JPS59150414A - 半導体回路用リアクトル - Google Patents
半導体回路用リアクトルInfo
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- JPS59150414A JPS59150414A JP57230398A JP23039882A JPS59150414A JP S59150414 A JPS59150414 A JP S59150414A JP 57230398 A JP57230398 A JP 57230398A JP 23039882 A JP23039882 A JP 23039882A JP S59150414 A JPS59150414 A JP S59150414A
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- semiconductor
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- magnetic alloy
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F17/00—Fixed inductances of the signal type
- H01F17/04—Fixed inductances of the signal type with magnetic core
- H01F17/06—Fixed inductances of the signal type with magnetic core with core substantially closed in itself, e.g. toroid
- H01F17/062—Toroidal core with turns of coil around it
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Soft Magnetic Materials (AREA)
- Coils Or Transformers For Communication (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は電流スパイク等を抑制するだめの半導体回路用
リアクトルに関する。
リアクトルに関する。
1発明の技術的背景とその問題点]
従来より、高周波領域C大電流の制御を行なう、例えば
スイッチング電源等の半導体回路においては、半導体自
身の性質や他の回路的要因により電流スパイクやリンギ
ングが発生し易いという問題があった。これらの現象は
回路動作の正常化を妨げ、ついには半導体を破壊しcし
ようおそれがあった。さらに、このような、急激な電流
変化は機器のノイズの最大の原因となっCいた。
スイッチング電源等の半導体回路においては、半導体自
身の性質や他の回路的要因により電流スパイクやリンギ
ングが発生し易いという問題があった。これらの現象は
回路動作の正常化を妨げ、ついには半導体を破壊しcし
ようおそれがあった。さらに、このような、急激な電流
変化は機器のノイズの最大の原因となっCいた。
近年、このようなノイズ障害に対16国際的な対策強化
の要請により、半導体使用機器の発生ノイズを防止する
対策が強化されつつあり、ノイズの防止が重要な問題と
なってきている。
の要請により、半導体使用機器の発生ノイズを防止する
対策が強化されつつあり、ノイズの防止が重要な問題と
なってきている。
このような電流スパイクやリンギングを抑制するため、
半導体回路に半導体回路用リアクトルを配置することが
行われているが、従来の半導体回路用リアクトルのコア
はフェライトあるいはパーマロイ等で形成されているた
め、十分な抑制を行なうことができなかった。
半導体回路に半導体回路用リアクトルを配置することが
行われているが、従来の半導体回路用リアクトルのコア
はフェライトあるいはパーマロイ等で形成されているた
め、十分な抑制を行なうことができなかった。
すなわちフェライト製のコアを使用しl〔場合は、角形
比(Br/B+>および飽和磁束密度が小さいため抑制
効果が小さく、有効にづるためにはコアの形状を大きく
する必要があり、パーマロイ製のコアを使用した場合は
、保磁力(Hc)が太きく(、高周波化に対応できない
という難点があった。
比(Br/B+>および飽和磁束密度が小さいため抑制
効果が小さく、有効にづるためにはコアの形状を大きく
する必要があり、パーマロイ製のコアを使用した場合は
、保磁力(Hc)が太きく(、高周波化に対応できない
という難点があった。
[発明の目的]
本発明はこのような難点を解消するためなされたもので
、ノイズを発生ずる原因である電流スパイクやリンギン
グを防止することのぐきる半導体回路用リアクトルを提
供することを目的とする。
、ノイズを発生ずる原因である電流スパイクやリンギン
グを防止することのぐきる半導体回路用リアクトルを提
供することを目的とする。
L発明の概要]
づなわち本発明の半導体回路用リアクトルは、非晶質磁
性合金で形成した]アと導体とを組合せてなることを特
徴とする。
性合金で形成した]アと導体とを組合せてなることを特
徴とする。
本発明に使用するコアのIA料である非晶質磁性合金と
しては、100kllzに於−UB+ (IIルスデ
ッドの磁場における磁束密度)が6KG以上C1保磁力
(Hc ’)が0.5Iルステツド以下、さらに角形比
(Sr /B + 、 Br :残留磁束密度)が0.
