JPS59131252A - テストル−プ設定回路 - Google Patents
テストル−プ設定回路Info
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- JPS59131252A JPS59131252A JP58005435A JP543583A JPS59131252A JP S59131252 A JPS59131252 A JP S59131252A JP 58005435 A JP58005435 A JP 58005435A JP 543583 A JP543583 A JP 543583A JP S59131252 A JPS59131252 A JP S59131252A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- loop
- channel
- time slot
- signal
- subscriber
- Prior art date
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- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/24—Testing correct operation
- H04L1/242—Testing correct operation by comparing a transmitted test signal with a locally generated replica
- H04L1/243—Testing correct operation by comparing a transmitted test signal with a locally generated replica at the transmitter, using a loop-back
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、1本のカロ人者線に複数の加入者チャネルを
多重化して同時使用する加入者線多重システムにおいて
ループ試験を行う際のテストループ設定回路に関するも
のでろる。
多重化して同時使用する加入者線多重システムにおいて
ループ試験を行う際のテストループ設定回路に関するも
のでろる。
従来技術と問題点
一般にループ試験は、端末と通信網間で回線障害の99
分けを行なうために実施されるものであシ、通常は第1
図に示すように、端末20と交換機21の間に設置され
る回線終端装置22において交換機からの折シ返しルー
プAや端末からの折)返しループBが設定される。例え
ば交換機側の折シ返しループを設定す−j場合、第2図
に示すように、回線終端装置22内に設置されている選
択回路23に折シ返しループ起動信号を供給し、交換機
に連なる上ジ・下り回線1の折シ返しを行なう。
分けを行なうために実施されるものであシ、通常は第1
図に示すように、端末20と交換機21の間に設置され
る回線終端装置22において交換機からの折シ返しルー
プAや端末からの折)返しループBが設定される。例え
ば交換機側の折シ返しループを設定す−j場合、第2図
に示すように、回線終端装置22内に設置されている選
択回路23に折シ返しループ起動信号を供給し、交換機
に連なる上ジ・下り回線1の折シ返しを行なう。
なお2は端末に連なる上り・下シ厄線である。
しかしながら、複数のチャネルを有する加入者線多重シ
ステムにおいては、第2図のような従来の方法を採ると
、試験しようとするチャネルだけでなくすべてのチャネ
ルが折シ返されてし甘うため、通話中のチャネルが切断
されてしまうという不都合がらる。そのため、多重化加
入者線に属するすべてのチャネル速度種別とチャネルご
とに、折シ返しループ起動信号を時分割的に監視するこ
とによル、要求されたチャネルだけをiすという構成も
考えられるが、所定のチャネル割シ付けが変更されたと
きにはループ設定回路の構成も変更しなければならない
という問題がある。
ステムにおいては、第2図のような従来の方法を採ると
、試験しようとするチャネルだけでなくすべてのチャネ
ルが折シ返されてし甘うため、通話中のチャネルが切断
されてしまうという不都合がらる。そのため、多重化加
入者線に属するすべてのチャネル速度種別とチャネルご
とに、折シ返しループ起動信号を時分割的に監視するこ
とによル、要求されたチャネルだけをiすという構成も
考えられるが、所定のチャネル割シ付けが変更されたと
きにはループ設定回路の構成も変更しなければならない
という問題がある。
発明の目的
本発明は上述した問題点に鑑みてなされたものでラル、
その目的は、チャネル割付けの変更に併なう構成変更を
必要としないテストループ設定回路を提供することにあ
る。
その目的は、チャネル割付けの変更に併なう構成変更を
必要としないテストループ設定回路を提供することにあ
る。
発明の構成
上記目的を達成する本発明は、各加入者チャイルに送出
されるテスト用の折シ返しループ起動信号をすべてのチ
ャネル速度種別について並行してかつ同一のチャネル速
度種別に属するすべての加入者チャネルについて時分割
的に監視し、該尚の加入者チャネルに対してのみテスト
用の折シ返しループを時分割的に設定するように構成さ
れている。
されるテスト用の折シ返しループ起動信号をすべてのチ
ャネル速度種別について並行してかつ同一のチャネル速
度種別に属するすべての加入者チャネルについて時分割
的に監視し、該尚の加入者チャネルに対してのみテスト
用の折シ返しループを時分割的に設定するように構成さ
れている。
発明の実施例
第3図鉢、本発明が適用される加入者線多重システムに
おける多重化構成の一例を示す図でろる。
おける多重化構成の一例を示す図でろる。
この多重化構成例は、まず多重インタフェースを規定す
るCCITT (国際電信電話諮問妾員会)勧告X、
22 K従ッテ48KbZSを5 つノ9.6KblS
チャネルに分割し、各9.6Kb/Sチヤネルを史に、
第3図上段に例示するようにq、6xb/sの単一の加
入者チャネルAで構成するか、第3図中段に例示するよ
うに各4.8KblSの2個の加入者チャイ・ルBとC
で構成するか又は第3図下段に例示するように各2,4
Kb/Sの4個の加入者チャネルD乃至Gで構成するか
いずれか一つを選択するものとする。すべての加入者チ
ャネルA7′7至Gの1キャラクタ分のタイムスロット
を6ビツトで構成するものとすれば、図示のように、q
、bxb/sの加入者チャネルAのタイムスロット群A
+ + 4 + As・・・・・・の繰返し絢期は1
.6KH2(96Kb/S÷6bitm)となシ、4.
