JPS5887312A - 内部汚染繭判別方法 - Google Patents
内部汚染繭判別方法Info
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- JPS5887312A JPS5887312A JP56185277A JP18527781A JPS5887312A JP S5887312 A JPS5887312 A JP S5887312A JP 56185277 A JP56185277 A JP 56185277A JP 18527781 A JP18527781 A JP 18527781A JP S5887312 A JPS5887312 A JP S5887312A
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- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 7
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 claims description 3
- 238000012850 discrimination method Methods 0.000 claims 1
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は面の長軸上を軟エックス線で走査して得られた
エックス、１ｍ＠ｍ液収の信号のなかから内部汚染面を
判別する方法に関する。
エックス、１ｍ＠ｍ液収の信号のなかから内部汚染面を
判別する方法に関する。
従来、このような−次元パターンの識別には相関係数を
計算するなどの統計的方法が一般的と思われるが、この
方法は少々複雑な計算を必要とし、電子計算機の設置、
プルグラムの開発等コスト的にも高価である。
計算するなどの統計的方法が一般的と思われるが、この
方法は少々複雑な計算を必要とし、電子計算機の設置、
プルグラムの開発等コスト的にも高価である。
本発明は従来のこのような繁雑な手間を要せず、安価で
精度が高く、簡易な内部汚染−判別方法を提供すること
をその目的とし、面の長軸上を軟エックス線で走査した
場合、面を透過した軟エックス線に対応するセンサの出
力信号の波形は、正常面のときには、中央部分圧富士山
型の大きな吸収を示し、内部汚染面のときには太き１ｋ
ｇ＆収が一方に偏ゐか又は大きな吸収を示さないことを
利用したものであって、被測定波形の信号に正常面のエ
ックス吸収波形又はこれに類似した波形の信号會同期的
に加算し、その加算結果の信号の最大値が大きくなった
ときは正常面であり、大きくならないときは内部汚染面
であることで判別することを特徴とする。
精度が高く、簡易な内部汚染−判別方法を提供すること
をその目的とし、面の長軸上を軟エックス線で走査した
場合、面を透過した軟エックス線に対応するセンサの出
力信号の波形は、正常面のときには、中央部分圧富士山
型の大きな吸収を示し、内部汚染面のときには太き１ｋ
ｇ＆収が一方に偏ゐか又は大きな吸収を示さないことを
利用したものであって、被測定波形の信号に正常面のエ
ックス吸収波形又はこれに類似した波形の信号會同期的
に加算し、その加算結果の信号の最大値が大きくなった
ときは正常面であり、大きくならないときは内部汚染面
であることで判別することを特徴とする。
以下本発明の方法の一例を図面につき説明する。
第１図は、本発明の方法を実施するための装置の概略説
明図である。
明図である。
図において、＋１）はエックス線管、（２）は測定され
る繭、（３）は−（２）の長軸上に位置する孔（４）ヲ
有する鉛板、（５）はエックス線のセンサでこれは加算
回路（６）の一方の入力端子（１＆）Ｋ接続される。（
７）ハ１ｌｌ（２） ｔ−矢印（８）に示す方向すなわ
ちその長軸方向に移動させる装Ｗｌ（図示ぜず）の作動
に同期して正常面のエックス線吸収波形と類似した波形
の信号を出力する関数発生器であり、その出力は加算回
路（６）の池の入力端子（６ｂ）に接続される。
る繭、（３）は−（２）の長軸上に位置する孔（４）ヲ
有する鉛板、（５）はエックス線のセンサでこれは加算
回路（６）の一方の入力端子（１＆）Ｋ接続される。（
７）ハ１ｌｌ（２） ｔ−矢印（８）に示す方向すなわ
ちその長軸方向に移動させる装Ｗｌ（図示ぜず）の作動
に同期して正常面のエックス線吸収波形と類似した波形
の信号を出力する関数発生器であり、その出力は加算回
路（６）の池の入力端子（６ｂ）に接続される。
（８）は比較回路で、そのしきい値は電源ＶＫＪＩ！綬
されたボデンシ冒メータ（９） Ｋより設定され、正常
面の信号の最大値に関数発生器（７）の出力信号の最大
値を加算して得られた値と、内部汚染―の信号に関数発
生器（力の出力信号を加算して得られた信号の最大値と
の間の値になるようにする。（ＩＩは正常面の場合に点
灯するランプ、ａｎＦｉ内部汚染面の場合に点灯するラ
ンプである。
されたボデンシ冒メータ（９） Ｋより設定され、正常
面の信号の最大値に関数発生器（７）の出力信号の最大
値を加算して得られた値と、内部汚染―の信号に関数発
生器（力の出力信号を加算して得られた信号の最大値と
の間の値になるようにする。（ＩＩは正常面の場合に点
灯するランプ、ａｎＦｉ内部汚染面の場合に点灯するラ
ンプである。
次にその動作１に説明する。
正常面（２）が矢印（８）に示すようにその長軸方向に
移動すると、エックス線管（１）よりのエックス口は繭
（２）ｔ−照射し、センｖ（５）には正常−（２）の長
軸上の各点を透過したエックス線が鉛板（３）の孔（４
）を経て経時的に入射する。したがってセンｖ（６）か
らこれに対応した信号が出力して加算回路（６）の入力
端子（６１）に加わる。一方、正常面（２）の移動と同
期して関数発生器（７）は正常面と類似した波形の信号
を出力し、加算回路（６）の入力端子（６ｂ）に加わる
。かくして加算回路（６）から第２図に示すような振幅
の大きな波形の加算信号Ｗ、を出力する。この信号Ｗム
の振幅は、比較回路（８）のしきい値Ｌｉ超過するので
、比較回路（８）の出力に接続されたランプＱｌはその
出力により点灯する。
移動すると、エックス線管（１）よりのエックス口は繭
（２）ｔ−照射し、センｖ（５）には正常−（２）の長
軸上の各点を透過したエックス線が鉛板（３）の孔（４
）を経て経時的に入射する。したがってセンｖ（６）か
