JPS59117873A - 自動自己診断電気光学イメジング・システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は電気光学イメージング装置に関し、特に自己
診断テスト（検査）を自動的に遂行する電気光学イメー
ジング・システムに関スル。

この出願は″自動光制御システム”　（Ａｕｔｏｍａｔ
ｉｃＬｉｇｈｔ　Ｃｏｎｔｒｏｌ　Ｓｙｉ’ｔｅｍ）と
称し、同一出願人が１９８２年１０月１５日に出願した
米国特許出願第４３５．０１４号に記載の要旨を含む。

捷ず、先行技術について述べる。電子技術の現状による
と、厖大且つ限シなく発展する進歩及び開発により、そ
れによって生じた新しい電子装置の複雑性が非常に急速
ないきおいで増加している。

これら進んだ電子装置の複雑性の増加に関連して、かか
る複雑な電子装置の客先サービスについても色々な問題
が発生しておシ、それらの装置に対する補修コストも急
激に増加してきた。そしてそれら複雑な電子装置を取扱
うに適した訓練を行った技術者の数が装置の急増におい
つかなくなってきた。その結果、装置のダウン・タイム
（中断時間）もそのような装置を持つ顧客について増加
してきた。その上、技術者は屡々そのような装置の故障
を誤って分析し、良い方の電子回路ボードを試験し修理
するだめにパ疑わしい″ボードとして関係する補給所に
返送してくるような結果を招いている。それにも増して
、時たまおきるような間欠的故障（時として現われ、ど
うにかして消えるようになる故障）は屡々技術者には発
見しにくいものである。

そのような装置自体のコストと同様その後のメンテナン
ス（補修）コストにも増して装置のダウン・タイム１ｒ
！、、その装置が稼働していないときでもオにレークに
対する支払いは続けなければならないから、それらのコ
ストも業務遂行のために必要な顧客のコストに加えられ
てし甘うことになる。

しかるが故に、顧客は業務遂行コストを最少に維持する
だめに、装置の診断及び修理をできる限り早急に行わせ
るということが重要となってきた。

電子光学イメージング（ｉｍａｇｉｎｇ−物体を撮像乃
至撮影すること）の特定の電子技術において、そのよう
々イメージング装置の動作を制御するだめの多くの種々
異なる型の装置及びシステムが提案されてきた。例えば
、受光したテレビジョン像の部分が希望する照明レベル
を越えたときはいつでもモニタに可視警報を発生しく米
国特許第３．６７６．５８７号）、露光時間又は集光時
間（ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ　ｔｉｍｅ）を制御しく米
国特許第３，７１７，０７７号、第：う、７４１，０８
８号、第３．９４．４□８１６号、第４，１７４，５２
８号、第４，１７６．９５５号、第４．２０２，０１４
号）、絞シを調節しく米国特許第４、０５０．　ｌ）　
８５号及び第４，３３０，１６７号）、背景及びコント
ラストを制御しく米国特許第３．９５２．１４４号）、
テレビジョン・カメラを調節しく米国特許第４，２４９
，１９７号）、利得を制御しく米国特許第４，２８７，
５３６号）、光の強度変化のために修正する（米国特許
第３，３７９，８２６号及び第４，１３３，００８号）
ために夫々多くの典型的な模範的先行技術の光学イメー
ジング装置及びシステムが提案されてきた。

しかし、すべての上記装置及びシステムは基本的には電
気光学イメージヤ（撮像装置−ｉｍａｇｅｒ　）の種々
の動作を制御する面に向けられている。それら装置及び
システムは装置が自己診断を行い、装置自体の故障又は
悪化状態のいずれかの表示を第４レータに与えるように
した装置を教示もしていないし、提案さえもしていない
。事実、出願人はそのような自己診断動作を行う電気光
学イメージング装置の先行技術を知らな因。

次に、この発明を要約する。１ず、簡潔にいうと、この
発明はそれ自体自己診断テスト（検査）を動的に行う電
気光学イメージング・システムを提供する。

この発明の好ましい実施例において、電源は診断プロセ
ッサの第１の動作モード中光源が基私背景を照明するの
を防止し、該プロセッサの第２の動作モード中では光源
が基準背景の照明を可能にするように診断プロセッサに
よって制御される。

ホトセンサ手段は第１及び第２の動作モード中に基準背
景から受光した反射光の強さに夫々比例した第１及び第
２のアナログ信号を順次的に発生する。ビデオ処理手段
は′キの第１及び第２のアナログ信号に応答して夫々第
１及び第２のデータ信号を順次的に発生する。第１の手
段は第１及び第２のアナログ信号に応答して第１及び第
２のアナログ信号の夫々の部分の平均値に比例して夫々
第１及び第２のテスト信号を順次的に発生する。第２の
手段は第１及び第２のデータ信号に応答して第１及び第
２のデータ信号の所定部分を夫々表わす第３及び第４の
テスト信号を順次的に発生する。

診断プロセッサは第１、第２、第３及び第４のテスト信
号に選択的に応答して前記第１及び第２の動作モードの
各々中にホトセンサ手段及びビデオ処理手段各々の動作
を自動的にテストする。

従って、この発明の目的はそれ自体で自己診断テストを
自動的に実行する新規な電気光学イメージング・システ
ム及びその方法を提供することである。

この発明の他の目的はそれ自体で自己診断を自動的に実
行する新規な単一チャンネルの電気光学イメージング・
システム及びその方法を提供することである。

との発明の他の目的はそれ自体で自己診断を自動的に実
行する新規な多重チャンネルの電気光学イメージング・
システム及びその方法を提供することである。

更に、この発明の目的は発温１及び第２の動作モード中
にそのホトセンサ手段及びビデオ処理手段の動作を自動
的に自己診断するだめの新規な電気光学イメージング・
システム及びその方法を提供することである。

次に、この発明自体と同様に上記のこの発明の目的及び
他の目的、特徴及び利点などを添付図面にもとづいて詳
細に説明することによってそれらを明らかにするであろ
う。図面中、同一引用番号は複数の図を通して同−又は
対応する部分を表示するものとする。

次に、第１Ａ図及び第１Ｂ図から成り、この発明の好捷
しい実施例のブロック図を開示する第１図を参照してそ
の好ましい実施例の説明に入る。

特に、この実施例は移動物体からの情報を走査するだめ
のビデオ・カメラの使用環境又は応用について表わすも
のとする。下記に説明するように、この実施例はシステ
ムが最初ターン・オンしたときにシステムの第１及び第
２の動作モードの各々中に第１図に表わすシステムの選
ばれた部分を自動的に自己診断するだめの手段を表わす
と共に、物体が走査されていないときの第２の動作モー
ド中連続して行われる各物体の走査の合間にお−てその
後にひき続き自動的にテストを達成することができるよ
うにしである。

物体の通常のイメージング（ｉｍａｇｉｎｇ−撮像乃至
撮影すること）においては次のような動作が行われる。

すなわち、好ましくは白色の基準物体又は基準背景１１
が回転ドラム１３に数句けられるか、又は移動トラック
又は移動コンベヤ・ラインの近くか或は隣シ合わせて取
付けられる。物体がない場合には、その基準背景１１が
適当な光源又はランプ１５からの光のような放射エネル
ギによって照射される。この基準背景１１は物体をイメ
ージングするために光源１５から利用可能な最高又は１
００係の光強度レベルを設定し、その維持を助けるだめ
のコントラストを得るためにこの発明のシステムにおい
て使用されるものである。

イメージングされるべき物体又は書類１７は固定のもの
であってもよく、又は基準背景１１とレンズ・アセンブ
リ１９との間の通路に沿って移動トラック、移動コンベ
ヤ・ライン或は回転ドラム１３のような移動体によって
転送されているものでもよい。物体１７は基準背景１１
を横切って移動しているときに光源１５によって照明さ
れる。

物体１７から反射した反射光像はレンズ・アセンブリ１
９によってイメージング・センサ２１の面に集光される
。

イメージング・センサ２１はそこに入射した反射光、例
えば光学イメージ或は光像の受光した反射光の明るさに
比例しだビデオ信号或はアナログ電圧若しくは電流信号
に変換することができるような光感知装置であればどの
ようなものでもよい。

例えば、イメージング・センサ２１はホトダイオードの
アレイ、ホトセンサ、ピッコン・チューブ、ホトアレイ
、蓄積管、ストレージ・オッシロスコープ・タイプ・チ
ーーブ、電荷結合装置（ＣＣＤ　）又はそのアレイ又は
同様なもののいずれで構成するようにしてもよい。

固定物体が撮像或は撮影（ｉｍａｇｅ　）されるべき場
合には、イメージング・センサ２１は例ｔ　ハ、デコー
ダ又はシフト・レジスタによって二次元座標にアドレス
されて各個々の素子が選択されその（蓄積）電荷を読出
すようにしたホトセ、ンサの７１、　ＩＪワックスら成
る面積形センサであるのが望ましｂｏ 移動物体が撮像或は撮影されるべき場合には、イメージ
ング・センサ２１は単一のラインを感知する光感知装置
でよい。そのような直線センサは単一のセンサ行で構成
され、それは回転鏡のような機械的スキャナを使用する
ことによシ、又はイメージング・センサ２１の前を通る
か、或は横切るように走査されるべき物体を移動するこ
とによって二次元の感知装置として使用することができ
る。実際には、それは電気的或は機械的に非常に速く移
動してライン走査動作を行うようにした単一センサでさ
えも使用することができる。