8Kb/sの加入者チャネルB、!:Cのタイムスロッ
ト群Bl+ #2+#B−°°・°°とタイムスロット
群C+、C2,Cs・・曲の繰返し周期は800 Hz
(96KblS÷6 bitg÷2)とな凱2.4K
b/Sの速度の加入者チャネルD乃至Gのタイムスロッ
ト群D1゜D2・・・; E、r E2・・・; F、
、 F2・・・及びG+ 、 G2 ”’の繰返し周
期は400H2(9,6Kb/S÷6bitg÷4)と
なる。9.6Kb/Sのチャイルを例示した3種のうち
いずれの構成とするかは、通常、回線設計時に決定され
るが、本発明ではこれがその後変更された場合でも何ら
変更を必要としないテストルーズ設定回路を提供するも
のである。
るCCITT (国際電信電話諮問妾員会)勧告X、
22 K従ッテ48KbZSを5 つノ9.6KblS
チャネルに分割し、各9.6Kb/Sチヤネルを史に、
第3図上段に例示するようにq、6xb/sの単一の加
入者チャネルAで構成するか、第3図中段に例示するよ
うに各4.8KblSの2個の加入者チャイ・ルBとC
で構成するか又は第3図下段に例示するように各2,4
Kb/Sの4個の加入者チャネルD乃至Gで構成するか
いずれか一つを選択するものとする。すべての加入者チ
ャネルA7′7至Gの1キャラクタ分のタイムスロット
を6ビツトで構成するものとすれば、図示のように、q
、bxb/sの加入者チャネルAのタイムスロット群A
+ + 4 + As・・・・・・の繰返し絢期は1
.6KH2(96Kb/S÷6bitm)となシ、4.
8Kb/sの加入者チャネルB、!:Cのタイムスロッ
ト群Bl+ #2+#B−°°・°°とタイムスロット
群C+、C2,Cs・・曲の繰返し周期は800 Hz
(96KblS÷6 bitg÷2)とな凱2.4K
b/Sの速度の加入者チャネルD乃至Gのタイムスロッ
ト群D1゜D2・・・; E、r E2・・・; F、
、 F2・・・及びG+ 、 G2 ”’の繰返し周
期は400H2(9,6Kb/S÷6bitg÷4)と
なる。9.6Kb/Sのチャイルを例示した3種のうち
いずれの構成とするかは、通常、回線設計時に決定され
るが、本発明ではこれがその後変更された場合でも何ら
変更を必要としないテストルーズ設定回路を提供するも
のである。
第4図は、本発明に係るテストルーズ設定回路の一実施
例の構成ブ四ツク図でメジ、これは上述のように構成さ
れた9、6Kb/Sの1チャネル分のみについて交換機
側回線を折シ返す場合の部分的構1は交換機側の上シ・
下多回線、2は端末側の上シ・下多回線、3は回線1を
折シ返すか回線2を交換機側に接続するかを選択する選
択回路、4はアドレス線、5,6は各々1.6KHzで
カクントアソプされる2進、4進カウンタ、7,8は加
算回路、9はq、6Kb/Sチヤネル監視用制御メモリ
、10はa、airb/Sチャネル監視用制御メモリ、
11はz4Kb/Sf ヤネル監視用制御メモリ、12
は9.6 Kb/Sチャ坏ル用演算回路、13は4.a
xb /Sチャネル用演算回路、14は2.4xb/
Sチャネル用演算回路、15は6ビントシフトレジスク
、16は折シ返しバタン検出回路、 17−1.17
−2及び17−3は各演算回路12、15及び14から
出力される折シ返し指示信号線、18はオア(OR)回
路でるる。また選択回路3のKは選択指示ピントを示し
、オア回路18の出力が1の場合に=1が選択されて回
線1が折シ返される。オア回路18の出力が0の場合に
−0が選択され、回線2が選択される。
例の構成ブ四ツク図でメジ、これは上述のように構成さ
れた9、6Kb/Sの1チャネル分のみについて交換機
側回線を折シ返す場合の部分的構1は交換機側の上シ・
下多回線、2は端末側の上シ・下多回線、3は回線1を
折シ返すか回線2を交換機側に接続するかを選択する選
択回路、4はアドレス線、5,6は各々1.6KHzで
カクントアソプされる2進、4進カウンタ、7,8は加
算回路、9はq、6Kb/Sチヤネル監視用制御メモリ
、10はa、airb/Sチャネル監視用制御メモリ、
11はz4Kb/Sf ヤネル監視用制御メモリ、12
は9.6 Kb/Sチャ坏ル用演算回路、13は4.a
