JPS59112253A - 二相流計測装置 - Google Patents

二相流計測装置

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JPS59112253A
JPS59112253A JP57221834A JP22183482A JPS59112253A JP S59112253 A JPS59112253 A JP S59112253A JP 57221834 A JP57221834 A JP 57221834A JP 22183482 A JP22183482 A JP 22183482A JP S59112253 A JPS59112253 A JP S59112253A
Authority
JP
Japan
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phase flow
value
measuring device
flow measuring
present
Prior art date
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Pending
Application number
JP57221834A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Tsumaki
妻木　孝治
Sakae Sugiyama
栄 杉山
Fuminobu Takahashi
高橋　文信
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS59112253A publication Critical patent/JPS59112253A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/12—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being a flowing fluid or a flowing granular solid
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    • G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、二相流計測装置に係り、特にボイド率を測定
するのに好適な装置に関する。
〔従来技術〕
二相流（ボイドと液体の混合＃、）のボイド率をＸ綴Ｃ
Ｔ　（ＣＯｍｐｕｔｅｄ　Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ　）で
測定すると、配管の近傍の測定精度は、中央部に比べて
低い。この理由は、密度の大きな配管の影響が密度の小
δな二相流に影響するためで、これは配管近傍はど影響
が大きく現れる。
ＣＴ装置による測定結果（ＣＴ値）の補正法に関し、従
来の代表例として、Ｘ線横断面撮像装置が挙げられる。
この従来例は、ＣＴ値が既知の標準物質を被検体に並置
し、標準物質のＣＴｆ直の変化分でもって被検体のＣＴ
値を補正するもので、いわばＣＴ値全全体感度調整をし
ていることになる。従って、二相流のボイド率の計測で
問題にしている局所的な補正には適用が困難である。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、ボイド率を正確に測定できるＸ線ＣＴ
装置を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は、配管近傍のボイド率の測定値をよシ正確にす
るために、配管中に液体だけか存在する場合のＣＴ値を
求めておき、これ力・ら、二相流を対象にしたＣＴ値を
減算することによシ、ボイド率を求めることに特徴があ
る。
ここで、 α（ｉ、ｊ）：座標＜１．　ｊ＞におけるボイド率 ｆ　、　、　：管壁の影響を受けていない部分の水の線
吸収係数 ｆ、：管壁の影響を受けていない部分のボイドの線吸収
係数 本発明では、変数ｆ　ｗｏに、配管の線吸収係数を含ん
だ値を用いるようにしている。この補正法によって、配
管の影響を取除くことができ、ボイド率α（ｉ、ｊ）を
正確に求められる。
〔発明の実施例〕
本発明の構成の一実施例を図に示す。同図において、Ｘ
線管１から被検体２にＸ線を照射し、透過強度を検出器
３で検出する。この場合、Ｘ線源の強度をモニタ４で検
出する。Ｘ線吸収量の計算回路５では、透過強度をモニ
タ値で正規化する。
この正規化値はＡ／Ｄ変換器６を介して、ＣＴ値計算回
路７に送られる。ＣＴ値はスイッチ１２によシ、記憶回
％Ｍ、またはＭに送られるが、当該Ｍ、には配管に液体
だけが存在する場合のＣＴ値が、記憶回路Ｍには二相流
のＣＴ値が記憶される。
補正回路９では、前記（１）式の演算を実行し、ボイド
率を求める。ボイド率の値はＤ／Ａ変換器１０を介して
、表示器１１に表示される。
〔発明の効果〕
以上説明した如く、本発明によれば、二相流ボイド率を
正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の構成の一実施例を示すブロック図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. １　、　ＣＴ　（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ　Ｔｏｍｏｇｒａｐ
    ｈｙ　）によシニ相流（ボイドと液体の混合流）におけ
    るボイド率（ボイドの体積／二相流の体＆）を測定する
    装置において、液体流だけを対象にして測定したＣＴ値
    を別途求めておき、この値から二相流を対象にして測定
    したＣＴ値を差引くことによって、ボイド率を求めるこ
    とを特徴とする二相流計測装置。
JP57221834A 1982-12-20 1982-12-20 二相流計測装置 Pending JPS59112253A (ja)

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JPS59112253A true JPS59112253A (ja) 1984-06-28

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6114550A (ja) * 1984-06-30 1986-01-22 Toshiba Corp 混在率測定装置
CN109923403A (zh) * 2016-11-01 2019-06-21 株式会社岛津制作所 放射线断层摄影装置的摄像倍率校正方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS6114550A (ja) * 1984-06-30 1986-01-22 Toshiba Corp 混在率測定装置
CN109923403A (zh) * 2016-11-01 2019-06-21 株式会社岛津制作所 放射线断层摄影装置的摄像倍率校正方法
CN109923403B (zh) * 2016-11-01 2022-01-04 株式会社岛津制作所 放射线断层摄影装置的摄像倍率校正方法

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