以下のこの発明の説明では、説明目的のだめにのみイメ
ージング・センサ２１のだめにＣＣＤを利用するものと
してこの発明の説明を行うものとする。しかし、上記の
ように、この発明はイメージング・センサ２１としてＣ
ＣＤだけを使用するものと限定されるべきではな込とい
うことを認識するべきである。第１図に示すように、書
類のような物体１７はトラック１３によってセンサ２１
の前を通過移動されるだめ、ＣＣＤセンサは以下ライン
走査装置として説明する。模範的なライン走査ＣＣＤセ
ンサ２１はモデルＣＣＤ　１３３／１４３としてＣＣＤ
イメーノング・プロダクツ・ディビジョン（フェアチャ
イルド・カメラ・アンド・インスツノ／−メント・コー
ポレーション：パロ・アルド、カリホルニア）で販売さ
れている１０２４素子リニア・イメージＣＣＤである。

それはホトセンサ・チップから情報を取出すだめに２つ
のクロック信号を使用する内部クロック・ドライバを持
つ。上記のフェアチャイルド・モデル１３３／１４３は
内部点及び白基準を持ち、単一電源で動作する。ＣＣＤ
センサ２１は２つの出力ライン又はチャンネル（チャン
ネルＡ　＝　ＣＨ，Ａ及びチャンネルＢ　＝　ＣＨ，Ｂ
　）を持つ。その出力チャンネルＡ及びＢの各々は互い
に他の出力チャンネルの対応するセル或は素子からの時
間と異なる時間にそのＣＣＤの異なる光感知素子或はセ
ルからの出力を有する。例えば、チャンネルＡは奇数番
号の光感知素子のすべての出力を表示し、チャンネルＢ
はそのＣＯＤの偶数番号の光感知素子のすべての出力を
表わす。これらチャンネルの各各は物体の図形像の約半
分を表わすビデオ信号を含むので、それらチャンネルＡ
及びＢからのビデオ信号は後でデマルチプレクサ（図示
していない）を使用して結合することによって完全々像
を得ることが必要である。この発明部分を構成しないＣ
ＣＤ組合わせ技術は米国特許第３，９１１，４６７号に
詳細に記載しである。

タイミング及び制御回路２３からのクロックＰ及びＰ８
はＣＣＤセンサ２１がそのＡ及びＢチャンネルに有する
光感知素子からの交互にくる２つのシーケンスの絵を構
成する要素（ｐｉｃｔｕｒｅｅｌｅｍｅｎｔ−ピクセル
＝　ｐｉｘｅｌ　）の値（ピクセル値）を選択的に発生
することができるようにし、である。

該ピクセル値は撮影されている物体エフの半分を表わし
、ビデオ信号を形成する各ピクセル・シーケンスの合成
値である。次に、第２図及び第３図を参照してタイミン
グ及び制御回路２３の構造及び動作を説明する。

第２図において、クロック発生器２５は約１１メガヘル
ツ（１１ＭＨｚ　）の周波数を持つ基本クロックを発生
する。クロック発生器２５がらの基本クロックは２分周
カウント・ダウン（÷２）回路２６によってＣＭＰクロ
ック（後述する）を発生するようにカウント・ダウンさ
れる。クロック発生器２５からのそれら基本クロックは
３分周カウント・ダウン（÷３）回路２７によってカウ
ント・ダウンされ、インバータ２９で論理的に反転され
て、クロックＰ、を発生する元になる転送（ｔｒａｎｓ
ｐｏｒｔ　）クロック、或はピクセル・クロック・・ぐ
ルスＰＰを発生する。各クロックＰ　及びＰ、は約２７
０ナノ秒のパルス間間隔を有する。転送りロックＰ　は
ＣＣＤセンサ２１の１０２４セルがらのビデオ・データ
の読出速度をピクセル当り約２７０ナノ秒の割合又は速
度に制御する。

各転送りロックＰの先端又はリーディング・工ツノは同
期バイナリ・ピクセル・カウンタ３１を１だけ増力Ｈす
る。カウンタ３１の５１２，５１３及び１０２３の各カ
ウントはカウンタ３１にょって順次的に内部でデコード
される。カウンタ３１が５１２のカウントに達したとき
に、それは゛１″状態のカウント・ノｅルスｃ５１２を
発生してアンド・ゲート３３が、２図及び第３図に表わ
すように、次にきた正のパルスＰｐを通過して、信号ラ
ッチ・パルスＬ５１２を出力できるようにする。カウン
タ３１が５１３のカウントに達しだときに、それはＩｔ
　Ｉ　ＩＩ状態のカラントリぐルスｃ５１３を発生して
、第２図及び第３図に表わすように、アンド・ケ゛−ト
３５が次にきた正のパルスＬを通過して、信号ラッチ・
パルスＬ５１３を出力できるようにする。

カウンタ３１が１０２３のカウント（バイナリ・カラン
）　１１１１１１１１１１　）に達したときに、それは
″１″′状態のカウント・パルスｃ１ｏ２３　　を供給
して、アンド・ゲート３７がクロックＦＰの次の正波形
を転送又は走査の終シクロツク・パルスＰｓとして通過
させることができるようにする。転送りロックＰ８は又
論理的にインバータ３９で反転されて信号Ｐ、を発生す
る。カウント・パルスｃ＋ｏ２３　ｋ’ｊ：、又カウン
タ３１のリセット入力（Ｒ）にも供給される。このｔｔ
　１”状態カウント・パルスＣはカウンタａ２３ ３１が次の転送りロックＰ、の立上シ端においてその出
力カウントを′０″に同期リセットすることができるよ
うにする。故に、センサ２１による各ラインの走査中、
カウンタ３１は合計１０２４の異なるカウントを発生す
る。転送りロックＰ８の・ぐシス間間隔又は走査間隔は
約２８５マイクロ秒である。

転送りロックＰ、は各１ライン走査の終りで発生し、セ
ンサ２１のインテグレーション（ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏ
ｎ−蓄積）時間を制御する。このいわゆるＣＣＤセンサ
２１のインテグレーション時間は従来のカメラの露光時
間に類似する。

次に、第４図について説明する。そこには種々の波形が
例示されておシ、それはタイミング及び制御回路２３の
制御にもとづくＣＣＤセンサ２１の動作の明確な説明の
助けとなる。波形４１はレンズ・アセンブリ１９によっ
てＣＣＤセンサ２１の面に集光される反射光データを例
示する。点線４２Ａ及び４２Ｂは夫々ＣＣＤセンサ２１
が受光しうる６４レベルのグレー（ｇｒａｙ−真白乃至
真黒間の色）レベルのうちの２つの最端の光信号（最内
の白と真黒の黒）を表わす。センサ２１のチャンネルＡ
及びＢは夫々各ラインの走査を通して奇数及び偶数のピ
クセルを発生するということを思い出すべきである。従
って、センサ２１のチャンネルＡ及びＢはセンサ２１の
各直線走査（１ｉｎｅａｒ　５ｃａｎ　）における１０
２４カウンタのカウント中に、カウンタ３１のカウント
０乃至１０２３間で夫々奇数番号ピクセル・シーケンス
と偶数番号ピクセル・シーケンスとを発生せる。チャン
ネルＡ及びＢの出力は夫々波形４３及び４５に表わす。

波形４３及び４５のこれら出力は、例えば０ポル）　（
ＯＶ）から負１ポル）（−１Ｖ）までの範囲で振幅が変
化するように表わしである。

波形４１．４３及び４５で例示するデータの光軸は点線
４７で表わす。ピクセル５１２及び５１３（第４図には
表わしてい々い）はこの光軸４７の隣接する両側に発生
し、カウンタ３１のカウント５１２及び５１３中に夫々
チャンネルＡ及びＢに発生する。

第１図に戻シ、各ビデオ出力信号のシーケンスは七ン茗
。２１がそのライン走査動作を行ったときに、夫々セン
サ２１の出力チャンネルＡ及びＢから発生する。センサ
２１かものチャンネルＢのビデオ信号はビデオ・プロセ
ッサ５１Ｂで処理されてチャンネルＢのだめのカメラ・
データを発生する。ビデオ・プロセッサ５１Ｂは、例え
ば、ビデオ増幅回路又は利得、オフセット及びデジタル
化回路（図示していない）のよう々、どのような希望す
るビデオ処理回路を含むようなものでよい。

