JPS5911154B2 - コイン検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、簡単で比較的低コストで実施することができ
るプログラム可能なメモリを利用したコイン検査装置に
関するものである。

本発明に従う装置では、被検コインの特性の関１５数で
ある信号が発生される。

信号の数値（例えば、電圧、電流、周波数、位相又は時
間期間）がプログラム可能なメモリに記憶されていた真
のコインの許容可能な数値と比較される。もし信号の数
値が許容額面の真のコインの所定の数値に対しある２０
範囲内にあると、そのテストを被検コインがバスしたこ
とを示す出力信号が出される。出力信号は、そのテスト
により決定されたコインの額面も指示することができる
。本発明の装置においては、メモリに例えば５セ２５ン
ト、１０セント及び２５セントコインの額面のそれぞれ
に対してコイン検査に用いられる基準値の上限と下限値
データが異なるアドレスに記憶されている。

メモリからの基準値の上限又は下限値の読出しのための
アドレス指定はアドレスレジス３０ 夕によつて与えら
れる。もしコインの試験により得られた信号値がメモリ
内からの基準値より大きいことを示す信号が比較器より
出されると、アドレスレジスタはその内容を変更し次の
アドレスのメモリ内データを読出しできるようにする。
この３５ようにしてメモリ内の規準値データは読出され
た基準値が試験信号値より大きくなる迄順次読出されて
いく。そして試験終了時にアドレスレジスタの内容があ
る額面の上限値を記憶しているアドレスならば、被検コ
インはその額面の真のコインであると判断される。実施
例の説明 第１図に図示されている本発明の一実施例である装置１
０は、コイン通路３０に隣接したセンサー２０、センサ
ー２０に関連したコイン試験回路４０、プログラム可能
なメモリ５０及び比較器６０を含む。

装置１０は更にメモリ５０に記憶されている値とセンサ
ーで得られた値との比較をすることを可能にする手段、
試験制御回路７０とスイツチング手段８０及びメモリロ
ード制御手段９０とを含む。スイツチング手段８０が付
勢されたコイン試験回路４０からの信号の値が比較器６
０へと通過している時、コイン試験回路４０からの信号
はメモリ５０に記憶されている値と比較される。

この場合、スイツチング手段８０はセンサー２０からの
信号の比較器への流れを制御している。その代りに、ス
イツチング手段はメモリ５０と比較器の間に配置され得
、又は比較器６０の両入力に配置することができる。ス
イツチング手段８０は試験制御回路７０により制御され
、比較が適当な時刻になされるようにしている。制御回
路７０は、センサー２０からの直接の信号、コイン試験
回路４０からの信号又は別個のコイン存否センサー（不
図示）からの信号のいずれかにより付勢される。本発明
に従いメモリ５０をロードするために、例えば入力リー
ド９２上の信号によりロードスイツチ手段が付勢された
時ロードスイツチ手段９０はセンサー２０又は試験回路
４−０からの信号値をメモリ５０に転送するようにして
いる。装置１０は全デジタル的回路又はデジタルとアナ
ログの組合せ回路により構成することができる。

本実施例では、主にデジタル的構成であり、センサー２
０からのアナログ信号出力はコイン試験装置４０でデジ
タル信号と変換される。スイツチング手段８０と９０は
ＡＮＤゲート等から構成され、そして比較器６０は後述
のピーク摘出回路３０１に採用されているようなデジタ
ル比較器である。もしアナログ的回路構成がデジタルメ
モリと共に用いられるならば、メモリ５０の出力は例え
ば比較器６０の一部であるコンバータによりアナログ信
号に変換される。この場合比較器６０は常套的なアナロ
グ比較回路である。そしてロードスイツチ手段９０又は
比較器６０はアナログ−デジタルコンバータを含むだろ
う。第２図の装置２１０は第１図の装置１０の回路と幾
つかの同一のものを用いられる。

コインセンサー２２０、コイン通路２３０、コイン試験
回路２４０、メモリ２５０及び比較器２６０は第１図の
装置１０の対称するものと同じ基本的機能を果す。第２
図の装置２１０において、ピーク摘出回路２７５がメモ
リ２５０に記憶される値選択するために用いられる。メ
モリ２５０がロードされる時は、ロードスイツチング手
段２９０がリード２９２上の信号で付勢されピーク摘出
回路２７５の出力の値をメモリ２５０にロードされ得る
ようにされている。コインの試験の際、ピーク摘出回路
２７５の出力は比較器２６０に与えられメモリ２５０の
内容と比較される。

