器よりの党を周囲光と区別する意味で特
定光という）。
この種の従来の受光位置検出回路を第１図に示す・図に
おける１は受光盤に多数配設された受光２から被選択受
光信号Ｂとして比＃６３Ｉζ入る。
おける１は受光盤に多数配設された受光２から被選択受
光信号Ｂとして比＃６３Ｉζ入る。
比較器３には予め抵抗素子４により設定された基準電７
ＥＣが与えられており、前述した被選択受光信号Ｂは基
準電圧Ｃと比較される。そして比ＩＩＲ器３からの受光
位置信号りと受光信号選択部２の短資τ号との論理積に
より作動した受′ｊｔ、素子が検出される。光に照射さ
れる受光素子の出力波形を第２図に示す。縦軸は受光素
子の出力電圧（Ｖ）を表わし、横軸は定食時間（１）を
衣わし、ｆ！１１１１Ｉ！は受光素子の出力である。こ
のと逢着準電圧Ｃを超える部分すなわち斜線部すが受光
位置として検出されるのである。−どの図の場合は周囲
光のない時あるいは周囲光強Ｋが低い場合を示す０とこ
ろが周囲光強度が高い場合は特定光に周囲光が重畳され
て基準電圧Ｃを超えることがある。この状態を第３図に
示し、受光素子の出力を曲線ａ′で示している。受ｊｔ
、Ｉ／ｇ子の出力ａ′は第２図−こおける＃縁ａに周囲
光Ｐが重“璧するので、その分だけ持ち上げられる。こ
れに対し基準電圧Ｃは周囲光が変化しようとも前述の抵
抗素子により予め一定値に定められているので、基準電
圧Ｃを超える部分ｂｌ 、 ｂ２ 、 ｂ３できないと
いう欠点があった・ この発明は、上述の欠点を除去して複数の受光素子が配
置されている受光盤の周囲光が変化しても、なんら影響
を受けることなく、特定光の受光この発明Ｉ７：よれば
上記の目的を達成するためへ基本的には受光盤より得ら
れる受光値の酩和を求め、これより算出した平均値が受
光盤の周囲光強度に応じて変化するので、これをしきい
値として周囲光強度の変化による影響を受けないように
するものである０すなわち、Ｉ！数個の５ｉ！元素子か
らの受光信号を受は受光信号を順次走査により選択して
送用する受光信号選択部と、この受光信号選択部を出力
信号をディジタル化した受光値に変換するアナログディ
ジタル変換器と、前記順次走査の都度アナログディジタ
ル変換器から出力される受光値を所定番地ｔＣ＃！ｒ納
する記憶部およびこの記憶部に格納された受光値の総和
を演算したのち受光値の平均値を求めてしきい値となし
各受光値としきい値とを比較してしきい値を超える受光
値の受光素子を検出する演算制御部とによって構成した
。
ＥＣが与えられており、前述した被選択受光信号Ｂは基
準電圧Ｃと比較される。そして比ＩＩＲ器３からの受光
位置信号りと受光信号選択部２の短資τ号との論理積に
より作動した受′ｊｔ、素子が検出される。光に照射さ
れる受光素子の出力波形を第２図に示す。縦軸は受光素
子の出力電圧（Ｖ）を表わし、横軸は定食時間（１）を
衣わし、ｆ！１１１１Ｉ！は受光素子の出力である。こ
のと逢着準電圧Ｃを超える部分すなわち斜線部すが受光
位置として検出されるのである。−どの図の場合は周囲
光のない時あるいは周囲光強Ｋが低い場合を示す０とこ
ろが周囲光強度が高い場合は特定光に周囲光が重畳され
て基準電圧Ｃを超えることがある。この状態を第３図に
示し、受光素子の出力を曲線ａ′で示している。受ｊｔ
、Ｉ／ｇ子の出力ａ′は第２図−こおける＃縁ａに周囲
光Ｐが重“璧するので、その分だけ持ち上げられる。こ
れに対し基準電圧Ｃは周囲光が変化しようとも前述の抵
抗素子により予め一定値に定められているので、基準電
圧Ｃを超える部分ｂｌ 、 ｂ２ 、 ｂ３できないと
いう欠点があった・ この発明は、上述の欠点を除去して複数の受光素子が配
置されている受光盤の周囲光が変化しても、なんら影響
を受けることなく、特定光の受光この発明Ｉ７：よれば
上記の目的を達成するためへ基本的には受光盤より得ら
れる受光値の酩和を求め、これより算出した平均値が受
光盤の周囲光強度に応じて変化するので、これをしきい
値として周囲光強度の変化による影響を受けないように
するものである０すなわち、Ｉ！数個の５ｉ！元素子か
らの受光信号を受は受光信号を順次走査により選択して
送用する受光信号選択部と、この受光信号選択部を出力
信号をディジタル化した受光値に変換するアナログディ
ジタル変換器と、前記順次走査の都度アナログディジタ
ル変換器から出力される受光値を所定番地ｔＣ＃！ｒ納
する記憶部およびこの記憶部に格納された受光値の総和
を演算したのち受光値の平均値を求めてしきい値となし
各受光値としきい値とを比較してしきい値を超える受光
値の受光素子を検出する演算制御部とによって構成した
。
以下この発明の実施例を図面に基づいて観明する。第４
