JPS5890146A - 光露サイクル試験機 - Google Patents
光露サイクル試験機Info
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- JPS5890146A JPS5890146A JP18847581A JP18847581A JPS5890146A JP S5890146 A JPS5890146 A JP S5890146A JP 18847581 A JP18847581 A JP 18847581A JP 18847581 A JP18847581 A JP 18847581A JP S5890146 A JPS5890146 A JP S5890146A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、塗膜、合成樹脂、金属面及びその表面処理剤
など工業材料の光、熱、低温及び結露或はこれらの組合
わせによる複合条件に対する耐久性をみるためのサイク
ル試験機に関するものである。
など工業材料の光、熱、低温及び結露或はこれらの組合
わせによる複合条件に対する耐久性をみるためのサイク
ル試験機に関するものである。
従来の複合試験機例えばデユーサイクル式促進耐候試験
機において、カーボンアーク灯の周囲に回転試料枠があ
り、アーク灯の消灯時にこの試料枠に対して垂直に掛け
る試験片の裏面に６〜７℃の冷却用スプレーを噴射する
と試験槽内の湿度は９８チ以上となり試験片が冷却する
ために試験片表面に結露する。
機において、カーボンアーク灯の周囲に回転試料枠があ
り、アーク灯の消灯時にこの試料枠に対して垂直に掛け
る試験片の裏面に６〜７℃の冷却用スプレーを噴射する
と試験槽内の湿度は９８チ以上となり試験片が冷却する
ために試験片表面に結露する。
次にアーク灯を点灯して冷却用スプレーを止め試験片表
面を間欠的にスプレーする時は、試験槽内湿度は４０〜
５０チとなり、その温度については槽内空気を排出して
外気を一部導入することによって調節する。このように
してデユーサイクル試験においては、夜間の自然条件に
相当する消灯時の試験片表面の結露と昼間の自然条件に
相当して紫外線照射と雨及び乾燥を周期的に反覆するこ
ととなる。
面を間欠的にスプレーする時は、試験槽内湿度は４０〜
５０チとなり、その温度については槽内空気を排出して
外気を一部導入することによって調節する。このように
してデユーサイクル試験においては、夜間の自然条件に
相当する消灯時の試験片表面の結露と昼間の自然条件に
相当して紫外線照射と雨及び乾燥を周期的に反覆するこ
ととなる。
このデユーサイクル条件設定のためには、アーク灯及び
冷却水のための冷凍機に消費する電力が大きく且つ必然
的に装置が甚だしく大きくなり、切換えが速かでなく、
シかも条件設定の精度がよ（ない。且つ結露と紫外線照
射を同時に行うことができない。
冷却水のための冷凍機に消費する電力が大きく且つ必然
的に装置が甚だしく大きくなり、切換えが速かでなく、
シかも条件設定の精度がよ（ない。且つ結露と紫外線照
射を同時に行うことができない。
さらに、別の従来のサイクル試験機例を挙げると、試験
槽内の一面に試験片を配置し、試験片の裏面が接する伝
熱体壁の外側中空には熱媒と冷媒を交互に流す。しかも
、冷媒の流通期に試験槽内に高湿空気を送ると試験片表
面に結露する。次に冷媒と高湿空気とを止め熱媒を通す
と試験片表面は乾燥する。このような構成になるサイク
ル試験機においても、熱媒と冷媒を作り流すためにには
甚だしく大きな構造となり、切換えが速かでなくしかも
精度はよくない。
槽内の一面に試験片を配置し、試験片の裏面が接する伝
熱体壁の外側中空には熱媒と冷媒を交互に流す。しかも
、冷媒の流通期に試験槽内に高湿空気を送ると試験片表
面に結露する。次に冷媒と高湿空気とを止め熱媒を通す
と試験片表面は乾燥する。このような構成になるサイク
ル試験機においても、熱媒と冷媒を作り流すためにには
甚だしく大きな構造となり、切換えが速かでなくしかも
精度はよくない。
その他、複合試験法が極々開発されているが、光照射、
結露、冷却等個々の試験条件に応じて別個の装置または
一つの装置であっても試験槽を別々に設けて各単独試験
を複合的に行うことになる。したがって、試験条件ごと
忙試験装置を準備する必要があり、一つの試験槽を併用
できる試験条件は非常に限られる。
結露、冷却等個々の試験条件に応じて別個の装置または
一つの装置であっても試験槽を別々に設けて各単独試験
を複合的に行うことになる。したがって、試験条件ごと
忙試験装置を準備する必要があり、一つの試験槽を併用
できる試験条件は非常に限られる。
発明者は、以上説明した従来のサイクル試験機の欠点を
解消して、一つの試験槽内で多種類の単独試験とそれら
適当組合わせによる周期的サイクル試験ができ、かつ試
験機ができるだけ小型であって切換えが速かであり、各
試験条件の精度を高（するための検討を重ねた。先づ試
験片の加熱冷却及び試験槽の温度調節には電子冷却素子
を利用することによって小型化して精度を上げることが
でき、しかも電子冷却素子の特性から切換えが速かであ
り、紫外線光源としては紫外線ランプがこの目的に適切
であり、加湿には超音波振動子によって水を微粒子とす
る方法を行うことによって、一つの試験槽を用いて、小
型で消費電力が少なく精度が高い上に切換が速かなサイ