ピーク摘出回路２７５の出力が許容額面の真のコインに
ついてメモリ２５９に記憶されている限界値の間の値を
発生する場合は、比較器２６０はその額面のコインとし
てテストされているコインの仮決定を示す信号を発生す
る。代りに、第５図に示すような最大値識別システムを
含むメモリ装置がコインの試験の際に用いられ得、ピー
ク摘出回路２７５のようなものはその場合要求されない
。第１図の装置１０の場合においてのように、装置２１
０は実質的に全てｆジタル回路によつて若しくはアナロ
グとデジタルとの組合せ回路によつて実現され得る。

デジタルピーク摘出回路３０１が第３図に示されている
。

主な構成は、パルス発生器３１０とパルスカウンタ３２
０からなるある時間期間中のパルス数を計数する手段、
最も高い先の計数値の数を蓄えているレジスタ３４０、
計数値とレジスタ３４０に蓄えられている数と比較する
比較器３５０、及びカウンタ３２０からレジスタ３４０
へと数値を転送する手段３６０である。可変周波数発生
器３７０の出力がＡＮＤゲート３１２の入力の１つに印
加されている。

発生器３７０の周波数は、これと関連のセンサーコイル
の磁界と被検コインとの相互作用により決定される。例
えば可変周波数発生器３７０は、コイントラツクに沿つ
て配置されたコインセンサーコイルに接続された発振器
である。コインがセンサーコイルに近づくとそのコイル
のインダクタンスが変る。後に発振器はコインがセンサ
ーコイルに近づいている時とそうでない時では発振周波
数が変化する。コインの特性の検出はこの発振周波数の
変化の程度を調べることによつて行なわれる。ゲート３
１２の他方の入力はパルス発生器３１０の出力に接続さ
れており、このパルス発生器３１０は第４図に示されて
いるある精度の高い時間期間ＴＯ−ｔ１を有する波形４
１０のような出力信号を発生している。この時間期間Ｔ
。−ｔ１は波形４１０においてくり返される。ゲート３
１２の機能は、可変周波数発生器３７０からの出力パル
スが時間期間Ｔ。−Ｔ，例えば１ミリ秒の間カウンタ３
２０のトリガ入力３２２に流れるようにするものである
。時間期間Ｔ。−Ｔ，の終了する時点ｔ１で、パルス発
生器３１０の出力の状態の変化が可変周波数発生器３７
０からＡＮＤゲート３１２を経由してカウンタ３２０へ
のパルスの流れを断つ。しかし次の時間期間ｔ１−Ｔ２
の間に、パルス発生器３１０の出力はＡＮＤゲート３９
２を開きクロツク発生器３９０からの３つのパルスがパ
ルス分配器３３０へと流れるようにしている。パルス分
配器３３０はリード３３１に第１のパルスを、りード３
３２に第２のパルスをそしてリード３３３に第３のパル
スを向けている。第４図に示されている波形４３１，４
３２及び４３３はリード３３１，３３２及び３３３に生
ずる信号波形である。

比較器３５０は、カウンタ３２０内の計数値とレジスタ
３４０内に蓄えられている数値とを比較する。

レジスタ３４０には以下に述べられる手順で数値がロー
ドされているか若しくは先のコイン試験の完了後にゼロ
（又はある初期値）にリセツトされてしまつている。も
しカウンタ３２０内の計数値が時刻ｔ１でレジスタ３４
０内の数値より大きいとすると、比較器３５０の出力は
リード３５２上に信号を発生する。リード３３１上の第
１のパルス４３１とリード３５２上の比較器３５０から
の信号とが同時にＡＮＤゲート３５４に印加された時、
ゲート３５４からの出力信号はフリツプ・フロツプ３５
６をセツトする。

もしカウンタ３２０の計数値がレジスタ３４０内に蓄え
られている数値より小さいと、）リード３５２上の比較
器３５０からの信号はないのでフリツプ・フロツプ３５
６はセツトされないだろう。