xb /Sチャネル用演算回路、14は2.4xb/
Sチャネル用演算回路、15は6ビントシフトレジスク
、16は折シ返しバタン検出回路、 17−1.17
−2及び17−3は各演算回路12、15及び14から
出力される折シ返し指示信号線、18はオア(OR)回
路でるる。また選択回路3のKは選択指示ピントを示し
、オア回路18の出力が1の場合に=1が選択されて回
線1が折シ返される。オア回路18の出力が0の場合に
−0が選択され、回線2が選択される。
このテストルーズ設定回路は、9.6Kb/Sのテヤイ
・ルに関し第6図に例示した6釉の多重化構成のうちい
ずれが選択されまたその後に変更された場合でも(”J
ら構成上の変更をしなくて済むように、q、6xb/s
チヤイル用、4.8 Kb/’Sチャネル用及び2.4
KblSチャネル用の3重の構成をすべで備え、3重
の並列動作を行なう。6個のチャイル監視用 。
・ルに関し第6図に例示した6釉の多重化構成のうちい
ずれが選択されまたその後に変更された場合でも(”J
ら構成上の変更をしなくて済むように、q、6xb/s
チヤイル用、4.8 Kb/’Sチャネル用及び2.4
KblSチャネル用の3重の構成をすべで備え、3重
の並列動作を行なう。6個のチャイル監視用 。
制御メモリ(以下「制御メモリ」と略称する。)9.1
0及び11は、q、bKb/Sのチャネルに含まれるチ
ャネル数に対応した数の記憶領域を備えている。
0及び11は、q、bKb/Sのチャネルに含まれるチ
ャネル数に対応した数の記憶領域を備えている。
すなわち制御メモリ9は単一のチャネルA(第5図)用
に1個の記憶領域HAを備え、制御メモリ10は2個の
チャネルBとC(第3図)用に2個の記憶領域MBとM
Cを備え、かつ制御メモリ11は4個のチャネルD乃至
G(第6図)用に4個の記憶領域MD乃至NGを備えて
いる。6個の制御メモリ9乃至11に対して、それぞれ
1.6KH2、800B2及び400Hzの周期で巡回
的なアドレスの歩進が行なわれる。すなわち、制御メモ
リ9に対しては、アドレス線4上の1.6 KHzのア
ドレス歩進信号“A″に基づ@ 1.6 KHzの周期
でアドレスの巡回的な歩道が行なわれる。この例ではア
ドレスが1個であるため、同一の記憶領域MAC”A”
)が1.6 KH2周期でアドレスされることになる。
に1個の記憶領域HAを備え、制御メモリ10は2個の
チャネルBとC(第3図)用に2個の記憶領域MBとM
Cを備え、かつ制御メモリ11は4個のチャネルD乃至
G(第6図)用に4個の記憶領域MD乃至NGを備えて
いる。6個の制御メモリ9乃至11に対して、それぞれ
1.6KH2、800B2及び400Hzの周期で巡回
的なアドレスの歩進が行なわれる。すなわち、制御メモ
リ9に対しては、アドレス線4上の1.6 KHzのア
ドレス歩進信号“A″に基づ@ 1.6 KHzの周期
でアドレスの巡回的な歩道が行なわれる。この例ではア
ドレスが1個であるため、同一の記憶領域MAC”A”
)が1.6 KH2周期でアドレスされることになる。
制御メモリ10に対しては、信号線4上の1.6 KH
zのグドレス歩進信号と、これt−2進カクンタ5で計
数した1り又は1−1」との加算回路7による加算結果
に基づき記憶領域MB(A″)とMC<71” + 1
)が8QOHzの周期で交互にアドレスされる。同様
にして制御メモリ11に対してはアドレス線4上の1.
6 KHzのアドレス歩進信号“A”と、これを4進カ
クンタ6で計数した「0」乃至「3」との加算回路8に
よる加算結果に基づき記憶領域MD(“A”)乃至MG
(A”+5)が400H2の周期で交互にアドレスされ
る。上述のようにアドレスされた制御メモリ9乃至11
は、対応のチャネル用演算回路(以下「演算回路」と略
称する。)12乃至14のそれぞれから(N傍線上に出
力されている対応の演算回路の演算結果をアドレスされ
た記憶領域HA乃至MGt/C曹込む。
zのグドレス歩進信号と、これt−2進カクンタ5で計
数した1り又は1−1」との加算回路7による加算結果
に基づき記憶領域MB(A″)とMC<71” + 1
)が8QOHzの周期で交互にアドレスされる。同様
にして制御メモリ11に対してはアドレス線4上の1.
