JPS5883252A - うず電流探傷試験装置 - Google Patents
うず電流探傷試験装置Info
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- JPS5883252A JPS5883252A JP18115381A JP18115381A JPS5883252A JP S5883252 A JPS5883252 A JP S5883252A JP 18115381 A JP18115381 A JP 18115381A JP 18115381 A JP18115381 A JP 18115381A JP S5883252 A JPS5883252 A JP S5883252A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flaw detection
- coil
- eddy current
- excitation
- inspected
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、金属表面、内面に存在する傷の検出および金
属の特性評価を行ううず電流探傷試験装置の改良に関す
る。
属の特性評価を行ううず電流探傷試験装置の改良に関す
る。
発明の技術的背景
従来、うす電流探傷試験装置においては、励磁探傷コイ
ルに流される電流の値は、励磁探傷コイルが被検査材に
対向してもインピーダンスが変化しないという想定のも
とに、励磁探傷コイＶの巻数、励磁探傷コイルの接続さ
れるブリッジ回路、発生するうず’１４流の大きさ等か
ら経験的に決定される１直に固定されるように製作され
ており、被検食材の状ｌＩ！によって発生するうす電流
の大きさが変化した場合においても、常に一定値の交流
が流きれていた。
ルに流される電流の値は、励磁探傷コイルが被検査材に
対向してもインピーダンスが変化しないという想定のも
とに、励磁探傷コイＶの巻数、励磁探傷コイルの接続さ
れるブリッジ回路、発生するうず’１４流の大きさ等か
ら経験的に決定される１直に固定されるように製作され
ており、被検食材の状ｌＩ！によって発生するうす電流
の大きさが変化した場合においても、常に一定値の交流
が流きれていた。
背景技術の問題点
しかしながら、上記のように励磁探傷コイｋに流される
電流が固定されて―ると、例えば亀１図に示すように、
励磁探傷コイル（１）によって被検査材（２）に生ずる
うす電流（３）の強さが強い場合には、小さな欠陥（４
）に対しては、欠陥（４）がうず電流（３）ヲ妨げる割
合が小さくなシ、欠陥（４）の識別能力が低下する。ま
た逆に、うず電流の強さが弱い場合には、第２図に示す
ように、大きな欠陥１４）に対しては、欠陥（４）がう
す電流（３）の発生を弱め、発生するうず電流（３）が
小さくなシ過ぎ、欠陥の識別能力が低下する。そのため
、欠陥の大きさ、形状等の変化に対する定量的な扱いが
できにくい場合がある。
電流が固定されて―ると、例えば亀１図に示すように、
励磁探傷コイル（１）によって被検査材（２）に生ずる
うす電流（３）の強さが強い場合には、小さな欠陥（４
）に対しては、欠陥（４）がうず電流（３）ヲ妨げる割
合が小さくなシ、欠陥（４）の識別能力が低下する。ま
た逆に、うず電流の強さが弱い場合には、第２図に示す
ように、大きな欠陥１４）に対しては、欠陥（４）がう
す電流（３）の発生を弱め、発生するうず電流（３）が
小さくなシ過ぎ、欠陥の識別能力が低下する。そのため
、欠陥の大きさ、形状等の変化に対する定量的な扱いが
できにくい場合がある。
またうず電流の大きさは、周波数や被検査材の透磁率、
導電率の変化等によって影響を受けるため、それらによ
るインピーダンス変化に対応できるようにする必要があ
る。
導電率の変化等によって影響を受けるため、それらによ
るインピーダンス変化に対応できるようにする必要があ
る。
発明の目的
本発明の目的は、被検査材中に生ずるうす電流の値を任
意の値に制御し、かつ一定に保つことによって、欠陥の
大小による欠陥判別能力の変化を無くシ、試験結果の定
量化及び信頼性を向上させることＫある。
意の値に制御し、かつ一定に保つことによって、欠陥の
大小による欠陥判別能力の変化を無くシ、試験結果の定
量化及び信頼性を向上させることＫある。
発明の概要
本発明においては、励磁探傷コイルで被検査材にうず電
流を発生させ被検査材に生ずるうす電流のミラピックア
ップコイルで電圧の大きさとして検出し、その検出電圧
と所定の交流電源の設定電圧と全差動増幅器により比較
し、その差が無くなるように差動増幅器の出力を励磁探
