JPS5887445A - 透明フイルムの複屈折度測定方法およびその装置 - Google Patents
透明フイルムの複屈折度測定方法およびその装置Info
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- JPS5887445A JPS5887445A JP18719081A JP18719081A JPS5887445A JP S5887445 A JPS5887445 A JP S5887445A JP 18719081 A JP18719081 A JP 18719081A JP 18719081 A JP18719081 A JP 18719081A JP S5887445 A JPS5887445 A JP S5887445A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/21—Polarisation-affecting properties
- G01N21/23—Bi-refringence
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は透明フィルムの複屈折度測定方法及びその装置
に関するものである。
に関するものである。
一般に光学的異方性を示す物質を光が透過するとS−に
はいわゆる複屈折の現象を起こす。複屈折が生じるのは
、光学的異方性を示す物質では、屈折率が光の振動方向
によって異なっている為である。物質中の屈折率が最大
値を示す方向と最小値を示す方向は直交しており、さら
にこれらの2方向と90@の角をなす方向つまり互いに
直交する3方向の屈折率がわかれば物質の光学的異方性
を表現することができる。これら3つの方向の屈折率を
主屈折率と呼び、5方向を主屈折率の方向あるいは電気
的主軸と呼ぶ。
はいわゆる複屈折の現象を起こす。複屈折が生じるのは
、光学的異方性を示す物質では、屈折率が光の振動方向
によって異なっている為である。物質中の屈折率が最大
値を示す方向と最小値を示す方向は直交しており、さら
にこれらの2方向と90@の角をなす方向つまり互いに
直交する3方向の屈折率がわかれば物質の光学的異方性
を表現することができる。これら3つの方向の屈折率を
主屈折率と呼び、5方向を主屈折率の方向あるいは電気
的主軸と呼ぶ。
高分子フィルムはその内部における分子配向の反映とし
て光学的異方性を示す、この光学的異方性の程度を知る
ことは高分子フィルムの構造、物性、さらC1l造工程
中における砥伸の均−性等を知る上で重要である。光学
的異方性の指標とじて従来より複屈折度が多(用いられ
ている。複屈折度を測定する一般的な方法としては偏光
顕微鏡を用いる方法が知られている。偏光顕微鏡を用い
る方法は複屈折度Δn゛と試料の厚みDの積であるレタ
ーデーレシンrを測定して複屈折度Δnを求めるもので
ある。この方法によると顕微鏡を用いる為に測定しよう
とするフィルムを顕微鏡観察に適した大ぎさに切断しな
ければならないなど操作が煩雑であり、熟練者でなけれ
ば精度よく測定することができないものであった。
て光学的異方性を示す、この光学的異方性の程度を知る
ことは高分子フィルムの構造、物性、さらC1l造工程
中における砥伸の均−性等を知る上で重要である。光学
的異方性の指標とじて従来より複屈折度が多(用いられ
ている。複屈折度を測定する一般的な方法としては偏光
顕微鏡を用いる方法が知られている。偏光顕微鏡を用い
る方法は複屈折度Δn゛と試料の厚みDの積であるレタ
ーデーレシンrを測定して複屈折度Δnを求めるもので
ある。この方法によると顕微鏡を用いる為に測定しよう
とするフィルムを顕微鏡観察に適した大ぎさに切断しな
ければならないなど操作が煩雑であり、熟練者でなけれ
ば精度よく測定することができないものであった。
本発明はこのような従来の欠点を解消するものであって
、その目的とするところは透明フィルムの複屈折度を非
接触、非破壊で簡便に精度よく測定することができる方
