JPS5875922A - 半導体スイツチ回路 - Google Patents

半導体スイツチ回路

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JPS5875922A
JPS5875922A JP56173788A JP17378881A JPS5875922A JP S5875922 A JPS5875922 A JP S5875922A JP 56173788 A JP56173788 A JP 56173788A JP 17378881 A JP17378881 A JP 17378881A JP S5875922 A JPS5875922 A JP S5875922A
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JP
Japan
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gate
switch
pass filter
low
circuit
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Application number
JP56173788A
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English (en)
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Eiji Masuda
英司 増田
Kenji Matsuo
松尾 研二
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
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    • H03K5/249—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral the characteristic being amplitude using field effect transistors using clock signals

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は半導体スイッチ回路のオフセット電圧を補正
した筒梢度の半導体スイッチ回路に関する。
近年、アナログ信号およびテイジタル悟号が混在してい
るMOf’l形半導体集積11路の兄達(1伴ない、複
雑でかつ高度な機能を持つものが出現している。これら
は1ナツプのA/Dコンバータ、L)/Aコンバータ、
スイッチドキャパνタフィルタ、コーデック(C0IJ
EC)等である。
そして上記乗積回路内のアナログ回路要素としては、+
ViOS形スイッチ、キャパシタ、増幅回路、抵抗網等
があり、回w1機能が複雑化かつ高度化するのC1伴な
いこれらのアナログ回路要素としてはより高度な回路特
性を持つものが要求される。
そこで上記アナログ回路要素のうちMCJS形スイッチ
として使用されるl’vi08 PETの特性(二つい
て考えてみる。いま第1図の等f+f11回路に示すよ
う(二M 08形スイツチとなるNチャイ・ルのMOS
 F’ET Q 、のドレインとアース電位との間(二
はキャパシタC,か、ソースとアース電位との間(二は
もう1個のキャパシタC2がそれぞれ挿入されていて、
MOS FET Q 、のゲート(=与えられる駆動信
号Vc  (二よって、予めキャパシタc1(二蓄えら
れている電荷をキャパシタc2に移動させるようになっ
ている。なおMOS FHT Q 、のゲートとドレイ
ンとの間およびゲートとソースとの間には寄生キャパシ
タCGD 、 Casそれぞれが等測的に挿入されてい
る。このようなMOsスイッチ回wSt−おいて、初期
状態ではキャパシタC1は■、に、キャパシタC2はV
 2 (V、>V2 >にそれぞれ充電されているもの
とする。この状態でVcが背Jレベル(二なると〜10
8 fi”E’l” Q 、がオンし、キャパシタC1
に蓄えられていた電荷がMOSFET Q 、を介して
キャパシタC2に放電される。
そして再びMOS FETQ、がオフした?&!−J、
キャパシタC8からり放電が停止する。ここで両キャパ
シタC,,C2の値が等しけれに、放電停止後では、′
a荷再配分の結果、キャパシタC1゜C,T二おける電
圧は理想的ζ二はCVI+V2 )/2となる。しかじ
なiojら実際C二はフィードスルー課差電庄VFE分
