JPS589047A - 濁度測定方法および装置 - Google Patents
濁度測定方法および装置Info
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- JPS589047A JPS589047A JP10788881A JP10788881A JPS589047A JP S589047 A JPS589047 A JP S589047A JP 10788881 A JP10788881 A JP 10788881A JP 10788881 A JP10788881 A JP 10788881A JP S589047 A JPS589047 A JP S589047A
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- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims abstract description 11
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/53—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
- G01N21/532—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke with measurement of scattering and transmission
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は濁度測定方法および装置に関する。
流体の濁度を測定する場合、従来は第１図に例示するよ
うに被測定流体１を介して相互に対向する発光部１と第
１．第２の受光部Ｊａ。
うに被測定流体１を介して相互に対向する発光部１と第
１．第２の受光部Ｊａ。
２ｂとを設け、これら受光部１ｍ、Ｉｂの各出力信号を
それぞれ増幅器１ｍ、ｌｂによって増幅したのち除算器
４に導き、透過光ムと散乱光Ｂとの光量比を求めるよう
Ｓ二していた。第２図Ｃ：濁度Ｒと受光部１ｓ、Ｉｋに
おける愁量りとの関係を略示するように、透過光ムおよ
び散乱光Ｂはいずれも非線形であり、特に透過光につい
ては流体自体や懸濁物質の色彩の影響を受は昌いなどの
不具合があるので、透過光ムまたは散乱光Ｂを単独に検
出するよりも、上述のようにこれらの比を検出する方が
よいとされている。
それぞれ増幅器１ｍ、ｌｂによって増幅したのち除算器
４に導き、透過光ムと散乱光Ｂとの光量比を求めるよう
Ｓ二していた。第２図Ｃ：濁度Ｒと受光部１ｓ、Ｉｋに
おける愁量りとの関係を略示するように、透過光ムおよ
び散乱光Ｂはいずれも非線形であり、特に透過光につい
ては流体自体や懸濁物質の色彩の影響を受は昌いなどの
不具合があるので、透過光ムまたは散乱光Ｂを単独に検
出するよりも、上述のようにこれらの比を検出する方が
よいとされている。
しかしながら、上述のような従来装置においては除算器
が高価であるととも１＝、分母となる透過光Ａの光量が
微少信号となる高濁度領域において安定性儂１欠けるな
どの不具合がある。また１発光ｍ１（１）発光量Ｏ変動
、ｍｓ ＃ ＃ ａ ＃＃ｂにおける汚損度、受光部１
ｍ、ｌｂにおける特性変動、増幅器ｊａ 、ｊｂにおけ
る特性変動等によりそれぞれの影響を受は易い。さらＣ
二、窓１．ａｍ８ｇｂの相対的位置や、発光ｇ１の発光
量等は濁度に関連して設定されるが、これらに対する濁
度の最適範囲が狭いため装置構成上の離点となっている
。
が高価であるととも１＝、分母となる透過光Ａの光量が
微少信号となる高濁度領域において安定性儂１欠けるな
どの不具合がある。また１発光ｍ１（１）発光量Ｏ変動
、ｍｓ ＃ ＃ ａ ＃＃ｂにおける汚損度、受光部１
ｍ、ｌｂにおける特性変動、増幅器ｊａ 、ｊｂにおけ
る特性変動等によりそれぞれの影響を受は易い。さらＣ
二、窓１．ａｍ８ｇｂの相対的位置や、発光ｇ１の発光
量等は濁度に関連して設定されるが、これらに対する濁
度の最適範囲が狭いため装置構成上の離点となっている
。
本発明は上記事情のもとになされたもので、その目的と
するところは、透過光と散乱光との比に対応する信号を
得るのシー高価な除算器を用いる必要がなく、しかも広
範囲にわたり安定した測定を行ない得る濁度測定方法お
よび装置を提供することにある。
するところは、透過光と散乱光との比に対応する信号を
得るのシー高価な除算器を用いる必要がなく、しかも広
範囲にわたり安定した測定を行ない得る濁度測定方法お
よび装置を提供することにある。
以下、本発明を図示の一実施例について説明する。第３
図において発光部１０はたとえばＬＩＤなどの発光素子
を備え、娠幅が制御部１−１によって可変制御されると
とも１：繰返し周波数が変調回路ｉｘｔ二よって所定値
に設定されたパルス状の光線を、窓１ｓを介して被測定
