JPS5912986B2 - 多種イオン検出器 - Google Patents
多種イオン検出器Info
- Publication number
- JPS5912986B2 JPS5912986B2 JP50093817A JP9381775A JPS5912986B2 JP S5912986 B2 JPS5912986 B2 JP S5912986B2 JP 50093817 A JP50093817 A JP 50093817A JP 9381775 A JP9381775 A JP 9381775A JP S5912986 B2 JPS5912986 B2 JP S5912986B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mass
- ion
- switching
- contact
- recorder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、多チャネル質量分析計に関し、特に、クロ
マトグラフィーと組合わせた多チャネル・マス・フラグ
メントグラフィーに関する。
マトグラフィーと組合わせた多チャネル・マス・フラグ
メントグラフィーに関する。
クロマトグラフと質量分析計を結合したいわゆるクロマ
トグラフ質量分析計は複合分析装置として最近さかんに
利用されるようになつてきたが、さらに、特定の質量数
についてのクロマトグラムを画かせるマスフラグメント
グラフィーは最も多くの情報を含んだデータを提供する
ものとして極微量混合成分の定性・定量分析に特に有用
である。
トグラフ質量分析計は複合分析装置として最近さかんに
利用されるようになつてきたが、さらに、特定の質量数
についてのクロマトグラムを画かせるマスフラグメント
グラフィーは最も多くの情報を含んだデータを提供する
ものとして極微量混合成分の定性・定量分析に特に有用
である。
ところがこのクロマトグラムは、特定の単一の質量数
について画かせることは比較的容易であるが、通常は、
幾種類もの質量数についてのグラフを必要とする。
について画かせることは比較的容易であるが、通常は、
幾種類もの質量数についてのグラフを必要とする。
しかし、必要とする質量数ごとに何回もクロマトグラフ
ィーをくり返すことは多く10の時間を費やすのみでな
く試料に制約があつて実現できない場合もあり、例え多
量の試料があつても、全く同一状態でクロマトグラフィ
ーを再現させることは難かしい。これに対し、1回のク
ロマトグラフィーから、指定された複数のマス・フラグ
メントグラムを作成する方法として、多種イオン検出器
を用いた時分割方式による多チャネルのマス・フラグメ
ントグラムを画かせる方式がある。これを例えば磁界偏
向形質量分析計について説明する。20質量m)電荷e
のイオンが加速電圧Vが印加された静電界にて加速され
て速度νを得、一定の強さHの磁界中を通るときはその
イオンは円軌道を画く。
ィーをくり返すことは多く10の時間を費やすのみでな
く試料に制約があつて実現できない場合もあり、例え多
量の試料があつても、全く同一状態でクロマトグラフィ
ーを再現させることは難かしい。これに対し、1回のク
ロマトグラフィーから、指定された複数のマス・フラグ
メントグラムを作成する方法として、多種イオン検出器
を用いた時分割方式による多チャネルのマス・フラグメ
ントグラムを画かせる方式がある。これを例えば磁界偏
向形質量分析計について説明する。20質量m)電荷e
のイオンが加速電圧Vが印加された静電界にて加速され
て速度νを得、一定の強さHの磁界中を通るときはその
イオンは円軌道を画く。
半径にの円軌道を画くイオンだけを集めるものとすれば
、周知のように次の関係式が成立す25る。−=に−・
・・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・・ ・
(1)従つて、質量数m7とm2についてのマス・フ
ラグメントグラムを得たい場合、それに対応した加速3
0電圧V、、V2がガスクロマトグラフィーの情報変化
に対し十分短い時間間隔例えば10Hz〜100Hzで