クル試験機を完成することができた。
解消して、一つの試験槽内で多種類の単独試験とそれら
適当組合わせによる周期的サイクル試験ができ、かつ試
験機ができるだけ小型であって切換えが速かであり、各
試験条件の精度を高（するための検討を重ねた。先づ試
験片の加熱冷却及び試験槽の温度調節には電子冷却素子
を利用することによって小型化して精度を上げることが
でき、しかも電子冷却素子の特性から切換えが速かであ
り、紫外線光源としては紫外線ランプがこの目的に適切
であり、加湿には超音波振動子によって水を微粒子とす
る方法を行うことによって、一つの試験槽を用いて、小
型で消費電力が少なく精度が高い上に切換が速かなサイ
クル試験機を完成することができた。
本発明の実施例を図面によって説明する。
第１図は本発明に係るサイクル試験機の平面部分断面図
、第２図はその側面断面図である。
、第２図はその側面断面図である。
試験槽１の底板２は伝熱体からなりその上に試験片３を
配置する。底板の下面に接して電子冷却素子４がある。
配置する。底板の下面に接して電子冷却素子４がある。
試験槽の一側面には放熱器５が設けられ、この放熱器の
奥に連接して電子冷却素子６を設ける。試験槽の天井面
には１０本の紫外線螢光ランプＴを取付ける。
奥に連接して電子冷却素子６を設ける。試験槽の天井面
には１０本の紫外線螢光ランプＴを取付ける。
試験槽外には加湿器８があって、これから高湿空気を試
験槽内に送る。加湿器は、超音波振動子を水に作用する
ことによって生成する水微粒子を試験槽内に送ることに
よって加湿する。槽内の温度及び湿度を均一に調整する
ためにファン９がある。第３図は電子冷却素子４．６の
説明図である。図に示すように銅板１０と半導体１１が
直列に連なる構造であって、板Ａ及びＢのうちＡについ
ていえば電流を導線１２において一定力向に流した時冷
却し、逆方向に流した時熱せられる。同時にＢはＡと逆
の現象がおこる。
験槽内に送る。加湿器は、超音波振動子を水に作用する
ことによって生成する水微粒子を試験槽内に送ることに
よって加湿する。槽内の温度及び湿度を均一に調整する
ためにファン９がある。第３図は電子冷却素子４．６の
説明図である。図に示すように銅板１０と半導体１１が
直列に連なる構造であって、板Ａ及びＢのうちＡについ
ていえば電流を導線１２において一定力向に流した時冷
却し、逆方向に流した時熱せられる。同時にＢはＡと逆
の現象がおこる。
次に本発明の構成による作用機能を説明する。第１．２
図において、底板下部の電子冷却素子４を冷却する時、
試験槽に超音波方式による加湿空気を送ると試験片表面
に結露する。次に電子冷却素子４を加熱に切換え、加湿
空気を止め、紫外線螢光ランプを点灯することができる
。試験片の冷却加熱は一１０〜十６０℃の範囲で自由に
調節できる。また、各試験条件の期間において、側面に
ある電子冷却素子６を適当に加熱冷却して試験槽内の温
度を＋１０〜＋６０℃の範囲において自由に調節するこ
とができる。或は試験片表面に結露する条件において、
紫外線螢光ランプを点灯して、結露と紫外線照射とを同
時に行うことができる。
図において、底板下部の電子冷却素子４を冷却する時、
試験槽に超音波方式による加湿空気を送ると試験片表面
に結露する。次に電子冷却素子４を加熱に切換え、加湿
空気を止め、紫外線螢光ランプを点灯することができる
。試験片の冷却加熱は一１０〜十６０℃の範囲で自由に
調節できる。また、各試験条件の期間において、側面に
ある電子冷却素子６を適当に加熱冷却して試験槽内の温
度を＋１０〜＋６０℃の範囲において自由に調節するこ
とができる。或は試験片表面に結露する条件において、
紫外線螢光ランプを点灯して、結露と紫外線照射とを同
時に行うことができる。
以上、本発明の構成と作用機能について説明したが、次
に本発明の実施効果を説明する。
に本発明の実施効果を説明する。
試験槽底板の加熱冷却及び試験槽の温度調節を電子冷却
素子によって行うことによって、試験機全体の容積が従
来方式に比べ非常に小さくなった。加熱冷却の切換えが
電流の方向を変えることＫよって簡単かつ速かであると
共に、加熱冷却の信頼性と精度が高（、しかもその機構
の寿命が長い。また、超音波方式による加湿のための消
費電力は少なく、同じ規模において従来のヒータ一方式
の約１／１０である。紫外線ランプを使用することによ
って、３００〜４００ｍμの紫外線が得られ、試験片面
に照射するエネルギーが均一であり、消費電力が少なく
設備費も安い。さらに、紫外線照射、湿度発生、加熱冷
却の方法を本発明のように行うことによって、一つの試
験槽において結露、紫外線照射、乾燥、冷却、高湿度の
各単独試験を行うことができ、またこれらの各条件の組
合わせによる複合試験をサイクル試験として行うことが
でき、従来のデユーサイクル式促進耐候試験では不可能
である結露と紫外線照射を同時に行うこともできる。本
発明に係る試験機の機能的特徴は前述の通りであるが、
装置の小型化及び一つの試験槽でサイクル試験ができる
ということが非常に経済的であることも本発明の大きな
効果である。
素子によって行うことによって、試験機全体の容積が従
来方式に比べ非常に小さくなった。加熱冷却の切換えが
電流の方向を変えることＫよって簡単かつ速かであると
共に、加熱冷却の信頼性と精度が高（、しかもその機構
の寿命が長い。また、超音波方式による加湿のための消