らこれに対応した信号が出力して加算回路（６）の入力
端子（６１）に加わる。一方、正常面（２）の移動と同
期して関数発生器（７）は正常面と類似した波形の信号
を出力し、加算回路（６）の入力端子（６ｂ）に加わる
。かくして加算回路（６）から第２図に示すような振幅
の大きな波形の加算信号Ｗ、を出力する。この信号Ｗム
の振幅は、比較回路（８）のしきい値Ｌｉ超過するので
、比較回路（８）の出力に接続されたランプＱｌはその
出力により点灯する。
尚、同図において、Ｗ＆ｌは関数発生器（力から加算回
路（６）ｔ−経て出力した信号の波形、Ｗ＆ｌはセンサ
（５）から加算回路（６）ｔ−経て出力した正常面の信
号の波形である。
路（６）ｔ−経て出力した信号の波形、Ｗ＆ｌはセンサ
（５）から加算回路（６）ｔ−経て出力した正常面の信
号の波形である。
これに対し内部汚染面の場合には、加算回路（６）から
第３図に示すような振幅の小さな波形の加算信号ｙ、／
を出力する。この信号Ｗム′の振幅は前記しきい＠Ｌに
達しないので、比較回路（８）に接続されたランプＱｌ
ｔｊ点灯せず、他の出力回路に接続されたランプａυが
点灯し、内部汚染面であることを表示する。
第３図に示すような振幅の小さな波形の加算信号ｙ、／
を出力する。この信号Ｗム′の振幅は前記しきい＠Ｌに
達しないので、比較回路（８）に接続されたランプＱｌ
ｔｊ点灯せず、他の出力回路に接続されたランプａυが
点灯し、内部汚染面であることを表示する。
尚同図において、ＷＩ′はセンサ（５）から加算回路（
６）を経て出力した内部汚染面の信号の波形である。
６）を経て出力した内部汚染面の信号の波形である。
また、前妃実施何では、関数発生器（７）にて正常―の
エックス線吸収波形に類似した波形の信号を得ているか
、この代りに、予め判っている正常面を被測定−と同期
して移動させ、この正常面の長軸上を軟エックスＩｉＫ
よって連続的に点透視を行ない、これにより得られた信
号を用いてもよい。
エックス線吸収波形に類似した波形の信号を得ているか
、この代りに、予め判っている正常面を被測定−と同期
して移動させ、この正常面の長軸上を軟エックスＩｉＫ
よって連続的に点透視を行ない、これにより得られた信
号を用いてもよい。
このように本発明によるときは、面の長軸上を軟エック
ス線によって連続的に点透視を行ない、これにより得ら
れたエックス線吸収波形の信号に、同様にして得られた
正常面のエックス線吸収波形の信号又はこれに類似した
波形の信号を同期的に加算し、その加算結果の信号の最
大値が大あるいは小かによって内部汚染面を判別するよ
うにしたので、この判別に禦雑な手間を必替としないと
ともに安価で且つ精度が高い等の効果を有する。
ス線によって連続的に点透視を行ない、これにより得ら
れたエックス線吸収波形の信号に、同様にして得られた
正常面のエックス線吸収波形の信号又はこれに類似した
波形の信号を同期的に加算し、その加算結果の信号の最
大値が大あるいは小かによって内部汚染面を判別するよ
うにしたので、この判別に禦雑な手間を必替としないと
ともに安価で且つ精度が高い等の効果を有する。
第１図は本発明の方法の一例を実施するための装置の概
略説明図、第２図及び９５図はいずれも第１図示の装置
の加算回路（６）から得られた加算信号及び単独の信号
の波形図で、第２図は正常面の場合、第３図は内部汚染
面の場合である０
略説明図、第２図及び９５図はいずれも第１図示の装置
の加算回路（６）から得られた加算信号及び単独の信号
の波形図で、第２図は正常面の場合、第３図は内部汚染
面の場合である０
Claims (1)
- 面の長軸上を軟エックス線によって連続的に点透視を行
ない、これにより得られたエックス線吸収波形の信号に
、同様にして得られた正常面のエックス線吸収波形の信
号又はこれに類似した波形の信号を同期的に加算し、そ
の加算結果の信号の最大値が大あるいは小かによって内
部汚染面を判別する内部汚染面判別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56185277A JPS5914562B2 (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 内部汚染繭判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56185277A JPS5914562B2 (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 内部汚染繭判別方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5887312A true JPS5887312A (ja) | 1983-05-25 |
| JPS5914562B2 JPS5914562B2 (ja) | 1984-04-05 |
Family
ID=16168008
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56185277A Expired JPS5914562B2 (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 内部汚染繭判別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5914562B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002098653A (ja) * | 2000-09-26 | 2002-04-05 | Ishida Co Ltd | Ｘ線検査装置 |
-
1981
- 1981-11-20 JP JP56185277A patent/JPS5914562B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002098653A (ja) * | 2000-09-26 | 2002-04-05 | Ishida Co Ltd | Ｘ線検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5914562B2 (ja) | 1984-04-05 |
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