交互に切換える時分割制御により得ることができる。
、周知のように次の関係式が成立す25る。−=に−・
・・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・・ ・
(1)従つて、質量数m7とm2についてのマス・フ
ラグメントグラムを得たい場合、それに対応した加速3
0電圧V、、V2がガスクロマトグラフィーの情報変化
に対し十分短い時間間隔例えば10Hz〜100Hzで
交互に切換える時分割制御により得ることができる。
第1図はそれにより得られたマス・フラグメントグラム
を示す。しかし、このような時35分割方式においては
、イオン信号量の実測時間の短縮、スイッチング操作に
起因するノイズの発生等により、前記した単チャネル・
マスフラグタントグラムに比してS/Nが劣り、分解能
が時分割周期以下にはなり得ない欠点があつた。また、
多種イオン検出器を用いた時分割方式においては、加速
電圧の調節器系のそれぞれに対応してイオン量測定装置
、サンプルホールド回路、および記録装置を必要とし、
イオンの種類が多くなるほど装置が大型化し高価になる
欠点があつた。この発明は上記に鑑みなされたものであ
つて、その主たる目的は高感度でかつ高分解をもつ多チ
ヤネル質量分析計を提供することであり、他の目的は情
報密度の高いクロマトグラムを作成することによりハー
ドウエアの簡素化を計ることにある。
を示す。しかし、このような時35分割方式においては
、イオン信号量の実測時間の短縮、スイッチング操作に
起因するノイズの発生等により、前記した単チャネル・
マスフラグタントグラムに比してS/Nが劣り、分解能
が時分割周期以下にはなり得ない欠点があつた。また、
多種イオン検出器を用いた時分割方式においては、加速
電圧の調節器系のそれぞれに対応してイオン量測定装置
、サンプルホールド回路、および記録装置を必要とし、
イオンの種類が多くなるほど装置が大型化し高価になる
欠点があつた。この発明は上記に鑑みなされたものであ
つて、その主たる目的は高感度でかつ高分解をもつ多チ
ヤネル質量分析計を提供することであり、他の目的は情
報密度の高いクロマトグラムを作成することによりハー
ドウエアの簡素化を計ることにある。
以下この発明の実施例を説明する。第2図は、磁界偏向
形質量分析計において上記(1)式の加速電圧Vを切換
えて4種の質量数Ml,m,,m3,rn4についての
マスフラグメントグラムを作成しうる装置の実施例の回
路構成図である。
形質量分析計において上記(1)式の加速電圧Vを切換
えて4種の質量数Ml,m,,m3,rn4についての
マスフラグメントグラムを作成しうる装置の実施例の回
路構成図である。
ガスクロマトグラフ装置1において時間差をもつて順次
キヤリヤーガスとともに溶出されたガスは、セパレータ
2にてキヤリヤーガスが分離されて試料成分が濃縮され
、イオン化室3において電子衝撃を受けてイオン化され
る。このイオンは加速収束電極4による電界により加速
されて分析管5にとび込み、ここで磁石6による磁界H
を受けて円弧状に軌道が曲げられる。分析管5の他端に
は単一のイオンコレクタ7があつて、分析管の弧状に一
致した軌道にのつたイオンだけが捕捉される。イオンコ
レクタ7は例えば電子倍増管であつて、ここで電子なだ
れ現象を利用した増巾が行われ、検出信号はさらに広帯
域増巾器8で増巾されたのち、シーケンス制御装置14
により加速電圧の切換えと同期して時分割制御される2
個のサンプルホールド回路9,9′を経て2素子のマス
フラグメントグラフ記録器10により同時に2チヤネル
のマスフラグメントグラフが記録される。他方、分析管
5の入口には全イオン検出器11が設けられており、増
巾器12を経てガスクロマトグラフ記録器13によりガ
スクロマトグラフが記録される。イオン化室3に印加す
るイオン加速電圧Vは直流電源の電圧。
キヤリヤーガスとともに溶出されたガスは、セパレータ
2にてキヤリヤーガスが分離されて試料成分が濃縮され
、イオン化室3において電子衝撃を受けてイオン化され
る。このイオンは加速収束電極4による電界により加速
されて分析管5にとび込み、ここで磁石6による磁界H