リード３２２上の第２のパルス４３２がセツトされたフ
リツプ・フロツプ３５６のＱ出力からの信号と同時にＡ
ＮＤゲートグループ３６０の各々に印加されると、カウ
ンタ３２０内の計数値はレジスタ３４０に転送され、先
にそこに蓄えられた数値の代りにその計数値が蓄えられ
る。

カウンタ３２０の計数値がレジスタ３４０内の数値より
小さく第２のパルス４３２が発生した時にフリツプフロ
ツプ３５６がセツトされていない場合は、ＡＮＤゲート
グループ３６０は開かれないのでカウンタ３２０内の計
数値はレジスタ３４０に転送されずレジスタ３４０に先
に蓄えられた数値はそのま＼維持されるであろう。第３
のパルス４３３がリード３３３上に発生すると、そのパ
ルスがカウンタ３２０とフリツプフロツプ３５６をりセ
ツトし、時刻Ｔ２で始まる次の計数サイクル（試験サイ
クル）の準備をさせる。

即ち、ある所定の時間期間Ｔ。−Ｔ２間に１回のコイン
試験サイクルが実行される。そしてこの試験サイクルが
くり返される。ある試験サイクルにおける所定の時間期
間Ｔ。−ｔ１内の可変周波数発生器３７０からのパルス
数がカウンタ３２０で計数され、もしその計数値がレジ
スタ３４０内に先に蓄えられた数値より大きくなるとレ
ジスタ３４０の数値をその計数値をもつて更新している
。従つて、可変周波数発生器３７０からのパルス周波数
が時間につれて増加していくならば、レジスタ３４０内
の数値は試験サイクル毎に新しい計数値によつて更新さ
れていくであろう。そしてパルス周波数が低下する場合
は、レジスタ３４０内の数値は更新されず先に蓄えられ
た数値が維持される。このことから可変周波数発生器３
７０のパルス周波数が最も高い時点の周波数を時間期間
Ｔ。−ｔ１における計数値としてレジスタ３４０に蓄え
ている。即ち、可変する周波数のピーク周波数を摘出し
ている。先述したように、可変周波数発生器３７０のピ
ーク周波数は発先器３７０のコイルの磁界と相互作用す
る被検コインの特性に依存している。このようにしてレ
ジスタ３４０内に得られたピーク周波数値は、第２図に
おいてロードスイツチ手段がリード２９２上の信号によ
り付勢されているメモリコードモードの時はメモリ２５
０に与えられそこに記憶され、そして比較モードの時は
比較器２６０に与えられメモリ２５０に先に記憶されて
いた値と比較されるのに用いられる。

本発明の別な実施例が第５図に示されている。

この装置は、例えば５セント、１０セント及び２５セン
トの３種の額面に対して設計されている。コイントラツ
ク５３１に沿つて第１、第２及び第３のコインセンサー
５１１，５１２及び５１４が配置されている。これらは
磁性コアに巻かれたコイルであり、その近傍に磁界を発
生しコインがその磁界に到来すると相互作用し、コイル
のインダクタンス値が変化することによりコインの到来
を検出している。発振回路５２１と５２４に接続された
第１と第３のコインセンサーコイル５１１と５１４は高
周波（ＨＦ）磁界を発生しコインの寸法を調べている。
しかし、第１と第３のコイル５１１と５１４は異なる構
造であり、コインとの相互作用の性質は異なるようにな
つている。発振回路５２２に接続された第２のコインセ
ンサーコイル５１２は低周波（ＬＦ）磁界を発生しコイ
ンの材質を調べている。コインホツパ一５２０に投入さ
れたコインの全てはコイントラツク５３１上を転動し３
つのコインセンサー５１１，５１２及び５１４の近くを
通過する。

各コインはこれら３つの試験回路の各々における所定の
テスト基準を満足させると真のものであると判断される
。通常の動作では、コインは約６５ミリ秒の間コインセ
ンサーコイル５１１の磁界中にあり、約４０ミリ秒の間
コインセンサーコイル５１４の磁界中にある。これらの
時間期間中に、コインは磁界との相互作用によつてコイ
ル５１１と５１４に関連の発振器の発振周波数をその規
準アイドリング周波数からコインの特性に依存した周波
数へとシフトさせる。コインの真価性を決定するのに用
いられる周波数は、コインが通過した時に発振器５２１
又は５２４がシフトする最大（ピーク）周波数である。
もしそのピーク周波数が所定の周彼数帯域内にならない
吉、そのコインは真のものとは判断されない。センサー
コイル５１２とそのＬＦ試験回路５２２は、コインがセ
ンサーコイル５１２の磁界中を通過した時にパルスを発
生する。