8以上の特性を持つ、例えばFe −M−8i−B合金
、Co −Fe −M−8i−B合金(Mは、ri、V
、Cr、Mn、Ni、7r、Nb、Mo。
しては、100kllzに於−UB+ (IIルスデ
ッドの磁場における磁束密度)が6KG以上C1保磁力
(Hc ’)が0.5Iルステツド以下、さらに角形比
(Sr /B + 、 Br :残留磁束密度)が0.
8以上の特性を持つ、例えばFe −M−8i−B合金
、Co −Fe −M−8i−B合金(Mは、ri、V
、Cr、Mn、Ni、7r、Nb、Mo。
Rtl、Hf、丁a 、W、ReのRYから選ばれる少
なくとも1種の元素)があげられる。
なくとも1種の元素)があげられる。
非晶質磁性合金の特性を上述のJこうに限定した理由は
、これらの値の範囲を外れた場合は電流スパイク等を抑
制する効果が減少することによる。
、これらの値の範囲を外れた場合は電流スパイク等を抑
制する効果が減少することによる。
本発明においては、非晶質磁性合金を単ロール法により
リボン状−にして巻回することによりトロイダルコアを
形成、あるいはリング状に打抜いたものを積層してトロ
イダルコアを形成し、このコアに複数個の巻線を施すこ
とににり半導体回路用リアクトルが得られる。この半導
体回路用リアク1〜ルを半導体に直列に挿入することに
より半導体回路の電流スパイクやリンギングを抑制づる
ことができる。
リボン状−にして巻回することによりトロイダルコアを
形成、あるいはリング状に打抜いたものを積層してトロ
イダルコアを形成し、このコアに複数個の巻線を施すこ
とににり半導体回路用リアクトルが得られる。この半導
体回路用リアク1〜ルを半導体に直列に挿入することに
より半導体回路の電流スパイクやリンギングを抑制づる
ことができる。
「発明の実施例」
次に本発明の実施例について説明覆る。
実施例
(Feo、7N! o、+)7est TIB+4の非
晶質磁性合金を単ロール法によりリボン状にし、酸化マ
グネシウム粉末で層間絶縁し、直径6 mmのli英管
に20回巻いてトロイダルコアとした。
晶質磁性合金を単ロール法によりリボン状にし、酸化マ
グネシウム粉末で層間絶縁し、直径6 mmのli英管
に20回巻いてトロイダルコアとした。
このコアに1次および2次巻線を施し、外部磁@1エル
ステッド下で交流磁場測定装置を用いて100 kHz
における交流ヒステリシス曲線を求め、この曲線からB
+ 、保磁力11c)、角形比(Br/B+)を求め
たところ、St’=6.4KG。
ステッド下で交流磁場測定装置を用いて100 kHz
における交流ヒステリシス曲線を求め、この曲線からB
+ 、保磁力11c)、角形比(Br/B+)を求め
たところ、St’=6.4KG。
保磁力()−1c )−0,42エルステツド、角形比
(Sr /B+ )=0.85であった。
(Sr /B+ )=0.85であった。
このように形成したりアクドルをフライホイールダイオ
ードに直列に挿入してスイッチング電源として100
kl−1zにお(プる効率η(出力/入力)を求めたと
ころ78%であった。また、このダイΔ゛−ド回路にお
い′(は、電流スパイクおよびリンギングは見られず、
回路動作を正常化することができた。
ードに直列に挿入してスイッチング電源として100
kl−1zにお(プる効率η(出力/入力)を求めたと
ころ78%であった。また、このダイΔ゛−ド回路にお
い′(は、電流スパイクおよびリンギングは見られず、
回路動作を正常化することができた。
比較例
フェライト製のコアを使用し゛C実施例と同様にB+、
角形比(Sr /B+ )および保磁力(Ha)を求め
1=ところB +=3.8KG、 1−1c二O,62
,’:cルステッド、Br /B +=0.75’rあ
った。このリアクトルをフライホイールダイオードに直
列に接続してスイッチング電源どし−C効率ηを求めた
ところ75%であった。また、このリアクトルでは電流
スパイクおよびリンギングを十分抑制する゛ことができ
なかった。
角形比(Sr /B+ )および保磁力(Ha)を求め
1=ところB +=3.8KG、 1−1c二O,62
,’:cルステッド、Br /B +=0.75’rあ
った。このリアクトルをフライホイールダイオードに直
列に接続してスイッチング電源どし−C効率ηを求めた
ところ75%であった。また、このリアクトルでは電流
スパイクおよびリンギングを十分抑制する゛ことができ
なかった。
[発明の効果コ
以上説明したように本発明の半導体回路用リアクト、ル
を、半導体に直列に挿入することにより電流スパイクお
よびリンキングを抑制覆ることができ、ノイズの発生を
防止して回路動作を正常化にし、半畳体を保護づること
が可能となる。
を、半導体に直列に挿入することにより電流スパイクお