を受けて円弧状に軌道が曲げられる。分析管5の他端に
は単一のイオンコレクタ7があつて、分析管の弧状に一
致した軌道にのつたイオンだけが捕捉される。イオンコ
レクタ7は例えば電子倍増管であつて、ここで電子なだ
れ現象を利用した増巾が行われ、検出信号はさらに広帯
域増巾器8で増巾されたのち、シーケンス制御装置14
により加速電圧の切換えと同期して時分割制御される2
個のサンプルホールド回路9,9′を経て2素子のマス
フラグメントグラフ記録器10により同時に2チヤネル
のマスフラグメントグラフが記録される。他方、分析管
5の入口には全イオン検出器11が設けられており、増
巾器12を経てガスクロマトグラフ記録器13によりガ
スクロマトグラフが記録される。イオン化室3に印加す
るイオン加速電圧Vは直流電源の電圧。
と、抵抗R。と抵抗Rl,R,またはR3との分割比に
より決定される。すなわち、抵抗R1〜R,にはそれぞ
れ並列にリレーK1−K3のB接点BKl〜BK3がそ
れぞれ接続されており、接点BKlのみが0FFで他の
接点BK2,BK3がいずれも0Nのときの加速電圧V
は抵抗RO(5R1の分割比で定まるから、となり、同
様にして接点BK,のみが0Nのときの加速電圧Vはと
なり、接点BK3のみが0Nのときの加速電圧Vはとな
り、さらに、リレーK1〜K3がすべて消磁状態で接点
BKl〜BK3がいずれも0N状態のときの加速電圧V
はV4=VO・・・・・・・・・・・・・・・ (5)
となる。
より決定される。すなわち、抵抗R1〜R,にはそれぞ
れ並列にリレーK1−K3のB接点BKl〜BK3がそ
れぞれ接続されており、接点BKlのみが0FFで他の
接点BK2,BK3がいずれも0Nのときの加速電圧V
は抵抗RO(5R1の分割比で定まるから、となり、同
様にして接点BK,のみが0Nのときの加速電圧Vはと
なり、接点BK3のみが0Nのときの加速電圧Vはとな
り、さらに、リレーK1〜K3がすべて消磁状態で接点
BKl〜BK3がいずれも0N状態のときの加速電圧V
はV4=VO・・・・・・・・・・・・・・・ (5)
となる。
ここで電圧1の?の質量数m1のイオンがイオンコレク
タ7に捕捉されるように抵抗値R,が調整され、同様に
、電圧V2のときに質量数M2のイオンが捕捉されるよ
うに抵抗値R2が調整さ瓢電圧3のときには質量数M3
のイオンが、また電圧4のときには質量数M,のイオン
が捕捉されるように抵抗値R3および電圧V。が調整さ
れているものとする。この抵抗値は調整自在であつて、
他の所望の質量数に対応させることができる。リレーK
1〜K3はシーケンス制御装置14およびこれに接続さ
れたタイマー装置15により予め設定されたプログラム
に従つて駆動される。
タ7に捕捉されるように抵抗値R,が調整され、同様に
、電圧V2のときに質量数M2のイオンが捕捉されるよ
うに抵抗値R2が調整さ瓢電圧3のときには質量数M3
のイオンが、また電圧4のときには質量数M,のイオン
が捕捉されるように抵抗値R3および電圧V。が調整さ
れているものとする。この抵抗値は調整自在であつて、
他の所望の質量数に対応させることができる。リレーK
1〜K3はシーケンス制御装置14およびこれに接続さ
れたタイマー装置15により予め設定されたプログラム
に従つて駆動される。
第3図に、シーケンス制御装置14の具体的回路例を示
す。フリツプフロツプ回路33はオツシレータ32のパ
ルス信号により反転をくり返し、その出力端子Q,Qよ
り10Hz〜数10Hzの方形波を発生する。この方形
波出力は、一方では、リレーKTl,K★の切換え接点
kσ KT2、加速電圧調節器用セレクタの切換スイツ
チSWl〜SW4を経て前記リレーK1〜K3を制御し
、他方では、サンプルホールド回路9,9′内のリレー
KSlKS2を駆動してイオンコレクタ7から記録計1
0への信号の分配を制御する。上記切換接点KT,のB
接点b1は切換スイツチSWlのコモン接点に接続され
、またA接点A,は切換スイツチSW2のコモン接点に
接続され、上記切換接点KT2のB接点B,は切換スイ
ツチSW3のコモン接点に接続され、またA接点A2は
