JPS5912340A

JPS5912340A - 電気光学的粒体検査装置

Info

Publication number: JPS5912340A
Application number: JP12123582A
Authority: JP
Inventors: Osamu Murakami; 修村上
Original assignee: KETSUTO KAGAKU KENKYUSHO KK; Kett Electric Laboratory
Current assignee: KETSUTO KAGAKU KENKYUSHO KK; Kett Electric Laboratory
Priority date: 1982-07-14
Filing date: 1982-07-14
Publication date: 1984-01-23

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】本発明は粒体検査装置に係り、特に列状に整列させた粒
体を一粒づつ光学的に検査する粒体整送装置を有する電
気光学的粒体検査装置に関する。

穀類などの粒体中に含有する腐敗粒、変色粒、胴割粒又
は異物などの不良粒を電気光学的に選別排除する方法は
すでに提案されている。例えば多量の粒体°を電気光学
検出器へ順次整列させて送り込む粒体整送装置を有する
電気光学的粒体検査装置が、実願昭５６−７１９７４号
に具体化されている。この実願昭５６−７１９７４号で
説明している粒体整送装置は、外周に清って列をなして
設けられた多数の粒孔にそれぞれ一粒づつ粒体を拾い上
げて整送する回転円板を有する構成となっている。

しかして、上記の整送装置は、その粒孔に粒体がその基
準軸を沿えて一粒づつ拾われるようにもくろまれおυ、
はとんどの粒体が基準軸をそろえて拾い上げられるが多
少の粒体はそろわずに、よって粒孔に充分に入り込まず
に送られる場合がちる。

そこで本発明の第１の目的は、全ての粒体がその基準軸
をそろえて、コンベアの粒孔に確実に拾われる粒体整送
装置を有する光学的粒体検査装置を提供することにある
。

本発明によれば、ベルトコンベアの無端ベルトに複数列
で、縦長の形状の粒体−粒を容易に受容するサイズのか
つ粒体−粒と相似形状の粒孔を多数設けておき、ベルト
コンベアを斜め上昇配置となし、その下端部に粒孔列と
整合し、粒体−粒の横幅とほぼ等しい幅のテーパー溝を
櫛形に複数列設け、このテーパー溝をがイドとして粒体
が、粒孔と同一方向に指向されるよう構成した粒体整送
装置が提供される。

以上の構成の粒体整送装置に送られた粒体は一粒づつ斜
方光線が照射させられ、粒体を拡散透過する透過光酸を
電気光学的素子で検知して、整粒、不良粒の検査が行わ
れるのであるが、電気光学素子は、拡散透過光線以外の
、例えば粒体と粒孔の間のすき間をすシ抜けて直接電気
光学素子に入射する光線も検出する恐れがある。

そこで本発明の他の目的は、上記電気光学素子が拡散透
過光線のみ受光するように構成したＴｈ気先光学的検出
器有する′峨気光学的粒体倹査装置を提供することであ
る。

上記他の目的に鑑みた本発明の構成によれば、ベルトコ
ンベアの粒孔内に拾い上げられて整送される粒体は、光
源と電気光学素子との間に設けられ、該電気光学素子と
対向するごとく設けられた直交ニコル偏光フィルタを介
して、拡散透過光線の光量を測定する電気光学検出器を
有する電気光学的粒体検査装置が提供される。