たけオフセン)Y生じて、(V、+■2)/2+VFE
となる。このフィードスルー誤差電圧Vpgが発生する
原因は、MOS FET Q、  i二内在する非#型
な前記寄生キャパシタCGD 、 CGSそれぞれを介
して駆動信号Vc がソースおよびドレイン(二もれる
ためである0上自己フィードスル−現象は元々MO81
1’l:T  O)索子構造に内在しているを生容首が
原因であるため、プロセス制御でさけられるものではな
く、高梢反な回路特性が要求される場合1二は何等かの
回路的幻策か必要である。
第2図および第3図はそれぞれ、上記フィールドスルー
現象対策がなされた従来の半導体スイッチ回路の構成図
である。第2図(二示す(9)路はアナログ信号のサン
プル・ホールド回路であり、入力アナログ化+fV I
Nを駆動信号φ(二よってスイッチ制御されるプレチャ
ージ用のNチャネA/MO8FETQ2を介してキャパ
シタC3に蓄えるよう(二したものである。またフィー
ルドスル一対策として、上記MO8f1″14T Q、
2のドレインにフィードスルー補償用のもう1個のNチ
ャネルMO8F’ET Q、のソースおよびドレインを
接続し、このMOS FET Q3のゲート(二は上記
駆動信号φと逆位相の信号φを供給し℃いる。なお、上
記駆動信号φ、φは2個のMO8杉インバータII 1
■2(−よって作られる0この回路(二おいて上記MO
8F’gT Q、のゲートとドレインとの間−二存在す
る寄生キャパシタをCOD 、MOS PET Q、の
ゲートとソースおよびゲートとドレインそれぞれの間(
二存在する符生キャパシタをcas 、 CGDとする
場合(二 、 CCDエ C’ GS +C’GD の関係を満すよう(1両MUS FET Q2. Q3
の素子寸法を設定−「ること(二より、MUSル゛ET
 Q、、 を二おけるフィードスルー効果をMOS F
E’l’ Q3のフィードスルー効果によってキャンセ
ルさせるようにシたものである。
また第3図(:示す回路は、並列接続されたスイッチ用
のNチャネル1VIUs F”Ei、’ Q4と補償用
のPチャネルMo8 FET Q、とのゲート・ソース
間奇生キャパシタおよO・ゲート、ドレイン間寄生キャ
パシタがそれぞれ等しくなるようC二系子寸法を設定す
ること(二より、上記と同様にフィードスルー効果をキ
ャンセルするようにしたものである。そして両MO8F
E’f Q、 、 Q、を駆動する駆動信号φ、φは2
個のMO8形インバータ’3+I、−二よって作られる
。
ところで上記従来(ロ)路ではMOS k’ETQ、と
Q。
あるいはQ4とQ5をw−動す颯ために互い(二連位相
の信号φ、φを用いており、この両信号は2個のIVI
O8形インバータ11と12あるいはlsと14(二よ
って作られるため(二次の■、■のような問題が生じる
。l ■φとφとの間(二は必ず位相のすれが生じる。
■ MO8形インバタの入出力間(=は結合容量が存在
するため、φとφの良形はアンダーシュート波形および
オーバーシュート波形になる〇 またMOS FET  +二寄生するすべての容量は非
#JI型容憧であるたぬ(二次の■、■のような問題が
生じる。
■ キャパシタCGD、C′GS、C′GD  等は非
+151型容菫である。
■ スイッチ動作するM2S FIJT  のゲート・
チャネル間(二発生する非線形な寄生容量のフィードス
ルー効果もある。
この結果、上記■、■、■、■が複合的共同的(二影響
して、従来の回路ではフィードスルー誤差が十分にキャ
ンセルされず、オフセット電圧を十分(二小さくするこ
とができないという欠点がある。
ところで本発明者等は、上記問題点■、■。
■、0のうち%(二■、■がフィールドスルー誤差をキ
ャンセルすることができない大きな原因となっているこ
とを解明した。
この発明は上記のような事Pgを考慮してなされたもの
であり、その目的とするところは、スイッチ動作するス
イッチ用MO8LI”E’r のゲートと、MOS F
ETからなり上記スイッチ用MO8FETのゲートに与
えるための駆動信号を発生する駆動信号発生手段との間
にローバスフイ/L/夕N路を挿入すること(二よって
、スイッチ用MO8FETのゲート入力信号(二おける
アンターシュートおよびオーバーシュートを緩和し、も
ってオフセント電圧が極めて小さい高精度の半導体スイ
ッチ回路を提供すること(二ある。
以下図面を診照してこの発明の一実施例を説明する。第
4図はこの発明(=係る半導体スイッチ回路をサンプル
・ホールド回路(二実施したものである。図C二おいて
QllはNチャネルのプレチャージ用のMOS Fhi