6 KHzのアドレス歩進信号“A”と、これを4進カ
クンタ6で計数した「0」乃至「3」との加算回路8に
よる加算結果に基づき記憶領域MD(“A”)乃至MG
(A”+5)が400H2の周期で交互にアドレスされ
る。上述のようにアドレスされた制御メモリ9乃至11
は、対応のチャネル用演算回路(以下「演算回路」と略
称する。)12乃至14のそれぞれから(N傍線上に出
力されている対応の演算回路の演算結果をアドレスされ
た記憶領域HA乃至MGt/C曹込む。
ループ試験は、従来のループ試験と同様、各加入者チャ
ネルに交換機からのループ起動指示信号を送出し、まず
折)返しループを回線終端装置に設定し、その後試験デ
ータを流すことにより、回線異常の有無を検出するもの
とする。該ループ起動指示信号は(6+2)エンベロー
ブ多重構成をもつ伝送路上の信号で示すと、例えばFl
ooloo、S’とする。ここにFはフレーム同期用ビ
ットでsb、一般に48 Kb/Sの20エンベU−り
(400H2)毎にくシ返すビットバタンか用いられる
。Sは制御ビットでラシ、一般に通信中はON(“1”
)通信中以外、ではOFF (“0”)の値をとる。ル
−プ試験は、従来のようにSがOFF状態で行われるも
のとする。
ネルに交換機からのループ起動指示信号を送出し、まず
折)返しループを回線終端装置に設定し、その後試験デ
ータを流すことにより、回線異常の有無を検出するもの
とする。該ループ起動指示信号は(6+2)エンベロー
ブ多重構成をもつ伝送路上の信号で示すと、例えばFl
ooloo、S’とする。ここにFはフレーム同期用ビ
ットでsb、一般に48 Kb/Sの20エンベU−り
(400H2)毎にくシ返すビットバタンか用いられる
。Sは制御ビットでラシ、一般に通信中はON(“1”
)通信中以外、ではOFF (“0”)の値をとる。ル
−プ試験は、従来のようにSがOFF状態で行われるも
のとする。
析シ返しループは該ループ起動信号F100100S(
S=“0”)が6エ/ベロープ連続して受イ6されると
起動され、以後、試験データ送出中に15工、ンベロー
ブ毎にFloolooS(S=″0”)を検出すると該
折り返しループは維持され続けるものとする。従って逆
にループ解放には、この15エンベロープ毎の信号の送
出を停止すればよい。以上のことを第5図を使って説明
すると、例えはq、 6 xb/sチャネル(第3図(
a))で折シ返しループを起動する場合は、A1.A2
及びA5の3個のタイムスロットに各々F10010Q
S (S=”0”)なる工/ベロープ信号を送出すれは
よく、ルーズを維持するには、J’Ls++sn(ル=
1.2・・・・・・)タイムスロットにp 10010
05(S=“0”)を送出すれはよい。t+、sxb/
Sチ鴫・坏ル(第3図(b))で折シ返しル−プを起動
する場合は、B、。
S=“0”)が6エ/ベロープ連続して受イ6されると
起動され、以後、試験データ送出中に15工、ンベロー
ブ毎にFloolooS(S=″0”)を検出すると該
折り返しループは維持され続けるものとする。従って逆
にループ解放には、この15エンベロープ毎の信号の送
出を停止すればよい。以上のことを第5図を使って説明
すると、例えはq、 6 xb/sチャネル(第3図(
a))で折シ返しループを起動する場合は、A1.A2
及びA5の3個のタイムスロットに各々F10010Q
S (S=”0”)なる工/ベロープ信号を送出すれは
よく、ルーズを維持するには、J’Ls++sn(ル=
1.2・・・・・・)タイムスロットにp 10010
05(S=“0”)を送出すれはよい。t+、sxb/
Sチ鴫・坏ル(第3図(b))で折シ返しル−プを起動
する場合は、B、。
B2及びB!の5個のタイムスロットに上d己と同様の
信号を送ればよい。
信号を送ればよい。
なお該ループ起動コードは、FloolooSに限るも
のでな(5=OFF(“0″)のときに一般に使用され
ないコードでろれはよい。またループ起動及び維持以下
第3図(6)に示すように、 asxb/s回線のう
ち第1番目の9.6Kb/Sチャネルが2つの4.ai
cb/sチャネルBとCで多重使用されてお如、1つの
4.8Kb/SチヤネルBで障害が発生し、障害切り分
けのために交換機側からループ試験が行われる場合のル
ープ起動動作を例にとって第4図の動作を説明する。こ
のテストループ設定回路では上述した各9.6 Kbl
Sチ1.ネル内のチャネル割付けは意識しておらず、上
記ループ起動g号が到来したことでチャネル速度を認識
し、同時にこの速度チャネルの折り返しループを設定す
るように構成されている。
のでな(5=OFF(“0″)のときに一般に使用され
ないコードでろれはよい。またループ起動及び維持以下
第3図(6)に示すように、 asxb/s回線のう
ち第1番目の9.6Kb/Sチャネルが2つの4.ai
cb/sチャネルBとCで多重使用されてお如、1つの
4.8Kb/SチヤネルBで障害が発生し、障害切り分
