JPS5873948A - イオン銃 - Google Patents
イオン銃Info
- Publication number
- JPS5873948A JPS5873948A JP56171190A JP17119081A JPS5873948A JP S5873948 A JPS5873948 A JP S5873948A JP 56171190 A JP56171190 A JP 56171190A JP 17119081 A JP17119081 A JP 17119081A JP S5873948 A JPS5873948 A JP S5873948A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ampoule
- ion gun
- moving
- needle
- metal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J27/00—Ion beam tubes
- H01J27/02—Ion sources; Ion guns
- H01J27/26—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field effect ion sources, thermionic ion sources
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は反応性の高い液体金属よりエレクトロハイド
ロダイナミック(BHD)によってフィールドイオンを
発生させるようにしたイオン銃に関するものである。
ロダイナミック(BHD)によってフィールドイオンを
発生させるようにしたイオン銃に関するものである。
イオンマイクロアナライザーなどにおいて、イオンビー
ムを発生させるイオン銃として、液体金属よりRIDに
よりフィールドイオンを発生させるものが提案されてい
る。この種のイオン銃に於いては、特にセシウム等は空
気または空気中の水分等の反応性が高く、空気中におい
て非常に取扱いにくい液体金属を空気等と反応させるこ
となくイオン銃内に安全に導入することが必要である。
ムを発生させるイオン銃として、液体金属よりRIDに
よりフィールドイオンを発生させるものが提案されてい
る。この種のイオン銃に於いては、特にセシウム等は空
気または空気中の水分等の反応性が高く、空気中におい
て非常に取扱いにくい液体金属を空気等と反応させるこ
となくイオン銃内に安全に導入することが必要である。
上記のような反応性金属は真空排気された状態で、ガラ
ス製のアンプルに封入されたものが使用されているが、
従来、実、装置として安全に空気等と反応させることな
く反応性金属を装填できるものはなかった。
ス製のアンプルに封入されたものが使用されているが、
従来、実、装置として安全に空気等と反応させることな
く反応性金属を装填できるものはなかった。
この発明は、以上のような点に鑑みなされたもので、ア
ンプル収容空間に収容されたアンプルに真空下で圧縮破
壊力を与える移動体を設け、外部から移動させることに
より、空気と接触させることなく反応性金属をイオン銃
に装填し、安全かつ安定してフィールドイオンを発生さ
せることのできるイオン銃を提供することを目的として
いる。
ンプル収容空間に収容されたアンプルに真空下で圧縮破
壊力を与える移動体を設け、外部から移動させることに
より、空気と接触させることなく反応性金属をイオン銃
に装填し、安全かつ安定してフィールドイオンを発生さ
せることのできるイオン銃を提供することを目的として
いる。
この発明は真空排気された反応性金属のアンプルを収容
し、かつエミッターに接続するアンプル収容空間と、こ
のアンプル収容空間を真空引きする手段と、前記アンプ
ルに圧縮破壊力を与える移動体と、アンプル収容空間の
外側に設けられ念操作部を回転することにより前動移動
体を移動させる機構とを備えたことを特徴″λするイオ
ン銃であ′i る。 ・ 以下、この発明を図面により説明する。第1図はこの発
明の一実施例によるイオン銃を示す垂直断面図、第2図
はその部分拡大図、第3図は第2図のA部の拡大図、第
4図は作動状態を示す部分拡大図である。
し、かつエミッターに接続するアンプル収容空間と、こ
のアンプル収容空間を真空引きする手段と、前記アンプ
ルに圧縮破壊力を与える移動体と、アンプル収容空間の
外側に設けられ念操作部を回転することにより前動移動
体を移動させる機構とを備えたことを特徴″λするイオ
ン銃であ′i る。 ・ 以下、この発明を図面により説明する。第1図はこの発