ビデオ・プロセッサ５１Ｂに使用される特定の型の処理
回路はこの装置の使用著の動作要求にのみ従うものであ
シ、この発明の部分を形成するものではない。

タイミング及び制御回路２３（第２図にもある）からの
ノξルスＣ５１２はアナログ−ディジタル変換器（ＡＤ
Ｃ）　５３　Ｂを可能化してプロセッサ５１Ｂからのチ
ャンネルＢカメラ・データの第５１２番目のピクセルを
ディジタル化する。ディジタル化しだピクセル５１２は
そのＡＤＣ５３ＢからチャンネルＢのセンタ・ピクセル
・ラッチ５５Ｂの入力に供給される。前述したように、
ピクセル５１２はチャンネルＢの中央又はセンタ・ピク
セルである。

センサ２１の各光感知素子又はセルは６４の異なるグレ
ー・レベルのいずれか１つを光学的に感知することがで
きるから、上記のディジタル化されたセンタ・ピクセル
５１２は６ビツト幅でピクセル５１２の振幅情報を保有
する。ＡＤＣ５３Ｂの出力（ディジタル化したピクセル
５１２）が安定した後に発生したラッチ・パルスＬ５１
゜はラッチ５５Ｂカテイジタル化センタ・ピクセル５１
２を記憶シてそのピクセルを診断プロセッサ５７に供給
できるようにする。

ＣＣＤセンサ２１からのチャンネルＢビデオイ言号は、
又インテグレータ５９Ｂによって継続的に集積されて、
各１ラインの走査中にセンサ２１のチャンネルＢによっ
て受光された反射光の平均量に比例しだアナログ情報信
号を発生する。転送りロックＰ８はアナログ−ディジタ
ル変換器（ＡＤＣ）　６１Ｂが上記のアナログ情報信号
を並列形式の８ビット幅の信号に変換することができる
よ５にする。信号Ｆ、の立上り端はラッチ６３ＢがＡＤ
Ｃ６１Ｂからの上記デイノタル化情報信号を記憶してそ
の信号を診断プロセッサ５７に供給することができるよ
うにする。

ラッチ５５Ｂ及び６３Ｂの各々は夫々複数のＤ型フリッ
プ・フロップから成り、それらは夫々そこに供給された
並列形式のディノタル信号に含１れている各ピットを並
列に受信することができる。

イメージング・センサ２１のチャンネルＡビデオ出力を
選択的に利用する各回路５１Ａ、５３Ａ。

５５Ａ、５９Ａ、６１Ａ及び６３Ａはセンサ２１のチャ
ンネルＢビデオ出力を選択的に利用する各回路５１Ｂ、
５３Ｂ、５５Ｂ、５９Ｂ、６１Ｂ及び６３Ｂに構造及び
動作の両方で夫々類似する。

特殊な動作的差異のみを下達する。

センサ２１からのチャンネルＡビデオ信号はビデオ・プ
ロセッサ５１Ａによって処理され、チャンイ・ルＡのだ
めのカメラ・データを発、生する。タイミング及び制御
回路２３からのノ４ルスＣ５１３はＡＤＣ５３Ａがプロ
セッサ５’ＬＡからのチャンネルＡカメラ・データの第
５１３番ピクセルをディジタル化できるようにする。ピ
クセル５１３はＡチャンネルの中央又はセンタ・ビクセ
ルである。このディジタル化センタ・ビクセル５１３は
６ビツト幅である。ラッチ・パルス５１３はチャンネル
Ａのセンタ・ピクセル・ラッチ５５ＡがＡＤＣ５３Ａか
らのディジタル化センタ・げクセル５１３を記憶して、
そのビクセルを診断プロセラ？５７に供給することがで
きるようにする。

センサ２１からのチャンネルＡビデオ信号はインテグレ
ータ５９Ａにおいても継続的に集積され、各１ラインの
走査中にセンサ２１のチャンネルＡが受光した反射光の
平均量に比例しだアナログ情報信号を発生する。転送り
ロックＰＳはＡＤＣ６１Ａがこのアナログ情報信号を並
列形式の８ピット幅信号に変換することができるように
する。信号虱の立上り端はラッチ６３ＡがＡＤＣ６１Ａ
からのディジタル化情報信号を記憶してその信号を診断
プロセッサ５７に供給することができるようにする。

この時点において、ビデオ・プロセッサ５１Ａ及び５１
Ｂからのカメラ・データと同様、信号ＰＰ・ｐｐ・Ｐ８
及び百８などを含むタイミング及び制御回路２３からの
カメラ制御信号は更に他のビデオ処理回路（図示してい
ない）において利用することができるということに注意
するべきである。

そのようなこれらデータ及びそれら制御信号のその他の
利用はこの発明の範囲ではないので、これ以」二の説明
はしない。

順次的に撮影される異なる物体の反射特性は物体によっ
て異なるため、物体１７が撮影されているときには、自
己診断テストは第１図のシステムによって正しく且つ反
覆的に行うことはできない。

それ故、前述したように、第１図のシステムは電源が該
システムに最初に供給された後の該システムの第１の動
作モード中、及びその後における物体１７がイメ・−ノ
ング・センサ２１で走査されてめないとき（又は連続し
てくる物体の走査の合間のとき）の該システムの第２の
動作モード中にこの装置自体の“選ばれた部分″を自動
的に自己診断を行う。

このシステムの上記選ばれた部分″は、例えば、イメー
ジング・センサ２１のＡ及びＢチャンネルとビデオ・プ
ロセッサ５１Ａ及び５１Ｂを含む。更に詳しく述べると
、診断プロセッサ５７は夫々のラッチ６３Ｂ及び６３Ａ
かもそこに供給されたチャンネルＢ及びチャンネルＡ平
均電圧を選択的にテストすることによってイメージング
・センサ２１の動作をテストし、夫々のラッチ５５Ｂ及
び５５Ａかもそこに供給されたチャンネルＢ及びチャン
ネルＡのセンタ・ピクセル５１２及び５１３を選択的に
テストすることによってビデオプロセッサ５１Ｂ及び５
１Ａの動作をテストする。

診断プロセッサ５７の特殊な動作は詳細に後述する。

その動作中に、診断プロセッサ５７は一次電源リレー６
５の動作を制御するだめの制御信号を該リレーに供給し
て、その制御信号の振幅の作用によシ、電源６７に対し
て一次電圧（図示してｂない）を供給するかしないかを
制御する。電源６７がそのように制御されたときには、
光源又はランデ１５はターン・オン又はターン・オフさ
れる。

それに代りうる構成としては、リレー６５を省略し、制
御信号が診断プロセッサ５７から直接電源６７に供給さ
れるか、又は第４Ａ図に表わすようなディジタル−アナ
ログ変換器（ＤＡＣ）　６８を介して電源６７に供給さ
れ、電源６７がその制御信号の振幅の作用として光源１
５に電力を供給するかしないかを行うよう制御するよう
になすこともできる。どちらの場合にも、光源１５は制
御信号の振幅信号の振幅の作用によってターン・オフさ
れるか、ターン・オンされる。

第１の動作モード中、その制御信号はリレー６５を付勢
するためには不充分な振幅を持つ（制御信号が直接電源
６７に供給されるようにした場合には電源６７をターン
・オンするには不充分な振幅を持つ）。その結果、電源
６７は光源１５に電力を供給せず、光源１５は゛オフ″
である。光源が°゛オフ″おいて、センサ２１は照明さ
れていない基準背景１１を走査する（第１の動作モード
中、物体１７がトラック１３に存在しないので）。

第１の動作モードの終了後、第２の動作モードが始まる
。第２の動作モード中、制御信号はリレー６５を付勢す
るに充分々振幅を持つ（又は、制御信号が直接電源６７
に供給されるか、又はＤＡＣ６８を介して電源６７に供
給されるようにした場合には、電源６７をターン・オン
するに充分々振幅を持つ）。故に、電源６７は光源１５
にそれをターン・オンするだめの電力を供給する。セン
サ２】は照明されている基準背景１１を走査する（第２
の動作モードの初期においては、トラック１３には物体
１７が存在しないので）。

第１及び第２の動作モードの各々を通して第１図のシス
テムは以上説明した同じ方法によってセンサ２１のチャ
ンネルＡ及びチャンネルＢの出力を処理する。

第５図は一組の模範的な基準電圧ｖｌ乃至ｖ２を例示し
、それに対して診断プロセッサ５７は、例えば、第１及
び第２の動作モードの各々中に各チャンネルＡ及びＢの
平均電圧を比較するようになすことができる。基準電圧
ｖｌ乃至ｖ６はランプ１５がパオフ″（第１の動作モー
ド）のトキニは夫々最小の理想的且つ許容平均値を表わ
し、ランプ１５が゛オシ″であシ、トラック１３に物体
１７が存在しないとき（第２の動作モード）には、許容
可能且つ理想的な最大平均値を表わすようになすことが
できる。第１の動作モード中、チャンネルＡ及びＢの各
平均電圧は電圧■１乃至ｖ３と選択的に比較される。同
様にして、第２の動作モード中は、チャンネルＡ及びＢ
の各平均電圧は電圧’ｖ４乃至ｖ６と選択的に比較され
る。第５図に表わすものと同様な一組の基準電圧が第１
及び第２の各動作モードを通してチャンネルＡ及びＢの
各センタ・ピクセルとの比較のために診断プロセッサ５
７で利用される。