けのために交換機側からループ試験が行われる場合のル
ープ起動動作を例にとって第4図の動作を説明する。こ
のテストループ設定回路では上述した各9.6 Kbl
Sチ1.ネル内のチャネル割付けは意識しておらず、上
記ループ起動g号が到来したことでチャネル速度を認識
し、同時にこの速度チャネルの折り返しループを設定す
るように構成されている。
まず、交換機からの同線1上のB1タイムスロットにF
100100 S (S=“0”)が到来すると、各
ビノトに対応したクロック(64KHz )でシフトレ
ジスタ15にデータ100100が入力される。該入力
データは最終ビットが入力された後6ビツト並列に折シ
返しバタン検出回路16に出力される。なお、該バタン
検出がS−“0”の場合のみ有効となるようにバタン検
出回路16にチップイネーブル1g号(CI)としてS
ビット値が入力される。バタン検出回路16でループ起
動信号バタン100100が検出されると、その結果が
各演算回路12.13及び14に入力される。一方、こ
のバタン検出と同じタイミングでアドレス線4上に、4
8Kb/S中第1番目の9.6Kb /Sチャネル(第
5図(α)のAチャネル)に対応するアドレス″A”が
供給される。
100100 S (S=“0”)が到来すると、各
ビノトに対応したクロック(64KHz )でシフトレ
ジスタ15にデータ100100が入力される。該入力
データは最終ビットが入力された後6ビツト並列に折シ
返しバタン検出回路16に出力される。なお、該バタン
検出がS−“0”の場合のみ有効となるようにバタン検
出回路16にチップイネーブル1g号(CI)としてS
ビット値が入力される。バタン検出回路16でループ起
動信号バタン100100が検出されると、その結果が
各演算回路12.13及び14に入力される。一方、こ
のバタン検出と同じタイミングでアドレス線4上に、4
8Kb/S中第1番目の9.6Kb /Sチャネル(第
5図(α)のAチャネル)に対応するアドレス″A”が
供給される。
該アドレス“A”が供給されると、制御メモリ9では、
MA番地がアドレスされ、制御メモリ10では2進カウ
ンタ5の出力値を加えたME番地とAfC査地、制御メ
そり11では4進カクンタ6の出力を加えた値MD乃至
MG番地がそれぞれ順次アドレスされる。Biタイムス
ロットは2つの4.8 Kb/’Sチャネルのうち先行
するチrネルとみなされ、2進カウンタ50出力値は“
0”となる。従って、Ctタイムスロットでは2進カウ
ンタ5の出力値は11″となっている。また、4進カウ
ンタ6の出力値は、Diタイムスロノ) 時K 1−O
J 、Eiタイムスロット時K [IJ 、Ftメタイ
ムスロット時「2j 、G sタイムスロット時に1−
3」となるように、各タイムスロット時にカクントアッ
プされるものとする。従ってB1タイムスロット時は制
御メモリ10のアドレスはMB番地、制御メモリ11の
アドレスはMD番地である。
MA番地がアドレスされ、制御メモリ10では2進カウ
ンタ5の出力値を加えたME番地とAfC査地、制御メ
そり11では4進カクンタ6の出力を加えた値MD乃至
MG番地がそれぞれ順次アドレスされる。Biタイムス
ロットは2つの4.8 Kb/’Sチャネルのうち先行
するチrネルとみなされ、2進カウンタ50出力値は“
0”となる。従って、Ctタイムスロットでは2進カウ
ンタ5の出力値は11″となっている。また、4進カウ
ンタ6の出力値は、Diタイムスロノ) 時K 1−O
J 、Eiタイムスロット時K [IJ 、Ftメタイ
ムスロット時「2j 、G sタイムスロット時に1−
3」となるように、各タイムスロット時にカクントアッ
プされるものとする。従ってB1タイムスロット時は制
御メモリ10のアドレスはMB番地、制御メモリ11の
アドレスはMD番地である。
各制御メモIJ 9.10及び11には、ループ起動監
視用irt数ビットLs (s ;0+ 1 + 2
) ト”−り維持bJXL視用計数ピッ) t7 B=
0.1.2)がチャネル毎に設定されており、これらの
計数ビットLiと1が、アドレス“A′″供給によシ耽
出されて各演算回路12゜13及び14に入力される。
視用irt数ビットLs (s ;0+ 1 + 2
) ト”−り維持bJXL視用計数ピッ) t7 B=
0.1.2)がチャネル毎に設定されており、これらの
計数ビットLiと1が、アドレス“A′″供給によシ耽
出されて各演算回路12゜13及び14に入力される。
制御メモリ9乃至11の内容すなわち演算回路12乃至
14の演算結果は、第5図に例示する遷移図に従って変
化する。第5図において横方向への変位は、9. b
xb/sチャイルA上のタイムスロット幅を単位とする
時間の経過を表示している。制御メモリ番地とその内容
と表示された欄の内容中、上段は制御メモリ9乃至11
のメモリ番地MA乃至MG、下段はこれらのメモリ番地