ＬＦ試験回路５２２は３つの額面各々に関し１つの出力
を有している。ＬＦ試験回路５２２の３つの出力の１つ
に１つのパルスが出されると、そのコインは許容可能な
ものとして判断される。このパルスは、コインが第１の
センサー５１１に到来したことが検出された後であつて
そのコインが第３のセンサー５１４から離れたことが検
出される前に発生される。ＬＦ試験回路５２２からの３
つの出力のいずれにもパルスがない若しくは１つよりも
多い数の出力にパルスが存在していると、それはその額
面についてコインは真のものでないことを示す。ここで
は、試験回路５２２の具体的内容についてはこれ以上は
言及しない。発振器５２１と５２４の周波数は交互に１
０ビツトカウンタ５８０により測定される。

フリツプフロツプから構成された時間期間パルス発生器
５４０によつてパルス幅が１ミリ秒のパルス信号が発生
され、その信号は交互にＡＮＤゲート５３１と５３４に
印加され、発振器５２１と５２４の出力をカウンタ５８
０に交互に向けている。このパルス時間期間において、
比較器５６０は１０ビツトカウンタの内容とプログラム
可能なＲＯＭ５５Ｏに予じめ蓄えられていた数値と比較
する。ＲＯＭ５５Ｏに蓄えられているものは真価性判断
の限界値である。

発振器５２１に対して許容周波数限界値の１組であり、
発振器５２４に対して別の１組である。発振器５２１と
５２４に関係したデータのアドレスの例は２５セントコ
イン通過時の発振周波数のシフト曲線６ａと６ｂと共に
第６Ａ図と第６Ｂ図に示されている。第６Ａ図と第６Ｂ
図の各々において、その縦軸は周波数であり斜線領域は
発振器５２１と５２４の出力に対し許容可能な周波数値
の帯域を示している。

各図で３種の額面に対し３つの斜線領域が示されている
。第６Ａ図と第６図の左側に示されたアドレス値に発振
器５２１と５２４に関係する許容周波数限界値データが
記憶されている。メモリ５５０をアクセスするアドレス
情報の最上位ビツトは時間期間パルス発生器５４０のＱ
出力により与えられる。即ちアドレスの最上位ビツトが
０の時第６Ａ図に示される発振器５２１用のデータを．
１の時第６Ｂ図に示される発振器５２４用のデータをア
クセスする。前述したように発振器５２１と５２４用の
データは交互にアクセスされることになる。ＲＯＭ５５
Ｏの読出しのためのアドレス情報の下位３ビツトは、２
つの３ビツトカウンタ即ちアドレスレジスタ５５１と５
５４の１つにより与えられる。レジスタ５５１は発振器
５２１用データ読出しのアドレスを指定し、レジスタ５
５４は発振器５２４用データ読出しのアドレスを指定す
る。くり返し行なわれる試験サイクル毎に各レジスタは
制御論理回路５９０からのリード５５８上の信号で００
０にりセツトされる。ＲＯＭ５５Ｏのアドレス００００
と１０００の各各は、発振器５２１又は５２４のアイド
リング周波数より高く許容コインに関する下限周波数よ
り低いコイン到来時周波数値を記憶している。アドレス
０１１１と１１１１は用いられず、許容できないコイン
を示すアドレスとして本装置により認識される。図の時
間Ｔａ．ｌ５ｔｂは夫々コインの存在がセンサーコイル
５１１と５１４により検出される時間期間を示している
。第１の発振器５２１からのパルスを計数する場合を例
にとると、計数期間の始めでアドレス００００に記憶さ
れているコイン到来時周波数値がＲＯＭ５５Ｏから比較
器５６０に与えられる。

この時のカウンタ５８０のパルス計数値がアドレス００
００に記憶されている周波数より大きい時、比較器５６
０は出力パルスを発生し、その出力パルスは発生器５４
０からの発振器切換え信号と同時にＡＮＤゲート５５５
に与えられ、アドレスレジスタ５５１にパルスを１つ入
力しその出力を００１にステツプさせる。アドレスレジ
スタ５５１の出力は、時間期間パルス発生器５４０のＱ
出力からの信号がＡＮＤゲート５５２に受信された時そ
のゲートを介してＲＯＭ５５Ｏに向けられる。１０ビツ
トカウンタ５８０内の計数値がＲＯＭ５５Ｏのアドレス
された部分に記憶されている数値を越えたことが比較器
５６０により検出された時は、アドレスレジスタ５５１
は１だけ進みＲＯＭ５５Ｏから次のアドレスを選択する
。