よびリンキングを抑制覆ることができ、ノイズの発生を
防止して回路動作を正常化にし、半畳体を保護づること
が可能となる。
代理人弁理士 須 山 佐 −
手 続 補 正 内
昭和59年3月6日
2、発明の名称
半導体回路用リアクトル
3、補正をする者
事件との関係 ・ 特許出願人
神奈川県川崎市幸区堀川町72番地
東京芝浦電気株式会社
4、 代 埋 人 〒 101東京都千代
田区神田多町2丁目1番地 神田東山ビル 電話03 (254) 1039(77
84)弁理士 須 山 イ/[−5、補正命令
の日付 自 発 7、補正の内容 (1)明細出を別紙の通り訂正する。
田区神田多町2丁目1番地 神田東山ビル 電話03 (254) 1039(77
84)弁理士 須 山 イ/[−5、補正命令
の日付 自 発 7、補正の内容 (1)明細出を別紙の通り訂正する。
(2)図面を別紙の通り追加する。
以 上
訂 正 明 細 書
1、発明の名称 半導体回路用リアクトル2、特許
請求の範囲 (1)非晶質磁性合金ひ形成したコアと導体とを組合せ
てなることを特徴とJ′る半導体回路用リアクトル。
請求の範囲 (1)非晶質磁性合金ひ形成したコアと導体とを組合せ
てなることを特徴とJ′る半導体回路用リアクトル。
〈2)非晶質磁性合金は10’O!(112におい−(
B1≧6KG 保磁力(Hc)≦0.5土ルスデッド 角形比(3r/B+’)≧0.8 の特性を持つもの【ある特許請求の範囲第1項記載の半
導体回路用リアクトル。
B1≧6KG 保磁力(Hc)≦0.5土ルスデッド 角形比(3r/B+’)≧0.8 の特性を持つもの【ある特許請求の範囲第1項記載の半
導体回路用リアクトル。
(3)非晶質磁性合金は次式で示されるものである特許
請求の範囲第1項または第2項記載の半導体回路用リア
クトル。
請求の範囲第1項または第2項記載の半導体回路用リア
クトル。
CoafvlrM’cYd
但し式中
M:FeおよびM 11から選ばれた1種の元素M’:
FeおJ:びMO以外の遷移金属から選ばれ7j 1種
または2種以上の元素 Y:Si 、B、PおよびCから選ばれた1種または2
種以上の元素 a −1−b −10+d = l QQO≦b≦10 0≦C≦10 50≦a≦80 [発明′の技術分野] 本発明は電流スパイク等を抑制Jる1cめの半導体回路
用リアクトルに関する。
FeおJ:びMO以外の遷移金属から選ばれ7j 1種
または2種以上の元素 Y:Si 、B、PおよびCから選ばれた1種または2
種以上の元素 a −1−b −10+d = l QQO≦b≦10 0≦C≦10 50≦a≦80 [発明′の技術分野] 本発明は電流スパイク等を抑制Jる1cめの半導体回路
用リアクトルに関する。
し発明の技術的背景とその問題Kj]
従来より、高周波領域C大電流の制御を行なう、例えは
スイッチング電源等の半導体回路においては、半導体自
身の性質や他の回路的要因により電流スパイクやリンギ
ングが発生し易いという問題があった。これらの現象は
回路動作の正常化を妨げ、ついには半導体を破壊してし
まうおそれがあっk 。さらに、このような急激な電流
変化は機器のノイズ′の最大の原因とな2て−いlこ。
スイッチング電源等の半導体回路においては、半導体自
身の性質や他の回路的要因により電流スパイクやリンギ
ングが発生し易いという問題があった。これらの現象は
回路動作の正常化を妨げ、ついには半導体を破壊してし
まうおそれがあっk 。さらに、このような急激な電流
変化は機器のノイズ′の最大の原因とな2て−いlこ。
一般に、ダイオードのような半導体装置に印加される電
圧の極性を急速に反転させると、ダイオードは一瞬ダイ
オードとしての機能を失い、逆方向に電流が流れる。短
時間(リカバリータイム)後にダイオードはその機能を
回復して逆方向の電流は流れなくなるが、この逆方向電
流、すなわち電流スパイクが大きい場合には、ダイオー
ドが破壊されてしまうことがある。
圧の極性を急速に反転させると、ダイオードは一瞬ダイ
オードとしての機能を失い、逆方向に電流が流れる。短
時間(リカバリータイム)後にダイオードはその機能を
回復して逆方向の電流は流れなくなるが、この逆方向電
流、すなわち電流スパイクが大きい場合には、ダイオー
ドが破壊されてしまうことがある。
また、このような電流スパイクが発生した回路にコイル
とコンデンサーのような共振要素が存在すると、電流ス
パイクが長く尾を引くリンギングとなる電流スパイクや
リンキングは当然ながら回路の正常な動作を失わじる。
とコンデンサーのような共振要素が存在すると、電流ス
パイクが長く尾を引くリンギングとなる電流スパイクや
リンキングは当然ながら回路の正常な動作を失わじる。
さらにこれらが出力に含まれるノイズ成分として働くほ
か、電流の急速な反転によつ−CC電磁ソノイス生じる