法及び装置を提供するにあるO すなわち9本発明は白色平行偏光光線を偏光−をフィル
ムの主屈折率の方向の1つと平行にして透明ライ5tA
c@直に照射した時の該フィルムを透過した光の波長強
度分布を検出し、さらに偏光面を該フィルム他の主屈折
率の方向と平行にして該フィルムに垂直に照射した時の
該フィルムを透過した光の波長強度分布を検出し1両波
長強度分布より複屈折度を求めることを特徴とする透明
フィルムの複屈折度測定方法を特定発明とし、平行白色
偏光光線の光源部と波長強度分布の検出部を対設し、該
光源部と該検出部の間に透明フィルムの照射部を形成し
、該光源の偏光面を該フィルムの2つの主屈折率の方向
とそれぞれ平行に保つことが可能な様に形成にしたこと
を特徴とする透明フィルムの複屈折測定装置を併合発明
とするものである。
、その目的とするところは透明フィルムの複屈折度を非
接触、非破壊で簡便に精度よく測定することができる方
法及び装置を提供するにあるO すなわち9本発明は白色平行偏光光線を偏光−をフィル
ムの主屈折率の方向の1つと平行にして透明ライ5tA
c@直に照射した時の該フィルムを透過した光の波長強
度分布を検出し、さらに偏光面を該フィルム他の主屈折
率の方向と平行にして該フィルムに垂直に照射した時の
該フィルムを透過した光の波長強度分布を検出し1両波
長強度分布より複屈折度を求めることを特徴とする透明
フィルムの複屈折度測定方法を特定発明とし、平行白色
偏光光線の光源部と波長強度分布の検出部を対設し、該
光源部と該検出部の間に透明フィルムの照射部を形成し
、該光源の偏光面を該フィルムの2つの主屈折率の方向
とそれぞれ平行に保つことが可能な様に形成にしたこと
を特徴とする透明フィルムの複屈折測定装置を併合発明
とするものである。
以下9本発明の詳細な説明する。
第1図において、平行6色光線をフィルムに垂直に照射
すると、透過光としては直接透過していく光(I)の他
にフィルムの両表面の間を何回か反射した後出ていく光
<IF)、(1)・・・が存在する。この211類の光
は干渉してその結果特定の波長の光が強く特定の波長の
光が弱くなる。つまりフィルムに入る前の光の放射エネ
ルギーの波長強度分布(以下光のスペクトルという。)
がフィルムを透過することによって変化する。この変化
はフィルムの履折率nと厚みDに依存する。フィルムに
入射する光に直線偏光を用い、その偏光面をフィルムの
主屈折率の方向の1つと一致させておいた時の透過光の
スペクトルと偏光面をフィルムのもう1つの主屈折率の
方向と一致させた時の透過光のスペクトルの差は従って
各々の主屈折率の差っまり複屈折度に依存する。つまり
、フィルムの1つの主屈折率の方向に平行な偏光面をも
つ党の透過光のスペクトルとフィルムのもう1つの主屈
折率の方−に平行な偏光面をもつ光の透過光のスペクト
ルを比較することによってフィルムの複屈折度を求メる
ことができる。
すると、透過光としては直接透過していく光(I)の他
にフィルムの両表面の間を何回か反射した後出ていく光
<IF)、(1)・・・が存在する。この211類の光
は干渉してその結果特定の波長の光が強く特定の波長の
光が弱くなる。つまりフィルムに入る前の光の放射エネ
ルギーの波長強度分布(以下光のスペクトルという。)
がフィルムを透過することによって変化する。この変化
はフィルムの履折率nと厚みDに依存する。フィルムに
入射する光に直線偏光を用い、その偏光面をフィルムの
主屈折率の方向の1つと一致させておいた時の透過光の
スペクトルと偏光面をフィルムのもう1つの主屈折率の
方向と一致させた時の透過光のスペクトルの差は従って
各々の主屈折率の差っまり複屈折度に依存する。つまり
、フィルムの1つの主屈折率の方向に平行な偏光面をも
つ党の透過光のスペクトルとフィルムのもう1つの主屈
折率の方−に平行な偏光面をもつ光の透過光のスペクト
ルを比較することによってフィルムの複屈折度を求メる
ことができる。
以下、数式な用いて本発明の詳細な説明する。
第1図で直線白色偏光を偏光面がフィルムの1つの主屈