’l’ (スイッチ用MO8FET )であり、このM
OS PET Q、、の信号入力端となるソース(二は
入力アナログ信号VINが、信号出力端となるドレイン
(二はキャパシタC11がそれぞれ接続されている。ま
た図(二おいてIllはMO8FI!JT Q、1をス
イッチ駆動するための駆動信号φを作るMO8形インバ
ータであり、 このインバータIIIの出力端と上gc
2 MOS L”E3T Q、、のゲートとの間(−は
、ローパスフィルタ回路十゛11が挿入されている。
このよう(ニスイッチ制御されるMO8Fh:’r Q
、。
のゲートとMO8形インバータIllとの間にローパス
フィルタ回路Filを挿入すること(二よって、MO8
形インバータ■11の出力である信号φ(1生じるアン
ダーシュート波形およびオーバーシュート波形は除去さ
れ、MOS PET Q、、のゲート(−は単調(二減
少あるいは増加するような波形が与えられる。したがっ
て、 MOS FET Q、1のゲート、ドレイン間(
二存在する寄生キャパシタ(二よるフィードスルー効果
の影響は住めて小さくなり、フィードスルー誤差そのも
のを極めて小さくすることかできる。この結果、オフセ
ット電圧が極めて小さなものとなり、高精度(二人カア
ナログ信号VINをサンプル−ホールドすることができ
る。
第5図はこの発明(1係る半導体スインチ回路をチョッ
パ形比較回j18(=実施したものである。
すなわち、この回路は一方のアナログ信号Vaとキャパ
シタC2,0)一端との間亀ニスインチ用のMU8 F
ET Q2.を挿入するとともC二他方のアナログ信号
vbとキャパシタC21の一端との間にもう1 (Ia
のスイッチ用のMU8 F’ET Q22を挿入し、こ
のキャパシタCnの他端(二〜108形インバータI2
0の入力端を接続し、このMO8彫インバータI20の
入出力端間に12インチ用のMU8 FET Q2゜を
挿入シ、カッ上記LvIO8F”” Q2m 、Qtz
 −Q23をスイッチ駆動するための駆動信号φ1.φ
2.φFを作るMO8形インバータ’21 + ’22
 * 143それぞれの出力端とMU8 FW’l’ 
Q2、+ Q22 * Q23の谷ゲートとの間に各ロ
ーパスフィルタ回路F21 + F22 + F23を
挿入するようにしたものである。
この回路は、最初(二1vO8FET Q2.のゲート
(三信号φFを与えてオンさせて、インバータ■2゜の
入出力端間を短絡すること(二より入力端電位をこのイ
ンバータ1□00反転しきい電圧■0に設定し、次にこ
のMU8 PET Q2.をオフしさら(二MO8FE
i’ Q21のゲートにイ呂旬゛φ1を与えてオンさせ
てキャパシタC2□の一端(ニ一方のアナログ信号Va
を加え、次E MU8 II″ET Q2+をオ’7L
、MO8FE’l’ Q22のゲートに信号φ2を与え
てオンさせてキャパシタC2+の一端(二今度は他方の
アナログ信号vbを加え、このような操作(二よって、
インバータ1200Å力側室位をVoからVo + (
Va −Vb)(二変化させ、変形後の電位をインバー
タI20(二よって増幅すること(二よりVaとVbの
比較を行なうものである。
この実施例回路(二おいて、スイッチ動作を行なう3個
のMU 8 FETQ21 、Q22 、Qtsの各ゲ
ートと、これらのFETを駆動する駆動信号φ1.φ2
゜φFを発生する各MO8形インバータ■21 + ’
22 * 1211との間(二各ローパスフィルタ回%
 l”2+ + F22 + 1!’23を挿入するよ
うC二したので、谷MCJS形インバータ’21 e 
■22 + ’230入出力間(:結合容量が存在して
各信号φ1.φ2.φF  (”−アンダーシュート波
形およびオーバーシュート波形が生じても、このような
波形は各ローパスフィルタ回路”21 + F22 +
”as (二よって除去される。したがって、各MO8
F ”TQ21 、Q、!2 、Q23のゲート、ドレ
イン間およびゲート、ソース間(二存在する寄生キャパ
シタによるフィードスルー効果の影響は惚めて小さくな
り、この結果、尚相反(二Vaとvbの比較を行なうこ
とができる。
第6図はこの発明1:係る牛轡体スイッチ回路をスイッ
チドキャパシタN路(二実施したものである。すなわち
、この回路はスイッチ動作する2個+7) MU8 I
I’ET Q3.、 Qs□  を直列接続し、この直
列接続点とアース電位との間にキャパシタCs+を挿入
するとともC二、円MO8FE’l”を交互にスイッチ
駆動rるための駆動信号φ、φを作るMO8形インバー
