JPS5883235A - 写真濃度の測定方法 - Google Patents
写真濃度の測定方法Info
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- JPS5883235A JPS5883235A JP18115981A JP18115981A JPS5883235A JP S5883235 A JPS5883235 A JP S5883235A JP 18115981 A JP18115981 A JP 18115981A JP 18115981 A JP18115981 A JP 18115981A JP S5883235 A JPS5883235 A JP S5883235A
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- Pending
Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は写真濃度の測定方法の改良に関する。
写真材料の特性を評価するためには、感光針を用いて試
料に既知の段階的露光を与え、現像後にその黒さを測定
する方法が採られる。 この黒さの程度を示すのが濃度
であシ、光の透過率の逆数の対数値で表わされる。 こ
のような写真濃度を測定する装置が濃度計であシ、視覚
によって測るものと光電式のものがある。
料に既知の段階的露光を与え、現像後にその黒さを測定
する方法が採られる。 この黒さの程度を示すのが濃度
であシ、光の透過率の逆数の対数値で表わされる。 こ
のような写真濃度を測定する装置が濃度計であシ、視覚
によって測るものと光電式のものがある。
現像済みの写真材料を透過した光は銀粒子のため拡散さ
れるので、測定方式により濃度値に変化を生ずる。 試
料に平行光を当て、透過した光のうち拡散された光を含
めて全部を捕えて測定した値を散光濃度、透過した光の
うち平行方向の光のみを捕えて測定した値を平行光濃度
と称するが、濃度計は散光濃度を測定することに定めら
れている。
れるので、測定方式により濃度値に変化を生ずる。 試
料に平行光を当て、透過した光のうち拡散された光を含
めて全部を捕えて測定した値を散光濃度、透過した光の
うち平行方向の光のみを捕えて測定した値を平行光濃度
と称するが、濃度計は散光濃度を測定することに定めら
れている。
従来のミクロフォトメータのアパーチャーは、顕微鏡の
対物レンズの絞りにマイクロメーターでさらにアパーチ
ャーを補正して、微小面積のアパーチャーを形成してい
る。 ここで問題になるのは、（１）Ｘ線フィルム（厚
さ約２００ ｐ ｍ ）の上下面に乳剤層があり、濃度
測定時のレンズの焦点深度がどの位かによってアパーチ
ャーサイズが異なってくること、（２）微小なアパーチ
ャーになると、銀粒子の影響で測定値が得られなくなる
ことである。
対物レンズの絞りにマイクロメーターでさらにアパーチ
ャーを補正して、微小面積のアパーチャーを形成してい
る。 ここで問題になるのは、（１）Ｘ線フィルム（厚
さ約２００ ｐ ｍ ）の上下面に乳剤層があり、濃度
測定時のレンズの焦点深度がどの位かによってアパーチ
ャーサイズが異なってくること、（２）微小なアパーチ
ャーになると、銀粒子の影響で測定値が得られなくなる
ことである。
そこで、本発明は試料を拡大して濃度を測定することに
より、アパーチャーのサイズ及び形状を正確に認識でき
、高精度な濃度測定が可能となる写真濃度の測定方法を
提供しようとするものであって、以下に本発明の実施例
を図面を参照しながら説明する。
より、アパーチャーのサイズ及び形状を正確に認識でき
、高精度な濃度測定が可能となる写真濃度の測定方法を
提供しようとするものであって、以下に本発明の実施例
を図面を参照しながら説明する。
図は本発明に係る写真濃度の測定方法を実施するだめの
測定装置を示し、光源１の光軸上に所定間隔を置いて拡
大投影用レンズ２を配置してあり、この拡大投影用レン
ズ２の前方には該レンズ２の光軸上前面に位置させて光
遮蔽板３を設けである。
測定装置を示し、光源１の光軸上に所定間隔を置いて拡
大投影用レンズ２を配置してあり、この拡大投影用レン
ズ２の前方には該レンズ２の光軸上前面に位置させて光
遮蔽板３を設けである。
光遮蔽板３のほぼ中央部には拡大投影用レンズ２の光軸
と一致させた小孔、例えばアパーチャー４が穿設されて
おり、このアパーチャー４の後方近傍には拡散板５を介
して受光部（例えば光電変換器）６が配置されている。
と一致させた小孔、例えばアパーチャー４が穿設されて
おり、このアパーチャー４の後方近傍には拡散板５を介
して受光部（例えば光電変換器）６が配置されている。
光源１と拡大投影用レンズ２との間には濃度を測定す
る試料（例えば写真材料）７が置かれている。
る試料（例えば写真材料）７が置かれている。
以上の測定装置において、光源１からの平行光束８は、
試料７を透過した後に拡大投影用レンズ２に入射され、
この拡大投影用レンズ２によって拡大された光束は光遮
蔽板３に投影される。 光遮蔽板３に投影された拡大光
束９のうち光軸近傍にある一部の大束は、アバ−チア−
４を通過して。
試料７を透過した後に拡大投影用レンズ２に入射され、
この拡大投影用レンズ２によって拡大された光束は光遮
蔽板３に投影される。 光遮蔽板３に投影された拡大光
束９のうち光軸近傍にある一部の大束は、アバ−チア−
４を通過して。
平行光束となり、さらに拡散板５によって拡散される。
そして、拡散された光は受光部６によって受光され、
この受光部６が光電変換器の場合には、上記拡散された
光は図示の如く電気信号１ｏとして取り出されるので、
該電気信号１ｏを所定の表示器（図示せず）に入力すれ