傷コイルの電源に帰還させるよう、に構成することによ
りうず電流を一定にし欠陥判別能力を良好にする。
流を発生させ被検査材に生ずるうす電流のミラピックア
ップコイルで電圧の大きさとして検出し、その検出電圧
と所定の交流電源の設定電圧と全差動増幅器により比較
し、その差が無くなるように差動増幅器の出力を励磁探
傷コイルの電源に帰還させるよう、に構成することによ
りうず電流を一定にし欠陥判別能力を良好にする。
発明の実施例
以下、本発明の一実施例について、第３図および第４図
を参照して説明する。第３図において、（１）は励磁探
コイルであって、電源となる発振器および探傷用ブリッ
ジ回路を備えた励磁信号増幅器（５）に接続され、被検
査材（２）にうず電流を発生させている。（６）はうず
電流検出用のピックアップコイルであり、このピックア
ップコイル（６）は被検査材（２）を媒体として励磁探
傷コイル（１）と磁気的に結合されておシ、このピック
アップコイル（６）によって検出されたうす電流の量に
比例した検出電圧は、増幅器（７）で増幅され、差動増
幅器（８）の一方の端子に入力させる。（９）はうず電
流値設定のための交流電源であり、電圧及び周波数は任
意の値に固定できるものとし、差動増幅器（８）のもう
一方の端子に入力させる。差動増幅器（８）では、増幅
器（７）と交流電源（９）との電圧値を比較し、その差
が０となるような電圧を出力させ、励磁信号増幅器（５
）の中にある励磁探傷コイル（１）の電源に帰還させる
。励磁探傷コイル（１）とピックアップコイＡ／（６）
とを組合せた探触子ａ１は第４図に示すように、励磁探
傷コイル（１）とビックアンプコイル（６）とを磁心ａ
Ｉ）を中心にして同心状に配設し、ピックアップコイル
（６）は磁気シールド部材０にて励磁探傷コイル（１）
に対して磁気シールドしである。従って励磁探傷コイル
（１）とビックアンプコイル（６）とは、被検査材を媒
体とせずに結合することは殆ど無いが、それでも被検査
材を媒体とせずにピックアップコイル（６）によって検
出される信号電圧は、その検出された信号電圧の埴が実
際の゛探傷におけるピックアップコイル（６）慎出題圧
値の０となるように、予め交流電源（９）の値と補正し
ておく。又、差動増幅器（８）の出力信号の一部と、励
磁探傷コイル（１）の信号で励磁信号増幅器（Ｅｌ全通
した出力信号処理装置側に入れて処理し、探傷状況金記
鍮させる。
を参照して説明する。第３図において、（１）は励磁探
コイルであって、電源となる発振器および探傷用ブリッ
ジ回路を備えた励磁信号増幅器（５）に接続され、被検
査材（２）にうず電流を発生させている。（６）はうず
電流検出用のピックアップコイルであり、このピックア
ップコイル（６）は被検査材（２）を媒体として励磁探
傷コイル（１）と磁気的に結合されておシ、このピック
アップコイル（６）によって検出されたうす電流の量に
比例した検出電圧は、増幅器（７）で増幅され、差動増
幅器（８）の一方の端子に入力させる。（９）はうず電
流値設定のための交流電源であり、電圧及び周波数は任
意の値に固定できるものとし、差動増幅器（８）のもう
一方の端子に入力させる。差動増幅器（８）では、増幅
器（７）と交流電源（９）との電圧値を比較し、その差
が０となるような電圧を出力させ、励磁信号増幅器（５
）の中にある励磁探傷コイル（１）の電源に帰還させる
。励磁探傷コイル（１）とピックアップコイＡ／（６）
とを組合せた探触子ａ１は第４図に示すように、励磁探
傷コイル（１）とビックアンプコイル（６）とを磁心ａ
Ｉ）を中心にして同心状に配設し、ピックアップコイル
（６）は磁気シールド部材０にて励磁探傷コイル（１）
に対して磁気シールドしである。従って励磁探傷コイル
（１）とビックアンプコイル（６）とは、被検査材を媒
体とせずに結合することは殆ど無いが、それでも被検査
材を媒体とせずにピックアップコイル（６）によって検
出される信号電圧は、その検出された信号電圧の埴が実
際の゛探傷におけるピックアップコイル（６）慎出題圧
値の０となるように、予め交流電源（９）の値と補正し
ておく。又、差動増幅器（８）の出力信号の一部と、励
磁探傷コイル（１）の信号で励磁信号増幅器（Ｅｌ全通
した出力信号処理装置側に入れて処理し、探傷状況金記
鍮させる。
次に作用について説明する。この装置によれば励磁探傷
コイル（１）と、被検査材（２）と、ピックアップコイ
ｓ／（６）と、増幅器（７）と、差動増幅器（８）と交
流４を源（９）と励磁信号増幅器（５）とで帰還Ｖ−プ
が形成されるので、うす電流の強さを一定にして探傷を
行なうことが出来る。従って、励磁探傷コイル（１）に
流される交流の電流値は変化するが、その電流値は励磁