図はこの発明の一実施例である受光位置検出装置のブロ
ック線図で、ｌで再び受光盤に多数配設された受光素子
を示し、２は受光信号選択部、５はアナログディジタル
変換器（以下Ａ／Ｄ変換器と称す〕、６は記憶部、７は
演！制御部である。受光素子１からの受光信号Ａは受光
信号選択部２により順次走査され、ここで選択された被
選択受光信号ＢはＡ／Ｄ変換器５に送られるＯＡ／Ｄ変
換器５では、電圧アナログ信号である被選択受光信号Ｂ
がディジタル信号に変換され、ディジタル化された受光
値Ｅが記憶部６に伝送される。
図はこの発明の一実施例である受光位置検出装置のブロ
ック線図で、ｌで再び受光盤に多数配設された受光素子
を示し、２は受光信号選択部、５はアナログディジタル
変換器（以下Ａ／Ｄ変換器と称す〕、６は記憶部、７は
演！制御部である。受光素子１からの受光信号Ａは受光
信号選択部２により順次走査され、ここで選択された被
選択受光信号ＢはＡ／Ｄ変換器５に送られるＯＡ／Ｄ変
換器５では、電圧アナログ信号である被選択受光信号Ｂ
がディジタル信号に変換され、ディジタル化された受光
値Ｅが記憶部６に伝送される。
記憶部６では受光値Ｅを受けこれを各受光素子に対応し
た所定番地に記憶する。これは各受光素子 ５− の全部について行なわれ記憶部６には各受元票子吃 １の受光値Ｅがそれぞれ配備される。すべての受光素子
の受光値の記憶が終了したのち、その記憶された全受光
素子の受光値Ｅは演算制御部７１こ読み出され加算され
る。そして全受光素子の受光値Ｅの総和は全受光素子の
個数で割算され、受光値の平均値が求められる０この受
光値の平均値はしきい値として用いられる。演算制御部
７はこのしきい値と、各受光素子の受光値とを比較し、
しきい値を超える受光値があったとき当＃受光値を格納
した記憶部から受光素子番号が絖ろｉｔｌされ受光位置
が検出され、受光信置信号りとして送出される。演算制
御部７からの制御信号Ｇは受光信号選択部２においては
選択素子のｆＶＩ足を行ない、−ＶＤ変換器５にあって
はアナログ信号−ディジタル信号に変換するタイミング
を制御し、記憶部６ではＡ／Ｄ変換ｌｌｌ５よりの受光
値Ｅを格納する際にその選択素子番号に対応した所定番
地ｌこ受光値が格納されるように記憶部６を制御するも
のである。
た所定番地に記憶する。これは各受光素子 ５− の全部について行なわれ記憶部６には各受元票子吃 １の受光値Ｅがそれぞれ配備される。すべての受光素子
の受光値の記憶が終了したのち、その記憶された全受光
素子の受光値Ｅは演算制御部７１こ読み出され加算され
る。そして全受光素子の受光値Ｅの総和は全受光素子の
個数で割算され、受光値の平均値が求められる０この受
光値の平均値はしきい値として用いられる。演算制御部
７はこのしきい値と、各受光素子の受光値とを比較し、
しきい値を超える受光値があったとき当＃受光値を格納
した記憶部から受光素子番号が絖ろｉｔｌされ受光位置
が検出され、受光信置信号りとして送出される。演算制
御部７からの制御信号Ｇは受光信号選択部２においては
選択素子のｆＶＩ足を行ない、−ＶＤ変換器５にあって
はアナログ信号−ディジタル信号に変換するタイミング
を制御し、記憶部６ではＡ／Ｄ変換ｌｌｌ５よりの受光
値Ｅを格納する際にその選択素子番号に対応した所定番
地ｌこ受光値が格納されるように記憶部６を制御するも
のである。
また記憶部６に格納されている全受光素子の受光 ６−
値Ｅは演算制御部７から出る番地指定信号Ｈによって記
憶部６から演算制御部７に読み出されるものである。
憶部６から演算制御部７に読み出されるものである。
以上のべた受光位置検出装置の動作を第５図のフローチ
ャートを用いて説明する。このフローチャートではＮ：
被選択受光素子の番号、Ｎｌ ：受光素子の総個数、Ｍ
：受光値を記憶する記憶部の番地、Ｌ：しきい値を超え
る光を受光した受光素子の位置を格納する記憶部の番地
、を表わすものとする０動作は次の順序である。
ャートを用いて説明する。このフローチャートではＮ：
被選択受光素子の番号、Ｎｌ ：受光素子の総個数、Ｍ
：受光値を記憶する記憶部の番地、Ｌ：しきい値を超え
る光を受光した受光素子の位置を格納する記憶部の番地
、を表わすものとする０動作は次の順序である。
１）受光位置の検出開始指令を受は検出を開始する０
２）Ｎ富０．Ｍ ＝ Ｍｒ 、 Ｌ ｘＬｘとする◎３
）Ｎ番目の受光素子を受光信号選択部より選択する。
）Ｎ番目の受光素子を受光信号選択部より選択する。
４）Ｎ番目の受光素子より得られる受光値ＡＮをアナロ
グ信号−→ディジタル信号に変換してディジタル化され
た受光値ＤＩを求める。
グ信号−→ディジタル信号に変換してディジタル化され
