JPS5913079B2 - 複数の検出器を用いた多点検出法 - Google Patents
複数の検出器を用いた多点検出法Info
- Publication number
- JPS5913079B2 JPS5913079B2 JP51067468A JP6746876A JPS5913079B2 JP S5913079 B2 JPS5913079 B2 JP S5913079B2 JP 51067468 A JP51067468 A JP 51067468A JP 6746876 A JP6746876 A JP 6746876A JP S5913079 B2 JPS5913079 B2 JP S5913079B2
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- Japan
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- detector
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- Expired
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- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は複数の検出器を用いた多点検出法に関する。
この発明は、被検出体表面全体にわたつて均一に測定検
出することができ、しかも検出器出力側に接続される増
巾器、信号処理回路などが複数の検出器に対して１個で
すむ多点検出法を提供するものである。
出することができ、しかも検出器出力側に接続される増
巾器、信号処理回路などが複数の検出器に対して１個で
すむ多点検出法を提供するものである。
０ そしてこの発明は、被検出体の表面上に所定方向に
沿つて所要間隔で複数個の検出器を配列し、これらの検
出器に、それらの出力信号を順次切換えて１つの出力端
子に導くための切換スイッチの各入力端子をそれぞれ接
続し、前記被検出体と前５ 記検出器とを前記所定方向
と直交する方向に相対的に移動させておき、前記所要間
隔をほぼ走査巾として前記検出器により前記被検出体を
前記所定方向に検出器数と同数回走査するとともに、各
走査毎に、各検出器に対して１走査時間の検出器数υ
分のｌの等しい時間ずつ全検出器の出力信号を選択し、
しかも前記検出器数と同数回の走査において、各走査毎
に全検出器を異なる順序で選択するように前記切換スイ
ッチを切換える過程を有して、前記被検出体表面上の走
査方向全域にわたる検出’５ 信号を得ることを特徴と
するものである。
沿つて所要間隔で複数個の検出器を配列し、これらの検
出器に、それらの出力信号を順次切換えて１つの出力端
子に導くための切換スイッチの各入力端子をそれぞれ接
続し、前記被検出体と前５ 記検出器とを前記所定方向
と直交する方向に相対的に移動させておき、前記所要間
隔をほぼ走査巾として前記検出器により前記被検出体を
前記所定方向に検出器数と同数回走査するとともに、各
走査毎に、各検出器に対して１走査時間の検出器数υ
分のｌの等しい時間ずつ全検出器の出力信号を選択し、
しかも前記検出器数と同数回の走査において、各走査毎
に全検出器を異なる順序で選択するように前記切換スイ
ッチを切換える過程を有して、前記被検出体表面上の走
査方向全域にわたる検出’５ 信号を得ることを特徴と
するものである。
以下、図面を参照して詳しく説明する。被検出体の代表
的な例は第１図に示すように、長さ方向（矢印（Ｔ）で
示す）に一定速度で移動される紙、フィルム等の帯状体
１１である。
的な例は第１図に示すように、長さ方向（矢印（Ｔ）で
示す）に一定速度で移動される紙、フィルム等の帯状体
１１である。
そし１０て、この帯状被検出体１１の厚さ、傷、温度、
水分などが測定、検出される。厚さを測定する場合には
レーザ光などの光線を被検出体１１に投射してその透過
率を測定する厚さ検出器が、傷の検出は上記透過率の変
化率を検出する検出器が、温度３５の測定は被検出体か
らの全放射を測定する検出器が、水分の検出は近赤外線
、マイクロ波などの水分による吸収を測定する検出器が
それぞれ用いられる。このような５個の検出器１２が被
検出体１１の移動方向Ｔと直交する方向に沿つて所要間
隔ｔで配列され走査用往復棒１３上に固定される。
水分などが測定、検出される。厚さを測定する場合には
レーザ光などの光線を被検出体１１に投射してその透過
率を測定する厚さ検出器が、傷の検出は上記透過率の変
化率を検出する検出器が、温度３５の測定は被検出体か
らの全放射を測定する検出器が、水分の検出は近赤外線
、マイクロ波などの水分による吸収を測定する検出器が
