JPS59111475A - Ｃｒｔ表示画面の検査方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （１）　　発明の技術分野 本発明は、ＣＲＴ（陰極線表示管）を用いた表示装置に
おいて、ＣＲＴの偏向回路系の調整不良や回路故障など
の原因により起る輝度の不均一による異常表示現象を観
測装置を用いて自動的に検査するようにしたＣＲＴ表示
画面の検査方式に関する。

（２）　　技術の背景及び問題点 ＣＲＴを用いた表示装置では、ＣＲＴに表示される画面
に傾き、歪、ずれ、輝度不均一等の異常表示現象が生じ
ると画面の品質が大きく低下する。

輝度の不均一には２反射によるものが特に目立つので問
題となる。反射には、偏向回路系の調整不良や回路故障
等により走査線の一端（主に右端）が折返されてその部
分の輝度が高くなって不均一になる場合（折返し反射）
と、水平の直線性不良が極端に端にずれて左右の一端の
輝度が高くなって不均一になる場合（非直線歪反射）が
ある。

第１図は、格子枠状のテストパターンを用いて異常表示
現象によって生じたＣＲＴ画面表示品質の不良例を示し
たものでおる。表示枠Ｆに対し点線で示したＰが正常な
テストパターンの表示画面。

Ｑが異常なテストパターンの表示画面、ＳＨはテストパ
ターンの水平線、ＳＶはテストパターンの垂直線、ＢＲ
は折返し反射によって生じた高輝度領域、Ｂｌ）は非直
線歪反射によって生じた。つまり直線の高密度化によっ
て生じた高輝度領域を示す。

（ａｌは垂直振幅が不足した場合、（ｂ）は画面が傾い
た場合、（Ｃ）は糸巻き歪が生じた場合、（ｄ）は画面
の中心位置がずれた場合、（ｅ）は垂直直線性が不良な
場合、（ｆ）は折返し反射が生じた場合、（ｇ）は非直
線歪反射が生じた場合である。

このような異常表示・現象が生じると、情報処理用の表
示装置では９表示された図形、グラフ２文字、記号等が
変形されるので、著しく画面品質が低下するので特に問
題となる。

この異常表示現象を見出すＣＲＴの表示画面の検査方法
として従来紘検査員の目視による人手検査が主であった
。しかし、その場合は、検査員の目の疲労が生じやすい
、目視のため検査の品質の一定化が困難である。検査の
迅速化が困難でおる等の問題がめった。

そこで、これらの問題を解決するために、ＴＶカメラ等
の観測装置を用いて、ＣＲＴの表示画面の検査を自動的
に行う方式が同一出願人によって提案されている（特願
昭５７−１１３５６６号）。

この方式は、格子枠状のテストパターンを用い。

表示枠ＦとＣＲＴに表示されたテストパターンＱをＴＶ
カメラ等の観測手段を用いて測定し９表示枠Ｆとテスト
パターンＱとの相対的な寸法関係を基にして表示画面の
表示寸法９位置ずれ、傾き。

各種歪の値を求め、それらが所定の基準値内にあるか否
かを判定することによって、ＣＲＴ表示画面の品質の良
否を自動的に検査するようにしたものである。

この方式は、第１図の（ａｌ〜（ｅ）に例示した表示画
面の寸法変化１位置ずれ、傾き、歪の有無を検出できる
ので異常表示現象の大半を検査することができる。しか
しながら９反射の場合は表示枠とテストパターンの相対
寸法の変化が少ないので、前記の方式では反射の有無、
特に折返し反射の有無を検出することが困難でめった。

（３）発明の目的 本発明の目的は９反射による異常表示現象の有無を確実
に検出してＣＲＴの表示画面の品質の良否を自動的にか
つ迅速に検査するＣＲＴ表示画面の検査方式を提供する
ことにちる。

（４）　　発明の構成 この目的を達成するため９本゛発明のＣＲＴ表示画面の
検査方式でｌｊ、Ｃ：ＲＴ表示装置とこのＣＲ１表示装
置の表示画面の左右端にそれぞれ一定幅のパターン領域
をもったテストパターンを発生するテストパターン発生
手段と、このテストパターンを観測する観測手段と、前
記観測手段により観測されたテストパターンの左右端の
パターン領域から画面品質判定情報を検出する検出手段
と、この画面品質判定情報から画面の品質の良否を判定
する画面品質判定手段を有し、ＣＲＴ表示画面の異常状
態を検査することを特徴とする。

