JPS5886557U - 物体端面傷検出装置 - Google Patents

物体端面傷検出装置

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JPS5886557U
JPS5886557U JP18332081U JP18332081U JPS5886557U JP S5886557 U JPS5886557 U JP S5886557U JP 18332081 U JP18332081 U JP 18332081U JP 18332081 U JP18332081 U JP 18332081U JP S5886557 U JPS5886557 U JP S5886557U
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JP
Japan
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flaw detection
camera
detection device
stand
detected
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JP18332081U
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JPS6344764Y2 (ja
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暁 高橋
公一 松本
西川　喜八郎
西沢　章一
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Iseki and Co Ltd
Panasonic Holdings Corp
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Iseki and Co Ltd
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の一実施例における物体端面傷検出装置
の側面図、第２図は同装置の要部拡大側　　、面図、第
３図は同装置の傷検出回路のブロック図、第４図ａ、　
　ｂ、　　ｃは同回路の動作説明図、第５図は同装置の
カメラと管の一部の斜視図である。 １・・・・・・基台、２・・・・・・回転軸、３・−−
−−−ｏ−ラ、４・・・・・・管、′５・・・・・・台
車、６・・・・・・車輪、７・・曲移動部材、８，９・
・・・・・ハンドル、１０・・・・・・支持台、１１゜
１１′・・・・・・軸受、１２・・曲ガイド軸、１３・
・曲カメラ台、ｉ　４　ａ＊曲カメラ、ｉ５．１５’・
・曲スライダー、１６・・四マイクロスイッチ、１７・
・曲カム、１８・・・・・・腕、１９・・・・・・マイ
クロスイッチ、２０・・・・・・カム板、２１・・袖柱
、２２・・曲照明器、２３・・・・・・距離設定棒、２
４・−−−−−ｏ−ラ、２５・・曲エアシリンダー、２
６・・曲回動片、２７・・−Ｗの端面、２８・・・・・
・傷、２９・・・・・・光、３０・・面撮像レンズ、３
１・・・・・・フォトダイオードアレイ、３２・・・・
・・二値化回路、３３・・・・・・カウンタ、３４・・
・・・・判定回路。

Claims (4)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. （１）移動可能な支持台と、この支持台上に摺動可能に
    支持されたカメラ台と、このカメラ台に固定された傷検
    出用のカメラおよび照明器と、上記カメラ台に設けられ
    た距離設定棒と、上記カメラ台を押圧し上記距離設定棒
    の先端を管等の被検出物体の端面に押しつける押圧手段
    とからなり、上記被検出物体を回転又は移動させながら
    被検出物体の端面の傷を上記カメラで検出することを特
    徴とする物体端面傷検出装置。
  2. （２）−移動可能な台車に支持台を設けてなる実用新案
    登録請求の範囲第１項記載の物体端面傷検出装置。
  3. （３）　　押圧手段としてエアシリンダーを用いてなる
    実用新案登録請求の範囲第１項記載の物体端面傷検出装
    置。
  4. （４）複数個のフォトダイオードが一列に配置されたフ
    ォトダイオードアレイを内蔵するカメラを用いてなる実
    用新案登録請求の範囲第１項記載の物体端面傷検出装置
    。
JP18332081U 1981-12-08 1981-12-08 物体端面傷検出装置 Granted JPS5886557U (ja)

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JP18332081U JPS5886557U (ja) 1981-12-08 1981-12-08 物体端面傷検出装置

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JPS5886557U true JPS5886557U (ja) 1983-06-11
JPS6344764Y2 JPS6344764Y2 (ja) 1988-11-21

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1990001142A1 (fr) * 1988-07-21 1990-02-08 Kabushiki Kaisha Ksp Procede et dispositif de mesure de l'etat d'une surface
JP2013088254A (ja) * 2011-10-17 2013-05-13 Ihi Corp 管端検査装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1990001142A1 (fr) * 1988-07-21 1990-02-08 Kabushiki Kaisha Ksp Procede et dispositif de mesure de l'etat d'une surface
JP2013088254A (ja) * 2011-10-17 2013-05-13 Ihi Corp 管端検査装置

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JPS6344764Y2 (ja) 1988-11-21

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