切換スイツチSW4のコモン接点に接続されている。切
換スイツチSWl?賓5の各切換接点のうち互いに対応
するもの同士が接続されており、第1の接点はリレーK
1の入力線に接続され、第2の接点はリレーK2の入力
線に接続され、第3の接点はリレーK3の入力線に接続
され、第4の接点はリレーK1〜K3をすべて消磁状態
におくためいずれにも接続されていない。図示の場合、
Q=1のときにはスイツチSWlを経てリレーK1が励
磁され、Q=1のときにはスイツチSW3を経てリレー
K3が励磁され、このK1とK3との切換制御はサンプ
ルホールド回路のリレーKSl,K82の切換制御に同
期して行われる。なお、サンプルホールド回路の分配用
スイツチング回路は、リレー接点によるほかトランジス
タによるスイツチング回路、ANDゲート回路によつて
も実施することができる。オツシレータ・コントロール
回路31は、上記オツシレータ32とフリツプフロツプ
回路33による時分割信号の発生を制御するためのもの
で、この出力信号が発せられるとオツシレータ32の発
振が停止するとともにフリツプフロツプ回路33の状態
がりセツトされる。この装置を使用して質量Ml,m2
,m3,rn4をもつ試料成分についてのマスフラグメ
ントグラムを作成するには、予め切換時点Tl,T2を
タイマー15により設定し、あるいはクロマトグラフの
ピーク終了信号に基づいて切換指示信号を出力させる。
す。フリツプフロツプ回路33はオツシレータ32のパ
ルス信号により反転をくり返し、その出力端子Q,Qよ
り10Hz〜数10Hzの方形波を発生する。この方形
波出力は、一方では、リレーKTl,K★の切換え接点
kσ KT2、加速電圧調節器用セレクタの切換スイツ
チSWl〜SW4を経て前記リレーK1〜K3を制御し
、他方では、サンプルホールド回路9,9′内のリレー
KSlKS2を駆動してイオンコレクタ7から記録計1
0への信号の分配を制御する。上記切換接点KT,のB
接点b1は切換スイツチSWlのコモン接点に接続され
、またA接点A,は切換スイツチSW2のコモン接点に
接続され、上記切換接点KT2のB接点B,は切換スイ
ツチSW3のコモン接点に接続され、またA接点A2は
切換スイツチSW4のコモン接点に接続されている。切
換スイツチSWl?賓5の各切換接点のうち互いに対応
するもの同士が接続されており、第1の接点はリレーK
1の入力線に接続され、第2の接点はリレーK2の入力
線に接続され、第3の接点はリレーK3の入力線に接続
され、第4の接点はリレーK1〜K3をすべて消磁状態
におくためいずれにも接続されていない。図示の場合、
Q=1のときにはスイツチSWlを経てリレーK1が励
磁され、Q=1のときにはスイツチSW3を経てリレー
K3が励磁され、このK1とK3との切換制御はサンプ
ルホールド回路のリレーKSl,K82の切換制御に同
期して行われる。なお、サンプルホールド回路の分配用
スイツチング回路は、リレー接点によるほかトランジス
タによるスイツチング回路、ANDゲート回路によつて
も実施することができる。オツシレータ・コントロール
回路31は、上記オツシレータ32とフリツプフロツプ
回路33による時分割信号の発生を制御するためのもの
で、この出力信号が発せられるとオツシレータ32の発
振が停止するとともにフリツプフロツプ回路33の状態
がりセツトされる。この装置を使用して質量Ml,m2
,m3,rn4をもつ試料成分についてのマスフラグメ
ントグラムを作成するには、予め切換時点Tl,T2を
タイマー15により設定し、あるいはクロマトグラフの
ピーク終了信号に基づいて切換指示信号を出力させる。
実施例において質量数m1をもつイオンの保持時間が質
量数M2をもつイオンのそれよりも短く、また、質量数
M3をもつイオンの保持時間が質量数M4をもつイオン
のそれよりも短いものとして以下説明する。シーケンス
制御装置14によるプログラムのはじめは、第3図に示
すようにリレーKTl,KT2ともに消磁状態にあつて
、リレーK1とK3が交互に励磁され、イオン加速電圧
Vは式(2)で表されるV1と式(4)で表されるV3
に交互に切換えられ、従つてイオンコレクタ7には質量