テストされている信号の振幅（平均電圧又はピクセル値
）が第１の動作モード中にＶｉ及び７２間の範囲に入る
（か又は第２の動作モード中にｖ５及び７６間の範囲に
入る）場合には、このシステムの関係する゛選ばれた部
分″（センサ２１のチャンネルＡ又はチャンネルＢ１又
はビデオ・プロセッサ５１Ａ及び５１Ｂの１つ）の動作
は良好又は”　ＯＫ　”である。

又、テストされてｂる信号の振幅が第１の動作モード中
に■２及び７３間の範囲に入る（か又は第２の動作モー
ド中にｖ４及び７５間の範囲に入る）場合には、診断プ
ロセッサ５７はトラブル・モニタ装置６９に゛警報″信
号を送シ、装置６９にそのシステムの関係する″選ばれ
た部分″に修正されるべき問題が発生したことを警報す
る可視又は可聴警報を発生させる。このシステムはその
ような警報表示の場合にはまだ動作可能であるが、その
表示された問題（又はトラブル）はシステムが故障する
前に技術者によって修理されるべきである。

最後に、テストされている信号の振幅が第１の動作モー
ド中にｖ３を越える（か又は第２の動作モード中にｖ４
よシ小さい）場合には、診断プロセッサ５７はシステム
の動作を停止してトラブノいモニタ装置６９に゛′故故
障倍信号送シ、その故障の存在及びその故障のおこりう
る原因を表示させる。故障が一旦検出されると、診断プ
ロセッサ５７はその他のテストを実行することはできな
い。

技術者はそのシステムの動作を復帰させる前にその故障
の原因を修理しなければならない。

センサ２１のＡ及びＢチャンネル及びプロセッサ５１Ａ
及び５１Ｂのための’　ＯＫ　”、゛警報″及び゛故障
″信号とその警報又は故障に関連するおこりうる原因な
どに対応する説明信号は診断プロセッサ５７からトラブ
ル・モニタ装置６９に選択的に供給される診断出力信号
（ＤＯ８）を構成する。

診断プロセッサ５７が第２の動作モードに入ると、プロ
セッサ５７はこの第２動作モードにおいてイメージング
・センサ２１のＡ及びＢチャンネルとビデオ・プロセッ
サ５１Ａ及び５１Ｂの動作を反覆テストし続ける。しか
し、この第２の動作モードはセンサ２１によって撮影さ
れるべき物体１７がトラック１３に検出されたときごと
に一時的に中断されることがある。更に詳細に述べると
、撮影されるべき物体１７がトラック或はコンベヤ・ラ
イン１３を基準背景１１の方に下っていくと、捷ず基準
背景１１の上流のトラック或はコンベヤ・ライン１３の
夫々両側に置かれている発光ダイオード（ＬＥＤ　）　
７１とセンサ７３との間を通過する。

それら素子７１と７３との間を物体１７が通過すると、
ＬＥＤ　７１とセンサ７３との間の光路は遮断され、そ
のセンサ７３から゛物体存在″信号を発生してそれを診
断プロセッサ５７に送信する。この゛物体存在″′信号
は診断プロセッサ５７がラッチ６３Ａ　、６３Ｂ　ｊ５
５Ａ及び５５Ｂからのテスト信号のすべての利用を禁止
し、又はトラブル・モニタ装置６９への診断出力信号（
ＤＯ８）のすべての送信を禁止する。

撮影された物体１７が基準背景１１から離れるように十
分トラック１３を下流に移動すると、夫夫基準背景１１
の下流のトラック１３０両側に置かれているＬＥＤ　７
５とセンサ７７　（ＬＥＤ　７１及びセンサ７３と同様
な）との間を通過する。素子７５と７７との間を物体１
７が通過すると、センサ７７は”物体不存在′″信号発
生して診断プロセッサ５７にその信号を送信する。この
゛°物物体不存在倍信号プロセッサ５７がラッチ６３Ａ
。

６３１３．５５Ａ及び５５Ｂからのテスト信号を利用す
るととができるようにし、トラブル・モニタ装置６９に
対して新だな”　ＤＯ８”信号を送信可能にする。

次に、第６図を参照して診断プロセッサ５７を詳細に説
明する。

第６図に見られるように、診断プロセッサ５７はＲＳフ
リッゾ・フロップ８３、入力／出カニニット８５、マイ
クロプロセッサ８７、ランダム・アクセス・メモリー（
ＲＡＭ　）　８９及び読出専用メモＩＪ−（ＲＯＭ　）
　９１等を含んで構成される。

構造的に、入力／出カニニット８５はインテル社（サン
タ・クララ・カリホルニア）製の２つの８２５５人力／
出力回路で実現され、マイクロプロセッサ８７はインテ
ル８０８５　　Ａ−２マイクロプロセツサで実現され、
　ＲＯＭ　９１はインテル２７１６　ＥＦＲＯＭでよく
、ＲＡＭ　８９はヨシパ・アメリカ社（アービン・カリ
ホルニア）製のＴＭＭ　２０１６ＲＡＭを使用すること
ができる。

ＲＡＭ　８９は一時的なメモリー場所にデータを一時的
に記憶することに使用されるスクラッチ・パッド（５ｃ
ｒａｔｃｈ　ｐａｄ　）メモリーである。ＲＯＭ　９１
はマイクロプロセッサ８７と入力／出カニニット８５、
ＲＡＭ　８９及びＲＯＭ　９１とを相互に接続するアド
レス・ライン、データ・ライン及び制御ラインなどを使
用してマイクロプロセッサ８７が実行するソフトウェア
・プログラムを記憶する。

マイクロプロセッサ８７は、プログラム・カウンタを含
むと共に構造及び動作がタイミング及び制御回路２３と
類似するタイミング制御回路を含む。このタイミング制
御回路はアドレス信号及びタイミング信号を供給するだ
めのクロックＣＭＰに応答して、第７Ａ図乃至第７Ｈ図
の流れ図に示した動作に従い、診断プロセッサ５７の他
の回路成分の動作を制御する。マイクロプロセッサ８７
は、又入力／出カニニット８５、ＲＡＭ　８９及びＲＯ
Ｍ９１から受信したデータについて第７Ａ図乃至第７Ｈ
図の動作を実行するための算術論理ユニット（図示して
いない）を含む。

チャンネルＢのセンタ・ビクセル５１２、チャンネルＡ
のセンタ・ピクセル５１３、チャンネルＡ平均及びチャ
ンネルＢ平均テスト信号は入力／出力ユニ、ト８５を通
してＲＡＭ　８９の夫々関連する記憶場所に記憶するだ
めにラッチ５５　Ｂ　、　５５Ａ。

６３Ａ及び６３Ｂから選択的に供給される。その上、診
断出力信号（ＤＯ８）は入力／出カニニット８５を通し
てトラブル・モニタ装置６９に供給される。フリップ・
フロップ８３の゛０″出力はパ制御ライン″を介し、入
力／出カニニット８５を通してマイクロプロセッサ８７
に接続される信号゛ステータス″′を発生する。この信
号パステータス″の論理状態がマイクロプロセッサ８７
のテスト動作を可能化するか、ディセーブルするように
作用する。

センサ７３からの信号パ物体存在″がフリップ・フロッ
プ８３をセットし、状態゛１”の１′ステ一タス″信号
を発生してマイクロプロセッサ８７にそのテスト動作を
停止させ、状態ＩＩ　Ｏ７１の゛ステークス″信号を待
つようにさせる。他方、センサ７７からの信号゛物体不
存在″はフリップ・フロップ８３をリセットして状態Ｉ
ｔ　ＯＩＩの゛ステータス′″信号を発生させ、マイク
ロプロセッサ８７のテスト動作を実行可能にする。

この時点において指摘しなければならないことは、もし
このシステムが移動物体からの情報を走査するだめに使
用され、マイクロプロセッサ８７或は外部の回路（図示
してぃな−）がトラック１３の既知速度に基づいて一定
時間後に゛′物物体不存在倍信号発生するようにした場
合には、ＬＥＤ７５及びセンサ７７は必要な旨かもしれ
ない。その場合、マイクロプロセッサ８７又は上記の外
部回路は移動物体の尾端がＬＥＤ　７１及びセンサ７３
を通過してから所定の時間後に自動的に信号″物体不存
在”を発生するであろう。従って、例えば、マイクロプ
ロセッサ８７は、信号゛′ステデース″の論理状態をサ
ンプルする。もし、この信号″ステータス″′が論理状
態″Ｉ　ＩＩであれば、マイクロプロセッサ８７は論理
ＩＸ　０７７状態に変化するまで待つことになる。又、
マイクロプロセッサ８７の中にタイマ（図示していない
）を含めるようにすることができ、それによって待ルー
プ状態を制限することができる方法を採用したような場
合は、その待時間が物体の正常な通過時間（上記のタイ
マによる）を越したときは、マイクロプロセッサ８７が
エラー状態をフラグ（ｆｌａｇ）して（エラー状態の表
示をする）、例えば、トラックのジャム（ｊａｍ）状態
を表示させるようにする。

