JPS5912337A - フイルタ試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はフィルタの使用状態を再現してフィルタの使用
状態でフィルタを試験するフィルタ試＠装置に関する。

〔発明の技術的背景とその間地点〕

たとえば原子力兄電設備の非゛濱用ガス処理系（以下５
ＧＴＳと称する。）には原子炉格納容器内から排出され
る空気を浄化するフィルタが使用されている。このフィ
ルタは常温より鍋温でかつ蒸気が飽イｌした空気を浄化
するものであり、その使用状態を再現して試験する必要
がある。

そこで、第１図に示すような従来のフィルタ試験装置が
使用されていた。図中２は恒温槽であって、この恒温槽
２は密封された内部窄間に被試験フィルタ４を収容する
ように構成されている。また、恒温槽２内を加熱する電
気ヒータ６が設けられており、このヒータ６は外部の電
源８から電力の供給を受けるように構成されている。

ｎｉＪ記フィルタ４の′ｑ気流入側には流入側配管１０
が接続されており、恒温槽２外から電気を供給するよう
に構成されている。そして、この流入側配管１０には上
流側からフィルタ１２゜加湿器１４．配管ヒータ１６．
熱又煉器１８゜延長管２０が順次接続されており、これ
ら各機器で望調機構を＠１戊している。この苗副機構は
前記フィルタ４に流入するψ気をフィルタ４の使用条件
、すなわち温度７０℃程度でかつ蒸気が飽和した状態に
空調するように構成されている。

ｎｉｌ記延長延長管２０流側には混入機構２２が分岐接
続されている。この混入機構２２は流入空気圧放射性物
質を混入させるものである。混入機構２２は放射性物質
としての放射性同位体（Ｒａｄｉｏ−Ｉｓｏｔｏｐｅ　
：以下ＲＩと称する。）であるヨウ化メチル等を貯蔵す
るボンベ２４と、このポンベ２４からＲＩの供給を受け
て前記流入側配管１０内にＲＩを混入させるＲＩＳａ生
器２６とから構成されている。

そして、前記フィルタ４の流出側には流出側配管３０が
接続されており、フィルタ３２を介して外部に空気を排
出するように構成されてい光 る。また別記ＲＩ発生桜２６の排出管３４にもフィルタ
３２が接続されている。

このように構成されている従来の試験装置では５ＧＴＳ
フイルタ４の使用状態を置場して、フィルタ４に放射性
物質を濾過させるものであり濾過後のフィルタ４を検査
してフィルタ４の性能を試験するものである。

ところが、最近ではＭｉＪ述のように常温より高温の状
態で使用されるフィルタ４だけでなく、たとえば中央制
御室′ｑ調系フィルタのような常温より低温の状態で使
用されるフィルタをも試験する必要が生じている。この
ため、従来のものでは常温より低温の使用状態を再現す
ることができず、低温用フィルタの試験を行なうことが
できなかった。

〔発明の目的〕

本発明の目的は常温より高温の状態で使用されるフィル
タのみならず、常温より低温で使用されるフィルタの性
能を試験することができるフィルタ試験装置を提供する
ことにある。

〔発明の概要〕

本発明によるフィルタ試験装置は、被試験フィルタを恒
Ｉ！Ｍ檜の中に収容し、　Ｓａｊ記フィルタに流入する
空気に放射性物質を混入させる混入機構と、前記流入空
気を常温より高温で蒸気が飽和した状態にする空調機構
とからなるフィルタ試験装置において、前記流入空気を
’７４ｉ；ＩＡより低温に冷却する第１冷却機構と、前
記恒温槽内を常温より低温に冷却する第２冷却機構とを
員備したものであるＪしたがって、常温より低温で使用
されるフィルタの使用状態を再現して低温用のフィルタ
の性能をも試験することができるものである。

〔発明の実施例〕

第２図ないし第３図を６照して本発明の一実施例を説明
する。なお、図中従来と同様のものには同一符号を付し
て説明する。

図中２は恒温槽であって、この恒温槽２内には被試験フ
ィルタ１０２が収容されている。この被試験フィルタ１
０２はたとえば５ＧＴＳフイルタのように常温より高温
（７０℃程度）の状態で使用されるものだけではなく、
中央制御蚕換気系のように常温より低温（０℃〜５℃）
の状態で使用されるものをも含んでいる。