ＲＯＭ５５Ｏ内に記憶されている数値は許容額面各々の
真のコインについての下限と上限周波数に対応するもの
である。従つて、コインがセンサーコイル５１１の磁界
中を通過する時、発振器５２１により発生される周波数
はＲＯＭ５５Ｏ内に設定されたレベルを貫いて上昇し、
アドレスレジスタ５５１は１０ビツトカウンタ５８０に
より計数された最大周波数より上の次の限界値レベルの
周波数に対応するアドレス迄その計数が究極的には進む
であろう。もしこのレベルが真のコインに関連した周波
数帯域の上限値であるならば、パルス幅時間期間の終り
の時点でアドレスレジスタにあるアドレスは変化した周
波数がその額面の真のコインに対応するレベル迄上昇し
たことを示し、被検コインが真のものであると判断され
る。一方、そのレジスタ内のアドレスが真のコインに関
する下限値のそれであるならば、そのことは最大周波数
が下限値を越えなかつたことを示し、被検コインは拒絶
されるべきである。この判断は制御論理回路５９０で行
なわれる。即ち、第６Ａ図に示すセンサー５１１におけ
る試験及び第６Ｂ図に示すセンサー５１４における試験
でも、真のコインならばどの額面のものであつてもその
最大周波数（曲線６ａと６ｂのピーク）は斜線領域のい
ずれかの内に位置し、アドレスレジスタはそのピークが
位置する斜線領域の上限に対応するアドレスを有するこ
とになる。もしアドレスレジスタ５５１の内容が１１０
ならば２５セントの真のコインのものと判断され得る。
もう一方のアドレスレジスタ５５４、その付勢用ＡＮＤ
ゲート５５６及びその出力にあるＡＮＤゲート５５３の
動作は、前述したアドレスレジスタ５５１，ＡＮＤゲー
ト５５５及びＡＮＤゲート５５２のそれと同様である。
ただ、第６Ｂ図に示されているように２５セントコイン
についてはレジスタ５５４の内容が１００の時真のもの
と判断される。アドレスレジスタ５５１と５５４が制御
論理回路５９０からの信号によりりセツトされてしまつ
た後の判定の非試験期間の間における時間期間パルス発
生器５４０からの信号は次の試験期間が始まる前にＲＯ
Ｍ５５Ｏのアドレスを００００と１０００に戻す。制御
論理回路５９０は、時間期間パルス発生器５４０からの
タイミング信号、アドレスレジスタ５５１と５５４から
の進行中の比較に関するアドレス情報、比較器５６０か
らの比較結果及び例えばＬＦ回路５２２からのコイン試
験結果を受信する。

論理回路５９０は、もし満足する結果が各試験で得られ
各試験がそのコインが同じ額面でありそして試験結果が
所定のシーケンスで受信されたことを示しているならば
、被検コインの許容性と額を示す信号を発生する。制御
論理回路５９０は又アドレスレジスタ５５１と５５４用
のりセツト信号を発生する。レジスタ５５１と５５４の
内容が共に２５セントコインについての上限値を記憶し
ているＲＯＭ５５Ｏのアドレスを指示しており、又試験
回路５２２からの信号も２５セントコインの額面の出力
を出していると最終的に２５セントの真のコインである
と決定する。この実施例ではセンサーからの情報はＲＯ
Ｍ内の情報とシーケンスな比較が行なわれているが、セ
ンサーからの情報は幾つかの異なるアドレスでのＲＯＭ
に記憶された情報と同時に比較され得る。

後述の方法は、ある１つの許容額面の下限値が別な額面
の上限値より低く許容値帯域にオーバラツプができる時
は特に有効である。第５図の実施例では、コインの特性
を示す試験結果としてのカウンタ５８０内の計数値をＲ
ＯＭ５５Ｏにロードするような接続にはなつていない。