（５）　　発明の実施例 本発明は、左右端にそれぞれ一定幅のパターン領域をも
ったテストパターンがＣＲＴに表示されたとき、これを
ＴＶカメラ等を用いて観測し、左右端のパターン領域に
おける輝度最高値又は領域幅の比が所定の基準値内にあ
るか否かによって表示画面の品質の良否の判定を行うよ
うにしたものである。

以下本発明の一実施例を第２図〜第７図に基づいて説明
する。

第２図と第３図は、第１図の（ｆｌ　、　（ｇｌに示し
た反射による異常表示現象をさらに詳しく説明したもの
で、第２図は折返し反射の場合を、第３図は非直線歪反
射の場合を示す。

折返し反射は、走査線の帰線開始時点とプランキング開
始時点の不一致によって生じるので５通常第２図（ａｌ
に示すように表示画面の右端が折返された状態になって
、その部分ＢＲが一段と高輝度状態となる。

第２図（ｂｌは折返し反射のない正常な表示画面の水平
走査線の出力データを示したもので、テストパターンＱ
の垂直走査線Ｓ■の部分に高さＨＡのビデオ出力を発生
する。

第２図（Ｃ１は折返し反射が生じた場合の水平走査線の
出力データを示したもので、折返し反射力；生じた右端
のビデオ出力ＨＢは、正常な部分のビデオ出力ＨＡより
１段と高いレベルのものとなる。

しかしながら９表示枠Ｆとテストノ（ターンＱの相対寸
法自体には殆んど影響を与えないので、挿ｊ者の相対寸
法の変化から異常表示現象を検出する方式では、括返し
反射の有無を検出することは困難である。

次に、第３−は非直線歪反射を示したもので。

非直線歪が極端に一端（通常右側）にずれると。

第３図（ａｌに示すように右端部分ＢＤの垂直線密度が
高くなる。第３図１ｂ＋は非直線歪反射が生じた場合の
水平走査線の出力データを示したもので、右端部分ＢＤ
の垂直線密度が高くなっている。そこで、その平均輝度
は、第３図（ｃｌに示すように正常部分のレベルＭＡに
対し、非直線歪反射が生じている部分ＢＤは幅Ｗの領域
においてＭＡより高いレベルＭＢとなる。

しかしながら、非直線歪反射の場合も表示枠Ｆとテスト
パターンＱの相対寸法の変化は殆んどないので両者の相
対寸法の変化からは非直線歪反身（の有無は検出できな
い。なお、同一出願人力；提案した前記方式には相対寸
法の一種として、テストパターンＱの垂直線Ｓ■の間隔
の相対寸法の変化を利用して非直線歪を検出する場合が
ある力≦、非直線歪が極端にずれている場合は、中間は
直線性がよくテストパターンの一端に近い領域が非直線
特性になって反射が生じるので、垂直線ＳｖＯ数を増加
させない限り反射の有無を検出することは困難でおる。

本発明は、テストノくターンとして左右両端にそれぞれ
一定幅のパターン領域を設けたものを用いると、折返し
反射も非直線歪反射も確実に検出できることを見い出し
たものである。

第４図は９本発明に用いられるテストパターンＲを示し
たもので、第４図（ａｌに示すように左右両端にそれぞ
れ１０数ドツト又は数メツシュの一定幅Ｗｏのパターン
領域Ａ、Ｂが設けられる。中間領域に従来の方式と同様
に垂直及び水平の格子状パターンを設けてもよいことは
もちろんである。第４図（ｂｌは、正常な場合の水平走
査線の出力データを示したもので９両端のＡ、Ｂ領域に
おいて幅Ｗｏ。

高Ｈｏのビデオ出力を発生する。

第５図は折返し反射がある場合を示したものである。折
返し部分がＷＢａｌと少いときは、第３図１ｂ＋に示す
ように、右端に幅はＷＢＲｌと狭いが輝度はＨＢＲｌと
極めて高い部分と２幅はｗＢＲ２で輝度は左端の輝度Ｈ
Ａ　Ｒと略等しいＨＢＲ２をもった部分からなるビデオ
出力を発生する。

したがって、左端領域Ａの輝度最高値ＨＡＲと右端領域
Ｂの輝度最高値Ｈｎ＊１を検出し９両者の比が例えば２
に近ければ、折返し反射があると判断される。実際には
２両者の比ＨＢＲ１／　ＨＡＲが２程度ならば折返し反
射が生じたと判断してさしつかえない◎ 右端の輝度領域の幅は折返し幅によって変化するが、輝
度最高値）ｉｎｉｌの値は、折返し部分と正常表示部分
との重なり部分が存在する限り、折返し幅によってそれ
程変化しないので２両端の輝度最高値の比から判断すれ
ば、折返し反射の有無が確実に検出できる。