それぞれ用いられる。このような５個の検出器１２が被
検出体１１の移動方向Ｔと直交する方向に沿つて所要間
隔ｔで配列され走査用往復棒１３上に固定される。
この往復棒１３は図示しない走査装置によりその長さ方
向（矢印Ｓで示す）に往復動され、検出器１２は走査巾
ｔ′（−Ｔ方向と直交するＳ方向に被検出体１１表面上
を走査する。走査速度は被検出体１１の移動速度よりも
はる力・に大きく設定される。第２図に示すように、５
個の検出器１２の出力側は切換スイツチ１４に接続され
ており、検出信号はこのスイツチ１４を経て、増巾器ま
たは適宜な信号処理回路１５に送られ、さらにデジタル
計算機１６に入力される。切換スイツチ１４としてはデ
ジタルスイツチが最も好ましい。検出器１２による走査
と、切換スイツチ１４の切換順序との関係は第３図に示
されている。
向（矢印Ｓで示す）に往復動され、検出器１２は走査巾
ｔ′（−Ｔ方向と直交するＳ方向に被検出体１１表面上
を走査する。走査速度は被検出体１１の移動速度よりも
はる力・に大きく設定される。第２図に示すように、５
個の検出器１２の出力側は切換スイツチ１４に接続され
ており、検出信号はこのスイツチ１４を経て、増巾器ま
たは適宜な信号処理回路１５に送られ、さらにデジタル
計算機１６に入力される。切換スイツチ１４としてはデ
ジタルスイツチが最も好ましい。検出器１２による走査
と、切換スイツチ１４の切換順序との関係は第３図に示
されている。
この図は明瞭にするために被検出体１１の巾方向（Ｓ方
向）よりも長さ方向（Ｔ方向）をより大きな比率で拡大
して示してある。いま、５個の検出器１２を第３図左側
（Ｌ側）から（Ｒ側）へ向う順序でＡ，，Ａ２，Ａ３，
Ａ４，Ａ５とする。また被検出体１１表面をその巾方向
に５等分して各領域をＬ側からＲ側へ向う順序でＢｌ，
Ｂ２，Ｂ，，Ｂ４，Ｂ５とする。この例では各領域Ｂｎ
の巾は検出器１２の走査巾ｔに等しく、各領域Ｂｎは各
添数字１〜５の対応する検出器Ａｎによつて走査される
。切換スイツチ１４は各走査毎に全検出器Ａ，〜Ａ５に
対して切換えられ、その切換順序は、Ｌ側からＲ側への
走査１ｆ１Ｃおいて検出器Ａ１→Ａ，→Ａ３→Ａ４→Ａ
，の順とする。次のＲ側からＬ側への走査においては検
出器Ａ４→Ａ３→Ａ２→Ａ１→Ａ５の順とし、以下第３
図に示す順序で順次切換えられる。検出器１２の個数５
と同数の走査回数で、被検出体１１の全巾に対する第１
検査操作が完了する。第２検出操作は、Ｒｌｌｌｌ力）
らＬ側への走査からはじまり、このとき切換スイツチ１
４は検出器Ａ，→Ａ４→Ａ３→Ａ２→Ａ１の順で切換え
られる。次のＬ側からＲｇ４８への走査においては、検
出器Ａ５→Ａ１→Ａ２→Ａ３→Ａ４の順で切換えられ、
以下第３図に示す走査Ｘまでの走査で第２検出操作が完
了する。以下、全く同様にこの第１および第２検出操作
が繰返される。さて、各領域Ｂｎにおいて、１回の走査
によつて検出される被検出体１１表面上の各検出区分Ｃ
ｎｍの巾は、各領域Ｂｎの丁度１／５であり、かつＣｎ
ｍの連続検出時間ぱ走査時間を検出器１２の個数５で除
した時間となる。各区分Ｃｎｍは走査がＳ方向に、被検
出体１２の移動がこれと直交するＴ方向になされるから
、きわめてゆるく傾斜している。領域Ｂ，についてみれ
ば、走査１で左側から第１番目の区分Ｃ，，が検出され
、走査で第２番目の区分Ｃ，２が、以下同様にして走査
Ｖでは区分Ｃ，５が検出されるから、第１検出操作でこ
の領域Ｂ１はその巾方向全域にわたつて検出がなされて
いることが理解できるであろう。
向）よりも長さ方向（Ｔ方向）をより大きな比率で拡大
して示してある。いま、５個の検出器１２を第３図左側
（Ｌ側）から（Ｒ側）へ向う順序でＡ，，Ａ２，Ａ３，
Ａ４，Ａ５とする。また被検出体１１表面をその巾方向
に５等分して各領域をＬ側からＲ側へ向う順序でＢｌ，
Ｂ２，Ｂ，，Ｂ４，Ｂ５とする。この例では各領域Ｂｎ
の巾は検出器１２の走査巾ｔに等しく、各領域Ｂｎは各
添数字１〜５の対応する検出器Ａｎによつて走査される
。切換スイツチ１４は各走査毎に全検出器Ａ，〜Ａ５に
対して切換えられ、その切換順序は、Ｌ側からＲ側への
走査１ｆ１Ｃおいて検出器Ａ１→Ａ，→Ａ３→Ａ４→Ａ
，の順とする。次のＲ側からＬ側への走査においては検
出器Ａ４→Ａ３→Ａ２→Ａ１→Ａ５の順とし、以下第３
図に示す順序で順次切換えられる。検出器１２の個数５
と同数の走査回数で、被検出体１１の全巾に対する第１
検査操作が完了する。第２検出操作は、Ｒｌｌｌｌ力）
らＬ側への走査からはじまり、このとき切換スイツチ１
４は検出器Ａ，→Ａ４→Ａ３→Ａ２→Ａ１の順で切換え
られる。次のＬ側からＲｇ４８への走査においては、検
出器Ａ５→Ａ１→Ａ２→Ａ３→Ａ４の順で切換えられ、
以下第３図に示す走査Ｘまでの走査で第２検出操作が完
了する。以下、全く同様にこの第１および第２検出操作