探傷コイル（１）のインピーダンス値およびインビーダ
ンス変化分に対して無関係であるため、従来よシ欠陥判
別能力の優れた探傷を行なうことが出来る。また、他に
熱処理等の関係で、被検査材（２）の透磁率、導電率が
部分的に変化している場所についても、一定条件での探
傷が可能である。
コイル（１）と、被検査材（２）と、ピックアップコイ
ｓ／（６）と、増幅器（７）と、差動増幅器（８）と交
流４を源（９）と励磁信号増幅器（５）とで帰還Ｖ−プ
が形成されるので、うす電流の強さを一定にして探傷を
行なうことが出来る。従って、励磁探傷コイル（１）に
流される交流の電流値は変化するが、その電流値は励磁
探傷コイル（１）のインピーダンス値およびインビーダ
ンス変化分に対して無関係であるため、従来よシ欠陥判
別能力の優れた探傷を行なうことが出来る。また、他に
熱処理等の関係で、被検査材（２）の透磁率、導電率が
部分的に変化している場所についても、一定条件での探
傷が可能である。
伺、第４図に示した探触子ａ１は被検査材（２）が板状
のものに適するが、第５図のように励磁探傷コイｋ（１
）とピックアップコイｖ（６）とヲ環状にして軸方向に
並設し、ピックアップコイν（６）を磁気シールド部材
ａりにて励磁探傷コイル（１）に対して磁気シーｕドす
れに、被検査材（２）が管状又は棒状のものに適当であ
る。又、第６図はピックアップコイル（６）を励磁探傷
コイＲ／（１）と分離して、被検査材（２）を挾んで配
設したものであるが、この場合は、磁気シールド等の手
段は必要でない。
のものに適するが、第５図のように励磁探傷コイｋ（１
）とピックアップコイｖ（６）とヲ環状にして軸方向に
並設し、ピックアップコイν（６）を磁気シールド部材
ａりにて励磁探傷コイル（１）に対して磁気シーｕドす
れに、被検査材（２）が管状又は棒状のものに適当であ
る。又、第６図はピックアップコイル（６）を励磁探傷
コイＲ／（１）と分離して、被検査材（２）を挾んで配
設したものであるが、この場合は、磁気シールド等の手
段は必要でない。
伺、本発明は上記し、かつ図面に示した実施例のみに限
定されるものではなく、その要旨を変更しない範四で、
極々変形して実施できることは勿論である。
定されるものではなく、その要旨を変更しない範四で、
極々変形して実施できることは勿論である。
発明の詳細
な説明したように、本発明によれば、励磁探傷コイルで
被検査材にうず電流を発生させ、被検査材に生ずるうす
電流の量をピックアップコイルで電圧の大きさとして検
出し、その検出電圧と所定の交流電源の設定電圧と全差
動増幅器により比軟し、その差が無くなるように差動増
幅器の出力を励磁探傷コイルの電源に帰還させたことに
より、うす電流の強さを一定にして探傷を行なりことが
出来、従って欠陥判別能力の優れたうず電流探傷試験装
置が得られる。
被検査材にうず電流を発生させ、被検査材に生ずるうす
電流の量をピックアップコイルで電圧の大きさとして検
出し、その検出電圧と所定の交流電源の設定電圧と全差
動増幅器により比軟し、その差が無くなるように差動増
幅器の出力を励磁探傷コイルの電源に帰還させたことに
より、うす電流の強さを一定にして探傷を行なりことが
出来、従って欠陥判別能力の優れたうず電流探傷試験装
置が得られる。
＠１図および第２図はそれぞれ異なるうず電流の強さに
対する探傷状ｎを模式的に表わしたうず電流探傷試験装
置の原理説明図、第３図は本発明のうす電流探傷試験装
置の一実施例を示すブロック図、第４図は第３図の実施
例の探触子を示す縦断面図、第５図および第６図はそれ
ぞれ異なる他の実施例の探触子を示す縦断面図である。 ｌ・・・励磁探傷コイル ２・・・被検査材３・・・
うずｔｍ ４・・・欠陥５・−・励磁探傷コ
イルの電源を有する励磁イざ号増幅器６・・・ピックア
ップコイル ８・・差動増幅器 ９・・・交流電源１０・・・
探触子 １２・−・磁気シーシト部材１３・・・
信号処−理装置 代理人 弁理士 井 上 −列 部 １ 図 第２図
対する探傷状ｎを模式的に表わしたうず電流探傷試験装
置の原理説明図、第３図は本発明のうす電流探傷試験装
置の一実施例を示すブロック図、第４図は第３図の実施
例の探触子を示す縦断面図、第５図および第６図はそれ
ぞれ異なる他の実施例の探触子を示す縦断面図である。 ｌ・・・励磁探傷コイル ２・・・被検査材３・・・
うずｔｍ ４・・・欠陥５・−・励磁探傷コ
イルの電源を有する励磁イざ号増幅器６・・・ピックア
ップコイル ８・・差動増幅器 ９・・・交流電源１０・・・
探触子 １２・−・磁気シーシト部材１３・・・
信号処−理装置 代理人 弁理士 井 上 −列 部 １ 図 第２図