第１の動作モードは電力が最初にこのシステムに供給さ
れたときに診断プロセッサ５７によって始められる。こ
のとき、例えば、′・ぐワー・オフ″スイッチ（図示し
てい々−）で信号パ・ヤワー・オン”が発生して、マイ
クロプロセッサ８７　、ＲＡＭ８９　、　ＲＯＭ　９１
及び入力／出カニニット８５をリセットする。リセット
されると同時にマイクロプロセッサ８７のプログラム・
カウンタはＲＯＭ　９１のアドレスを開始して、ＲＯＭ
に記憶されているソフトウェア・プログラムのどの工程
を順次的に遂行するかを制御する。診断プロセッサ５７
の動作は第１図の回路に関する第７Ａ図乃至第７Ｈ図に
表わす流れ図に従って次に説明するであろう。

第７Ａ図に表わすように、゛・ぐワー・オン″信号がマ
イクロプロセッサ８７によるＲＯＭ　９１からの読出を
開始するような自己診断プログラムの遂行の開始を可能
にする。低い振幅の制御信号はマイクロゾロセ、す８７
からの制御ラインを介し、入力／出カニニット８５及び
ゲート回路８１を通して一次電源リレー６５に供給され
る。この制御信号は振幅が低いため、リレー６５は付勢
せず、−次電力は電源６７に供給されない。その結果、
光源又はランプ１５は゛オフ″のままに維持される。故
に、イメージング・センサ２１は照明されて−ない基準
背景１１を走査してその出力チャンネルＡ及びＢに黒或
は暗電圧出力を発生する。回路５１Ａ、５３Ａ、５５Ａ
、５１Ｂ、５３Ｂ。

５５Ｂ、５９Ａ、６１Ａ、６３Ａ、５９Ｂ、６１Ｂ及び
６３Ｂは前述したようにイメージ・センサ２１からのこ
の暗或は黒電圧を選択的に処理してこの第１の動作モー
ド中、チャンネルＡ及びチャンネルＢセンタ・ピクセル
信号及び平均電圧テスト信号を診断プロセッサ５７に供
給する。

゛ハワー・オン″信号を初期的に発生した後、ランプ１
５及びランプ電源６７を゛オフ″状態に安定させること
ができるようにするために適当な遅延時間が設けられる
。もし、イメージング・センサ２１の前て物体が存在し
なければ、１走査に対スるチャンネルＡ及びＢのセンタ
・ピクセルの値が読取られ、夫々ＲＡＭ　８９の一時記
憶場所１及び２（図示していない）に記憶される。次に
続く走査において、イメージング・センサ２１の前ニま
だ物体が存在しない場合は、チャンネルＡ及びＢのセン
タ・ピクセルの値が読取られて、この場合は夫々ＲＡＭ
　８９の一時記憶場所３及び４に記憶される。しかし、
イメージング・センサ２１の前に物体１７が存在する場
合には、物体１７か存在しなくなるまでＲＡＭ　８９へ
のデータの読取及び記憶は行われない。ＲＡＭの記憶場
所１及び２のセンタ・ピクセルは夫々ＲＡＭの記憶場所
３及び４のセンタ・ピクセルと比較される。それらが夫
々等しくない場合は、ランプ１５及び（又は）ランプ電
源６７はまだ°゛オフ″安定していなかったか、又は前
のセンタ・ピクセルをサンプルして変化中であったかで
ある。そのような場合でも連続する走査対のチャンネル
Ａ及びチャンネルＢのセンタ・ピクセル値は読取られ、
記憶されて、夫々走査対の対応するセンタ・ピクセル値
が等しくなる壕でその比較が行われる。

第７Ｂ図に表わすように、次に、連結するセンタ・ピク
セル値について行われたと同一の処理手順が連続する平
均電圧についても同様に行われる。

すなわち、１ラインの走査に対するチャンネルＡ及びＢ
のだめの平均電圧が読取られて、夫々ＲＡＭの一時記憶
場所５及び６（図示していない）に一時記憶される。次
の走査において、又チャンネルＡ及びＢの平均電圧が読
取られ、それはＲＡＭの一時記憶場所７及び８（図示し
ていない）に一時記憶される。ＲＡＭの記憶場所５及び
６の平均電圧はＲＡＭの記憶場所７及び８の平均電圧と
夫々比較される。１走査におけるチャンネルＡ及びチャ
ンネルＢの平均電圧が続いて次に行われた走査の夫々と
等しくない場合は、更に次に連続する走査対のチャンネ
ルＡ及びチャンネルＢの平均電圧が夫々読取られ、記憶
されて、走査対の対応する電圧が等しくなる１で夫々の
比較が行われる。

次に、第７Ｃ図におして、チャンネルＡ及びＢのセンタ
・ピクセル及び平均電圧テスト信号のすべての値が安定
した後、テスト信号は第５図で前述したように基準電圧
と選択的に比較される。基準電圧（すなわち、第５図の
ｖｌ乃至Ｖ６　　）はＲＯＭ　９１に記憶されているソ
フトウェア・コード（図示していない）の形式でもよく
、又は入力／出カニニット８５によってアクセスしうる
印刷回路ボード・スイッチの形のハードウェア（図示し
ていない）によって供給されるものでもよい。もし、そ
れがハードウェア基準電圧の場合、ＲＡＭ８９の夫々関
係する記憶場所に記憶されているテスト値の各々が選択
的に読出されて、マイクロプロセッサ８７の算術ユニッ
ト（図示していない）のハードウェア基準電圧との比較
を行うようにするととができる。他方、もしその基準電
圧がＲＯＭ９１に記憶されてｂるソフトウェア・コード
の形であれば、ＲＡＭ　８９の関係する記憶場所に記憶
されているテスト値とＲＯＭ　９１のソフトウェア基準
するようになすことができる。

もし、第７ｃ図に表わすように、ＲＡＭ　８９の記憶場
所５及び６から読出されたチャンネルＡ及びチャンネル
Ｂの平均電圧の各々が゛ランプ・オフ″理想的平均値（
第５図のｖ２　）よシ小さいなら、それら平均電圧はこ
の第１の動作モードについて゛′合格”　（ＯＫ　）で
あシ、診断プロセッサ５７はトラブル・モニタ装置６９
に対してこのテストに対するパＯＫ″′信号を送信し、
第７Ｄ図に表わすセンタ・ピクセル・テストに進む。し
かし、チャンネルＡ及びチャンネルＢの平均電圧のいず
れかがＶ２よシ犬であるが、それら平均電圧の各々がパ
ランテ・オフ″′許容平均電圧（Ｖ３　）よシ小であれ
ば、マイクロプロセッサ８７は°゛警報　ＤＯ８信号及
び発生しだ゛問題″（トラブル）の説明をトラブル・モ
ニタ装置６９に送信して、装置はまだ動作可能であるが
、例えば、ランデ１５がある理由又は他の理由から半分
゛オン″（暗い）であり、技術者にチェックさせるべき
であるということを表示させる。最後に、もしチャンネ
ルＡ及びチャンネルＢの平均電圧のどちらかがＶ３より
犬であれば、マイクロプロセッサ８７はシステムの動作
を停止して、゛′故障”　ＤＯ３信号及び、例えば、セ
ンサ２１のパ故障″の説明をトラブル・モニタ装置６９
に送信する。

チャンネルＡ及びチャンネルＢの平均電圧がどちらもＶ
３を越えていなければ、イメージング・センサ２１はラ
ンプ１５が″オフ”のときには壕だ動作可能であシ、マ
イクロプロセッサ８７は第７Ｄ図に表わすように次のテ
ストのだめのプログラムの遂行を開始する。

第７Ｄ図において、チャンネルＡ及びＢのセンタ・ピク
セル値がマイクロプロセッサ８７において第５図のｖｌ
乃至ｖ６に類似する一組の基準電圧と選択的に比較され
る。前述したように、これら基準電圧はハードウェアで
も、ソフトウェア・コードの形でもどちらの状態のもの
でも使用してよめ。センタ・ピクセルについて今説明し
ている場合では、第５図の値ｖｌ乃至ｖ６が使用される
。

しかし、他の異なる基準電圧の組が、平均値のだめにで
なく、センタ・ピクセル値のだめに並進に使用されうる
ということを理解するべきである。

もし、ＲＡＭ　８９の記憶場所１及び２から読出された
チャンネルＡ及びＢのセンタ・ピクセル値の各々が″ラ
ンプ・オフ″理想ピクセル値（第５図のＶ２　）より小
であれば、これらピクセル電圧はＩＩ　ＯＫ　Ｊｆｉで
あり、診断プロセッサはトラブル・モニタ装置６９にそ
のテストに対して信号”　ＯＫ　”を送シ、第７Ｅ図乃
至第７Ｈに表わされる、パ　ランプ・オフ″テストに進
む。しかし、もしチャンネルＡ及びＢのセンタ・ピクセ
ル値のどちらもがｖ２より大きいが、これらセンタ・・
ｒクセル値の各々がパランプ・オフ″許容ビクセル値（
ｖ３　）よシ小の場合は、パ警報”　ＤＯ８信号及び発
生しだ“’　間ｊＵ　”　（トラブル）の説明がマイク
ロプロセッサ８７からトラブル・モニタ装置６９に送ら
れて、装置（ｄ　ｔだ動作可能であるが、欠陥があシ、
技術者にチェックさせるべきであるということを表示す
る。最後に、チャンネルＡ及びＢのセンタ・ピクセル値
のどちらかがｖ３よシ大であれば、マイクロプロセッサ
８７はシステムの動作を停止し、例えば、ビデオ・プロ
セッサ５１Ａ及び５１Ｂの１つが゛故障″であるという
説明をトラブル・モニタ装置６９に送信する。