明の一実施例によるイオン銃を示す垂直断面図、第2図
はその部分拡大図、第3図は第2図のA部の拡大図、第
4図は作動状態を示す部分拡大図である。
図面において、1はキャピラリー/ニードル型+7)E
HDエミッタ一部で、その詳細は第2図および第3図に
示すように、液体金属2のリザーバ2aを形成するキャ
ピラリー1aおよび、このキャピラリー1aの基部1b
にスポット溶接され、かつキャピラリー1aの先端との
間に間隙1cを形成してキャピラリー外に突出するタン
グステン製のニードル1dからなる。
HDエミッタ一部で、その詳細は第2図および第3図に
示すように、液体金属2のリザーバ2aを形成するキャ
ピラリー1aおよび、このキャピラリー1aの基部1b
にスポット溶接され、かつキャピラリー1aの先端との
間に間隙1cを形成してキャピラリー外に突出するタン
グステン製のニードル1dからなる。
エミッタ一部1は袋ナツト6により容器4の下端部に固
定され、容器4のアンプル収容空間5と連通している。
定され、容器4のアンプル収容空間5と連通している。
アンプル収容空間5には液体金属を封^したアンプル6
がアンプルボルダ−7に保持されて収容さi、圧縮破壊
力を与える移動パイプ8によりアンプル破壊用突起9に
向けて抑圧さ、:: れるようになっている。移動パイプ8は容器4内を気密
状態に保って摺動可能とされ、アンプルボルダ−7に固
定されている。容器4の側壁には、アンプル収容空間5
がら真空引きするための細孔10が設けられており、上
端部は7ランジ11に固定されている。
がアンプルボルダ−7に保持されて収容さi、圧縮破壊
力を与える移動パイプ8によりアンプル破壊用突起9に
向けて抑圧さ、:: れるようになっている。移動パイプ8は容器4内を気密
状態に保って摺動可能とされ、アンプルボルダ−7に固
定されている。容器4の側壁には、アンプル収容空間5
がら真空引きするための細孔10が設けられており、上
端部は7ランジ11に固定されている。
7ランジ11に固定されたフレーム12の先端には、キ
ャピラリー1aの周囲を囲むように熱遮へい板16が設
けられ、その内側に加熱器14が設けられている。加熱
器14は実施例では抵抗型のヒーターより輻射熱で加熱
するものを使用しているが、タングステン線等より発生
する熱電子を加速して衝突させる電子衝撃加熱、あるい
は導電性のよいコイルによる高周波誘導加熱によるもの
であってもよい。
ャピラリー1aの周囲を囲むように熱遮へい板16が設
けられ、その内側に加熱器14が設けられている。加熱
器14は実施例では抵抗型のヒーターより輻射熱で加熱
するものを使用しているが、タングステン線等より発生
する熱電子を加速して衝突させる電子衝撃加熱、あるい
は導電性のよいコイルによる高周波誘導加熱によるもの
であってもよい。
フランジ11は基盤15上に2段に載置された加速管1
6に固定されたフランジ17上に重合されて支持されて
6る。加速管16内はイオン銃室18とされ、各加速管
16間には引出電極19が支持され、エミッタ一部1に
対向して中央部に細孔1八が設けられている。さらに引
出電極19に対向して接地電極(カソード)20が設け
られて基盤15に支持され、その中央部に細孔20aが
細孔19aおよびエミッタ一部1と同軸に設けられてい
る。接地電極20の下側には集束レンズ/偏向系などを
含むイオンプローブ形成用の鏡筒およびイオン銃室18
を真空にするための排気ポートが設けられているが図示
は省略されている。
6に固定されたフランジ17上に重合されて支持されて
6る。加速管16内はイオン銃室18とされ、各加速管
16間には引出電極19が支持され、エミッタ一部1に
対向して中央部に細孔1八が設けられている。さらに引
出電極19に対向して接地電極(カソード)20が設け
られて基盤15に支持され、その中央部に細孔20aが
細孔19aおよびエミッタ一部1と同軸に設けられてい
る。接地電極20の下側には集束レンズ/偏向系などを
含むイオンプローブ形成用の鏡筒およびイオン銃室18
を真空にするための排気ポートが設けられているが図示
は省略されている。
フラン:)11には、フランジ21を有するケーシング
22が固定されており、7ランジ21にはシリンダ26
を有する7ランジ24が重合され固定されている。シリ
ンダ26内には、カップリング25により、アンプルホ
ルダー7と軸のずれを補償するように連結された移動軸
26が摺動可能に設けられており、スプリング27によ
って上向きに押圧されており、ストッパ28に摺動する
溝29が設けられている。
22が固定されており、7ランジ21にはシリンダ26