た受光値ＤＩを求める。
５）受光値Ｄｉを記憶部のＭ番地に格納する。
６）Ｎを１だけ増加させる・
７）受光素子の全てについて選択し、記憶部にＤｙを格
納したこと判断する・ ８）全て選択、格納を完了したら次のステップに進み、
完了してなければ３のステップｌこ戻って３）〜６）の
処理を繰返す。
納したこと判断する・ ８）全て選択、格納を完了したら次のステップに進み、
完了してなければ３のステップｌこ戻って３）〜６）の
処理を繰返す。
９）各受光素子のディジタル受光値Ｄｉｒの総和Ｋを求
める。
める。
ｌＯ）総和により平均値を求め、これをしきい［Ｊとす
る。
る。
ｕ）Ｎ−０とする。
２）しきい値Ｊと記憶部のＭ１〜Ｍ１＋Ｎ１に格納され
ている受光値とを比較する０ １３）比較した結果ＤＮ＞Ｊであれば次のステップへ進
み、ＤＩ＜ Ｊなら１６）のステップへ移動する０１４
）シきい値を超える光量を受光した受光素子の番号Ｎを
記憶部のく番地に記憶する０ １５ ） Ｌを１だけ増加する０ １６）Ｎを１増加させる・ １７）受光素子の受光値珈としきい値の比較量て終了し
たかを判断し、終了していなければステップ１２）に戻
って繰返す・ １８）特定光の受光位置を送出する・ １９ ）全ての動作を終了する・ 以上述べたこの発明による受光位置検出装置によれば、
受光盤より得られる受光値の総和を求めこの総和より平
均値演算してその平均値をしきい値として受光値を比較
するように構成することにより、周囲光強度の変化と無
関係に特定光の受光盤への入射位置を正確に検出するこ
とができる。
ている受光値とを比較する０ １３）比較した結果ＤＮ＞Ｊであれば次のステップへ進
み、ＤＩ＜ Ｊなら１６）のステップへ移動する０１４
）シきい値を超える光量を受光した受光素子の番号Ｎを
記憶部のく番地に記憶する０ １５ ） Ｌを１だけ増加する０ １６）Ｎを１増加させる・ １７）受光素子の受光値珈としきい値の比較量て終了し
たかを判断し、終了していなければステップ１２）に戻
って繰返す・ １８）特定光の受光位置を送出する・ １９ ）全ての動作を終了する・ 以上述べたこの発明による受光位置検出装置によれば、
受光盤より得られる受光値の総和を求めこの総和より平
均値演算してその平均値をしきい値として受光値を比較
するように構成することにより、周囲光強度の変化と無
関係に特定光の受光盤への入射位置を正確に検出するこ
とができる。
第１図は従来構成の受光位置検出装置のブロック線図、
第２図は第１図の回路において受光盤の周囲光強度が小
さいときに測定した各受光位置での光強度を示す１ｌｌ
ｌＩｉＩ図、第３図は第１図の回路において受光盤の絢
囲光強度が大きいときに測定した各受光位置での光強度
を示す曲縁図、第４図はこの発明の一実施例である受光
位置検出装置のブロック線図、第９図１呵司よ褒１つフ
ローチャードである。 ｌ：受光素子、２：受光信号選択部、５：アナログディ
ジタル変換器、６：記憶部、７：演算側 ９− 位置信号、Ｅ：ディジタル受光値、Ｊ：しきい値。 １０− ＋１図 ＋３図 才４図 オ ニ二二コ ５図
第２図は第１図の回路において受光盤の周囲光強度が小
さいときに測定した各受光位置での光強度を示す１ｌｌ
ｌＩｉＩ図、第３図は第１図の回路において受光盤の絢
囲光強度が大きいときに測定した各受光位置での光強度
を示す曲縁図、第４図はこの発明の一実施例である受光
位置検出装置のブロック線図、第９図１呵司よ褒１つフ
ローチャードである。 ｌ：受光素子、２：受光信号選択部、５：アナログディ
ジタル変換器、６：記憶部、７：演算側 ９− 位置信号、Ｅ：ディジタル受光値、Ｊ：しきい値。 １０− ＋１図 ＋３図 才４図 オ ニ二二コ ５図
Claims (1)
- ｌ）複数個の受光素子からの受光信号を受は受光信号を
順次走査により選択して送出する受光信号選択部とくこ
の受光信号選択部の出方信号をディジタル化した受光値
に変換するアナログディジタル変換器と、前記順次走査
の都度アナ四グディジタル変換！Ｓから出力される受光
値を所定誉地に格納する記憶部およびこの記憶部に格納
された受光値の総和を演算したのち受光値の平均値を求
めてしきい値となし各受光値としきい値とを比較してし
きい値を超える受光値の受光素子を検出する演算側＃部
とによって構成されたことを特徴とする受光位置検出装
置◎