チャンネルＡ及びＢのセンタ・ピクセル値のどちらもが
Ｖ３を越えていなければ、イメージング・センサ２１の
Ａ及びＢチャンネルの両方及びビデオ・プロセッサ５１
Ａ及び５１Ｂの両方とも第１の動作モード中（ランプ１
５が“ターン・オフ″のとき）診断プロセッサ５７によ
ってテストされた後でもまだ動作可能である。このとき
診断プロセッサ５７は第１の動作モードを完了し制御ラ
インを通し、入力／出カニニット８５及びダート回路８
１を通して一次電力リレー６５を付勢するようマイクロ
プロセッサ８７から比較的高い振幅の制御信号を供給す
ることによって、その第２の動作モードを開始する。リ
レー６５が付勢されると同時に、電源６７に一次電力が
供給され、光源又はランプ１５を゛ターン・オン″する
。

次に、イメージング・センサ２１は照明されている基準
背景１１を走査してその出力チャンネルＡ及びＢに白又
は明電圧出力を発生する。回路５１Ａ、５３Ａ、５５Ａ
、５１Ｂ、５３Ｂ、５５Ｂ。

５９Ａ、６１Ａ、６３Ａ、５９Ｂ　、６’ｌＢ及び６３
Ｂはイメージング・プロセッサ２１からのこれら白電圧
を選択的に処理して、前述したように、この第２の動作
モード中、チャンネルＡ及びチャンネルＢのセンタ・ピ
クセル及び平均電圧テスト信号を診断プロセッサ５７に
供給する。

第７Ｅ図に表わされるように、ランプ電源６７が゛ター
ン・オン″された後、マイクロプロセッサ８７はランプ
１５及びランプ電源６７の動作が安定するのを待つため
に適当な遅延を与える。この適当な遅延の後、診断プロ
セッサ５７は第７Ｅ図及び第７Ｆ図に表わす動作につい
ては、ランプ１５が゛′ターン・オン″である（第７Ｇ
図及び第７Ｈ図においても同じ）ということを除き、第
７Ａ図及び第７Ｂ図で実行した動作シーケンスと同じ動
作シーケンスを第７Ｅ図及び第７Ｆ図においても遂行す
る。

次に、第７Ｇ図において、もしチャンネルＡ及びＢの各
平均電圧が゛′ランプ・オン″理想的平均値（第５図の
Ｖｓ　　）より大であれば、これら平均電圧はこの第２
の動作モードにおいては’　ＯＫ　”であり、診断プロ
セッサ５７はこのテストのために信号”　ＯＫ　”をト
ラブル・モニタ装置６９に送り、第７Ｈ図に表わす１′
ランプ・オフ″センタ・ピクセル・テストに進む。しか
し、チャンネルＡ及びＢのどちらかの平均電圧が■５よ
シ小であるが、とれら平均電圧の各々が″ランプ・オン
″許容平均電圧（Ｖ４　）よシ大であれば、マイクロプ
ロセッサ８７はトラブル・モニタ装置６９にパ養報”　
ＤＯ８信号及び発生しだ″問題″（トラブル）の説明を
送信して装置はまだ動作可能であるが、例えばレンズ・
アセンブリ１９の汚れ又はイメージング・センサ２１の
セルの汚れ又は欠陥などのようなある欠陥を持つという
ことを表示する。最終的に、チャンネルＡ及びＢのどち
らかの平均電圧が■４よシ小であれば、マイクロプロセ
ッサ８７はシステムの動作を停止して、゛故障”ＤＯ８
信号と、第２の動作モード中の、例えば、イメージ・セ
ンサ２１の１゛故障″の説明とをトラブル・モニタ装置
６９に送信する。

チャンネルＡ及びチャンネルＢの平均電圧どちらも■４
よシ小でなければ、イメージング・センサ２１はランプ
１５がパオン″のときはまだ動作可能であり、第７Ｈ図
に表わすようなシーケンスの最後の診断テストのための
プログラムの遂行を開始する。

第７Ｈ図において、チャンネルＡ及びＢの各センタ・ビ
クセルが１′ランプ・オン”理想的ピクセル値（Ｖ５）
より大であれば、これらセンタ・ビクセルはこの第２の
動作モードについてＩｔ　０Ｋ３１であす、診断プロセ
ッサ５７はこのテストのシーケンスを絡了し、トラブル
・モニタ装置６９に信号゛′ＯＫ″′を発送する。もし
、チャンネルＡ及びチャンネルＢどちらかのセンタ・げ
クセルが゛°ランプ・オン″理想的ピクセル値（ｖ５）
より小ではあるが、それらセンタ・ピクセルの各々がパ
ランプ・オン”許容センタ・ビクセル値（Ｖ４）よシ犬
であれば、診断プロセッサ５７はテストのシーケンスを
終了し、゛筈報′″ＤＯ３信号と、発生しり゛問題″（
トラブル）の説明とをトラブル・モニタ装置６９に送シ
、装置はまだ動作可能であるが技術者が検査するべきで
あるある欠陥を持つということを表示させる。最後に、
チャンネルＡ及びＢのどちらかのセンタ・ビクセル値が
■４よシ小の場合は、マイクロプロセッサ８７はシステ
ムの動作を停止して、゛故障”ＤＯ８信号と、この第２
の動作モード中における、例えば、ビデオ・プロセッサ
５１Ａ及び５１Ｂの１つのパ故障″の説明とをトラブル
・モニタ装置６９に送信する。

ＲＯＭ　９１に記憶されているテスト・プログラムは、
文箱２の動作モード中ラッチ５５Ａ、５５Ｂ。

６３Ａ及び６３Ｂから診断プロセッサ５７に供給される
テスト信号の連続的テストを実行することができる。診
断プロセッサ５７の第２の動作モード中におけるそのよ
う彦テスト信号の連続テストを行うだめには、第７Ｅ図
乃至第７Ｈ図に表わすような演算工程が順次的に実行さ
れ、第７Ｅ図に表わす゛ターン・オフ″工程及び゛遅延
′″工程を省略した工程が連続的に繰返えされる。前述
したように、そのような連続テストは物体１７の撮影の
合間でのみ発生する。基準背景１１とセンサ２１との間
の光路の方に移動してくる物体１７を検出すると、セン
サ７３は信号゛・物体存在″″を発生してフリップ・フ
リップ８３をセットし、その後にくる゛物体不存在″信
号がフリップ・フロップ８３をリセットするまで新たな
テスト信号がＲＡＭ８９に記憶されるのを防止する。と
のパ物体不存在″信号は物体１７が基準背景１１を通過
移動した後でセンサ７７が発生するであろうと論うこと
を思い出そう。

移動物体ではなく固定物体を撮影するべき場合の応用に
対しては、第１図の回路にある変更を行うとよい。その
場合はトラック又はコンベヤ・ライン１３　、　ＬＥＤ
　７１　、７５及びセンサ７３．７７を省略することが
できる。この場合も又、平均電圧及びピクセル・テスト
信号の自動自己診断テストは電源を最初にターン・オン
したとき、又は固定物体の撮影の合間のときに達成する
ことができる。又、物体の撮影の合間でテスト信号をチ
ェックしたい場合には、ＬＥＤ　７１及びセッサ７３゜
ＬＥＤ　７５及びセンサ７７のよう表光中断（遮断）手
段を利用してそれを一時中断してから、第２の動作モー
ドにおける前述した方法と類似する方法の連続テストに
復帰させるようになすことができる。

以上の説明から、この発明はそれ自体、自動的に自己診
断テストを行う方法及びシステムを提供するものである
ということがわかったであろう。

以上、この発明の顕著な特徴を例示し説明してきだが、
この発明の範囲から離れることなく他のいかなる多くの
変化変更をもなすことができるということは容易に明白
である。その−例としては、第１図のシステムからＡチ
ャンネルの各要素５１Ａ。

５３Ａ、５５Ａ、５９Ａ、６１Ａ及び６３Ａを取除き、
単一チャンネルのイメージング・センサ２１を使用する
ことによって、２チヤンネルの代りに１チヤンネルのシ
ステムとすることもできる。