次に、折返しが極端になって、折返し部分と正常表示部
分か重なる部分をもたなくなったときは。

第５図ｔｃ＋に示すように、右端のビデオ出力は、左端
の輝度ＨＡＲより低い輝度ＨＢＲ３をもち９幅は左端の
幅ＷＡＲよりもはるかに広い幅ｗＢＲ３をもったものと
なる。ＷＡＲ＜　ｗＢＲ３となるのは、走査期間よりも
帰線期間がはるかに短いからである。

したがって、この場合は両端の領域幅の比を求め９両者
の比ＷＢＲ３／ＷＡＲが所定値以上（例えば２程度）な
らば折返し反射が生じたと判断できる。

第６図は、非直線歪反射がある場合を示したものである
。非直線歪反射の場合は、第６図１ａ）に示すように右
端の線密度が高くなるので、領域幅はＷＢＣと狭くなる
。しかし、最高輝度は第６図（ｂ）に示すように左端の
輝度ＨＡＤより一段と高いＨＢＤとなるっ そこで、折返し反射の場合と同様に両端の輝度最高値を
求め９両者の比ＨＢＤ／　ＨＡＤが所定値以上（例えば
２程度）ならば非直線歪反射があると判断される。

この場合も２両端の領域幅の変化よりも、輝度最高値の
比から判断した方が、非直線歪反射の検出が確実に行わ
れる。

なお、非直線歪反射が生じる場合は、多くの場合、垂直
線Ｓ■の間隔が不均一になるので、非直線歪反射の多く
は、同一出願人によって提案されている表示枠とテスト
ノくターンの相対寸法力１ら非直線歪を検出する方式に
よって検出される。本発明は２表示画面の一端に近い所
で著しい非直線歪があり、それによって反射が生じてい
る場合を有効に検出できるものである。

これまでの折返し反射と非直線歪反射の両者に関する説
明から、まず、テストノ（ターンの両端の輝度最高値を
比較し、その比が所定値以上ならば反射が存在すると判
断され２両領域の幅の比が所定値以上のときは極端な折
返し反射が存在すると判断され９両者のいずれの比の値
も所定値以下のときは正常表示画面であると判断される
ことになる。

なお、これまでの説明は反射が右端に生ずる場合につい
て説明したが、偏向回路系によっては左端に生じる場合
がおるが（両端に生じることはない）、その場合も、こ
れまでの説明において左右が逆になるだけで、そのまま
適用できることは明らかでわる。

第７図は１本発明のＣＲＴ表示画面の検査方式を実施す
る具体的な装置のブロック図である。

図において、１１は被観測ＣＲＴ表示装置。

１２はテストパターン発生器、１６はＴＶ右カメラの観
測装置、１４はラインノ（ツ７ア、１５は）（ターン信
号検出回路、１６はテストパターンの左右両端の領域Ａ
、Ｂのパターン位置とそれらの領域幅を検出するパター
ン位置及び幅検出回路。

１７は左端（領域Ａ）の輝度最高値を検出する左端輝度
最高値検出回路、１８は右端（領域Ｂ）の輝度最高値を
検出する右端輝度最高値検出回路。

１９は左及び右端輝度最高値検出回路１７．１８の出力
を比較して両者の比を求める輝度比較回路。

２０は左右両端の領域Ａ、Ｂのパターンの領域幅を比較
してその比を求める幅比較回路、２１は輝度比較回路１
９と幅比較回路２０の出力から反射の有無を検出し９表
示画面品質の良否を判断する判定回路である。

この構成において、被観測ＣＲＴ表示装［１１はテスト
パターン発生器１２の出力を受けて第４図（ａｔに示す
テストパターンＲｆ、ＣＲＴに表示する。

観測装置１３はそのテストパターンＲを観測し。

そのデータを２インバツフア１４で増幅してパターン信
号検出器１５．左及び右端輝度最高値検出回路１７．１
８に供給する。

パターン信号検出回路１５は、一定のスレショルドレベ
ルを設けて左右両端の領域Ａ、Ｈにおけるパターン信号
の有無を検出する。パターン位置及び幅検出回路１６は
領域Ａ、Ｈにおけるパターン信号からそれらの位置と幅
を検出し、出力端３には左端の領域Ａのパター／信号に
対応した位置にその幅（Ｗ＾）をもったゲート信号ＧＡ
を、出力端すには右端の領域Ｂのパターン信号に対応し
九位１ｉｆＫその幅（ＷＢ）をもったゲート信号ＧＢを
。