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9916281A JPS58702A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 受光位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9916281A JPS58702A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 受光位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58702A true JPS58702A (ja) | 1983-01-05 |
Family
ID=14239953
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9916281A Pending JPS58702A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 受光位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58702A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02133608U (ja) * | 1989-04-11 | 1990-11-06 | ||
| JP2006170990A (ja) * | 2004-12-10 | 2006-06-29 | Hilti Ag | アクティブ型受光器 |
-
1981
- 1981-06-26 JP JP9916281A patent/JPS58702A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02133608U (ja) * | 1989-04-11 | 1990-11-06 | ||
| JP2006170990A (ja) * | 2004-12-10 | 2006-06-29 | Hilti Ag | アクティブ型受光器 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA3017811C (en) | Lidar based 3-d imaging with varying pulse repetition | |
| US5012082A (en) | Two-dimensional incident position detector device for light or radiation | |
| EP3571520B1 (en) | Method and apparatus for variable time pulse sampling | |
| CN109791195A (zh) | 用于光达的自适应发射功率控制 | |
| WO2003051041A1 (en) | Digital double sampling in time integrating pixel sensors | |
| JPH05501182A (ja) | 電気的スイッチシステム | |
| JPH1048338A (ja) | 距離測定装置 | |
| JP2597405B2 (ja) | 光学的検出装置 | |
| JP2684574B2 (ja) | 測距装置 | |
| JPS58702A (ja) | 受光位置検出装置 | |
| US7560680B2 (en) | 3D measurement sensor | |
| JPS6024996B2 (ja) | 火災検出装置 | |
| JP2760509B2 (ja) | 火災警報装置 | |
| GB2029153A (en) | Focus detecting device | |
| JPH0225221B2 (ja) | ||
| JPH10221455A (ja) | Ｘ線発生検出装置 | |
| JP2860571B2 (ja) | 光検出方法およびそのための装置 | |
| CN114594494B (zh) | 激光雷达系统及其环境光去噪方法 | |
| CN118818469A (zh) | 一种信号检测装置、信号检测方法及激光雷达 | |
| JPH0769422B2 (ja) | パルスレーザ測距装置 | |
| JP3076617B2 (ja) | 光電スイッチの感度調節方法及び装置 | |
| JPS61233386A (ja) | 物体検知装置 | |
| JP3632103B2 (ja) | 光電スイッチ | |
| US6850276B1 (en) | Method for detecting brightness signals from a multiplicity of light-sensitive sensor elements | |
| JP3266999B2 (ja) | 車両検出装置 |