他方、イメージング・センサ２１からのデータの読取を
もっと早くするために２よシ多いチャンネル数を使用す
るとともできる。従って、との発明はそれらすべての変
化変更もこの発明の広い範囲に入るものとするべきであ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は、第１Ａ図及び第１Ｂ図から成如、この発明の
好ましめ実施例を概略表わすブロック図、第２図は、第
１図のタイミング及び制御回路のブロック図、 第３図は、第２図のタイミング及び制御回路の動作の説
明に便利な波形を例示したタイミング図、第４図は、第
１図のイメージング・センサノ動作の説明に便利な波形
を表わした波形図、ｉ４Ａ図は、第１図の好ましい実施
例に対してなされる変更を例示したブロック図、 第５図は、第１図の診断プロセッサによって使用される
模範的な基準電圧のセットを例示した電圧レベル図、 第６図は、第１図の診断プロセッサを例示したブロック
図、 第７Ａ図乃至第７Ｈ図は、第１図及び第６図の診断プロ
セッサの動作の説明に有益なフローチャートを例示した
流れ図である。 図中、 １１・・・基準背景、１３・・・移動トラック（又は移
動コンベヤ或は回転ドラム）、１５・・・光源（ランプ
）、１７・・・物体、１９・・・レンズ、５３Ａ、５３
Ｂ。 ６１Ａ、６１Ｂ・・・アナログ−ディジタル変換器、６
８・・・ディツタルーアナログ変換器、８３・・・ＲＳ
フリップ・フロップ。 出願代理人　斉　藤　　　勲 ＦＩＧ、　３ ＦＩＧ、５　　　　Ｖ６７　　”う〉７゛　　オン・Ｊ
拳人イ＆０に ｖｌ　　　　　　　　　　　＋ｉ　ランフ′・オフ１１
人イとＦＩＧ、　４