が繰返される。さて、各領域Ｂｎにおいて、１回の走査
によつて検出される被検出体１１表面上の各検出区分Ｃ
ｎｍの巾は、各領域Ｂｎの丁度１／５であり、かつＣｎ
ｍの連続検出時間ぱ走査時間を検出器１２の個数５で除
した時間となる。各区分Ｃｎｍは走査がＳ方向に、被検
出体１２の移動がこれと直交するＴ方向になされるから
、きわめてゆるく傾斜している。領域Ｂ，についてみれ
ば、走査１で左側から第１番目の区分Ｃ，，が検出され
、走査で第２番目の区分Ｃ，２が、以下同様にして走査
Ｖでは区分Ｃ，５が検出されるから、第１検出操作でこ
の領域Ｂ１はその巾方向全域にわたつて検出がなされて
いることが理解できるであろう。
領賊Ｂ２〜Ｂ５についてもその検出順序は異なるが全く
全く同様に各領域Ｂｎの巾方向全域にわたつて検出が行
なわれ、被検出体１１は第１検出操作でその巾方向全域
にわたつて測定検出がなされ、全域の検出データが得ら
れる。第２検出操作においても全く同様である。しかも
、第３図ではＴ方向がより拡大されているから了解しに
くいが、走査速度は被検出体１１の移動速度よりもはる
かに速く、かつ一般に検出器はある程度の検出巾（Ｔ方
向》を有しているから被検出体１１はその巾方向全域に
わたつて連続的に検出されている。上記方法により得ら
れた各区分Ｃｎｍの検出信号は増巾器１５を経て計算機
１６に入力され、この討算機１６内で走査の向き（Ｌｌ
ｌｌＩからＲ側へ向うの０）、これとは逆か》および切
換スイツチ１４の切換換順序にもとずいて該信号の検出
位置が算出され、各位置毎に検出データとして所定のエ
リヤに記憶される。
全く同様に各領域Ｂｎの巾方向全域にわたつて検出が行
なわれ、被検出体１１は第１検出操作でその巾方向全域
にわたつて測定検出がなされ、全域の検出データが得ら
れる。第２検出操作においても全く同様である。しかも
、第３図ではＴ方向がより拡大されているから了解しに
くいが、走査速度は被検出体１１の移動速度よりもはる
かに速く、かつ一般に検出器はある程度の検出巾（Ｔ方
向》を有しているから被検出体１１はその巾方向全域に
わたつて連続的に検出されている。上記方法により得ら
れた各区分Ｃｎｍの検出信号は増巾器１５を経て計算機
１６に入力され、この討算機１６内で走査の向き（Ｌｌ
ｌｌＩからＲ側へ向うの０）、これとは逆か》および切
換スイツチ１４の切換換順序にもとずいて該信号の検出
位置が算出され、各位置毎に検出データとして所定のエ
リヤに記憶される。
そして、５回の走査で巾方向の全点検出データの取込み
が完了する。なお、この発明は上記の例以外に、帯状圧
延材の探傷などにも適用可能であり、さらに被検出体と
してはその長さ方向に移動される帯状体に限られず、被
検出体を静止させておいてもよい。
が完了する。なお、この発明は上記の例以外に、帯状圧
延材の探傷などにも適用可能であり、さらに被検出体と
してはその長さ方向に移動される帯状体に限られず、被
検出体を静止させておいてもよい。
この場合には検出器が一定方向に移動される。検出器と
しても先に列挙したもの以外にも、被検出体、検出対象
に応じて有接触、無接触を問わず種々選定しうる。もち
ろん、検出器は５個に限られない。さらに、切換スイツ
チの切換順序も上記の例以外に種々あり、いずれにして
も検出器数と同数の走査数ですべての点の検出がなされ
る順序組合せであればよい。また、検出器また被検出体
は各走査毎に間欠的に運動させるようにすることも可能
である。以上詳細に説明したように、この発明では複数
個の検出器を検出器間の配列間隔をその走査巾として走
査し、かつその各走査において検出器の出力信号を全検
出器にわたつて切換えており、し０）もこの切換えは検
出器数と同数回の走査によつて各検出器の対応する走査
巾全体にわたる出力信号が得られるように行なわれてい
るかち、被検出体表面全体にわたつて均一に網羅して測
定検出することができるとともに、被検出体の巾方向に
連続的に検出可能であり、比較的数の少ない検出器で、
きわめて巾の広い被検出体表面の連続検出が達成される
。
しても先に列挙したもの以外にも、被検出体、検出対象
に応じて有接触、無接触を問わず種々選定しうる。もち
ろん、検出器は５個に限られない。さらに、切換スイツ
チの切換順序も上記の例以外に種々あり、いずれにして
も検出器数と同数の走査数ですべての点の検出がなされ
る順序組合せであればよい。また、検出器また被検出体
は各走査毎に間欠的に運動させるようにすることも可能
である。以上詳細に説明したように、この発明では複数
個の検出器を検出器間の配列間隔をその走査巾として走
査し、かつその各走査において検出器の出力信号を全検
出器にわたつて切換えており、し０）もこの切換えは検
出器数と同数回の走査によつて各検出器の対応する走査