タI31 * ’32それぞれの出力端とMU8 li
’ET Q、、 、 Q、2の各ゲートとの間(1谷ロ
ーパスフィルタ回路F31 * h’82 を挿入する
ようC二したものである□ この回路は、信号φ、φ(−よって2個のMO8FET
Q、11.Qa2を交互にスイッチ動作させることによ
って、信号φあるいはφの周波数(:逆比例した稙を持
つ抵抗として作用するものである。
この実施例回路(:おいても、スイッチ動作を行なう2
個のM(J8 FE’l’ Qat 、Qa2の各ゲー
トと、肉PETを、駆動する駆動信号φ、φを発生する
各インバータ131+’32との間(1谷ローパスフィ
ルタ回路1i’sl I F !2を挿入するよう(二
したので、上記実施例と同様C三信号φ、φ(=生じる
アンダーシュート波形およびオーバ7ユート波形を除去
することができる。したがって両IVIO8FET Q
a、 。
Q、□のゲート、ドレイン間およびゲート、ソース間(
二存在する寄生キャパシタ(二よるフィードスルー効果
の影響は極めて小さくなり、この結果、信号φ、φの周
波数C二正確(二連比例した抵抗値を優ることかできる
。
第7図はこの発明(1係る半導体スイッチ回路を電圧コ
ンパレータ(二実施したものである。この回路はPチャ
ネルM、08 F’ET Qp、ないしQpa+Nチャ
ネ/l/ MO8Fb%T QnlないしQn4.it
荷充電用の複数のギヤバッタC4、!ないしC4In、
オフセントキャンセル用のPチャネルM0s k’rす
T Q I)a、このMO8FB’l’ Qp6  を
スイッチ動作させるための駆動信号φを作るC−MOS
インバータ】、1.このC−MOSインバータI41の
出力端と上記M(J8FET Qpaのゲートとの間(
二(′6I入されるローパスフィルタ回路F41から構
成されている。
この回路では、2個のMO8P hiT Q1〕、 、
 Q p2の円ゲート電位、すなわちキャパシタC4,
IないしC,、n  17) 端子電位とアース電位と
を比較する前にMO811”l(’I’ Qpa  を
オンさせて出力のオフセット電圧をキャンセルさせ、こ
の後キャパシタC411ないしC,、nを充電あるいは
放電して、この時の各キャパシタの端子電位ケアースミ
位と比較するものである。   ゛ この実施例回路C:おいても、スイッチ動作を行なうM
O8FET QpaのゲートとC−MO8インバータ’
41  との間にローパスフィルタ回路F4、を挿入し
て、信号φ(二生じるアンダー・シュート波形およびオ
ーバーシュート波形を除去するようにしたので、このM
O8FET Qpa  のゲート、ドレイン間およびゲ
ート、ソース間鑞二任在する寄生キャパシタによるフィ
ードスルー効果の影響は憾めて小さくなり、この結果、
コンパレータとしてのオフセント電圧を憧めて小さくで
き、高精度に比較をすることができる。
第8図および第9図はそれぞれこの発明(二係る半導体
スイッチ回路を、前記第2図および第3図にボすフィー
ドスルー現象対策がなされた従来のものに実施した場合
の(ロ)路構成図である。
すなわち、第8図の実施例回路では、IVIO8PET
Q2. Q、の各ゲートとMO8形インバータI2. 
I2の谷出力端との間(二各ローパスフィルタ回路”I
I + F52を新た(二挿入し、また第9図の実施例
回路では、IVU内FETQ4.Q、の各ゲートとMO
8形インバータl8. l、の各出力端との間C二各ロ
ーパスフィルタ回路f”61 + Fe2を新た(二伸
入したものである。
上記第8図および第9図C′−ボす実施例1u路では、
フィードスルー補償用のIVIO8FET Q、l、 
Q。
を設けるとともに各ローパスフィルタtL!IM il
、、 111′’52 * 1”61 * Fe2を設
けること(二よって、フィードスルー効果のキャンセル
を計るととも(:駆動信号ψ、φC二生じるアンダーシ
ュート波形およびオーバーシュート波形を除去し、寄生
キャパシタ(二よるフィードスルー効果の影響な極めて
小さくするよう(二したものである。したがってフィー
ドスルー誤差そのものを極めて小さくするコ(!l” 
カ”C−キ、MO8F’ET C2,Q、 (=オ+f
ルオ7 セれるローパスフィルタ回路Fの等価回路図で
あり、図示するよう(=このローパスフィルタ回路Fは
抵抗成分Rと谷型成分CとからなるC Rフィルタ回路
であり、その具体的な1面構成は第11図(a)ないし
くC) i=ボす通りである。
まず第11図(a)に示すものは、一方4*型の半導体
基体11の一部表面領域(二他力導電、型の拡散領域1