数m1のイオンと質量数M3のイオンが交互に捕捉され
る。
量数M2をもつイオンのそれよりも短く、また、質量数
M3をもつイオンの保持時間が質量数M4をもつイオン
のそれよりも短いものとして以下説明する。シーケンス
制御装置14によるプログラムのはじめは、第3図に示
すようにリレーKTl,KT2ともに消磁状態にあつて
、リレーK1とK3が交互に励磁され、イオン加速電圧
Vは式(2)で表されるV1と式(4)で表されるV3
に交互に切換えられ、従つてイオンコレクタ7には質量
数m1のイオンと質量数M3のイオンが交互に捕捉され
る。
この信号はサンプルホールド回路のリレーKSl,KS
2の接点の開閉制御により記録計10の各チヤネルに分
配され第1チヤネルが質量数m1のグラフを、第2チヤ
ネルが質量数M3のグラフを同時に画いてゆく。やがて
保持時間がT1になるとタイマー15の出力によりリレ
ーKT,が励磁されて接点KTlがA接点側に切換わり
、第1チヤネルのみが質量数M2のイオンに係るグラフ
を画くように切換えられ、しばらく後に保持時間がT2
になるとリレーKT,も励磁されて接点KT2もA接点
側に切換わり、第2チヤネルも質量数M4のイオンに係
るグラフを画くように切換えられる。このようにして第
4図に示すようなガスクロマトグラフGCおよびマスフ
ラグメントグラフMFを得ることができる。なお、切換
時点Tl,T2を示す区切りマークは切換指示信号に基
づいて記録計10により記入されたものである。以上、
2チヤネルの記録計を用いて4種の質量数M,〜M4の
マスフラグメントグラフを作成する装置について説明し
たが、プログラムにより任意種類の質量数についても実
施することができるのは勿論である。次に時分割切換制
御を停止させた場合の動作を説明する。
2の接点の開閉制御により記録計10の各チヤネルに分
配され第1チヤネルが質量数m1のグラフを、第2チヤ
ネルが質量数M3のグラフを同時に画いてゆく。やがて
保持時間がT1になるとタイマー15の出力によりリレ
ーKT,が励磁されて接点KTlがA接点側に切換わり
、第1チヤネルのみが質量数M2のイオンに係るグラフ
を画くように切換えられ、しばらく後に保持時間がT2
になるとリレーKT,も励磁されて接点KT2もA接点
側に切換わり、第2チヤネルも質量数M4のイオンに係
るグラフを画くように切換えられる。このようにして第
4図に示すようなガスクロマトグラフGCおよびマスフ
ラグメントグラフMFを得ることができる。なお、切換
時点Tl,T2を示す区切りマークは切換指示信号に基
づいて記録計10により記入されたものである。以上、
2チヤネルの記録計を用いて4種の質量数M,〜M4の
マスフラグメントグラフを作成する装置について説明し
たが、プログラムにより任意種類の質量数についても実
施することができるのは勿論である。次に時分割切換制
御を停止させた場合の動作を説明する。
オツシレータ・コントロール回路31によりオツシレー
タ32の発振を停止させフリツプフロツプ回路33を常
にりセツト状態Q=1に保つた状態においては、サンプ
ルホールド回路のリレーKSlのみが持続的に励磁され
るからマスフラグメントグラフ記録器10は第1チヤネ
ルのみが有効に動作し、加速電圧切換え回路のリレーも
、保持時間がT1に達するまではリレーK1のみが、ま
たT1以後はリレーK2のみが持続的に励磁される。従
つて質量数m1と質量数M2のマスフラグメントグラフ
が1チヤネルの記録器により得ることができる。なお、
上記実施例の加速電圧Vの切換手段として1個の直流電
源電圧を抵抗分圧する方法を説明したが、これに代え、
異なる電圧値をもつ複数の直流電源を設けこれを選択的
に印加するよう構成することもできる。
タ32の発振を停止させフリツプフロツプ回路33を常
にりセツト状態Q=1に保つた状態においては、サンプ
ルホールド回路のリレーKSlのみが持続的に励磁され
るからマスフラグメントグラフ記録器10は第1チヤネ
ルのみが有効に動作し、加速電圧切換え回路のリレーも
、保持時間がT1に達するまではリレーK1のみが、ま
たT1以後はリレーK2のみが持続的に励磁される。従
