JPS5879276U - プリント基板検査装置 - Google Patents

プリント基板検査装置

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JPS5879276U
JPS5879276U JP17488681U JP17488681U JPS5879276U JP S5879276 U JPS5879276 U JP S5879276U JP 17488681 U JP17488681 U JP 17488681U JP 17488681 U JP17488681 U JP 17488681U JP S5879276 U JPS5879276 U JP S5879276U
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JP
Japan
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circuit board
printed circuit
board inspection
inspection equipment
holding body
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JP17488681U
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大野　光敏
宇俶 沼尾
渡辺　孫
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Sony Corp
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Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図及び第２図は従来のプリント基板検査装置の一例
を示し、第１図は側面図、第２図は接触ピン保持部の拡
大断面図、第３図及び第４図は本考案プリント基板検査
装置の実施の一例を示し、第３図は一部を切欠いて示す
側面図、第４図は動作を示す要部の断面図である。 符号の説明、１・・・プリント基板検査装置、５・・・
保持体、６・・・接触ピン、１１・・・別の保持体、１
２・・・ハンマーピン、１９・・・弾発手段、２０・・
・弾発力制御手段。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 保持体にスライド自在に支持された接触ピンと、別の保
    持体にスライド自在に保持されかつ弾発手段により接触
    ピンの基端方向に向って弾発付勢さレタハンマーピンと
    、ハンマーピンに関連された弾発手段の弾発力を蓄えて
    おきかつ一瞬に開放する弾発力制御手段とを備えたこと
    を特徴とするプリント基板検査装置。
JP17488681U 1981-11-25 1981-11-25 プリント基板検査装置 Granted JPS5879276U (ja)

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JP17488681U JPS5879276U (ja) 1981-11-25 1981-11-25 プリント基板検査装置

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JP17488681U JPS5879276U (ja) 1981-11-25 1981-11-25 プリント基板検査装置

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Publication Number Publication Date
JPS5879276U true JPS5879276U (ja) 1983-05-28
JPS6213027Y2 JPS6213027Y2 (ja) 1987-04-03

Family

ID=29967014

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JPS6213027Y2 (ja) 1987-04-03

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