2を形成し、この拡散領域12(二おける抵抗成分を上
記几として用いるととも(=拡散領域12と基体11と
の間の谷生接合谷祉、基体11上(二杷縁膜な介して設
けられる導電体層13と上記拡散領域12との間の寄生
容量等を上記Cどして用いるようにしたものである。
第11図(b) i=小すものは、−力尋電型の半導体
基体11の一部表面領域(=他方導電型の拡散領域12
を形成し、この拡散領域12(二おける抵抗成分を上記
Rとして用いるととも(−拡散領域12と基体1]との
間の寄生接合容量を上記Cとして用いるようにしたもの
である。
第11図(C) i=不すものは、一方導電型の半導体
基体1ノの表面領域(二ソース、ドレインとなる一対の
他方導電型の拡散領域14に、14Bを形成するととも
≦二基体1)の表面にゲート電極15を形成してMO8
FET を構成し、このMO8FE’l’のゲート電極
15にバイアス電圧VB成分を上記Rとして用いるとと
もに拡散領域J4A、74Bと基体11との藺の寄生接
合容量を上記Cとして用いるよう(二したものである。
そして上記C几フィルタ回路の時定数は、前記各スイッ
チ用の1ViO8FE’l’を駆動する各MO8形イン
バータあるいはC−MOSインバータにおける出力信号
の立上り時間、立下り時間であり、数1秒ないし数10
onN&vtである。さらf二上記Cとしては制御しよ
うとするMO8形スイッチのゲート−基体間のを生容重
を第1」用1−ることもできる。従つ又実際C二半導体
基体上(二上記のフィルター回路を製造しようとする場
合(二は各種の寄生容量が実負的(二付随しているので
抵抗系子のみ形成すれはよいことが多い。
またこの抵抗素子は拡散領域として形成する代わり(=
、例えば半導体基体上に絶縁層を介して例えはポリシリ
コン層の如きもの設置して形成してもよい。
第12図および第13図はそれぞれ、前記第2図(二示
す従来の半導体スイッチ回路と、前記第8図に不すこの
発明に係る半導体スイッチ回路とにおける駆動信号φ、
1とキャパシタc3への入力信号CINのtFf:、i
形を示したものである。なおIviO8F’ET Q2
のチャネル幅とチャネル長ノ比W/L ps 14/7
 t−、、M、08 ) 77 i;’ ス9 Qsの
W/Lは7/7 (:それぞれ設定し、第8図中のロー
パスフィルタ回路F、ll + l” If□は抵抗成
分Rと容量成分CとからなるCIもフィノシタI!2回
路であり、■もの値をlKΩ(二、Cの値を0.5 p
F’ (二それぞれ設定し、さらC二MO8jleイン
バータ■2への入力とじては5vからovに立下がる信
号を、入力アナログ1g号とし?2.5Vなそれぞれ入
力している。
第12図(二不す従来回路の波形図では、駆動信号φの
立下り時におけるオーバーシュートが、H)mV、アン
ダーシュートが33mV、駆動信号φの立上り時C二お
けるアンタルシュートが10mV 、オーバーシュート
が20mVであ(ハキャパシタC8への入力信号CIN
  に現われるオフセット電圧は7mV  にもなる。
これに対して第13図(二示すこの発明(−係る回路の
波形図では、駆動信号φの立下り時におけるオーバーシ
ュートが17mV、アンダーシュートが12nl■、#
AA!III]信号φの立上り時(=おけるアンダーシ
ュートが7mV、オーバーシュートが6mV とそれぞ
れ従来よりも小さな値となり、この結果、キャバνりC
3への入力信号CINに現われるオフセット電圧は2m
Vとなり、従来の7mV+二対して大幅(二改善されて
いる。なお、このオフセットの改善は、@1]g己■、
■、◎の問題点の1也にスイッチ動作するIV108 
FET のゲート−ナヤイ\ル間(二発生する非線形な
奇生キャパシタによる影響も緩和された結果と考えられ
る。
また本発明のさらC二進んだ応用設則例とし王上記フィ
ルタ回路”’Ill + F’+2のフィルタ特性を互
いに異ならせ、駆動信号φおよびφの立上りおよび立下
り成形を適当に制御すること(二よって、上記rvro
SFhi’r  のゲート・チャネル間(二兄生する非
線形な奇生キャパシタ(二よるフィードスルー誤差をさ
らC二大幅に改善、することも可能である。
なお、この発明は上記実施例(二限定されるものではな
く、たとえば上記実施例ではスイッチ用のMOSFET
のゲート(二組側信号を与える手段かMOB形インバー
タあるいはc−Mosインバータである場合g二ついて
説明したが、これはMOS FETからなるNAl’J
D、NUIt等のゲート回路でもよく、単一チャネルの
MOS FET 構成でも(、ニーMOS構成でもよい
。