フィルタ１０２の流入側には流入側配管１０が接続され
ている。この流入側配管１０には上流側からフィルタ１
２．加湿器１４．配管ヒータ１６．熱交換器１８．延長
管２０が順次接続されており、これらの機器で空調機構
を構成している。前記フィルタ１２は流入空気中の微小
塵芥を収集するものである。加湿器１４は流入空気に加
湿するものである。配管ヒータ１６は流入側配管１０に
巻装されており、加湿されたψ気を９０℃程度まで加熱
するものである。熱交換器１８は加熱された高湿度の空
気と熱媒体とを熱交換して空気を蒸気が飽和した状態圧
するものである。延長管２０は空気が恒温槽２内を所定
時間の間流通するよう処して空気の温度を恒温槽２内と
同温度にするものである。

そして、前記熱変換器４８には流入空気を常温以下に冷
却する第１冷却＠構１０４が設けられている。この第１
？＠却機構１０４は第３図に示すように熱又換器１８の
熱媒体循環配管１０６をバイパスして接続されている。

第１冷却機構１θ４はＵ字管１０８．冷却管１１０．冷
却機１１２から構成されている。前記Ｕ字管１０８は熱
媒体を流通させるように構成されており、Ｕ字管１０Ｂ
内には冷却管１１０が押入されている。冷却管１ノθ内
には冷却機１１２で低温に冷却された冷媒が流通してお
り、　ｍｒＪ記熱又換器１８の熱媒体を冷却するように
構成されている。

また、前記恒温槽２内には冷却管１２０が配置されてい
る。この冷却管１２０は冷却１！ｌ１２ｔで冷却された
冷媒を流通させ、この冷媒と恒温槽２内の空気とを熱交
換して恒温槽２内を冷却するように構成されている。こ
れら冷却管１２０゜冷却機１２２で第２冷却機構が形成
されている。

なお、図中１２４・・・は開閉弁である。

以上のように構成されたものは次のような作用効果を奏
する。

まず、熱交換器１８には第１冷却機構１０４が設けられ
ているので、フィルタ１０２に流入する電気を、たとえ
ばＯ℃〜５℃程度の常温より低温の状態に冷却すること
ができる。そして、１ｕ温槽２にも第２冷却機構が設け
られているので、恒温槽２内の温度を常温より低温にす
ることができる。したがって、常温より低温の状態で使
用されるフィルタ１０２０使用状態を再現することがで
き、低温用のフィルタ１０２の性能を試験することがで
きる。

また、目ＩＪ記を調機構には配管ヒータ１６と第１冷却
機構１０４とが設けられており、また恒温室２には電気
ヒータ６と第２冷却機構が設けられているのでフィルタ
１０２の使用状態を再現する際の温度軸部を迅速かつ正
確に行なうことができる。

なお、本発明は以上の一実施例に限定されるものではな
い。たとえば、第１冷却機構は熱交換器１８に設けられ
たものに限らず、流入苗気を常温より低温に冷却するも
のであればよい。

また、第２冷却機構も必ずしも冷却管１２０を恒温槽２
内に配置する必要はなく、低温の電気をＩＪ！接恒温槽
内に流入させるものでもよい。

〔発明の効果〕

本発明によれば、常温より高温の状態で使用されるフィ
ルタのみならず、常温より低温の状態で使用されるフィ
ルタをも、その使用状態を再現してフィルタの性能を試
験することができ、その効果は大である。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のフィルタ試験装置を示す構成図、第２図
は本発明の一実施例を示す構成図、第３図は第２図の第
１冷却機構を示す構成図である。 ２・・・恒温槽、１０２・・・被試験フィルタ、２２・
・・混入機構、１２・・・フィルタ（’２ｍｌ＋１機構
）。 １４・・・加湿器（空調機構）、１６・・・配管ヒータ
（空調機構）、１８・・・熱交換器（空調機構）、２０
・・・廷長管（空調機構）、１０４・・・第１冷却機構
、１０８・・・Ｕ字管、１１０・・・冷却管、１１２・
・・冷却機、１２０・・・冷却管（第２冷却機構）。 １２２・・・冷却機（第２冷却機構）。 出願人代理人　　弁理士　鈴　圧式　彦−１（

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被試験フィルタを恒温槽の中に収容し、前記フィルタに
   流入する空気に放射性物質を混入させる混入機構と、ｎ
   ｉＪ記流入空気を常温より鍋温で蒸気が飽和した状態に
   する空調機構とからなるフィルタ試験装置において、前
   記流入突気を常温より低温に冷却する第１冷却＠横と、
   前記恒温槽内を常温より低温に冷却する第２冷却機構と
   を具備したことを特徴とするフィルタ試験装置。