。つまり、ノイズを電波の形−C空間に輻射しCしまう
。これら、電流スパイク、リンギング、電磁波ノイズ等
の問題は、高周波領域で大電流の制御を行なう。例えば
スイッチング電源等の半導体回路においC特に深刻なも
のとなる。
か、電流の急速な反転によつ−CC電磁ソノイス生じる
。つまり、ノイズを電波の形−C空間に輻射しCしまう
。これら、電流スパイク、リンギング、電磁波ノイズ等
の問題は、高周波領域で大電流の制御を行なう。例えば
スイッチング電源等の半導体回路においC特に深刻なも
のとなる。
近年、このようなノイズ障害に対する国際的な対策強化
の要請により、半導体使用機器の発生ノイズを防止する
対策が強化されつつあり、ノイズの防止が重要な問題と
なつCきている。
の要請により、半導体使用機器の発生ノイズを防止する
対策が強化されつつあり、ノイズの防止が重要な問題と
なつCきている。
このような電流スパイクやリンギングを抑制するため、
半導体回路に半導体回路用リアクトルを配置することが
行われているが、従来の半導体回路用リアクトルのコア
はフエライ1−あるいはパーマロイ等で形成されている
ため、十分な抑制を行なうことができなかった。
半導体回路に半導体回路用リアクトルを配置することが
行われているが、従来の半導体回路用リアクトルのコア
はフエライ1−あるいはパーマロイ等で形成されている
ため、十分な抑制を行なうことができなかった。
すなわちフェライト製のコアを使用した場合は、角形比
(Sr /B+ )および飽和磁束密度が小さいため抑
制効果が小さく、有効にするためにはコアの形状を大き
くする必要があり、パーマロイ製のコアを使用した場合
は、保磁力(+−(C)が太きく −r 、’高周波化
に対応できないという難点かあつノ′こ。
(Sr /B+ )および飽和磁束密度が小さいため抑
制効果が小さく、有効にするためにはコアの形状を大き
くする必要があり、パーマロイ製のコアを使用した場合
は、保磁力(+−(C)が太きく −r 、’高周波化
に対応できないという難点かあつノ′こ。
[発明の目的]
本発明はこのような難点4解消−りるためなされたもの
で、ノイズを発生づる原因である電流スパイクやリンキ
ングを防止することのできる半導体回路用リアクトルを
提供づることを目的とづる。
で、ノイズを発生づる原因である電流スパイクやリンキ
ングを防止することのできる半導体回路用リアクトルを
提供づることを目的とづる。
1光明の概要]
づなわち本発明の半導体回路用リアク1−ルは、非晶質
磁性合金C形成したコアと導体とを組合せCなることを
特徴と覆る。
磁性合金C形成したコアと導体とを組合せCなることを
特徴と覆る。
本発明に使用づるコアの月利である非晶質磁性合金どし
−Cは、100kllzに於てl’3+(1Jニルスデ
ツドの磁場にJ5ける磁束密度)が6 K G以FC1
保磁力りIIG)が0 、 、5 Xルス−アツド以下
、ざらに角形比(Rr /r3+ 、 Br :残留磁
束密度)が0、F3以−Lの特性を持つ、CO/1Mr
M′CYd〈イ1し式中MはFeおよびMnから選ばれ
た1秤の元素、M′は[:eおにびMn以外の遷移金属
から選ばれた1種または2種以上の元素、YはSl、B
、Pおよび0から選ばれた1秤または2種以上の元素、
a +b l−C+’d = 100. O≦b≦′1
0.0≦C≦10.50≦a≦80)があげられ、好ま
しくはM′は、Cr、Ni、Nb、Mo、W、71゛、
Ti、V、丁a 、1−1f 、 l’<c 、
Cu 、Y’rある。
−Cは、100kllzに於てl’3+(1Jニルスデ
ツドの磁場にJ5ける磁束密度)が6 K G以FC1
保磁力りIIG)が0 、 、5 Xルス−アツド以下
、ざらに角形比(Rr /r3+ 、 Br :残留磁
束密度)が0、F3以−Lの特性を持つ、CO/1Mr
M′CYd〈イ1し式中MはFeおよびMnから選ばれ
た1秤の元素、M′は[:eおにびMn以外の遷移金属
から選ばれた1種または2種以上の元素、YはSl、B
、Pおよび0から選ばれた1秤または2種以上の元素、
a +b l−C+’d = 100. O≦b≦′1
0.0≦C≦10.50≦a≦80)があげられ、好ま
しくはM′は、Cr、Ni、Nb、Mo、W、71゛、
Ti、V、丁a 、1−1f 、 l’<c 、
Cu 、Y’rある。
非晶質磁性合金の特性を上述のように限定した理由は、
これらの値の範囲を外れた場合は電流スパイク等を抑制
する効果が減少1りることによる。
これらの値の範囲を外れた場合は電流スパイク等を抑制
する効果が減少1りることによる。
本発明においては、非晶貿磁V1合金を甲ロール法にJ
:リリボン状にして巻回づることによりトロイタルコア
を形成、あるいはリング状に打抜いたものを積層してト
1」イダルコアを形成し、このコアに複数個の巻線を施