出力端Ｃには領域幅ＷＡ　　を示す領域幅信号ＷＡＣを
。

出力端ｄには幅ＷＢ　を示す領域幅信号ＷＢＤを発生ず
る。

左端輝度最高値検出回路１７は、ゲート信号Ｇ人の印加
期間におけるテストパターン信号の最高値すなわち左端
領域大の輝°度最高値（ＨＡ　）を求める。右端輝度最
高値検出回路１８は、ゲート信号ＱＢの印加期間におけ
るテストパターン信号の最高値すなわち右端領域Ｂの輝
度最高値（ＨＢ）を求める。

輝度比較回路１９は左及び右端輝度最高値Ｈ＾及びＨＢ
　　を比較して両者の此（Ｈａ　／ＨＡ　）を求める。

幅比数回路２０はパターン位置及び幅検出回路１６から
左右の領域幅信号ｗＡ、ｗＢを受け９両者を比較してそ
の比（ＷＢ／ＷＡ）を求める。

判定回路２１は輝度比較回路１９及び幅比数回路２０の
出力を受け、それらの値が所定レベル以上であるか否か
によって反射の有無を判定し９反射の有無及び表示画面
品質の良否を示す信号を出力する。

ＨＢ　／　ＨＡか所定値（例えば２程度）以上ならば反
射が存在すると判断され、）ｌＢ／Ｈ八が所定値に達せ
ず、かつＷＢ／ＷＡが所定値（例えば２程度）以上なら
ば極端な折返し反射があると判断され。

ＨＢ／ＨＡ及びＷＢ／ＷＡのいずれも所定値に達しない
ならば正常な表示画面であると判断される。

なお９反射が左端に生じる場合も、これまでの説明にお
いて左右を逆にすることによシ同様に判定できることは
明らかである。

（６）　　発明の効果 本発明によれは、ＣＲＴ表示画面に反射による異常表示
現象が生じているか否かを全て自動的に行うことができ
る。人手によらず自動的に行うので目視検査による疲労
の問題がなくなり、ＣＲＴ表示画面の良否の判定を定量
的に、確実に、かつ迅速に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は異常表示画面例の説明図、第２図は折返し反射
の説明図、第３図は非直線歪反射の説明図、第４図は本
発明のテストパターンとその出力データの説明図、第５
図は本発明のテストパターンを使用したときの折返し反
射の説明図、第６図は本発明のテストパターンを使用し
たときの非直線歪反射の説明図、第７図は本発明の一実
施例構成図である。 図中、１１は被観測ＣＲＴ表示装置、１２はテストパタ
ーン発生器、１３は観測装置、１４はラインバッファ、
１５はバター／信号検出回路。 １６はパターン位置及び幅検出回路、１７は左端輝度最
高値検出回路、１８は右端輝度最高値検出回路、１９は
輝度比較回路、２０は幅比数回路。 ２１は判定回路である。 特許出願人　富士通株式会社 代理人弁理士　山　谷　晧　榮 （Ｃ）　　　　　　　　　　　　　　　Ｌｄ＋ＢＤ （し）　　　　　　　　　　　　　　（し）（こン　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　Ｃ
（１）第２図　　　　第３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ｆｌｌｃＲＴ表示装置とこのＣＲＴ表示装置の表示画面
   の左右端にそれぞれ一定幅のパターン領域をもったテス
   トパターンを発生するテストパターン発生手段と、この
   テストパターンを観測する観測手段と、前記観測手段に
   より観測されたテストパターンの左右端のパターン領域
   から画面品質判定情報を検出する検出手段と、この画面
   品質判定情報から画面−の品質の良否を判定する画面品
   質判定手段を有し、ＣＲＴ表示画面の異常状態を検査す
   ることを特徴とするＣＲＴ表示画面の検査方式。 （２）　　前記画面品質判定情報が左右端のそれぞれの
   パターン領域における輝度最高値であることを特徴とす
   る特許請求の範囲第１項記載のＣＲＴ表示画面の検査方
   式。 （３）　　前記画面品質判定情報が左右端のそれぞれの
   パターン領域の領域幅であることを特徴とする特許請求
   の範囲第１項記載のＣＲＴ表示画面の検査方式。