を有する7ランジ24が重合され固定されている。シリ
ンダ26内には、カップリング25により、アンプルホ
ルダー7と軸のずれを補償するように連結された移動軸
26が摺動可能に設けられており、スプリング27によ
って上向きに押圧されており、ストッパ28に摺動する
溝29が設けられている。
移動軸26の上部中央にはめねじ3oが設けられて、お
ねじ31がねしつけられている。おねじ31の上部には
ヘッド62を有するロッド66が設けられ、つまみ64
のスライド壁65を貫通してスライド可能に取付けられ
ている。ヘッド62の下側には溝66が設けられて、ス
ライド壁35に設けられた突起37と係合可能とされて
おり、両者でクラッチを構成している。っまみ64はシ
リンダ26に回転可能に取付けられている。フランジ2
4と移動軸260間にはベローズ68が設けられている
。
ねじ31がねしつけられている。おねじ31の上部には
ヘッド62を有するロッド66が設けられ、つまみ64
のスライド壁65を貫通してスライド可能に取付けられ
ている。ヘッド62の下側には溝66が設けられて、ス
ライド壁35に設けられた突起37と係合可能とされて
おり、両者でクラッチを構成している。っまみ64はシ
リンダ26に回転可能に取付けられている。フランジ2
4と移動軸260間にはベローズ68が設けられている
。
以上のように構成されたイオン銃において、反応性金属
の入ったアンプル6をアンプルホルタ−7に取付けて容
器4のアンプル収容空間5に収容し、7ランジ11.1
7および21.24を固定する。イオン銃室18が大気
圧の状態では、スプリング27によって移動軸26が上
に押し上げられて、溝36と突起67が離脱した状態に
なって、つまみ64の回転力はおねじ31に伝わらない
ようになっている。
の入ったアンプル6をアンプルホルタ−7に取付けて容
器4のアンプル収容空間5に収容し、7ランジ11.1
7および21.24を固定する。イオン銃室18が大気
圧の状態では、スプリング27によって移動軸26が上
に押し上げられて、溝36と突起67が離脱した状態に
なって、つまみ64の回転力はおねじ31に伝わらない
ようになっている。
この状態で排気ポート(図示せず)からイオン銃室18
の真空引きを行うと、ベローズ68が伸びて移動軸26
が降下し、溝66と突起37が係合し、第1図の状態に
なる。この段階で真空引きを行いながら、っまみ64を
回転させると、回転力は突起67から溝36、ヘッド3
2およびロッド66を介しておねじ31に伝えられ、移
動軸26が下降する。
の真空引きを行うと、ベローズ68が伸びて移動軸26
が降下し、溝66と突起37が係合し、第1図の状態に
なる。この段階で真空引きを行いながら、っまみ64を
回転させると、回転力は突起67から溝36、ヘッド3
2およびロッド66を介しておねじ31に伝えられ、移
動軸26が下降する。
移動軸26の下降に伴って移動ノeイブ8も下降し、ア
ンプル6に圧縮力を加える。この場合アンプル6の反対
側は突起9によって支持されているので、この部分に集
中応力がががり、アンプル6は破壊され、封入されてい
た液体金属2がアンプル収容空間5およびエミッタ一部
1のキャピラリーb になる。細孔10はアンプル6が破壊されるまでは開口
してアンプル収容空間5からの排気を促進するが、アン
プル6の破壊とともに、下降する移動パイプ8によって
速断される。移動パイプ8の下降はストッパ28によっ
て移動軸26が停止するまで行われる。
ンプル6に圧縮力を加える。この場合アンプル6の反対
側は突起9によって支持されているので、この部分に集
中応力がががり、アンプル6は破壊され、封入されてい
た液体金属2がアンプル収容空間5およびエミッタ一部
1のキャピラリーb になる。細孔10はアンプル6が破壊されるまでは開口
してアンプル収容空間5からの排気を促進するが、アン
プル6の破壊とともに、下降する移動パイプ8によって
速断される。移動パイプ8の下降はストッパ28によっ
て移動軸26が停止するまで行われる。
以上により液体金属2の装填を終り、イオンビームの発
生に移る。イオンビームの発生は、まず加熱器14に通
電し□てエミッタ一部1のリザーバ2a4C充、填され
、た液体金属を加熱する。この場合、エミッタ一部1の
キャピラリー1aに温度感知手段を設けて、常に一定温
度となるように加熱を行次いでエミッタ一部1と引出電
極19間に引出電圧を印加し、またエミッタ一部1と接
地電極20の間に加速電圧を印加してニードル1dの先
端に強電界を形成すると、エミッタ一部1のキャピラリ
ー1aとニードル1dの間隙1cより液体金属2が静電