すことにより半導体回路用リアクトルが得られる。この
半導体回路用リアク1〜ルを半導体に直列に挿入するこ
とにJ−り半導体回路の電流スパイクやリンキングを抑
制・することがCきる。
:リリボン状にして巻回づることによりトロイタルコア
を形成、あるいはリング状に打抜いたものを積層してト
1」イダルコアを形成し、このコアに複数個の巻線を施
すことにより半導体回路用リアクトルが得られる。この
半導体回路用リアク1〜ルを半導体に直列に挿入するこ
とにJ−り半導体回路の電流スパイクやリンキングを抑
制・することがCきる。
1光明の実施例]
次に本発明の実施例について説明覆る。
実施例1
上述した単ロール法にJ:す、Co Fe C’r 3
iBからなる非晶質磁性合金リボンを得た。これに酸
化マグネシウム粉末を塗色して層間絶縁し、直径61I
Illの石英管に20回巻き、その後、この石英慎を抜
き取っC:17を作った。このコアをエポキシ樹脂C被
覆しで絶縁し、これに絶縁された導線を4回巻いてこの
発明のりアクドルを得た。
iBからなる非晶質磁性合金リボンを得た。これに酸
化マグネシウム粉末を塗色して層間絶縁し、直径61I
Illの石英管に20回巻き、その後、この石英慎を抜
き取っC:17を作った。このコアをエポキシ樹脂C被
覆しで絶縁し、これに絶縁された導線を4回巻いてこの
発明のりアクドルを得た。
第1図に示スJ:うに、このように・して得たりアクj
・ル2をスイッチング電源回路中のダイオード1に直列
に挿入し、100 kTo、における効率(スイッヂ
ン電源からの出力/回路中のトランスへ入力)、スパイ
ク電流の大きざ、リンギングの程度および高周波ノイズ
を調べた。
・ル2をスイッチング電源回路中のダイオード1に直列
に挿入し、100 kTo、における効率(スイッヂ
ン電源からの出力/回路中のトランスへ入力)、スパイ
ク電流の大きざ、リンギングの程度および高周波ノイズ
を調べた。
さらに上述のコアに2木の絶縁された導線を巻き、外部
磁場1エルステツド下で゛交流磁場測定装置を用いて1
00 kHzにおける交流ヒスプリシス曲線を求め、こ
の曲線から8+、保磁力および角形比を求めた。
磁場1エルステツド下で゛交流磁場測定装置を用いて1
00 kHzにおける交流ヒスプリシス曲線を求め、こ
の曲線から8+、保磁力および角形比を求めた。
比較のため、フェライトまたはパーマロイからなるコア
を有するリアクトルについ(同様の試験を行なった。さ
らに、リアク1〜ルを用いない回路についてもスパイク
電流の大きさ、リンキングの程度おJ:び高周波ノイズ
を調べた。これらの結果を次表に示す。
(以下余白)実施例2 表に示す非晶質合金について甲ロール法により長尺リボ
ンを作成し、7 mm X 6 mm X 4 aのト
ロイダル状コアに巻回後熱処理を行ない、100 kl
lZのB+ 、t」c 、 (3r /B+を測定した
。次表から明らかなようにすべての試料につい−rB+
≧6KG、Br/B+≧80%、Hc≦0.5エルステ
ツドを満足しCいることがわかる。これらの試料につい
で、すべて実施例1ど同様にフライホイールダイオード
に直列に挿入しCスイッチング電源としく1ookll
zにおける効率η(出力/入力)を求めたところ、すべ
U78〜80%ひあった。
を有するリアクトルについ(同様の試験を行なった。さ
らに、リアク1〜ルを用いない回路についてもスパイク
電流の大きさ、リンキングの程度おJ:び高周波ノイズ
を調べた。これらの結果を次表に示す。
(以下余白)実施例2 表に示す非晶質合金について甲ロール法により長尺リボ
ンを作成し、7 mm X 6 mm X 4 aのト
ロイダル状コアに巻回後熱処理を行ない、100 kl
lZのB+ 、t」c 、 (3r /B+を測定した
。次表から明らかなようにすべての試料につい−rB+
≧6KG、Br/B+≧80%、Hc≦0.5エルステ
ツドを満足しCいることがわかる。これらの試料につい
で、すべて実施例1ど同様にフライホイールダイオード
に直列に挿入しCスイッチング電源としく1ookll
zにおける効率η(出力/入力)を求めたところ、すべ
U78〜80%ひあった。
ま7j、このダイオード回路においては、電流スパイク
およびリンキングは見られず、回路動作を正常化(るこ
とがぐきた。
およびリンキングは見られず、回路動作を正常化(るこ
とがぐきた。
(以五余白)
[発明の効果]
以上説明したように本発明の半導体回路用リアクトルを
、半導体に直列に挿入することにより電流スパイク、1
3よびリンギ〕/グを抑制りることができ、ノイズの発
生を防止しC回路動作を正常化にし、半導体を保護する
ことが可能どなる。
、半導体に直列に挿入することにより電流スパイク、1
3よびリンギ〕/グを抑制りることができ、ノイズの発