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）光てられた放射エネルギを反射する基準背景と、 オン動作モード中前記基準背景を放射エネルギで照明す
   る第１の手段と、 前記オン動作モード中前記基準背景から受取った反射放
   射エネルギの強さに比例した第１の信号を発生するホト
   センサを含む第２の手段と、第１の信号に応答して関連
   する第１のデータ信号を発生する第３の手段と、 前記オン動作モード中框１の信号及び第１のデータ信号
   に選択的に応答して選択的にテスト信号を発生する第４
   の手段と、 前記オン動作モーｌ゛中框１の複数のテスト信号に応答
   して前記第２及び第３の手段の各々の動作を自動的にテ
   ストする第６の手段を持つと共に前記オン動作モードを
   開始する第５の手段とを含む自動自己診断電気光学イメ
   ージング・システム。 （２）前記第１の手段はオフ動作モード中前記基準背景
   の照明を防止し、 前記第２の手段は前記オフ動作モード中前記基準背景か
   ら受取った反射放射エネルギの強さに比例した第２の信
   号を発生し、 前記第３の手段は第２の信号に応答して関連する第２の
   データ信号を発生し、 前記第４の手段は選択的に第２の信号及び第２のデータ
   信号に応答して前記オフ動作モード中選択的にテスト信
   号を発生し、 前記第５の手段は前記オフ動作モードを開始し、前記第
   ６の手段は前記オフ動作モード中第２の複数のテスト信
   号に応答して前記第２及び第３の手段の各々の動作を自
   動的にテストするようになした特許請求の範囲第１項記
   載のシステム。 （３）　　前記第２の手段は、更に前記基準背景から前
   記ホトセンサに反射した放射エネルギを集中するレンズ
   を含む特許請求の範囲第２項記載のシステム０ （４）前記ホトセンサは電荷結合装置のアレイである特
   許請求の範囲第２項記載のシステム。 （５）　　前記ホトセンサによって撮影されるべき物体
   を前記基準背景を横切る通路に沿って移動する手段と、 前記通路に隣接して設けられ、前記通路に沿って移動す
   る物体が前記基準背景に達する前に該通路に沿って移動
   する物体の存在に応答して前記第５の手段に前記オフ動
   作モードを防止させるようにしたセンサ手段とを含む特
   許請求の範囲第２項記載のシステム。 （６）前記第４の手段は、 関連するオン及びオフ動作モードにおける夫夫第１及び
   第２の所定の期間中筒１及び第２の信号に選択的に応答
   して前記基準背景から前記ホトセンサが受取った反射放
   射エネルギの平均量に比例した第１及び第２のテスト信
   号を夫々発生する第７の手段と、 前記第１及び第２のデータ信号の第１及び第２の予め選
   ばれた部分を夫々表わす第３及び第４のテスト信号を発
   生する第８の手段とを含む特許請求の範囲第２項記載の
   システム。 （７）　　前記第６の手段は前記オン及びオフ動作モー
   ドの各々中第１、第２、第３及び第４のテスト信号の各
   々を関連する範囲の基準電圧と選択的に比較して前記第
   ２及び第３の手段の各々の動作の状態を確認する比較手
   段を含む特許請求の範囲第６項記載のシステム。 （８）前記第１の手段は 放射エネルギ源と、 可能化されているときに前記放射エネルギ源に対して電
   圧を供給する電源と、 前記電源をディセーブルして前記オフ動作モード中前記
   放射エネルギ源による前記基準背景の照明を防止し、前
   記電源を可能化して前記放射エネルギ源に前記オン動作
   モード中前記基準背景を照明させるようになした制御ユ
   ニットとを含む特許請求の範囲第６項記載のシステム。 （９）　　前記制御ユニットは前記オン動作モード中前
   記第５の手段から受取ったディジタル制御信号をアナロ
   グ制御信号に変換するディツタルーアナログ変換器であ
   り、前記電源は前記アナログ制御信号に応答して前記オ
   ン動作モード中でのみ前記基準背景を前記放射エネルギ
   源に照明させるようになした特許請求の範囲第８項記載
   のシステム。 （ｌＯ）　　前記制御ユニットは前記オン動作モード中
   でのみ前記第５の手段から受信した制御信号に応答して
   前記放射エネルギ源が前記オン動作モード中前記基準背
   景を照明するように前記電源を可能化するリレーである
   特許請求の範囲第８項記載の／ステム。 ０］）前記第７の手段は、 夫々第１及び第２の所定の期間中筒１及び第２の信号を
   順次平均化する第１のインテグレータと、 前記第１のインテグレータからの信号を順次ディジタル
   化する第１のアナログ−ディジタル変換器と、 前記第１のアナログーディノクル変換器からのディジタ
   ル化された信号に応答して第１及び第２のテスト信号を
   選択的に発生する第１の記憶回路とを含む特許請求の範
   囲第６項記載のシステム。 α埠　前記第８の手段は、 第１及び第２のデータ信号を順次的にディジタル化する
   第２のアナログ−ディジタル変換器と、前記ディジタル
   化した第１及び第２のデータ信号に選択的に応答して順
   次的に第３及び第４のテスト信号を発生する第２の記憶
   回路とを含む特許請求の範囲第１１項記載のシステム。 ０３　　前記第５の手段は前記オン動作モード中前記第
   １の手段の動作を制御するだめの第１の制御信号と前記
   オフ動作、モード中前記第１の手段の動作を制御する第
   ２の制御信号とを発生し、前記第６の手段は前記オン及
   びオフ動作モードの各々中、第１、第２、第３及び第４
   のテスト信号を関連する範囲のテスト電圧と選択的に比
   較して前記第２及び第３の手段の各々の動作の状態を確
   認するようになしだ特許請求の範囲第１２項記載のシス
   テム。 α→　前記第１の手段は、 放射エネルギ源と、 可能化されたときに前記放射エネルギ源に対して電圧を
   供給する電源と、 前記オフ動作モード中前記第２の制御信号に応答して前
   記電源が一前記放射エネルギ源に対して電圧を供給する
   のを防止し、前記第１の制御信号に応答して前記オン動
   作モード中前記電源を可能化して前記放射エネルギ源に
   対して電圧を供給することにより前記エネルギ源が前記
   基準背景を照明なしうるようにした制御ユニットとを含
   む特許請求の範囲第１３項記載のシステム。 ０→　前記第１及び第２の制御信号はディジタル信号で
   あり、 前記制御ユニットはディジタルの第１及び第２の制御信
   号をアナログの第１及び第２の制御信号に選択的に変換
   するディジタル−アナログ変換器を含む特許請求の範囲
   第１４項記載のシステム。 ０→　前記制御ユニットは第２の制御信号に応答して前
   記電源をディセーブルし、前記第１の制御信号に応答し
   て前記電源を可能化するリレーである特許請求の範囲第
   １５項記載のシステム。 α力　前記第２の手段は更に前記基準背景から前記ホト
   センサに反射した放射エネルギを集中するレンズを含む
   特許請求の範囲第１４項記載のシステム。 ０→　前記ホトセンサは第１及び第２のチャンネルを含
   み、前記第１の信号は前記オン動作モード中夫々前記第
   １及び第２のチャンネルで発生した第１及び第２シーケ
   ンスのピクセル信号から成り、前記第２の信号は前記オ
   フ動作モード中前記第１及び第２のチャンネルで夫々発
   生した第３及び第４シーケンスのビクセル信号から成シ
   、前記第３の手段は第１及び第２の信号プロセッサを含
   み、前記第１のデータ信号は前記オン動作モード中前記
   第１及び第２の信号プロセッサで夫夫発生した第１及び
   第２シーケンスのピクセル・データから成り、前記第２
   のデータ信号は前記オフ動作モード中前記第１及び第２
   の信号プロセッサで夫々発生した第３及び第４シーケン
   スのピクセル・データから成る特許請求の範囲第２項記
   載の／ステム。 ０つ　前記第４の手段は、 前記オン動作モード中夫々第１及び第２シーケンスのピ
   クセル信号に応答して前記第１及び第２のチャンネルが
   夫々受取った反射放射エネルギの平均量に比例した第１
   及び第２のテスト信号を発生し、前記オフ動作モード中
   夫々第３及び第４シーケンスのピクセル信号に応答して
   前記第１及び第２のチャンネルで夫々受取った反射放射
   エネルギの平均量に比例した第３及び第４のテスト信号
   を発生する第１及び第２の回路手段と、 前記オン動作モード中前記第１及び第２シーケンスのピ
   クセル・データの第１及び第２の予め選ばれた部分を夫
   々表わす第５及び第６のテスト信号を夫々発生し、前記
   オフ動作モード中前記第３及び第４シーケンスのピクセ
   ル・データの第１及び第２の予め選ばれた部分を夫々表
   わす第７及び第８のテスト信号を夫々発生する第３及び
   第４の回路手段とを含む特許請求の範囲第１８項記載の
   システム。 （イ）前記ホトセンサは電荷結合装置のアレイである特
   許請求の範囲第１９項記載のシステム。 （２１）前記基準背景を横切る通路に沿って前記ホトセ
   ンサで撮影されるべき物体を移動する手段と、前記通路
   に隣接して設けられ、前記基準背景に達する前に前記通
   路に沿って移動する物体の存在に応答して前記第５の手
   段に前記オフ動作モードを防止させるようにしたセンサ
   手段とを含む特許請求の範囲第１９項記載のシステム。 （ハ）前記第２の手段は、更に前記基準背景から前記第
   １及び第２のチャンネルに反射した放射エネルギを集中
   するレンズを含む特許請求の範囲第１９項記載のシステ
   ム。 （ハ）前記第５の手段は前記オン及びオフ動作モード中
   夫々前記第１の手段の動作を制御する第１及び第２の制
   御信号を選択的に発生する手段を含み、 前記第６の手段は前記オン及びオフ動作モードの各々中
   前記第１及び第２の信号プロセッサの各各及び前記第１
   及び第２のチャンネルの各々の動作の状態を確認するだ
   めに前記テスト信号の各々を関連する範囲の基準電圧と
   選択的に比較する手段を含む特許請求の範囲第１９項記
   載のシステム。 ＱΦ　前記第１の手段は 放射エネルギ源と、 可能化されたときに前記放射エネルギ源に対して電圧を
   供給する電源と、 前記オフ動作モード中筒２の制御信号に応答して前記放
   射エネルギ源による前記基準背景の照明を防止するよう
   前記電源をディセーブルし、前記オン動作モード中前記
   第１の制御信号に応答して前記電源を可能化し前記放射
   エネルギ源は前記基準背景を照明させるよう該放射エネ
   ルギ源に電圧を供給する手段を含む制御ユニットとを含
   む特許請求の範囲第２３項記載のシステム。 （ハ）前記第１及び第２の回路手段は夫々、前記オン動
   作モードにおける第１の所定の期間中第１及び第２シー
   ケンスのピクセル信号を夫夫平均化し、前記オフ動作モ
   ードにおける第２の所定の期間中第３及び第４シーケン
   スのピクセル信号を夫々平均化する第１及び第２のイン
   テグレータと、 前記オン及びオフ動作モードの各々中前記第１及び第２
   のインテグレータからの平均化された信号を夫々ディジ
   タル化する第１及び第２のアナログーディノタル変換器
   と、 前記第１及び第２のアナログ−ディジタル変換器からの
   前記ディジタル化された平均化信号に選択的に応答して
   第１、第２、第３及び第４のテスト信号を選択的に発生
   する第１及び第２の記憶回路とを含む特許請求の範囲第
   ２４項記載のシステム。 ｉ２Ｑ　　前記第３及び第４の回路手段は夫々、前記オ
   ン動作モード中第１及び第２シーケンスのピクセル・デ
   ータを夫々ディジタル化し、前記オフ動作モード中筒３
   及び第４シーケンスのピクセル・データを夫々ディジタ
   ル化する第３及び第４のアナログ−ディジタル変換器と
   、ディジタル化された第１、第２、第３及び第４シーケ
   ンスのピクセル・データに選択的に応答して第５、第６
   、第７及び第８のテスト信号を選択的に発生する第３及
   び第４の記憶回路とを含む特許請求の範囲第２５項記載
   のシステム。 （ハ）光源と、 前記光源から当てられた光を反射する基準背景と、 第１の動作モード中前記光源が前記基準背景を照明する
   のを防止し、第２の動作モード中前記光源が前記基準背
   景を照明可能にする制御手段と、前記第１及び第２の動
   作モード中前記基準背景から受光した反射光の強さに夫
   々比例しだ第１及び第２のアナログ信号を選択的に発生
   するホトセッサ手段と、前記第１及び第２のアナログ信
   号に選択的に応答して関連する第１及び第２のデータ信
   号を発生する信号処理手段とを含む電気光学イメージン
   グ装置と、 関連する第１及び第２の動作モードにおける第１及び第
   ２の所定の期間第１及び第２のアナログ信号に選択的に
   応答して前記ホトセンサ手段が前記基準背景から受光し
   た反射光の平均量に比例した第１及び第２のテスト信号
   を夫々発生する第１の手段と、 前記第１及び第２のデータ信号の第１及び第２の予め選
   ばれた部分を夫々表わす第３及び第４のテスト信号を発
   生する第２の手段と、 第１及び第２の動作モードを発生して該第１及び第２の
   動作モード中前記制御手段の動作を制御し、前記第１及
   び第２の動作モードの各々中前記第１、第２、第３及び
   第４のテスト信号に選択的に応答して前記信号処理手段
   及び前記ポトセンザ手段の各々の動作を自動的にテスト
   するようになしたプコセッサ手段とを含む自動自己診断
   電気光学イメージング・システム。 （社）電気光学イメージング装置で共に結合されたホト
   センサと信櫓プロセッサとの順次的動作を自動的に診断
   する方法であって、 第１の動作モード中基準背景を照明せず第２の動作モー
   ド中前記基準背景を照明するよう光源を制御し、 前記第１及び第２の動作モード中前記基準背景から前記
   ホトセンサが夫々受光した反射光の強さに比例した第１
   及び第２の信号を前記ホトセンサから順次的に出力し、 前記信号プロセッサにおいて前記第１及び第２の信号か
   ら夫々引出された第３及び第４の信号を順次的に発生し
   、 第１、第２、第３及び第４の信号から複数のテスト信号
   を選択的に発生し、 第１及び第２の動作モード中前記複数のテスト信号の選
   択的受信のときに信号プロセッサ及びホトセンサの動作
   を選択的にテストする各工程を含むホトセンサ及び信号
   処理装置の自動診断方法。 翰　電気光学イメージング装置で共に選択的に結合され
   た第１及び第２のビデオ・プロセッサと第１及び第２チ
   ヤンネルのホトセンサとの順次的動作を自動的に診断す
   る方法であって、第１の動作モード中基準背景を照明せ
   ず第２の動作モード中前記基準背景を照明するよう光、
   源を制御し、 前記第１の動作モード中央々第１及び第２シーケンスの
   ピクセル信号を前記ホトセンサの第１及び第２のチャン
   ネルから出力し、前記第２の動作モード中央々第３及び
   第４シーケンスのピクセル信号を前記ホトセンサの第１
   及び第２のチャンネルから出力し、 前記第１の動作モード中央々第１及び第２シーケンスの
   ピクセル・データを前記第１及び第２のビデオ・プロセ
   ッサから出力し、前記第２の動作モード中央々第３及び
   第４シーケンスのピクセル・データを前記第１及び第２
   のビデオ・プロセッサから出力し、 第１の所定の期間中に受信した第１及び第２シーケンス
   のピクセル信号の夫々平均値に比例した夫々第１及び第
   ２のテスト信号を発生し、第２の所定の期間中に受信し
   た第３及び第４シーケンスのピクセル信号の夫々平均値
   に比例した夫々第３及び第４のテスト信号を発生し、 前記第１及び第２シーケンスのピクセル・データの第１
   及び第２の予め選ばれた部分を夫々表わす第５及び第６
   のテスト信号を発生し、前記第３及び第４７−ケンスの
   ピクセル・データの第１及び第２の予め選ばれた部分を
   夫々表わす第７及びａ′！８のテスト信号を発生し、 前記第１及び第２の動作モード中温１、第２、第３、第
   ４、第５、第６、第７及び第８のテスト信号を選択的に
   使用して前記第１及び第２チヤンネルのホトセンサ及び
   前記第１及び第２のビデオ・プロセッサをテストする各
   工程を含むホトセンサ及びビデオ・プロセッサの順次動
   作の自動診断方法。