巾全体にわたる出力信号が得られるように行なわれてい
るかち、被検出体表面全体にわたつて均一に網羅して測
定検出することができるとともに、被検出体の巾方向に
連続的に検出可能であり、比較的数の少ない検出器で、
きわめて巾の広い被検出体表面の連続検出が達成される
。
また複数の検出器に、それらの出力信号を順次切換えて
１つの出力端子に導くための切換スイツチを接続してそ
れらの検出信号を切換えているので、後段の増巾器や信
号処理回路が１個ですみ、構成が簡素となり経済的であ
る。
１つの出力端子に導くための切換スイツチを接続してそ
れらの検出信号を切換えているので、後段の増巾器や信
号処理回路が１個ですみ、構成が簡素となり経済的であ
る。
第１図は被検出体および検出器の配置状態を示す斜視図
、第２図は検出器の接続状態を示す回路図、第３図は検
出操作の説明図である。 １１・・・被検出体、１２，Ａ１〜Ａ５・・・検出器、
１３・・・走査用往復棒、１４・・・切換スイツチ、１
５・・・信号処理回路、１６・・・デジタル計算機、Ｂ
１〜Ｂ５・・・各検出器の走査領域、Ｃｌ，〜Ｃｎｍ・
・・検出区分、Ｓ・・・検出器の走査方向、Ｔ・・・被
検出体の移動方向。
、第２図は検出器の接続状態を示す回路図、第３図は検
出操作の説明図である。 １１・・・被検出体、１２，Ａ１〜Ａ５・・・検出器、
１３・・・走査用往復棒、１４・・・切換スイツチ、１
５・・・信号処理回路、１６・・・デジタル計算機、Ｂ
１〜Ｂ５・・・各検出器の走査領域、Ｃｌ，〜Ｃｎｍ・
・・検出区分、Ｓ・・・検出器の走査方向、Ｔ・・・被
検出体の移動方向。
Claims (1)
- １ 被検出体の表面上に所定方向に沿つて所要間隔で複
数個の検出器を配列し、これらの検出器に、それらの出
力信号を順次切換えて１つの出力端子に導くための切換
スイッチの各入力端子をそれぞれ接続し、前記被検出体
と前記検出器とを前記所定方向と直交する方向に相対的
に移動させておき、前記所要間隔をほぼ走査巾として前
記検出器により前記被検出体表面上を前記所定方向に検
出器数と同数回走査するとともに、各走査毎に、各検出
器に対して１走査時間の検出器数分の１の時間ずつ全検
出器の出力信号を選択し、しかも前記検出器数と同数回
の走査において、各走査毎に全検出器を異なる順序で選
択するように前記切換スイッチを切換える過程を有して
、前記被検出体表面上の走査方向全域にわたる検出信号
を得ることを特徴とする複数の検出器を用いた多点検出
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51067468A JPS5913079B2 (ja) | 1976-06-08 | 1976-06-08 | 複数の検出器を用いた多点検出法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51067468A JPS5913079B2 (ja) | 1976-06-08 | 1976-06-08 | 複数の検出器を用いた多点検出法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS52150056A JPS52150056A (en) | 1977-12-13 |
| JPS5913079B2 true JPS5913079B2 (ja) | 1984-03-27 |
Family
ID=13345807
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51067468A Expired JPS5913079B2 (ja) | 1976-06-08 | 1976-06-08 | 複数の検出器を用いた多点検出法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5913079B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3899675A (en) * | 1974-03-04 | 1975-08-12 | Cleon Corp | Whole body imaging |
| JPS5258984A (en) * | 1975-11-11 | 1977-05-14 | Toshiba Corp | Flaw detector |
-
1976
- 1976-06-08 JP JP51067468A patent/JPS5913079B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS52150056A (en) | 1977-12-13 |
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