折率の方向と一致するようにしてフィルムに垂直に入射
させると、フィルムに入射した後フィルム外4出る光(
I)とアイA/4je:入射しフィルムと空気の界面で
9反射をくり返し外へ出る光釦(6)・・・が存在する
。尚9本来は垂直入射であれば光(11,(If)、(
4)は同じ所を通るのであるが、第1園では説明の為に
ずらして表現した。今9反射することなく透過した光α
)と2回反射した後フィルム外へ出る光、すなわちフィ
ルムの片面で反射しlli他面で反射した光@)を考え
ると、その光学的距離の差(光路差)へは次式で示され
る。
折率の方向と一致するようにしてフィルムに垂直に入射
させると、フィルムに入射した後フィルム外4出る光(
I)とアイA/4je:入射しフィルムと空気の界面で
9反射をくり返し外へ出る光釦(6)・・・が存在する
。尚9本来は垂直入射であれば光(11,(If)、(
4)は同じ所を通るのであるが、第1園では説明の為に
ずらして表現した。今9反射することなく透過した光α
)と2回反射した後フィルム外へ出る光、すなわちフィ
ルムの片面で反射しlli他面で反射した光@)を考え
ると、その光学的距離の差(光路差)へは次式で示され
る。
Δ = 2 n++ D ・・−・・・・・・・申
・・・・・・・・・・・・・・(す但し、nl、はフィ
ルムの1つの光軸方向の屈折率、Dはフィルムの厚みを
示す。従って、Δが次式(2)で示される条件を満たす
ような波長の光について透過光は極大となり、又次式(
3)で示されるような条件を満たす波長については透過
光は極小となるO Δ=、 q+λ−(2) !11 = 1
. 2. 5−Δ=I!Iλ”−(3’ m=
21 21 1 ”’但し、mは干渉の次数、λは
波長である。
・・・・・・・・・・・・・・(す但し、nl、はフィ
ルムの1つの光軸方向の屈折率、Dはフィルムの厚みを
示す。従って、Δが次式(2)で示される条件を満たす
ような波長の光について透過光は極大となり、又次式(
3)で示されるような条件を満たす波長については透過
光は極小となるO Δ=、 q+λ−(2) !11 = 1
. 2. 5−Δ=I!Iλ”−(3’ m=
21 21 1 ”’但し、mは干渉の次数、λは
波長である。
第2図において、に番目の極大を示す波長lλKrとし
、fIL長が短い方向へ順に極大にはに、に+11に+
2・・・9M小にはに+÷、に++、に+y・・・とい
う番号をつけ、その波長をそれぞれλにλに+’! ! λに+1.へに+−>−・・とすれば光強度工が極さ、
又は極小を示す波長2・)λj、λ1(j<11 j=
÷、1)。
、fIL長が短い方向へ順に極大にはに、に+11に+
2・・・9M小にはに+÷、に++、に+y・・・とい
う番号をつけ、その波長をそれぞれλにλに+’! ! λに+1.へに+−>−・・とすれば光強度工が極さ、
又は極小を示す波長2・)λj、λ1(j<11 j=
÷、1)。
2・・・s 1”2+ 1+÷、2・・・)についで
χjの干渉次1kmは次の(4)式のようになる。
χjの干渉次1kmは次の(4)式のようになる。
従って、フィルムの光学厚みtl++Dは次式(5)で
表わすことができる。
表わすことができる。
fluD=十m)u−・−・−・・−= (5)従って
、偏光面をフィルムの1つの主屈折率の方向に一致させ
た白色直線偏光をフィルムに垂直に照射し、透過光スペ
クト〃の極太又は極小波長を観測すれば、フィルムの1
つの主屈折に財する光学厚みn、Dが計算できる。
、偏光面をフィルムの1つの主屈折率の方向に一致させ
た白色直線偏光をフィルムに垂直に照射し、透過光スペ
クト〃の極太又は極小波長を観測すれば、フィルムの1
つの主屈折に財する光学厚みn、Dが計算できる。
さらに、偏光面をフィルムの他の光量と一致する様に相
対的C906回転させ、同様の測定、計算を行なえば次
式(6)に示す様に、フィルムのもう一方の主屈折率に
対する光学厚み”LDが計算できる。
対的C906回転させ、同様の測定、計算を行なえば次
式(6)に示す様に、フィルムのもう一方の主屈折率に