力によって流出して、ニードル1 d’の表面から、そ
の先端に達し、第4図に示すようにニードル1 d”の
先端にティラーコーンと称する円錐状の突起2hが液体
金属20表面張力と静電力とのバランスにより発“生ず
る。この突起2bの先□端は非常に大きな電界強度とな
り、この電界によって金属イオンが電界蒸発してイオン
化し、イオンビーム39が得られる。
生に移る。イオンビームの発生は、まず加熱器14に通
電し□てエミッタ一部1のリザーバ2a4C充、填され
、た液体金属を加熱する。この場合、エミッタ一部1の
キャピラリー1aに温度感知手段を設けて、常に一定温
度となるように加熱を行次いでエミッタ一部1と引出電
極19間に引出電圧を印加し、またエミッタ一部1と接
地電極20の間に加速電圧を印加してニードル1dの先
端に強電界を形成すると、エミッタ一部1のキャピラリ
ー1aとニードル1dの間隙1cより液体金属2が静電
力によって流出して、ニードル1 d’の表面から、そ
の先端に達し、第4図に示すようにニードル1 d”の
先端にティラーコーンと称する円錐状の突起2hが液体
金属20表面張力と静電力とのバランスにより発“生ず
る。この突起2bの先□端は非常に大きな電界強度とな
り、この電界によって金属イオンが電界蒸発してイオン
化し、イオンビーム39が得られる。
引出電極19の細孔19aを通過したイオンビーム39
は接地電極20によってさらに加速され、細孔20aか
らイオンプローブ形成用鏡筒υ図示せず)に送られる。
は接地電極20によってさらに加速され、細孔20aか
らイオンプローブ形成用鏡筒υ図示せず)に送られる。
アンプル6により装填される液体金属2は半永久的に使
用できる量とされるが、操作ミス等により再装填するた
めには、7ランジ24を外して前記と同様の操作を行う
。
用できる量とされるが、操作ミス等により再装填するた
めには、7ランジ24を外して前記と同様の操作を行う
。
なお、以上の実施例では、つまみ64の回転運動を移動
軸26の直線運動に変換する機構として□ねじを使用し
たがカムその他の機構を使用してもよい。またクラッチ
機構としても、上記実施例のものに限定されず、他の構
造のものが使用できる。
軸26の直線運動に変換する機構として□ねじを使用し
たがカムその他の機構を使用してもよい。またクラッチ
機構としても、上記実施例のものに限定されず、他の構
造のものが使用できる。
□さらにアンプル6の破壊手段として、移動パイプ8と
突起9を設けたが、他の構造のものでもよい。
突起9を設けたが、他の構造のものでもよい。
本発明において使用可能な反応性金属としては、セシウ
ム、ガリウム、金、アルミニウム、その他の金属があげ
られる。上記実施例はキャピラリー/ニードル型のイオ
ン銃に適用したものであるが、ニードル型、キャピラリ
ー型、その他のEHDによりフィールドイオンを発生さ
せるイオン銃に適用可能である。また本発明はイオンマ
イクロアナライザー、その他あらゆる用途のイオン銃と
して使用することができる。
ム、ガリウム、金、アルミニウム、その他の金属があげ
られる。上記実施例はキャピラリー/ニードル型のイオ
ン銃に適用したものであるが、ニードル型、キャピラリ
ー型、その他のEHDによりフィールドイオンを発生さ
せるイオン銃に適用可能である。また本発明はイオンマ
イクロアナライザー、その他あらゆる用途のイオン銃と
して使用することができる。
以上のとおり、本発明によれば、アンプル収容空間に収
容されたアンプルに真空下、で圧縮破壊力を加える移動
体を設け、外部からの回転力により操作できるようにし
たので、簡単な操作で安全かつ確実に、空気と接触させ
ることなく反応性金属を装填することができる。このた
め安全かつ安定してフィールドイオンを発生させること
ができる。
容されたアンプルに真空下、で圧縮破壊力を加える移動
体を設け、外部からの回転力により操作できるようにし
たので、簡単な操作で安全かつ確実に、空気と接触させ
ることなく反応性金属を装填することができる。このた
め安全かつ安定してフィールドイオンを発生させること
ができる。
また真空下においてのみ回転力を伝えるクラッチ機構を
設ければ、イオン銃内に空気が存在する場合に、アンプ
ルの破壊を防ぎ、液体金属が空気等と反応するのを防止
することができる。さらに、アンプル破壊前に開口し、
アンプル破壊後に遮断される開口部を設けることにより
、アンプル破壊前は空気を排出し、アンプル破壊後は液
一体金属の蒸発を防止することができる。
設ければ、イオン銃内に空気が存在する場合に、アンプ
ルの破壊を防ぎ、液体金属が空気等と反応するのを防止