の内容(L<、 ts )を表示している。
14の演算結果は、第5図に例示する遷移図に従って変
化する。第5図において横方向への変位は、9. b
xb/sチャイルA上のタイムスロット幅を単位とする
時間の経過を表示している。制御メモリ番地とその内容
と表示された欄の内容中、上段は制御メモリ9乃至11
のメモリ番地MA乃至MG、下段はこれらのメモリ番地
の内容(L<、 ts )を表示している。
以下第5図と、第6図のフローチャートを参照しつつ、
第4図の一実施例の動作を説明する。
第4図の一実施例の動作を説明する。
まず、バタン検出回路16からの出力(ループ起動コー
ド検出)と制御メモリからの出力L(+tjが演算回路
12.13及び14に入力されると、 Li=3かどう
かが調べられる。この例ではB1タイムスロットで最初
のループ起動コードが到来したため、Li = Oであ
る。従ッテ、Li=0+1=1. C4=0として該B
1タイムスロットに対応する演算を終了する。この結果
は信号線を経由して、再び制御メモリ?、10及び11
のMA、ME及びMD番地に書込まれる(第5図(イ)
参照)。上記演算(制御メモリの読出しから曹込みまで
)は、B、タイムスロットのタイムスロット5c(8/
64KH2−125μs)内ニ行われる。次に、第1査
目の9.6 Kb/SチャネルAのA2タイムスロッ°
トに対応するC1タイムスロットでは、Cチャネルのデ
ータDn++=Fα1・・・α6Sが到来する。
ド検出)と制御メモリからの出力L(+tjが演算回路
12.13及び14に入力されると、 Li=3かどう
かが調べられる。この例ではB1タイムスロットで最初
のループ起動コードが到来したため、Li = Oであ
る。従ッテ、Li=0+1=1. C4=0として該B
1タイムスロットに対応する演算を終了する。この結果
は信号線を経由して、再び制御メモリ?、10及び11
のMA、ME及びMD番地に書込まれる(第5図(イ)
参照)。上記演算(制御メモリの読出しから曹込みまで
)は、B、タイムスロットのタイムスロット5c(8/
64KH2−125μs)内ニ行われる。次に、第1査
目の9.6 Kb/SチャネルAのA2タイムスロッ°
トに対応するC1タイムスロットでは、Cチャネルのデ
ータDn++=Fα1・・・α6Sが到来する。
このときバタン検出回路16では、α、・・・a6〜0
01oa1またはS=“1”のためルーズ設定コードは
検出されず演算回路12.13及び14への入力はコー
ド未検出となる。B1タイムスロット以前にループ起動
コードは到来していないと仮定しているから、演算回路
の出力は第6図の演算に従がいLi=0゜Ci =0と
なる(第5図(ロ)参照)。
01oa1またはS=“1”のためルーズ設定コードは
検出されず演算回路12.13及び14への入力はコー
ド未検出となる。B1タイムスロット以前にループ起動
コードは到来していないと仮定しているから、演算回路
の出力は第6図の演算に従がいLi=0゜Ci =0と
なる(第5図(ロ)参照)。
次に第1番目の9.6Kb/SチヤネルAのA3タイム
スロソ)K対応するB2タイムスロットでは、Bチャイ
・ルのデータLoop = F 001001 S (
S = ”0”)が到来する。このときは、上述したB
1タイムスロットの場合と同様の演算が行なわれる。た
だし制御メモ!J11OアドレスはMF番地でるる。こ
の演算の結果Zlo=0+1=1. t、=0 (直前
のLDの値はA2タイムスロット時に0となっている)
s LI=1+ 1 =2+ t+ ”0 、B2
” 1 、12=0となる(第6図(/う参照)。
スロソ)K対応するB2タイムスロットでは、Bチャイ
・ルのデータLoop = F 001001 S (
S = ”0”)が到来する。このときは、上述したB
1タイムスロットの場合と同様の演算が行なわれる。た
だし制御メモ!J11OアドレスはMF番地でるる。こ
の演算の結果Zlo=0+1=1. t、=0 (直前
のLDの値はA2タイムスロット時に0となっている)
s LI=1+ 1 =2+ t+ ”0 、B2
” 1 、12=0となる(第6図(/う参照)。
次ニ、第1番目の9.6 Kb/SチャネルAのA4タ
イムスロットに対応するC2タイムスロットでは、A2
タイムスロットの場合と同様、ループ起動コードが到来
せず、A2タイムスロットの場合と同じ動作をする。A
5タイムスロットに対応するB3タイムスロットでは、
BチャネルのデータLOOp = FooloolS(
S=O)が到来するためタイムスロットB1、タイムス
ロットB2の場合と同様の演算が行なわれる。この場合
Lo’=Q+Q+==Q+ go=Q、 LI=2+1
=5 + t +−0+ L 2 ” ’→−1=2
,12=0となる(第6図(ニ)参照)。
イムスロットに対応するC2タイムスロットでは、A2
タイムスロットの場合と同様、ループ起動コードが到来
せず、A2タイムスロットの場合と同じ動作をする。A