生を防止しC回路動作を正常化にし、半導体を保護する
ことが可能どなる。
図は本発明のりアクドルの性能試験に用いた図である。
特許庁長官 殿
1.事件の表示 特願昭57−230398号2、発
明の名称 半導体回路用リアクトル 3 、補正をする者 事件どの関係 特許出願人 神奈川県用崎市幸区堀用町72番地 東京芝浦電気株式会ネ1 4、代 理 人′ 〒 101 東京都千代田区神田多町2丁目1番地 自 発 6、補正の対象 明細書の特許請求の範囲の欄および発明の詳細な説明の
′欄 7、補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙の通り補正りる。 (2)発明の詳細な説明を以下の通り補正する。 ■ 3頁17行〜4頁1行の[例えば・・・・・・元素
)1を、r COaM4 M ’c Yt で示され
るもの(但し式LIIMはFeおJ:びM、nから選ば
れた1種の元素、M′はFeおよび1yln以外の遷移
金属から選ばれた1種または21!以上の元素、YはS
l、B、P、およびCがら選ばれた1種ま7jは2種以
トの元素、α+、、A+C+〆=100.0≦4≦10
.0≦C≦10.50≦α七80)」と補止づる。 ■ 4頁16行の「実施例」を「実施例1」と補正する
。 ■ 4頁17行のI’(Fc・・・・・・13144を
I (Coも3F 03 Cr 3 Si、3131
3 )J とン+li it二 3する。 ■ 5頁14行の「できた」と15行の「比較例」との
間に次の文を挿入づる。 [実施例2 表に示寸非晶質合金について甲[1−ル法により臣民リ
ボンを作成し−7龍×6■×41の1−[1イダル状コ
アに巻回後熱処即を行ない、100kHzのB + 、
)−IC、Br /’B +を測定した。次表から明ら
かなようにすべCの試料についてB1≧6KG、Br/
’R+≧80%、[−10≦0.5Iルステッドを満足
していることがわかる。これらの試オ′」に′〕いて、
リベで実施例1と同様にフラオホイールダイΔ−ドに直
列に挿入し−Cスイッチング電源として100 kH
zにお(プる効率η(出力/人力)を求めたところ、す
べて78〜80%Cあった。 また、このダイオード回路においては、電流スパー(り
およびリンキングは見られず、回路動作を正常化1−る
ことがCきた。 (以下余白) 」 °以 −ト [別 紙] 特許請求の範囲 (1)非晶質磁性合金C形成したコアと導体とを組合せ
Cなることを特徴とづる半導体回路用リアクIヘル。 (2)非晶質磁性合金は100 kHz、にお17スC
B+ ≧6KG 保磁力(Hc )≦0.5エルステッド角形比(Br/
B+)≧0.8 の特↑4を持つものである特許請求の範囲第1項記載の
半導体回路用リアク1−ル。 但し式中 Y:Si、B、PおよびCから゛ばれた1種または2種
以上の元素 0≦孟≦10 0≦C≦10
明の名称 半導体回路用リアクトル 3 、補正をする者 事件どの関係 特許出願人 神奈川県用崎市幸区堀用町72番地 東京芝浦電気株式会ネ1 4、代 理 人′ 〒 101 東京都千代田区神田多町2丁目1番地 自 発 6、補正の対象 明細書の特許請求の範囲の欄および発明の詳細な説明の
′欄 7、補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙の通り補正りる。 (2)発明の詳細な説明を以下の通り補正する。 ■ 3頁17行〜4頁1行の[例えば・・・・・・元素
)1を、r COaM4 M ’c Yt で示され
るもの(但し式LIIMはFeおJ:びM、nから選ば
れた1種の元素、M′はFeおよび1yln以外の遷移
金属から選ばれた1種または21!以上の元素、YはS
l、B、P、およびCがら選ばれた1種ま7jは2種以
トの元素、α+、、A+C+〆=100.0≦4≦10
.0≦C≦10.50≦α七80)」と補止づる。 ■ 4頁16行の「実施例」を「実施例1」と補正する
。 ■ 4頁17行のI’(Fc・・・・・・13144を
I (Coも3F 03 Cr 3 Si、3131
3 )J とン+li it二 3する。 ■ 5頁14行の「できた」と15行の「比較例」との
間に次の文を挿入づる。 [実施例2 表に示寸非晶質合金について甲[1−ル法により臣民リ
ボンを作成し−7龍×6■×41の1−[1イダル状コ
アに巻回後熱処即を行ない、100kHzのB + 、
)−IC、Br /’B +を測定した。次表から明ら
かなようにすべCの試料についてB1≧6KG、Br/
’R+≧80%、[−10≦0.5Iルステッドを満足
していることがわかる。これらの試オ′」に′〕いて、
リベで実施例1と同様にフラオホイールダイΔ−ドに直
列に挿入し−Cスイッチング電源として100 kH
zにお(プる効率η(出力/人力)を求めたところ、す