ば、試料７の濃度を測定することができる。
この受光部６が光電変換器の場合には、上記拡散された
光は図示の如く電気信号１ｏとして取り出されるので、
該電気信号１ｏを所定の表示器（図示せず）に入力すれ
ば、試料７の濃度を測定することができる。
なお、試料７は光源１の光軸に対して直角方向に移動さ
せ、その表面は一次元に走査する。 拡散板５は受光部
６．の受光面に均一に拡散光を受光“させるために用い
るものであって、受光部６として光電変換器を用いたと
きには、光電面全体に受光させた方が良い場合と、一部
の光電面のみでも十分にその特性を満足できる場合とが
あるので、拡散板５は使用する光電変換器の特性に応じ
て用いる必要がある。 例えば、高い濃度を持つ入力画
像を測定する場合、拡散板５の影響で光電面への入射光
量が少なくなるので、光電変換器の特性を高めるために
は拡散板５を使用し々い方が好ましい。 また、受光部
６は視覚によって直接測定できる部材を利用することも
可能である。
せ、その表面は一次元に走査する。 拡散板５は受光部
６．の受光面に均一に拡散光を受光“させるために用い
るものであって、受光部６として光電変換器を用いたと
きには、光電面全体に受光させた方が良い場合と、一部
の光電面のみでも十分にその特性を満足できる場合とが
あるので、拡散板５は使用する光電変換器の特性に応じ
て用いる必要がある。 例えば、高い濃度を持つ入力画
像を測定する場合、拡散板５の影響で光電面への入射光
量が少なくなるので、光電変換器の特性を高めるために
は拡散板５を使用し々い方が好ましい。 また、受光部
６は視覚によって直接測定できる部材を利用することも
可能である。
この測定方法によれば、試料７を透過した光束を拡大投
影用レンズ２で拡大するので、その拡大率を確実に把握
でき、光遮蔽板３のアパーチャー４の大きさ及び形状を
正確かつ容易に設定することができるし、拡大投影用レ
ンズ２の拡大投影においては２００μｍの試料の厚みに
よる投影ボケも生じない。 したがって、試料に対する
レンズ系の焦点深度が小さい場合、ある一層面の画像抽
出でなく試料全体の厚みを含んだ画像を抽出することが
可能である。
影用レンズ２で拡大するので、その拡大率を確実に把握
でき、光遮蔽板３のアパーチャー４の大きさ及び形状を
正確かつ容易に設定することができるし、拡大投影用レ
ンズ２の拡大投影においては２００μｍの試料の厚みに
よる投影ボケも生じない。 したがって、試料に対する
レンズ系の焦点深度が小さい場合、ある一層面の画像抽
出でなく試料全体の厚みを含んだ画像を抽出することが
可能である。
例えば、写真フィルムはそのフィルム乳剤層内の銀粒子
によって画像を構成するものであり、ミクロフォトメー
タたよる走査濃度測定においては、ある大きさを持った
開口によってフィルムの一点の濃度測定をするが、その
際上記開口の大きさが写真鋼粒子の平均粒子サイズより
かなり大きくないと、画像の持っている画像情報を測定
することができない。 これは、写真銀粒子の大きさに
近い小さな開口での濃度測定は粒状性（即ち粒子サイズ
の影響による一種のノイズ）により、本来の濃度測定が
できなくなることによる。 ここで、開口を大きくする
ことなく、この粒状性を除くために画像を拡大レンズに
より多少ほかすことによりて一種の低域周波数濾過器を
形成させ、これにより粒子の粒立ちを抑え、本来の濃度
信号の相対値を測定することができる。 即ち、レンズ
系を多少デフォーカスにすることによって粒状性を除い
た濃度測定を行なうことができる。
によって画像を構成するものであり、ミクロフォトメー
タたよる走査濃度測定においては、ある大きさを持った
開口によってフィルムの一点の濃度測定をするが、その
際上記開口の大きさが写真鋼粒子の平均粒子サイズより
かなり大きくないと、画像の持っている画像情報を測定
することができない。 これは、写真銀粒子の大きさに
近い小さな開口での濃度測定は粒状性（即ち粒子サイズ
の影響による一種のノイズ）により、本来の濃度測定が
できなくなることによる。 ここで、開口を大きくする
ことなく、この粒状性を除くために画像を拡大レンズに
より多少ほかすことによりて一種の低域周波数濾過器を
形成させ、これにより粒子の粒立ちを抑え、本来の濃度
信号の相対値を測定することができる。 即ち、レンズ
系を多少デフォーカスにすることによって粒状性を除い
た濃度測定を行なうことができる。
この場合、最終的な出力分布波形は、レンズのインパル
ス レスポンスヲｈ（ｔ’）トＬ、、試料。
ス レスポンスヲｈ（ｔ’）トＬ、、試料。
分光透過率分布をｘ（ｔつとすれば、φ（ｔ）＝ｘ （
ｔ’）＄ｈ （ｔつとなる。 ここで、木はコンポリニ
ージョンを示す。 アパーチャーのレスポンスをＡ（ｔ
）とすれば、最終の出力分布波形虫ＣＹ’）＝φ（ｔ）
ｘＡ（ｔ）である。 したがって、ここでボケを修正し
、また埋かすことによる拡大率の変化も同時に補正する
ことができる。
ｔ’）＄ｈ （ｔつとなる。 ここで、木はコンポリニ
ージョンを示す。 アパーチャーのレスポンスをＡ（ｔ
）とすれば、最終の出力分布波形虫ＣＹ’）＝φ（ｔ）
ｘＡ（ｔ）である。 したがって、ここでボケを修正し
、また埋かすことによる拡大率の変化も同時に補正する
ことができる。
即ち、拡大率はスクリーン面での画像の大きさを原画像
（入力画像）の大きさに比較して測定することによって
計算することができる。 また、同様にばかされた画像
も、ぼかされる前の画像の大きさから単純に像の大きさ
をスクリーン上でそれぞれ測定し、その比率計算から拡
大率の変化を補正することができる。
（入力画像）の大きさに比較して測定することによって