流体１中１＝入射し得るように構成されている。透過光
ムが愈１４麿を介して入射される第１の受光部ｘｉｓは
ホトダイオードなどの受光素子を備え、その出力端は第
１の増＠＠Ｉｉｍ、帯域フィルタＩｒｍおよび整流回路
１１ｍを経て差増幅器１＃の一方の入力端に接続されて
いる。
図において発光部１０はたとえばＬＩＤなどの発光素子
を備え、娠幅が制御部１−１によって可変制御されると
とも１：繰返し周波数が変調回路ｉｘｔ二よって所定値
に設定されたパルス状の光線を、窓１ｓを介して被測定
流体１中１＝入射し得るように構成されている。透過光
ムが愈１４麿を介して入射される第１の受光部ｘｉｓは
ホトダイオードなどの受光素子を備え、その出力端は第
１の増＠＠Ｉｉｍ、帯域フィルタＩｒｍおよび整流回路
１１ｍを経て差増幅器１＃の一方の入力端に接続されて
いる。
差増幅器１＃は他方の入力端が基準設定部２０１＝−続
されるととも（二出力端はと紀制御部１１に導かれてい
る。また、散乱光Ｂが窓１４ｂを介して入射される第２
の受光部Ｊｌｂはホトダイオードなどの受光素子を備え
、その出力端は第２の増幅器１＃ｂ１帯域フイルタｆＦ
ｂおよび整流回路ｘａｂを経て最終出力端２１に導かれ
ている。そして、透過光ムがわ整流回路ｊａｍの出力信
号Ｔｓが、被測定流体１の濁度に拘りなく、常に基準設
定部２０に設定された墓準僅に維持されるよう（＝、制
御部１１１二よる発光部１０の制御が行なわれるように
なっている。
されるととも（二出力端はと紀制御部１１に導かれてい
る。また、散乱光Ｂが窓１４ｂを介して入射される第２
の受光部Ｊｌｂはホトダイオードなどの受光素子を備え
、その出力端は第２の増幅器１＃ｂ１帯域フイルタｆＦ
ｂおよび整流回路ｘａｂを経て最終出力端２１に導かれ
ている。そして、透過光ムがわ整流回路ｊａｍの出力信
号Ｔｓが、被測定流体１の濁度に拘りなく、常に基準設
定部２０に設定された墓準僅に維持されるよう（＝、制
御部１１１二よる発光部１０の制御が行なわれるように
なっている。
上記構成によれば、透過光ムの光量に対応する出力信号
テ畠が濁度に拘りなく所定レベルーー維持されているの
で、透過光ムと散乱光Ｂとの光量比Ｔｂ／Ｔａは散乱光
Ｂの光量Ｔｂに置換す名ことができる。すなわち、出力
端２１からは光量比Ｔｂ／Ｔａに対応する信号を取出す
ことができ、高価な除算器を用いる必要がない、また、
発光＠１０からの入射光量が濁度の変動に対応して自動
的に可変制御されるので、窓１１゜１４麿、１４ｂ等の
汚れや受光部１５１．１５ｂ＋＝おける各受光素子の特
性変化、増幅Ｉ１１ ｇ ａ 。
テ畠が濁度に拘りなく所定レベルーー維持されているの
で、透過光ムと散乱光Ｂとの光量比Ｔｂ／Ｔａは散乱光
Ｂの光量Ｔｂに置換す名ことができる。すなわち、出力
端２１からは光量比Ｔｂ／Ｔａに対応する信号を取出す
ことができ、高価な除算器を用いる必要がない、また、
発光＠１０からの入射光量が濁度の変動に対応して自動
的に可変制御されるので、窓１１゜１４麿、１４ｂ等の
汚れや受光部１５１．１５ｂ＋＝おける各受光素子の特
性変化、増幅Ｉ１１ ｇ ａ 。
ｘｇｂの特性変化等の影響を効果的に排除することがで
き、かつ常に最適光量での測定が行なわれるので特Ｃ：
低濁度時におけるエネルギー損失を軽減し得るとともに
、高濁度領域における安定性および種変を向１すること
ができるし、＠１１，１４１．１４ｂの相対的位置の設
定Ｃ＝際し設計１の自由賓が大幅に向１される。しかも
、発光部１＃からの入射光を繰返し同波数が一定なパル
ス状−二するとともＣ二受光部１１８１１１ｂがわには
帯域フィルタ１７ａ、ＪＦｂｔ’用いるよう６二したの
で、外部光線の影響等雑書を効果的に排除し得るととも
ε：、交流用増幅器Ｊｉｍ、Ｉｍｂを用い得ることと相
まつで動作の安定性を向１させ、かつコスＦの節減と寄
与することができる。
き、かつ常に最適光量での測定が行なわれるので特Ｃ：
低濁度時におけるエネルギー損失を軽減し得るとともに
、高濁度領域における安定性および種変を向１すること
ができるし、＠１１，１４１．１４ｂの相対的位置の設
定Ｃ＝際し設計１の自由賓が大幅に向１される。しかも
、発光部１＃からの入射光を繰返し同波数が一定なパル
ス状−二するとともＣ二受光部１１８１１１ｂがわには
帯域フィルタ１７ａ、ＪＦｂｔ’用いるよう６二したの
で、外部光線の影響等雑書を効果的に排除し得るととも
ε：、交流用増幅器Ｊｉｍ、Ｉｍｂを用い得ることと相
まつで動作の安定性を向１させ、かつコスＦの節減と寄
与することができる。
なお、本発明は上記実施例のみに限定されるものではな
く、たとえば上記制御部１１および変調回路１２を一体
化することにより、透過光ムの光量を同波数変調するよ
うにしてもよい。
く、たとえば上記制御部１１および変調回路１２を一体
化することにより、透過光ムの光量を同波数変調するよ
うにしてもよい。
また、変調回路１２を発光部１０がわに設ける代り１コ
受光部１ｓ＆、１８ｂがわ凰二設けるようにしてもよい
。要すれば変調回路１２を省略してもよく、この場合に