べて78〜80%Cあった。 また、このダイオード回路においては、電流スパー(り
およびリンキングは見られず、回路動作を正常化1−る
ことがCきた。 (以下余白) 」 °以 −ト [別 紙] 特許請求の範囲 (1)非晶質磁性合金C形成したコアと導体とを組合せ
Cなることを特徴とづる半導体回路用リアクIヘル。 (2)非晶質磁性合金は100 kHz、にお17スC
B+ ≧6KG 保磁力(Hc )≦0.5エルステッド角形比(Br/
B+)≧0.8 の特↑4を持つものである特許請求の範囲第1項記載の
半導体回路用リアク1−ル。 但し式中 Y:Si、B、PおよびCから゛ばれた1種または2種
以上の元素 0≦孟≦10 0≦C≦10
Claims (2)
- (1)非晶質磁性合金で形成したコアと導体とを組合t
ICなることを特徴とづる半導体回路用リアク1−ル。 - (2)非晶質磁性合金は100kf(zにおいて81≧
6KG 保磁力(Hc )≦0.51ルステッド角形比(Br/
B+)≧0.8 の特性を持つものである特許請求の範囲第1項記載の半
導体回路用リアクトル。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57230398A JPS59150414A (ja) | 1982-12-23 | 1982-12-23 | 半導体回路用リアクトル |
| NL8304358A NL8304358A (nl) | 1982-12-23 | 1983-12-20 | Zelfinductie voor een een halfgeleiderinrichting bevattende schakeling. |
| DE19833346284 DE3346284A1 (de) | 1982-12-23 | 1983-12-21 | Drosselspule fuer halbleiterschaltungen |
| US06/936,934 US4745536A (en) | 1982-12-23 | 1986-12-01 | Reactor for circuit containing semiconductor device |
| NL9101543A NL9101543A (nl) | 1982-12-23 | 1991-09-13 | Werkwijze voor het bedwingen van naaldvormige stroompulsen, inschakelverschijnselen en elektromagnetische ruis in een een halfgeleiderinrichting bevattende elektrische schakeling. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57230398A JPS59150414A (ja) | 1982-12-23 | 1982-12-23 | 半導体回路用リアクトル |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59150414A true JPS59150414A (ja) | 1984-08-28 |
Family
ID=16907248
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57230398A Pending JPS59150414A (ja) | 1982-12-23 | 1982-12-23 | 半導体回路用リアクトル |
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|---|---|
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| JP (1) | JPS59150414A (ja) |
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| EP1262013A2 (en) | 1999-06-30 | 2002-12-04 | Peco II, Inc. | Diode recovery current suppression circuits |
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|---|---|---|---|---|
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| US4221592A (en) * | 1977-09-02 | 1980-09-09 | Allied Chemical Corporation | Glassy alloys which include iron group elements and boron |