このよう(=この発明(=係る千尋体スイッチN路で目
、スイッチ動作するスイッチ用1viO5PETのゲー
トと、MOS FhiT からなり上記スイッチ用MO
8FET  のゲートに与えるための*m信号を発生す
る駆動信号発生手段との間(−ローパスフィルタを挿入
すること(=よって、スイッチ用MO8FET のゲー
ト入力信号にお(するアンターシュートおよびオーバー
シュートを緩和するようにしたので、オフセット電圧を
極めて小さくすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はMO8形スイッチの等仙11j=!1路図、第
2図および第3図はそれぞれ従来の半導体スイッチ回路
の構成図、第4図ないし第9図はそれぞれこの発明の一
実施例の構成図、第10図(a)。 (b)は上記各実施例回路(一般けられるローパスフィ
ルタ回路の等i1.l11回路図、第11図(a) 、
 (b) 、 (C)は同ローパスフィルタ回路を具体
的C:ボす断聞図、第12図および第13図はそれぞれ
この発明を続開するための波形図である。 Q、〜Qy + Qll q Q2+ −Q23 * 
Qs+ + Q32 + Q I)+〜QI)61(i
、−Qn、・−・MOS li″E T s c、−c
3I CII I C211C,lt ’04+1−0
410 ”’キャパシタ、CGD 、 CGs 、 C
Gs 。 C′GD・・・奇生キャパシタ、’4− ’4 * l
u * ’l’2o’−■23 * 131 + 13
2 + ’4+・・・1V108形インバータ、It”
l l +F21+に’2゜+ 1!’2. I f”
31 + F32 + F41 + F51 + k’
52 + F、、 IF62・・・ローパスフィルタ回
路、 1)・・・半導体基体、12.14・・・拡散焦
域、13・・導電体層、15・・・ゲート電極。 出願人代理人 升埋士  鈴 江 武 彦第1図   
   第2図 第3.図

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  ソース、ドレインを信号入力端および信号出
    力端としスイッチ動作するスイッチ用MO8FETと、
    MOSFETからなり上記スイッチ用MO8FETのゲ
    ート(1与えるための駆動信号を発生する#A鋤倍信号
    発生手段、上記スイッチ用MO8FETのゲートと上記
    駆動信号発生手段との間(二挿入されるローパスフィル
    タ回路とを具備したことを特徴とする半導体スイッチ回
    路。
  2. (2)  ソース、ドレインを信号入力端および信号出
    力端としスイッチ動作するスイッチ用MO8FETと、
    このスイッチ用MO8PET  の信号出力端にソース
    およびドレインが接続された補償用MO8F’E’l”
    と、MO8F’JTからなり上記スイッチ用MO8FE
    Tのゲート(1与えるための駆動信号を発生ずる第1の
    駆動信号発生手段く、MOS FI4’l’からなり上
    記補償用MO8F13’I’のゲート(1与えられこの
    補償用MO8fi”ETを上記スイッチ用MO8FET
    のスイッチ動作(二対して逆のスイッチ動作をさせるた
    めの駆動信号を発生する第2の駆動信号発生手段と、上
    記スイッチ用MO8f”E’l’および補償用MO8F
    E’l’のゲートと上記第11第2の駆動信号発生手段
    との間C二それぞれ(申入されるローパスフィルり回路
    とを具備したことを特徴とする半導体スイッチ回路〇
  3. (3)前記ローパスフィルタ回路か抵抗成分と容量成分
    とからなるCR,フィルタ回路である特許請求の範囲第
    1項または第2項に記載の半導体スイッチ回路。
  4. (4)前記容量成分が寄生各音である特許請求の範囲第
    3項に記載の半導体スイッチ回路。
  5. (5)前記スイッチ用MO8FETがアナログ電圧をス
    イッチ制御する特許請求の範囲第1項(二記載の半導体
    スイッチ回路。
  6. (6)前記ローパスフィルタ回路が半導体基体上(−抵
    抗素子を形成すること(二より構成される特許請求の範
    囲第1項C二記載の半導体スイッチ回路。
  7. (7)前記ローパスフィルタ回路が半嘴体暴体上に抵抗
    素子を形成すること(二より構成される特許請求の範囲
    第2項に記載の半導体スイッチ回路。
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