は増幅器ＩＩｓ、ｊｌｂを直流用のものにするとともに
フィルタ１１ａ。
受光部１ｓ＆、１８ｂがわ凰二設けるようにしてもよい
。要すれば変調回路１２を省略してもよく、この場合に
は増幅器ＩＩｓ、ｊｌｂを直流用のものにするとともに
フィルタ１１ａ。
Ｉｒｂおよび整流回路ｊａｍ、Ｉｌｂが省略される。そ
の他１本発明の要旨とするところの範囲内で種々な変更
ないし応用が可能である。
の他１本発明の要旨とするところの範囲内で種々な変更
ないし応用が可能である。
本発明は、１述したように透過光量が所定レベル一二維
持されるようＣ二液−＄定流体への入射光量ｉ可変制御
するようにし、そのための装置として透過光量に応じて
入射光量を可変制御する制御部を設けるようにしたので
、散乱光−テｂに対応する信号を光量比Ｔ ｂ ／Ｔ
ａに対応する信安定した測定が可能であるとともに周囲
条件の変動Ｃ：よる影響を排除して高精度の測定を行な
うことができ、しかもエネルギー損失を軽減し得るなど
の効果がある。
持されるようＣ二液−＄定流体への入射光量ｉ可変制御
するようにし、そのための装置として透過光量に応じて
入射光量を可変制御する制御部を設けるようにしたので
、散乱光−テｂに対応する信号を光量比Ｔ ｂ ／Ｔ
ａに対応する信安定した測定が可能であるとともに周囲
条件の変動Ｃ：よる影響を排除して高精度の測定を行な
うことができ、しかもエネルギー損失を軽減し得るなど
の効果がある。
第１図は従来装置を例示するブロック図、第２図は濁度
に対する透過光および散乱光の関係な暗示する線図、５
第３図は本発明装置の一実施例を示すブロック図である
。 １０・・・発光部、１１・・・制碑部、１２・・・変調
回路、１１．１４ａ、Ｉｄｂ−窓、１ｌｌａ、ｌ１ｉｂ
・・・受光部、１９・・・差増幅器、２０・・・基準設
定部、２１・・・出力端、ム・・・透過光、Ｂ・・・散
乱光。
に対する透過光および散乱光の関係な暗示する線図、５
第３図は本発明装置の一実施例を示すブロック図である
。 １０・・・発光部、１１・・・制碑部、１２・・・変調
回路、１１．１４ａ、Ｉｄｂ−窓、１ｌｌａ、ｌ１ｉｂ
・・・受光部、１９・・・差増幅器、２０・・・基準設
定部、２１・・・出力端、ム・・・透過光、Ｂ・・・散
乱光。
Claims (2)
- （１）被測定流体に光線を入射しその透過光量に対する
散乱光量の比を検出する場合、上記透過光量が所定レベ
ルに維持されるように上記被測定流体への入射光量を可
変制御するよう（：ｌ、たことを特徴とする濁度測定方
法。 - （２）被測定流体１一対する入射光を発生する発光部と
、１記被測定流体における透過光および散乱光の各光量
ｉ二対応する信号をそれぞれ発生可能な第１および第２
の受光部とを有するものにおいて、上記第１の受光部の
出力信号に応じて上記入射光の光量を可変制御する制卿
卸を設け、上記透過光の光量を所定レベル１：維持する
ようにしたことを特徴と−する濁度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10788881A JPS589047A (ja) | 1981-07-10 | 1981-07-10 | 濁度測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10788881A JPS589047A (ja) | 1981-07-10 | 1981-07-10 | 濁度測定方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS589047A true JPS589047A (ja) | 1983-01-19 |
Family
ID=14470612
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10788881A Pending JPS589047A (ja) | 1981-07-10 | 1981-07-10 | 濁度測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS589047A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0372240A (ja) * | 1989-08-12 | 1991-03-27 | Takagi Ind Co Ltd | 懸濁液の懸濁物濃度測定装置。 |
-
1981
- 1981-07-10 JP JP10788881A patent/JPS589047A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0372240A (ja) * | 1989-08-12 | 1991-03-27 | Takagi Ind Co Ltd | 懸濁液の懸濁物濃度測定装置。 |
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