| US4225339A (en) * | 1977-12-28 | 1980-09-30 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Amorphous alloy of high magnetic permeability |
| DE2824749A1 (de) * | 1978-06-06 | 1979-12-13 | Vacuumschmelze Gmbh | Induktives bauelement und verfahren zu seiner herstellung |
| US5358576A (en) * | 1979-06-09 | 1994-10-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Amorphous materials with improved properties |
| DE2924280A1 (de) * | 1979-06-15 | 1981-01-08 | Vacuumschmelze Gmbh | Amorphe weichmagnetische legierung |
| JPS56136948A (en) * | 1980-03-28 | 1981-10-26 | Hitachi Ltd | Amorphous alloy for magnetic head core |
| US4363067A (en) * | 1980-06-09 | 1982-12-07 | General Motors Corporation | Transistor chopper protection circuit |
| JPS5719361A (en) * | 1980-07-11 | 1982-02-01 | Hitachi Ltd | Amorphous alloy for core of magnetic head and magnetic head for video using it |
| JPS5783005A (en) * | 1980-11-11 | 1982-05-24 | Hitachi Metals Ltd | Wound core |
| US4451876A (en) * | 1981-06-19 | 1984-05-29 | Hitachi Metals, Ltd. | Switching regulator |
| JPS57212512A (en) * | 1981-06-25 | 1982-12-27 | Toshiba Corp | Voltage resonance type high-frequency switching circuit |
| JPS5831053A (ja) * | 1981-08-18 | 1983-02-23 | Toshiba Corp | 非晶質合金 |
| JPS58139408A (ja) * | 1982-02-15 | 1983-08-18 | Hitachi Metals Ltd | 巻鉄心の製造方法 |
| US4439253A (en) * | 1982-03-04 | 1984-03-27 | Allied Corporation | Cobalt rich manganese containing near-zero magnetostrictive metallic glasses having high saturation induction |
-
1982
- 1982-12-23 JP JP57230398A patent/JPS59150414A/ja active Pending
-
1983
- 1983-12-20 NL NL8304358A patent/NL8304358A/nl not_active Application Discontinuation
- 1983-12-21 DE DE19833346284 patent/DE3346284A1/de not_active Ceased
-
1986
- 1986-12-01 US US06/936,934 patent/US4745536A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4745536A (en) | 1988-05-17 |
| NL8304358A (nl) | 1984-07-16 |
| DE3346284A1 (de) | 1984-07-05 |
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