以下に本発明を実施例の形で添付国とともに詳細に説明
する。

第１図と第２図を参照して、無端ベルト１は、従動プー
リ２、モータ３駆動の駆動フ０−リ４および補助ゾーリ
５のまわシをめぐり走行し、従動プーリ２を下端として
上端の駆動プーリ４までを玄米を整送する上昇走行面と
して配設させ、複数列の粒孔１ａが無端ベルトの走行方
向にならんで設けられている。走行面の上昇傾斜角度は
約４５°度が好ましい。この粒孔１ａは、縦長の形状を
しており、その縦軸方向を無端ベルト１の走行方向に向
けられて設けられている。粒孔１ａの形状およびサイズ
は、玄米−粒と相似の形状をしており、かつひとまわり
大きなサイズとされ、玄米−粒が、その縦軸方向（以下
基準軸と称す）を粒孔１ａのその縦軸方向と渚えて整合
した時、粒孔１ａにスムースに落下するようなものとさ
れている。又粒孔１ａは無端ベルト１の表面から裏面ま
でその断面形状巨視的には不変のまま貫通している。し
かして粒孔１ａの内周面は、サンドブラストなどをかけ
て艶消し面とし反射光が受光素子に及ぶことを防止して
いる。無端ベルト１の裏面は、コンベアループの内側に
設けられたスライド台６　ａ＋　６　ｂ＋６０のスライ
ド面上を滑動しうるように配設され、よって粒孔１ａ中
の玄米−粒がコンベアループの内側に入り込むことが防
止されている。又粒孔中の玄米の配置状態は、光学的検
知出力に非常に大きな影響を与えるだめ、出来るだけ均
一な状態で入り込む事が望ましい。粒孔は貫通穴とし、
玄米はスライド台全滑動することにより、最初不安定な
状態であっても徐々に安定してくる効果がある１、走行
面の下端部には玄米投入ホッパ７か設けられ、ここに投
入された玄米は、ホッパ７の底部の作用をなし、下面を
走行面がスライドするがイド板８が設けられている。こ
のガイド板８は第２図で明瞭に理解されるように、無端
ベルト１に設けた粒孔１ａの各列と整合する複数のテー
パ溝８ａが櫛型に設けられており、このテーパ溝８ａの
最小幅は、玄米−粒の幅とほぼ等しくされているから、
ホッパ５に投入された玄米は、この−”ｊ−−パ溝８ａ
に落込んでその基準軸を走行面の走イ１方向に、す々わ
ち粒孔１ａの縦軸方向にそろえて整向される。

投入ホッパγの下流側には、板ばね９ａと剛毛ブラシ９
ｂを担持するならし装置９が設けらえしている。先ず板
ばね９ａで余分な玄米粒をはじき飛し更に、この剛毛ブ
ラシ９ｂの先端で、無端ベルト１０粒孔１ａに玄米の表
面をなでることにより一粒づつを確実に入りこませるよ
うにさせ、単に粒孔１ａに引掛かって移送されている玄
米をはじいてホッパ７にもどすようにしている。よって
ガイド板８の先端はすくい角を与えて無端ベルト１の走
行面をすベリ落ちてくる玄米が容易にホッパＩ内にもど
されるようにすることが好ましい。

さらに上流側には、電気光学的検出器１０が設けられ、
光源１０ａからの光を無端ベルト１の粒（ＬＩ＆に照射
し、玄米−粒を通過した光線の光量を受光素子１０ｂで
検出する。

第６図を参照して電気光学的検出器１０を詳細に説明す
る。

第６図において、スライド台６ａには、それ自体を横断
するようにスロツ）１０ｃが設けられており、そとには
透光板１０ｄがその上面をスライド台６ａのスライド面
と同面になるようにはめこまれ、さらにその透光板１０
ｄの下面に対し、第１偏光板１０ｅがは９つけられるよ
うにしてはめ込まれている。又この透光板１０ａと対向
する位置において、無端ベルト１の直上には、第２偏光
板１０ｆが設けられている。この第２偏光板１０ｆに対
向してさらにその上方に受光素子１０１）が設けられて
いる。第１と第２の偏光板１Ｑｅ、１０ｆハ、対となっ
て直交ニコル偏光フィルりｋ　４’ｆ＋Ｖ成している。

このため光源１０ａからの直接光を透光板１０ｄ１粒孔
１ａｅ通して、受光素イ１０ｂが受光することがないだ
め、受光累イ１０ｂには玄米−粒を拡散透過した光線の
み達しせしめるようになっている。なお受光素子ＩＱｂ
Ｆｊ１、無端ベルト１に設けられた粒孔１ａの列の数だ
け、この列に対向して設けられている。