Claims (4)
- （１）被検査材に励磁探傷；イルでうず電流を流すと共
に、そのうず電流の変化を前記励磁探傷コイルで検出し
て被検査材の特性の評価、傷の検出等を行なううす電流
探傷試験装置において、被検査材に生ずるうず電流の量
をピックアップコイルで電圧の大きさとして検出し、そ
の検出電圧と所定の交流電源の設定電圧とを差動増幅器
によシ比較し、その差が無くなるように差動増幅器の出
力を励磁探傷フィルの電源に帰還させることｔ−４！徴
とするうず電流探傷試験装置。 - （２） 励磁探傷コイルとピックアップコイルとは同
心状に配設し、ピックアップコイルは磁気シールド部材
にて励磁探傷コイＲ／に対して磁気シールドしたことを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載のうず電流探傷試
験装置。 - （３） 励磁探傷コイルとピックアップコイルとは環
状にして軸方向に並設し、ピックアップコイルは磁気シ
ールド部材にて励磁探傷コイルに対して磁気シーシトし
たことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のうず電
流探傷試験装置。 - （４）励磁探傷コイルとピックアップコイＶとは被検査
材を挾んで配設したことを特徴とする特許請求の範囲第
１項記載のうず電流探傷試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18115381A JPS5883252A (ja) | 1981-11-13 | 1981-11-13 | うず電流探傷試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18115381A JPS5883252A (ja) | 1981-11-13 | 1981-11-13 | うず電流探傷試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5883252A true JPS5883252A (ja) | 1983-05-19 |
Family
ID=16095808
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18115381A Pending JPS5883252A (ja) | 1981-11-13 | 1981-11-13 | うず電流探傷試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5883252A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020032040A1 (ja) * | 2018-08-06 | 2020-02-13 | 東芝エネルギーシステムズ株式会社 | 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法 |
| CN112119302A (zh) * | 2018-10-10 | 2020-12-22 | 新东工业株式会社 | 钢材的非破坏检查方法 |
-
1981
- 1981-11-13 JP JP18115381A patent/JPS5883252A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020032040A1 (ja) * | 2018-08-06 | 2020-02-13 | 東芝エネルギーシステムズ株式会社 | 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法 |
| JP2020024097A (ja) * | 2018-08-06 | 2020-02-13 | 東芝エネルギーシステムズ株式会社 | 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法 |
| US11598750B2 (en) | 2018-08-06 | 2023-03-07 | Toshiba Energy Systems & Solutions Corporation | Eddy current flaw detection device and eddy current flaw detection method |
| CN112119302A (zh) * | 2018-10-10 | 2020-12-22 | 新东工业株式会社 | 钢材的非破坏检查方法 |
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