費電力は少なく、同じ規模において従来のヒータ一方式
の約１／１０である。紫外線ランプを使用することによ
って、３００〜４００ｍμの紫外線が得られ、試験片面
に照射するエネルギーが均一であり、消費電力が少なく
設備費も安い。さらに、紫外線照射、湿度発生、加熱冷
却の方法を本発明のように行うことによって、一つの試
験槽において結露、紫外線照射、乾燥、冷却、高湿度の
各単独試験を行うことができ、またこれらの各条件の組
合わせによる複合試験をサイクル試験として行うことが
でき、従来のデユーサイクル式促進耐候試験では不可能
である結露と紫外線照射を同時に行うこともできる。本
発明に係る試験機の機能的特徴は前述の通りであるが、
装置の小型化及び一つの試験槽でサイクル試験ができる
ということが非常に経済的であることも本発明の大きな
効果である。
第１図は木兄Ｆ！ＡＫ係るザイクル試験機の平面部分断
面図、第２図はその側面断面図、第３図は電子冷却素子
の説明図である。 １・・・試験槽、２・・・試験槽底板、３・・・試験片
、４．６・・・電子冷却素子、５・・・放熱器、１・・
・紫外線螢光ランプ、８・・・加湿器、９・・・ファン
、１０・・・銅板、１１・・・半導体、１２・・・導線
、１３・・・制御部、 Ａ、Ｂ・・・加熱冷却板。 弁１図 第２ 図 オ ３ 図
面図、第２図はその側面断面図、第３図は電子冷却素子
の説明図である。 １・・・試験槽、２・・・試験槽底板、３・・・試験片
、４．６・・・電子冷却素子、５・・・放熱器、１・・
・紫外線螢光ランプ、８・・・加湿器、９・・・ファン
、１０・・・銅板、１１・・・半導体、１２・・・導線
、１３・・・制御部、 Ａ、Ｂ・・・加熱冷却板。 弁１図 第２ 図 オ ３ 図
Claims (1)
- 試験槽の伝熱性底板の下に該伝熱性底板を介して試験片
を加熱または冷却するための電子冷却素子があり、該試
験槽の噛側面には槽内温度を調節するための電子冷却素
子があり、かつ該試験槽の天井面に紫外線ランプがある
ことを特徴とする光無サイクル試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18847581A JPS5890146A (ja) | 1981-11-26 | 1981-11-26 | 光露サイクル試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18847581A JPS5890146A (ja) | 1981-11-26 | 1981-11-26 | 光露サイクル試験機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5890146A true JPS5890146A (ja) | 1983-05-28 |
Family
ID=16224369
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18847581A Pending JPS5890146A (ja) | 1981-11-26 | 1981-11-26 | 光露サイクル試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5890146A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60145472U (ja) * | 1984-03-07 | 1985-09-27 | 菊水化学工業株式会社 | 模擬太陽実験装置 |
| JPS6219746A (ja) * | 1985-07-18 | 1987-01-28 | Omron Tateisi Electronics Co | 感湿素子等の製造または試験のための装置 |
| JPH0191246U (ja) * | 1987-12-08 | 1989-06-15 | ||
| US4995273A (en) * | 1988-05-31 | 1991-02-26 | Dainippon Plastics Co., Ltd. | Method of an apparatus for weather resistance test |
-
1981
- 1981-11-26 JP JP18847581A patent/JPS5890146A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60145472U (ja) * | 1984-03-07 | 1985-09-27 | 菊水化学工業株式会社 | 模擬太陽実験装置 |
| JPS6219746A (ja) * | 1985-07-18 | 1987-01-28 | Omron Tateisi Electronics Co | 感湿素子等の製造または試験のための装置 |
| JPH0191246U (ja) * | 1987-12-08 | 1989-06-15 | ||
| US4995273A (en) * | 1988-05-31 | 1991-02-26 | Dainippon Plastics Co., Ltd. | Method of an apparatus for weather resistance test |
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