この装置の保守管理者は、予じめ複数の額面の真のコイ
ンに関するデータの組を記憶した幾つかのＲＯＭボード
を持つている。これらのＲＯＭボードに記憶されたデー
タの組は、ＲＯＭボード毎に少しづつ異なつている。保
守管理者は、この装置に標準コイン又は特性のコインレ
プリカを投入し、カウンタ５８０の最大計数値を測定す
る。この測定値に基いて、保守管理者はデータの組がロ
ードされている幾つかのＲＯＭボードの中から最適のデ
ータがロードされているＲＯＭボードを選択してこの装
置に取付ける。これによつて、装置毎に最適なデータを
ロードしたＲＯＭを用い、精度の高いコインの試験が可
能となる。コインの試験において、センサーにコインの
存在時のセンサー出力情報とセンサーにコインが到来す
る直前又は直後の情報とを比較することは有効な方法で
ある。

例えば、センサ丁にコインの存在時のセンサー出力とセ
ンサーにコインが到来する直前のセンサー出力との差又
は比がとられ、この差又は比の値によつてコインの許容
性を判断する。これにより、センサー発振器のアイドリ
ング周波数のドリクトによるシフト又は時間期間パルス
幅の変動の影響が緩和される。第７図には前述のような
装置の実施例を示している。

センサーコイル６１１と６１３は高周波発振器６２１と
６２３とに接続されている。通常の動作で、コインはセ
ンサーコイル６１１の磁界中に６５ミリ秒の間、そして
センサーコイル６１３の磁界中に４０ミリ秒の間存在す
るようになつている。この時間期間中に、コインは発振
器の発振周波数をアイドリング周波数からより高いもの
へとシフトさせる。コイン額面の各々（例えば、５セン
ト、１０セント、２５セント）はセンサーコイル６１１
と６１３の各々において予じめ決められた許容周波数帯
域を持つている。コインの真価性の決定は、ピーク発振
周波数シフトに依存している。もしこの周波数シフトが
許容周波数帯域に陥ちこまないならば、被検コインは拒
絶される。低周波用コインセンサーコイル６１２は一対
の同心状に巻かれたコイルからなり、各々のコインはコ
イントラツク６３１の両側の壁に取付けられている。こ
のセンサー６１２に接続されたコイン試験回路６２２は
３つの出力を有し、３つの出力各々は３種の額面の各々
に対応している。試験の結果この３つの出力の１つが単
一のパルスを発生した時、被検コインはその出力に対応
した額面のものであると判断される。発振器６２１と６
２３の周波数は１０ビツトカウンタ６８０で測定される
。

各発振器は交互にＡＮＤゲート６３１と６３３及び０Ｒ
ゲート６３５を介してカウンタ６８０に接続され、時間
期間発生器フリツプフロツプ６４０からの時間期間例え
ば１ミリ秒の間その周波数が計数される。発振器６２１
と６２３のアイドリング周波数に対応する数値が２つの
レジスタ６５０と６７０にそれぞれ規準値として蓄積さ
れている。

これらの基準値は、電力が本装置に供給されて３００ミ
リ秒後又はこれらの基準値に依存していない試験（例え
ば低周波による試験）によつて許容信号が発生されて３
００ミリ秒後に管理回路６９０が発生した信号によつて
レジスタに蓄積される。即ち、センサー６１１とセンサ
ー６１３にコインが到来する直前におけるカウンタ６８
０の内容がレジスタ６５０と６７０とにそれぞれ蓄積さ
れる。コインがセンサー６１１と６１３に到来したこと
を検出したらその後におけるカウンタ６８０の内容は先
に蓄積されたレジスタ６５０と６７０の内容と加算器６
６０で差がとられ、その差がメモリ６９５内に記憶され
た幾つかの数値データとアドレスカウンタ６５１と６５
３のアドレス制御のもとに次次に比較器６６０で比較さ
れる。レジスタ６５０と６７０の内容及びカウンタ６３
０の内容は周期的にマルチプレクサ６８２を介して加算
器６８４に転送される。

加算器６８４はカウンタ６８０内の数値とレジスタ６５
０又は６７０内の数値との差を決定する。１ミリ秒のコ
イン試験期間の各々の終りで、加算器６８４の出力はプ
ログラム可能なメモリ６９５内に予じめ記憶されていた
値と比較器６６０で比較される。