対する光学厚み”LDが計算できる。
nlD = ’、 filλj・・−・−・・・−・・
−・(11)このようにして得られた各々の主属折率#
c宵する折度Δnが得られる。フィルムの厚みDを求め
るには、予め別の方塊で測っておいてもよいが、前述の
方珠で得られた光学厚さnDに適当な屈折率の値を代入
して求めてもよい。この場合、用いた屈折率の値の精度
が複屈折度の精度に影響するが屈折率の値は物質が決ま
ればそれほど大きく変化しないので、予め他の試料で測
定した値や9文献など#C紀載された値を用いても充分
な精度が得られる。偏光面をフィルムの主屈折率の方向
と一致させるには光源の偏光面を回転可能に設けるが。
−・(11)このようにして得られた各々の主属折率#
c宵する折度Δnが得られる。フィルムの厚みDを求め
るには、予め別の方塊で測っておいてもよいが、前述の
方珠で得られた光学厚さnDに適当な屈折率の値を代入
して求めてもよい。この場合、用いた屈折率の値の精度
が複屈折度の精度に影響するが屈折率の値は物質が決ま
ればそれほど大きく変化しないので、予め他の試料で測
定した値や9文献など#C紀載された値を用いても充分
な精度が得られる。偏光面をフィルムの主屈折率の方向
と一致させるには光源の偏光面を回転可能に設けるが。
又はフィルムをフィルム面の法線を軸として回転可能に
設ければよい。
設ければよい。
又、測定するフィルムの主屈折率の方向が予め判ってい
ない場合はフィルムと受光部の間にさらに偏光子を設け
、この偏光子の偏光面を光源の偏光面と直交するように
しておいて、フィルムをフィルム面の法線な軸として回
転させるか、又は光源の偏光面と偏光子の偏光面を互い
に直交させたまま回転させて受光部に入る光量が最小に
なる位置をさがせば光源の偏光面の方向がフィルムの2
つの主屈折率の方向と一致する。
ない場合はフィルムと受光部の間にさらに偏光子を設け
、この偏光子の偏光面を光源の偏光面と直交するように
しておいて、フィルムをフィルム面の法線な軸として回
転させるか、又は光源の偏光面と偏光子の偏光面を互い
に直交させたまま回転させて受光部に入る光量が最小に
なる位置をさがせば光源の偏光面の方向がフィルムの2
つの主屈折率の方向と一致する。
このフィルムと受光部の閏の偏光子は複屈折度測定の際
には光源の偏光面に一致させておけば複屈折度測定には
全く影響しない。又2Mi過光のスペクト〜を測定する
には例えばプリズム、又は回折格子等を用いた分光器を
用いればよい。
には光源の偏光面に一致させておけば複屈折度測定には
全く影響しない。又2Mi過光のスペクト〜を測定する
には例えばプリズム、又は回折格子等を用いた分光器を
用いればよい。
又、光源として用いる光の波長範囲は試料による特定波
長の光の吸収がない様な波長範囲、つまり可視光領域が
最も適しており、波長としては4000〜8000 A
’程度がよい。
長の光の吸収がない様な波長範囲、つまり可視光領域が
最も適しており、波長としては4000〜8000 A
’程度がよい。
直線偏光光源を得る方法は、光源に非直線偏光光源を用
い、#光源部とフィルムの闇に偏光子を殴ける方法が最
も一般的である。
い、#光源部とフィルムの闇に偏光子を殴ける方法が最
も一般的である。
本発明の方法を用いれば従来の偏光順徽鏡を用いる方法
のように試料を切断することなく、**触で複屈折度が
測定でき、又、フィルム厚みに関する情報も同時に得ら
れる為予め試料の厚みを測定しておく必要が存<測定に
要する時間がamされる。
のように試料を切断することなく、**触で複屈折度が
測定でき、又、フィルム厚みに関する情報も同時に得ら
れる為予め試料の厚みを測定しておく必要が存<測定に
要する時間がamされる。
本発明を実施するためには、直線偏光光源部。
照射部および透過率波長分布の検出部を備えた装置が用
いられる。光源部は白色光を発する光源と偏光子、光線
を一定の巾をもった平行光線にする為の光学系たとえば
レンズ等から成る。白色光光源としては一般に白色光源
として用いられているもの1例えばキセノンランプ、!