することができる。さらに、アンプル破壊前に開口し、
アンプル破壊後に遮断される開口部を設けることにより
、アンプル破壊前は空気を排出し、アンプル破壊後は液
一体金属の蒸発を防止することができる。
第1図はこの発明の一実施例によるイオン銃を示す垂直
断面図、第2図は雪の部分拡大図、第3図は第2図のA
部の拡大図、第4図は作動状態を示す部分拡大図である
。 9.、、、□、:。 各図中、同一符号は同一部分を示し、1はエミッタ一部
、1aはキャピラリー、1 d4’iニー )’ル、2
は液体金属、4は容器、5はアンプル収容空間、6はア
ンプル、7はアンプルホルダー、8は移動パイプ、9は
突起、10は細孔、11.17.21.24はフランジ
、13は熱遮へい板、14は加熱器、15は基盤、16
は加速管、18はイオン銃室、°19は引出電極、20
は接地電極、22はケーシング、23はシリンダ、25
はカップリング、26は移動軸、27はスプリング、2
8はストツノξ、31はおねじ、34はつまみ、36は
溝、37は突起、38ははローズ、39はイオンビーム
である。 代理人 弁理士 柳 原 成 ′1ジ・ 第3図
断面図、第2図は雪の部分拡大図、第3図は第2図のA
部の拡大図、第4図は作動状態を示す部分拡大図である
。 9.、、、□、:。 各図中、同一符号は同一部分を示し、1はエミッタ一部
、1aはキャピラリー、1 d4’iニー )’ル、2
は液体金属、4は容器、5はアンプル収容空間、6はア
ンプル、7はアンプルホルダー、8は移動パイプ、9は
突起、10は細孔、11.17.21.24はフランジ
、13は熱遮へい板、14は加熱器、15は基盤、16
は加速管、18はイオン銃室、°19は引出電極、20
は接地電極、22はケーシング、23はシリンダ、25
はカップリング、26は移動軸、27はスプリング、2
8はストツノξ、31はおねじ、34はつまみ、36は
溝、37は突起、38ははローズ、39はイオンビーム
である。 代理人 弁理士 柳 原 成 ′1ジ・ 第3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)真空排気された反応性金属のアンプルを収容し、
かつエミッターに接続するアンプル収容空間と、このア
ンプル収容空間を真空引きする手段と、前記アンプルに
圧縮破壊力を与える移動体と、アンプル収容空間の外側
に設けられた操作部を回転することにより前記移動体を
移動させる機構とを備えたことを特徴−とするイオン銃
(2)真空状態においてのみ操作部の回転により移動体
を移動させるクラッチ機構を備えた特許請求の範囲第1
項記載のイオン銃 (3)アンプルの一部に集中応力を加える突起をアンプ
ル収容空間に備えた特許請求の範囲第1項または第2項
記載のイオン銃 ・(4)アンプル収容
空間はアンプル破壊前には真空引きされ、アンプル破壊
後は遮断されるようにされている特許請求の範囲第1項
ないし第3項のいずれかに記載のイオン銃 (5)移動体を移動させる機構はねじである特許請求の
範囲第1項ないし第4項のいずれかに記載のイオン銃
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56171190A JPS5873948A (ja) | 1981-10-26 | 1981-10-26 | イオン銃 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56171190A JPS5873948A (ja) | 1981-10-26 | 1981-10-26 | イオン銃 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5873948A true JPS5873948A (ja) | 1983-05-04 |
| JPS6331889B2 JPS6331889B2 (ja) | 1988-06-27 |
Family
ID=15918670
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56171190A Granted JPS5873948A (ja) | 1981-10-26 | 1981-10-26 | イオン銃 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5873948A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63502384A (ja) * | 1986-04-09 | 1988-09-08 | エアー・プロダクツ・アンド・ケミカルズ・インコーポレーテッド | エバポレータ |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS581952A (ja) * | 1981-06-02 | 1983-01-07 | イオン ビーム システムズ リミテッド | イオン源の金属蒸気供給装置 |