メモリ６９５から比較器６６０へと読出される数値デー
タのアドレスは２つの３ビツトアドレスカウンタ６５１
と６５３により決定される。アドレスカウンタ６５１は
発振器６２１に関する試験周期に関連しており、アドレ
スカウンタ６５３は発振器６２３に関する試験周期に関
連している。加算器６８４の出力がメモリ６９５内の数
値より大きくなると、３ビツトカウンタ６５１又は６５
３は１つだけ次のアドレスに進む。カウンタ６５１又は
６５３からのアドレスはマルチプレクサ６５５とデコー
ダ６５７によつてメモリ６９５に与えられている。メモ
リ６９５内に記憶されている数値は真のコインにおける
周波数差の上限と下限値であり、それは額面の各々に対
し且つセンサー６１１と発振器６２１とからなる検出装
置とセンサー６１３と発振器６２３とからなる検出装置
とに対し与えられている。

従つて、コインがセンサーコイル６１１の磁界中を通過
すると、発振器６２１の周波数はコインがセンサーに存
在していない場合の周波数（即ち、アイドリング周波数
）より高くなり、周波数差はメモリ６９５内に設定され
た数値レベルを通過し、関連の３ビツトアドレスカウン
タ６５１は周波数差のピークより大きい次のレベルの周
波数差レベルに対応するアドレス迄進む。もしこのアド
レスが真のコインに関する周波数差帯の上限値に対応し
ているならば、試１験された周波数差のピークは許容帯
以内にあり被検コインは真のものと判断される。しかし
、もしこのアドレスが下限値の方のものであるならば、
被検コインは拒絶されるべきである。コインの存在を検
出しセンサーコイル磁界へのコインの到来と離脱に対応
する信号を発生するために、加算器６８４の出力は１ミ
リ秒の試験期間の終りで監視される。

この時、メモリ６９５のアドレス入力は０００にりセツ
トされ、そして比較が行なわれる。メモリ６９５の００
０アドレスに記憶された数値はアイドリング周波数から
れずかのずれに対応するものであり、少なくともその数
値に対する加算器出力のずれがコインがセンサーに存在
することを意味する。コインが真のものであるかどうか
の決定は、コインがセンサー６１３を離れた時に行なわ
れる。

管理回路６９０は次の場合にのみ真のコインであること
を示す信号を発生する。１第１のセンサー６１１に関連
する３ビツトアドレスカウンタ６５１がある額面につい
て有効なアドレス（許容帯の上限値）を有するとき、２
第３のセンサー６１３に関連する３ビツトアドレスカウ
ンタ６５３がその額面について有効なアドレスを有する
とき、そして３単一のパルスがその額面に関する出力に
のみ試験回路６２２から発生されたときである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による一実施例の構成を示すプロツク図
であり、第２図は本発明による別の実施例の構成を示す
プロツク図であり、第３図はピーク摘出回路図であり、
第４図は第３図の回路で発生される信号波形を示す図で
あり、第５図は本発明の更に別な実施例の回路図であり
、第６Ａ図と第６Ｂ図は第５図の回路の動作説明をする
信号波形を示す図であり、そして第７図は本発明の更に
別の改良された実施例の回路図である。 主要部分の符号の説明、センサー手段・・・・・・２０
，２２０，５１１，５１２，５１４，６１１，６１２，
６１３、メモリ手段・・・・・・５０，２５０，５５０
，６９５、比較手段・・・・・・６０，２６０，５６０
，６６０。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ コインの物理的特性を試験しそれに依存した信号を
   発生するセンサー手段、所定の額面の真のコインに関す
   るコイン検査のための基準値の下限値を第１のアドレス
   に上限値を第２のアドレスに記憶しているデジタルメモ
   リ手段、コイン検査時の該センサー手段からの信号と該
   メモリ手段から読出された基準値を比較する手段、該メ
   モリ手段のアドレスを指定するアドレスレジスタ手段で
   あつて該比較手段からの出力に応答してその内容を変更
   し該メモリ内に記憶された基準値を順次読出してゆくた
   めのアドレスレジスタ手段、コインの検査の結果該アド
   レスレジスタの内容が該メモリの基準値の上限値を記憶
   している位置のアドレスであるとき該被検コインがその
   上限値に関連した額面の真のコインであることを示す信
   号を発生する手段とからなるコイン検査装置。