1つ索−ハロゲンランプ、タングステンランプ等が挙げ
られる。偏光子としては、偏光板、偏光プリズム等を用
いる。
いられる。光源部は白色光を発する光源と偏光子、光線
を一定の巾をもった平行光線にする為の光学系たとえば
レンズ等から成る。白色光光源としては一般に白色光源
として用いられているもの1例えばキセノンランプ、!
1つ索−ハロゲンランプ、タングステンランプ等が挙げ
られる。偏光子としては、偏光板、偏光プリズム等を用
いる。
照射部は直線偏光光源部からの光をフィルムに照射する
部分であって9通常直線偏光光源部と透過率波長分布検
出部の間の空間が照射部となる。この照射部においてフ
ィルムを光に対して垂直に保持しておく。検出部はフィ
ルふの透過率波長分布を測定する為のもので、受光素子
と分光器から成る。分光器としてはプリズム、回折格子
等が挙げられる。受光素子は透過光のスペクトルつまり
各波長におけるフィルム透過光屏強度を測定できる、も
のであればよいが、前述の様に受光素子として線状受光
素子(リニアイメージセンサ−)を用いると、可動部分
が少なく、かつ、測定に要する時間を短かくすることが
できるので、最も好ましい。
部分であって9通常直線偏光光源部と透過率波長分布検
出部の間の空間が照射部となる。この照射部においてフ
ィルムを光に対して垂直に保持しておく。検出部はフィ
ルふの透過率波長分布を測定する為のもので、受光素子
と分光器から成る。分光器としてはプリズム、回折格子
等が挙げられる。受光素子は透過光のスペクトルつまり
各波長におけるフィルム透過光屏強度を測定できる、も
のであればよいが、前述の様に受光素子として線状受光
素子(リニアイメージセンサ−)を用いると、可動部分
が少なく、かつ、測定に要する時間を短かくすることが
できるので、最も好ましい。
光源の偏光面をフィルムの光軸と一致させる為の機構と
しては、偏光子を回転可能に設けるか。
しては、偏光子を回転可能に設けるか。
又はフィルムをフィルム面内で回転可能に設ければよい
が、一般に工業的に生産されるフィルムはかなり面積が
広いので9本発明の特徴である非破壊、非接触という点
を生かすには偏光子を回転可能に設ける方が望ましいゝ
。
が、一般に工業的に生産されるフィルムはかなり面積が
広いので9本発明の特徴である非破壊、非接触という点
を生かすには偏光子を回転可能に設ける方が望ましいゝ
。
本発明において複屈折度を測定するフィルムとしては通
常透明なフィルムが用いられるが、透過率スペクトμの
干渉による極大及び極小波長が確認できれば、若干着色
していてもよい。
常透明なフィルムが用いられるが、透過率スペクトμの
干渉による極大及び極小波長が確認できれば、若干着色
していてもよい。
以下9図示した本発明の具体的な装置により本発明を芝
に詳しく説明する。
に詳しく説明する。
第3図において白色光源(1)より出た光はレンズ系に
より平行光線になった後、偏光子(2)を通りフィルム
の一方の主屈折嘩の方向と平行な偏光面を有する直線偏
光となってフィルム(3)を通過する。
より平行光線になった後、偏光子(2)を通りフィルム
の一方の主屈折嘩の方向と平行な偏光面を有する直線偏
光となってフィルム(3)を通過する。
さら#C回折格子(4)を通り分光され、レンズ(5)
cよ光素子(6)の上にスペクトルを写し出す・なお回
折格子(4) C代えてプリズムを用いてもよい、線状
受光素子(61Cより得られる電気信号は各波長に対応
した集光位置における光強度であるので、これを波長−
光強度に変換すれば相対的な透過率スペクトルが得られ
る。光源が充分に一様なスペクトμをもっていれば相対
的な透過率スペクトルでも充分であるが通常は光源だけ
のスペクトルを予め測定しておいて絶対的な透過率スペ
ク)4に補正した方がより望ましい。このようにして偏
光面をフィルムの主屈折中の方向の1つと一致させた偏
光の透過率スペクトルが得られる。さらに偏光子を90
″回転させれば同様に偏光面をフィルムの別の主屈折中
の方向と一致させた偏光の透過率スペクトルが得られる
。このようにして得られた2つのスペクト〜より各々極
大、極小を示す波長を見出し、前述の計算式に従ってフ
ィルムの複屈折度△1曳を計算する。
cよ光素子(6)の上にスペクトルを写し出す・なお回
折格子(4) C代えてプリズムを用いてもよい、線状
受光素子(61Cより得られる電気信号は各波長に対応
した集光位置における光強度であるので、これを波長−