計算することができる。 また、同様にばかされた画像
も、ぼかされる前の画像の大きさから単純に像の大きさ
をスクリーン上でそれぞれ測定し、その比率計算から拡
大率の変化を補正することができる。
本発明は上記の如くであって、試料を透過した光束番拡
大投影用レンズで拡大し、この拡大された光束を光遮蔽
板に投影して、アパーチャーを通過させた一部の光を必
要に応じてさらに拡散板によって拡散させた後に受光部
へ入射させるようにしたから、アパーチャーの口径の設
定が容易となることは勿論のこと、高性能による濃度測
定を行なうことができ、技術的かつ実用的にも優れた効
果を奏するものである。
大投影用レンズで拡大し、この拡大された光束を光遮蔽
板に投影して、アパーチャーを通過させた一部の光を必
要に応じてさらに拡散板によって拡散させた後に受光部
へ入射させるようにしたから、アパーチャーの口径の設
定が容易となることは勿論のこと、高性能による濃度測
定を行なうことができ、技術的かつ実用的にも優れた効
果を奏するものである。
図面は本発明の測定方法を説明するための装置の一例を
示す構成図である。 図中、１は光源、２は拡大投影用レンズ、３は光遮蔽板
゛、４はアパーチヤ・−１６は受光部である。
示す構成図である。 図中、１は光源、２は拡大投影用レンズ、３は光遮蔽板
゛、４はアパーチヤ・−１６は受光部である。
Claims (1)
- 光源から濃度測定用試料を透過した光束を拡大投影用レ
ンズで拡大し、この拡大された光束を光遮蔽板に投影す
ると共に、光遮蔽板に投影された光束の一部を該遮蔽板
に設けであるアパーチャーを通過させ、この通過した光
を受光部に入射さ鷺ることを特徴とする写真濃度の測定
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18115981A JPS5883235A (ja) | 1981-11-13 | 1981-11-13 | 写真濃度の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18115981A JPS5883235A (ja) | 1981-11-13 | 1981-11-13 | 写真濃度の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5883235A true JPS5883235A (ja) | 1983-05-19 |
Family
ID=16095914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18115981A Pending JPS5883235A (ja) | 1981-11-13 | 1981-11-13 | 写真濃度の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5883235A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH025055U (ja) * | 1988-06-21 | 1990-01-12 | ||
| RU2855923C1 (ru) * | 2024-12-27 | 2026-02-05 | Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов" Национального исследовательского центра "Курчатовский институт" (НИЦ "Курчатовский институт" - ВИАМ) | Микроденситометр |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3612886A (en) * | 1970-02-04 | 1971-10-12 | Kurt Hannig | Process for the quantitative determination of light-absorbing or light-reflecting substances distributed on a carrier |
-
1981
- 1981-11-13 JP JP18115981A patent/JPS5883235A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3612886A (en) * | 1970-02-04 | 1971-10-12 | Kurt Hannig | Process for the quantitative determination of light-absorbing or light-reflecting substances distributed on a carrier |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH025055U (ja) * | 1988-06-21 | 1990-01-12 | ||
| RU2855923C1 (ru) * | 2024-12-27 | 2026-02-05 | Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов" Национального исследовательского центра "Курчатовский институт" (НИЦ "Курчатовский институт" - ВИАМ) | Микроденситометр |
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