つて質量数m1と質量数M2のマスフラグメントグラフ
が1チヤネルの記録器により得ることができる。なお、
上記実施例の加速電圧Vの切換手段として1個の直流電
源電圧を抵抗分圧する方法を説明したが、これに代え、
異なる電圧値をもつ複数の直流電源を設けこれを選択的
に印加するよう構成することもできる。
また式(1)の加速電圧←定とし、磁場の強さHを変化
させることにより実施することもできる。なお第2図の
サンプルホールド回路9,9′、シーケンス制御装置1
4、タイマー15は個々の部品にて構成されているが、
マイクロコンピュータを用いて同様の制御動作、あるい
はデータ収録動作をさせるようにしてもよい。
させることにより実施することもできる。なお第2図の
サンプルホールド回路9,9′、シーケンス制御装置1
4、タイマー15は個々の部品にて構成されているが、
マイクロコンピュータを用いて同様の制御動作、あるい
はデータ収録動作をさせるようにしてもよい。
以上説明したように、この発明によれば予め定められた
グラフ部分だけを選択的に記録させることができるので
、記録計のチヤネル数よりも多い質量数についてのマス
フラグメントグラムを得ることができる。
グラフ部分だけを選択的に記録させることができるので
、記録計のチヤネル数よりも多い質量数についてのマス
フラグメントグラムを得ることができる。
そして、このようにして得られたマスフラグメントグラ
ムは、従来装置におけるような時分割制御に起因するノ
イズが含まれていないのでS/N比が良く、単イオン検
出器と同等の感度が得られる。また、マスフラグメント
グラフイ一においてピークが表れる部分は全体の一部分
でしかなく、従来装置によればピークの表れない部分も
記録計に記録されていたが、この発明によれば、利用目
的の定まつている部分のみを選択的に記録してゆくので
記録計に関する装置、回路素子数記録チヤネル数が簡素
化される。このことは分析装置の利用者から見れば、グ
ラフに記載された情報密度をさらに高められたことを意
味している。さらに、従来任意の質量数についてのマス
クロマトグラフ、マスフラグメントグラフを得る方法と
して、GC−MS装置とコンピユータとを組合わせすべ
てのデータを一たん記憶装置へ読込ませたのちに指定さ
れた質量数についてのグラフを作成させる方法が開発さ
れているが、極めて高価かっ大型の装置となるため使用
者が限られていた。
ムは、従来装置におけるような時分割制御に起因するノ
イズが含まれていないのでS/N比が良く、単イオン検
出器と同等の感度が得られる。また、マスフラグメント
グラフイ一においてピークが表れる部分は全体の一部分
でしかなく、従来装置によればピークの表れない部分も
記録計に記録されていたが、この発明によれば、利用目
的の定まつている部分のみを選択的に記録してゆくので
記録計に関する装置、回路素子数記録チヤネル数が簡素
化される。このことは分析装置の利用者から見れば、グ
ラフに記載された情報密度をさらに高められたことを意
味している。さらに、従来任意の質量数についてのマス
クロマトグラフ、マスフラグメントグラフを得る方法と
して、GC−MS装置とコンピユータとを組合わせすべ
てのデータを一たん記憶装置へ読込ませたのちに指定さ
れた質量数についてのグラフを作成させる方法が開発さ
れているが、極めて高価かっ大型の装置となるため使用
者が限られていた。
この発明によれば構造簡単な多種イオン検出器が製作す
ることができ安価に提供することができる。
ることができ安価に提供することができる。
第1図は従来装置によるマスフラグメントグラムの一例
を示す。 第2図はこの発明の実施例の回路構成図である。第3図
は第2図のシーケンス制御装置14の一実施例を示す回
路図である。第4図は上記実施例によるマスフラグメン
トグラムの一例を示す。1・・・・・・クロマトグラフ
装置、2・・・・・・セパレータ、3・・・・・・イオ
ン化室、4・・・・・・加速収束電極、5・・・・・・
分析管、6・・・・・・磁石、7・・・・・・イオンコ
レクタ、8・・・・・・広帯域増巾器、9,9′・・・
・・・サンプルホールド回路、10・・・・・・マスフ