光強度に変換すれば相対的な透過率スペクトルが得られ
る。光源が充分に一様なスペクトμをもっていれば相対
的な透過率スペクトルでも充分であるが通常は光源だけ
のスペクトルを予め測定しておいて絶対的な透過率スペ
ク)4に補正した方がより望ましい。このようにして偏
光面をフィルムの主屈折中の方向の1つと一致させた偏
光の透過率スペクトルが得られる。さらに偏光子を90
″回転させれば同様に偏光面をフィルムの別の主屈折中
の方向と一致させた偏光の透過率スペクトルが得られる
。このようにして得られた2つのスペクト〜より各々極
大、極小を示す波長を見出し、前述の計算式に従ってフ
ィルムの複屈折度△1曳を計算する。
本発明を実施する装置としては上記のものが最も好まし
いが9例えばスペク)A/測測定ついていえば線状受光
素子の代りに′点状受光素子を移動させて各線長の透過
光強度をS宛してもよいし、又点状受光素子を固定して
おいて、プリズム又は回折格子を回転させて特定の波長
の光だけを点状受光素子に入射させてもよい、さらに偏
光面の回転についてはフィルムを回転させて偏光面とフ
ィルムの主屈折中の方向とを一致させてもよい。
いが9例えばスペク)A/測測定ついていえば線状受光
素子の代りに′点状受光素子を移動させて各線長の透過
光強度をS宛してもよいし、又点状受光素子を固定して
おいて、プリズム又は回折格子を回転させて特定の波長
の光だけを点状受光素子に入射させてもよい、さらに偏
光面の回転についてはフィルムを回転させて偏光面とフ
ィルムの主屈折中の方向とを一致させてもよい。
特別な場合として、予めフィルムの主屈折中の方向が不
明の場合には、フィルムと遁遥率スベタトρ検出゛部の
間に偏光子を設けておけば前述の方法で主屈折率の方向
も決定することができる。
明の場合には、フィルムと遁遥率スベタトρ検出゛部の
間に偏光子を設けておけば前述の方法で主屈折率の方向
も決定することができる。
本発明にあっては叙上のような構成を採用するので、簡
単にしかも精度よくフィルムの複屈折測定が行なえると
いう利点がある。
単にしかも精度よくフィルムの複屈折測定が行なえると
いう利点がある。
以下、5I!施例にて本発明を具体的に説明する。
実施例
第5図に示した装置を用いてダリエステルフイルムの複
屈折度を測定した。その際光源として習つ素ハロゲンフ
ンプ50Wを用い、光源の光なレンズにより平行光線に
した後、偏光板(ボッロイド板)を通して直線偏光にし
てフィルムに垂直に照射するようにした。またフィルム
を透過した光を回折格子分光器に入れ、スペクトμを受
光素子上に写し出すようにした。受光素子は512ビツ
トのリニアイメージ七ンサーを用い、受光波長範囲を5
000〜5oooXとした。
屈折度を測定した。その際光源として習つ素ハロゲンフ
ンプ50Wを用い、光源の光なレンズにより平行光線に
した後、偏光板(ボッロイド板)を通して直線偏光にし
てフィルムに垂直に照射するようにした。またフィルム
を透過した光を回折格子分光器に入れ、スペクトμを受
光素子上に写し出すようにした。受光素子は512ビツ
トのリニアイメージ七ンサーを用い、受光波長範囲を5
000〜5oooXとした。
まず、偏光板の偏光面を予め測定しておいたフィルムの
主屈折率の方向のうちの一つと一致させておいて直線偏
光の平行光線をフィルムに照射し透過光のスペクト〃か
らnuDを算出した。次に偏光板の偏光面を90″回転
させて同様に透過光のスペクト〃からnムDを算出し、
複屈折度△nを計算した。フィルムの厚み計算にはn
= 1.6を用いた。
主屈折率の方向のうちの一つと一致させておいて直線偏
光の平行光線をフィルムに照射し透過光のスペクト〃か
らnuDを算出した。次に偏光板の偏光面を90″回転
させて同様に透過光のスペクト〃からnムDを算出し、
複屈折度△nを計算した。フィルムの厚み計算にはn
= 1.6を用いた。
また比較のために従来より行われている偏光顯轍鋺によ
る測定も行った。偏光顕微鏡法ではフィルム厚みの値が
必要であるが、フィルム厚みは本発明法で複屈折度を測
定した際に得られた値を利用した。
る測定も行った。偏光顕微鏡法ではフィルム厚みの値が
必要であるが、フィルム厚みは本発明法で複屈折度を測
定した際に得られた値を利用した。
表1に測定結果を示す、測定結果によると本発閣法によ
る測定値と従来法による測定値・よよく一致しているこ
とが判る。
る測定値と従来法による測定値・よよく一致しているこ
とが判る。
表 1