5タイムスロットに対応するB3タイムスロットでは、
BチャネルのデータLOOp = FooloolS(
S=O)が到来するためタイムスロットB1、タイムス
ロットB2の場合と同様の演算が行なわれる。この場合
Lo’=Q+Q+==Q+ go=Q、 LI=2+1
=5 + t +−0+ L 2 ” ’→−1=2
,12=0となる(第6図(ニ)参照)。
以後、’A ’番目の9. +S KblSチャネルA
上のタイムスロットに対応するBiタイムスロット(B
4゜B5・・・・・)には試験データT。、T1・・・
が、C(タイムスロットでは一般のデータDiが転送さ
れていることになるが、B(タイムスロットではL1=
6となっているため、第4図と第6図に示すようにルー
プ設定指示信号が演算回路16から18号線引7−2に
出力されることによりルーズ設定が該タイムスロット毎
に行なわれる。同時にループ維持監視用tl′数ピッ)
1+が計数されはじめ15エンベロープ毎のループ維
持信号F 001001 S (S−“0″)を監視す
ることになる(第5図(ホ)(へ))。以上述べたよう
にBiタイムスロットに転送されたループ起動信号−に
より、Bチャネルに対し折シ返しループ設定が自動的に
行われることになる。
上のタイムスロットに対応するBiタイムスロット(B
4゜B5・・・・・)には試験データT。、T1・・・
が、C(タイムスロットでは一般のデータDiが転送さ
れていることになるが、B(タイムスロットではL1=
6となっているため、第4図と第6図に示すようにルー
プ設定指示信号が演算回路16から18号線引7−2に
出力されることによりルーズ設定が該タイムスロット毎
に行なわれる。同時にループ維持監視用tl′数ピッ)
1+が計数されはじめ15エンベロープ毎のループ維
持信号F 001001 S (S−“0″)を監視す
ることになる(第5図(ホ)(へ))。以上述べたよう
にBiタイムスロットに転送されたループ起動信号−に
より、Bチャネルに対し折シ返しループ設定が自動的に
行われることになる。
以上は4.8 Kb/SのBチャネルについて折シ返し
ループ設定動作を述べだが2,21速度のチャネルにつ
き並列して演算を行なっているためチャイルの速度(即
ちチャネルの割シ付け)によらずループ設定ができる。
ループ設定動作を述べだが2,21速度のチャネルにつ
き並列して演算を行なっているためチャイルの速度(即
ちチャネルの割シ付け)によらずループ設定ができる。
例えは9.6Kb/S 1チヤネルでめった場合(第6
図(α)の場合)、折シ返しコードの検出計数は6つの
演算回路で並行して行なわれるが実際に3連続エンベロ
ープの折シ返しコードが検出されるのは演算回路12に
おいてでアシ、これによって9.6Kb/Sチヤネルと
して折シ返しループが設定されることになる。
図(α)の場合)、折シ返しコードの検出計数は6つの
演算回路で並行して行なわれるが実際に3連続エンベロ
ープの折シ返しコードが検出されるのは演算回路12に
おいてでアシ、これによって9.6Kb/Sチヤネルと
して折シ返しループが設定されることになる。
なお本実施例はCCITT勧告に基づいた多重化構成で
の回路を示したが、一般に低速チャネルが複数本集まっ
て多重加入者線を構成している場合に本発明が適用でき
るのは言うまでもない。例えに単一の迷贋のチャネルが
多重化されている場合は制御メ七り、演算回路は各々1
つ設ければよく、3棟の速度のチャネルが多重化されて
いる場合は制御メモリ、演算回路をn個並置すればよい
。
の回路を示したが、一般に低速チャネルが複数本集まっ
て多重加入者線を構成している場合に本発明が適用でき
るのは言うまでもない。例えに単一の迷贋のチャネルが
多重化されている場合は制御メ七り、演算回路は各々1
つ設ければよく、3棟の速度のチャネルが多重化されて
いる場合は制御メモリ、演算回路をn個並置すればよい
。
発明の効果
以上詳細に説明したように、各加入者線チャネルに送出
されるテスト用の折少返しループ起動信号をすべてのチ
ャネル速度柚別について並行してかつ同一チャ不ル速度
櫨別に属するすべての加入者チャネルについて時分割的
に監部し、該当の加入者チャネルに対してのみ折り返し
ループを時分割的に設定する構成であるから、システム
の設計時や運用時にチャネル割付の変更が行なわれても
、これに伴なり構成上の変更を何ら必要とせず、システ
ム設計時の柔軟性が向上すると共にシステム運用時の経
済性が飛瞳的に向上するという利点が、やる。
されるテスト用の折少返しループ起動信号をすべてのチ
ャネル速度柚別について並行してかつ同一チャ不ル速度
櫨別に属するすべての加入者チャネルについて時分割的
に監部し、該当の加入者チャネルに対してのみ折り返し
ループを時分割的に設定する構成であるから、システム
の設計時や運用時にチャネル割付の変更が行なわれても
、これに伴なり構成上の変更を何ら必要とせず、システ