ラグメントグラフ記録器、11・・・・・・全イオン検
出器、12・・・・・・増巾器、13・・・・・・クロ
マトグラフ記録器、14・・・・・・シーケンス制御装
置、15・・・・・・タイマー。
を示す。 第2図はこの発明の実施例の回路構成図である。第3図
は第2図のシーケンス制御装置14の一実施例を示す回
路図である。第4図は上記実施例によるマスフラグメン
トグラムの一例を示す。1・・・・・・クロマトグラフ
装置、2・・・・・・セパレータ、3・・・・・・イオ
ン化室、4・・・・・・加速収束電極、5・・・・・・
分析管、6・・・・・・磁石、7・・・・・・イオンコ
レクタ、8・・・・・・広帯域増巾器、9,9′・・・
・・・サンプルホールド回路、10・・・・・・マスフ
ラグメントグラフ記録器、11・・・・・・全イオン検
出器、12・・・・・・増巾器、13・・・・・・クロ
マトグラフ記録器、14・・・・・・シーケンス制御装
置、15・・・・・・タイマー。
Claims (1)
- 1 クロマトグラフ装置と質量分析計を結合したクロマ
トグラフ質量分析計において、上記クロマトグラフ装置
より溶出される各フラグメントの所定の溶出時間に応じ
て動作するスイッチ要素と、そのスイッチ要素により上
記質量分析計のイオン加速電圧を上記各フラグメントの
比電荷に対応して切換える手段とを有し、記録計の1チ
ャンネルに比電荷の異なる2種以上のフラグメントを記
録するよう構成された多種イオン検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50093817A JPS5912986B2 (ja) | 1975-07-31 | 1975-07-31 | 多種イオン検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50093817A JPS5912986B2 (ja) | 1975-07-31 | 1975-07-31 | 多種イオン検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5217886A JPS5217886A (en) | 1977-02-10 |
| JPS5912986B2 true JPS5912986B2 (ja) | 1984-03-27 |
Family
ID=14092939
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50093817A Expired JPS5912986B2 (ja) | 1975-07-31 | 1975-07-31 | 多種イオン検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5912986B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50154821A (ja) * | 1974-06-05 | 1975-12-13 | ||
| DE3149596A1 (de) * | 1981-12-15 | 1983-06-23 | Uni-Cardan Ag, 5200 Siegburg | Verbindung von teilen |
| JP2535019Y2 (ja) * | 1993-04-15 | 1997-05-07 | 櫻護謨株式会社 | 消防ホース |
| JP2006266854A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Shinku Jikkenshitsu:Kk | 全圧測定電極付き四重極質量分析計及びこれを用いる真空装置 |
-
1975
- 1975-07-31 JP JP50093817A patent/JPS5912986B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5217886A (en) | 1977-02-10 |
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