第1図は本発明の作用を示すための模式図、第2図は本
発明において得られるスペク)μ図、第3図は本発明を
実施する装置の一例の模式図である。 特許出願人 ユニチカ株式会社 111 ジrL &
発明において得られるスペク)μ図、第3図は本発明を
実施する装置の一例の模式図である。 特許出願人 ユニチカ株式会社 111 ジrL &
Claims (2)
- (1)白色直線偏光の平行光線をその偏光面をフィルム
の主屈折率の方向の1つと平行にして透明フィルムに垂
直に照射し、該フィルムを透過した光の波長強度分1を
検出し、さらに偏光面を該フィルムの他の主屈折率の方
向と平行にして皺フィ〃ムに垂直C11I射し、該74
pムを透過した光の波長強度分布を検出し。 両波長強度分布より複屈折度を求めることを特徴とする
透明フィルムの複屈折度測定方法。 - (2)白色直線偏光平行光線の光源部と波長強度分布の
検出部を対設し、該光源部と該検出部の間に透明フィル
ムの照射部を形成し9w4光源の偏光面を該フィルムの
2つの主屈折率の方向とそれぞれ平行#C保つことが可
能な橡Eil成したことを特徴とする透明フィルムの複
屈折度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18719081A JPS5887445A (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 透明フイルムの複屈折度測定方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18719081A JPS5887445A (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 透明フイルムの複屈折度測定方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5887445A true JPS5887445A (ja) | 1983-05-25 |
| JPS628131B2 JPS628131B2 (ja) | 1987-02-20 |
Family
ID=16201676
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18719081A Granted JPS5887445A (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 透明フイルムの複屈折度測定方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5887445A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2016031567A1 (ja) * | 2014-08-26 | 2016-03-03 | 学校法人同志社 | 複屈折測定装置および複屈折測定方法 |
| JP2020056648A (ja) * | 2018-10-01 | 2020-04-09 | 富士フイルム株式会社 | 光学測定装置および配向度測定方法 |
-
1981
- 1981-11-20 JP JP18719081A patent/JPS5887445A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2016031567A1 (ja) * | 2014-08-26 | 2016-03-03 | 学校法人同志社 | 複屈折測定装置および複屈折測定方法 |
| US10119904B2 (en) | 2014-08-26 | 2018-11-06 | National Institute Of Advanced Industrial Science | Birefringence measurement device and birefringence measurement method |
| JP2020056648A (ja) * | 2018-10-01 | 2020-04-09 | 富士フイルム株式会社 | 光学測定装置および配向度測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS628131B2 (ja) | 1987-02-20 |
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