受光素子１０ｂは、受光量を電気信号に変換して、これ
を処理演算回路（図示せず）に送り、整粒、不良粒の判
定を行う。スライド台５ａｉ透明ガラス板等にしておけ
ば、スロツ）１０Ｃおよび透光板１０ａは不要となる。

駆動ローラ４を通過した後無端ベルト１は、急降下し、
補助プーリ５をまわった所で而が下方を向くため、粒孔
１ａの玄米は落下して受は６詣１１に受容される。なお
参照番号１２は剛毛ブラシ１２ａを有する掃除ブラシ装
置である。

本発明を実施例の形で説明したが本発明は上記実施例に
限定されず、特許請求の範囲の項に記載される範囲で様
々に変更されるものである。

例えば上記実施例では玄米等の不良粒を検査する目的で
、電気光学的粒体検査装置を構成したが、その地回様の
形状を有する錠剤その細粒体の検査のだめの電気光学的
粒体検査装置についても本発明の範囲に含まれるものと
考えられる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例である玄米の電気光学的粒
体検査装置を概略的に断面図で図示する図。第２図は、第１図に図示の電気光学的検査装置の上面図
。第５図は、第１図のｍ−ｍ線に溢う拡大断面図。１・・・無端ベルト、１ａ・・・粒孔、２・・・従動ロ
ーラ、３・・・モータ、４・・・駆動ローラ、５・・・
補助ローラ、６ａ、６ｂ、６ｃ・・・スライド台、７・
・・投入ホッパ、８・・・ガイド板、８ａ・・・テーパ
溝、９・・・ならし装置、９ａ・・・板ばね、９ｂ・・
・剛毛ブラシ、１０・・・電気光学的検出器、１Ｏａ・
・・光源、１０ｂ・・・受光素子、１０　Ｃ・・・スロ
ット、１０　ｄ　・・・透光板、１０ｅ、１０ｆ・・・
偏光板（直交ニコル偏光フィルタ）１１・・・受は容器
、１２・・・掃除ブラシ装置紅、１２ａ・・・１ｆｌｌ
ｌ１毛ブラシ代理人　浅　利　　　皓外４名

Claims

【特許請求の範囲】（１）　　ベルトコンベアの無端ベルトに複数列で、縦
長形状の粒体−粒を容易に受容するサイズのかつ粒体−
粒と相似形状の粒孔を多数設けておき、ベルトコンベア
を斜め上昇配置となし、該ベルトコンベアの下端部に粒
孔列と整合し、粒体−粒の横幅とほぼ等しい幅を最小幅
とするテーパー溝ガイド部材を複数設けた粒体整送装置
を有する電気光学的粒体検査装置。（２、特許請求の範囲の第（１）項に記載の′電気光学
的粒体検査装置において、前記ベルトコンベアの上昇角
度は、４５°度である電気光学的粒体検査装置。（３）　　特許請求の範囲の第（２）項に記載の電気光
学的粒体検査装置において、前記ガイド部材は、投入ホ
ッパの底部を構成している電気光学的粒体検査装置つ（４）特許請求の範囲の第（１）項から第（３）項のい
ずれか一項に記載の電気光学的粒体検査装置において、
前記ガイド板の下流側に、前記無端ベルトの粒孔の粒体
を整向整置させるならし装置を設けた電気光学的粒体検
査装置。（５）特許請求の範囲の第（４１項に記載の電気光学的
粒体検査装置において、前記ならし装置は、板ばねと、
先端が、該無端ベルトと接している剛毛ブラシを有して
いる電気光学的粒体検査装置。（６）特許請求の範囲の第（１）項から第（５）項に記
載の電気光学的粒体検査装置において、前記無端ベルト
は、スライド台表面上をすべるように構成され、前記粒
孔は、その横断面が不変で該無端ベルトを貫通している
電気光学的粒体検査装置。（カ　ベルトコンベアの無端ベルト粒孔内に拾い上げら
れて整送される粒体は、光源と゛電気光学素子との間に
設けられ、該電気光学素子と対向する直交ニコル偏光フ
ィルタを介することにより流体の拡散透過光線のみの光
量を□測定する電気光学検出器を有する電気光学的粒体
検査装置。