ム設計時の柔軟性が向上すると共にシステム運用時の経
済性が飛瞳的に向上するという利点が、やる。
することが可能になるので、トラヒックの変動に柔軟に
対処できるという利点もろる。
対処できるという利点もろる。
第1図と第2図は従来のテストルーズ設定回路の構成の
一例を示す図、第3図は本発明が適用される加入者線多
重システムの多重化構成の一例を示す図、第4図は本発
明の一実施例の構成を示す図、第5図と第6図は本発明
の一実施例の動作を説明するための概念図である。 1・・・交換機側の上シ・下多回線、2・・・端末側の
上シ・下多回線、6・・・選択回路、4・・・アドレス
線、5.6・・・2進、4進カウンタ、7,8・・・加
算回路、9゜10−1・・・チャネル監祝用制御メモI
J 、12.13.14・・・チャネル用演算回路、1
5・・・6ヒツトシフトレジスタ、16・・・折シ返し
バタン検出回路、18°゛・オア回路。 時針出願人 日本型16電話公社 代理人弁理士玉蟲久五部 (外5名) 第1図 第2図 互 折り返えしループ起動信号 第3図
一例を示す図、第3図は本発明が適用される加入者線多
重システムの多重化構成の一例を示す図、第4図は本発
明の一実施例の構成を示す図、第5図と第6図は本発明
の一実施例の動作を説明するための概念図である。 1・・・交換機側の上シ・下多回線、2・・・端末側の
上シ・下多回線、6・・・選択回路、4・・・アドレス
線、5.6・・・2進、4進カウンタ、7,8・・・加
算回路、9゜10−1・・・チャネル監祝用制御メモI
J 、12.13.14・・・チャネル用演算回路、1
5・・・6ヒツトシフトレジスタ、16・・・折シ返し
バタン検出回路、18°゛・オア回路。 時針出願人 日本型16電話公社 代理人弁理士玉蟲久五部 (外5名) 第1図 第2図 互 折り返えしループ起動信号 第3図
Claims (1)
- 加入者線上にチャネル速度の異なる複数の加入者チャネ
ルを時分割多重化して成る加入者線多重システム用のテ
ストループ設定回路において、前記各加入者チャネルに
送出されるテスト用の折シ返しループ起動信号をすべて
のチャネル速度種別についで並行してかつ同一のチャネ
ル速度種別に属するすべての加入者チャネルについて時
分割的に監視し、該尚の加入者チャネルに対してのみテ
スト用の折シ返しループを時分割的に設定する手段を備
えたことを特徴とするテストループ設定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58005435A JPS59131252A (ja) | 1983-01-17 | 1983-01-17 | テストル−プ設定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58005435A JPS59131252A (ja) | 1983-01-17 | 1983-01-17 | テストル−プ設定回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59131252A true JPS59131252A (ja) | 1984-07-28 |
Family
ID=11611113
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58005435A Pending JPS59131252A (ja) | 1983-01-17 | 1983-01-17 | テストル−プ設定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59131252A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62110354A (ja) * | 1985-11-08 | 1987-05-21 | Fujitsu Ltd | 折返し試験方式 |
| JP2006284164A (ja) * | 2005-03-07 | 2006-10-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 空気調和機 |
-
1983
- 1983-01-17 JP JP58005435A patent/JPS59131252A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62110354A (ja) * | 1985-11-08 | 1987-05-21 | Fujitsu Ltd | 折返し試験方式 |
| JP2006284164A (ja) * | 2005-03-07 | 2006-10-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 空気調和機 |
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