-
1981
- 1981-10-26 JP JP56171190A patent/JPS5873948A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS581952A (ja) * | 1981-06-02 | 1983-01-07 | イオン ビーム システムズ リミテッド | イオン源の金属蒸気供給装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63502384A (ja) * | 1986-04-09 | 1988-09-08 | エアー・プロダクツ・アンド・ケミカルズ・インコーポレーテッド | エバポレータ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6331889B2 (ja) | 1988-06-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5188705A (en) | Method of semiconductor device manufacture | |
| US5376791A (en) | Secondary ion mass spectometry system | |
| US3219435A (en) | Method and apparatus for producing metal blocks by electron beams | |
| US6730237B2 (en) | Focused ion beam process for removal of copper | |
| US2850225A (en) | Pump | |
| JPS62237650A (ja) | 金属イオン発生装置 | |
| US2981823A (en) | Production of metals | |
| JPS5873948A (ja) | イオン銃 | |
| JP2010533350A (ja) | マイクロメーターサイズのイオンエミッター源 | |
| EP0066474B1 (en) | Dispenser for ion source | |
| US4983845A (en) | Apparatus operating with contact ionization for the production of a beam of accelerated ions | |
| JPS6240344Y2 (ja) | ||
| JPS5873947A (ja) | イオン銃 | |
| JPH0955169A (ja) | イオン源用試料蒸発源 | |
| US3412196A (en) | Electron beam vacuum melting furnace | |
| US4018489A (en) | Method for extending cathode life in vidicon tubes | |
| US2736810A (en) | Charge receptacles for use in ion source units | |
| JPS62176038A (ja) | X線発光装置 | |
| US4845366A (en) | Semiconductor dopant vaporizer | |
| US20240186101A1 (en) | Vaporizer, ion source, ion beam irradiation apparatus, and an operating method for a vaporizer | |
| CN220335289U (zh) | 一种电子束加热熔料设备 | |
| Leger et al. | Molten salt ion source using glass capillaries as emitter | |
| JPH04206243A (ja) | 液体金属イオン源 | |
| JPS6024305A (ja) | 高融点物質超微粉末の製造装置 | |
| SU1651389A1 (ru) | Высокотемпературна эффузионна печь |