JPS5915218A - 光ビ−ム走査装置 - Google Patents

光ビ−ム走査装置

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JPS5915218A
JPS5915218A JP57124789A JP12478982A JPS5915218A JP S5915218 A JPS5915218 A JP S5915218A JP 57124789 A JP57124789 A JP 57124789A JP 12478982 A JP12478982 A JP 12478982A JP S5915218 A JPS5915218 A JP S5915218A
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JP
Japan
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light
light beam
scanning
scanned
spacing
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Pending
Application number
JP57124789A
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English (en)
Inventor
Yoshiaki Matsunaga
松永 佳昭
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Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS5915218A publication Critical patent/JPS5915218A/ja
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/10Scanning systems

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は光ビーム走査装置に関し、特に複数の光ビーム
を用いた光ビーム走査装置に関する。
光ビーム走査装置は通常、光源から放射される光を平行
光束にする光学系と、その平行光束を被走査面上に集光
させる光学系とこれら2つの光学系の中間に配置された
回転多面鏡等よりなり、回転多面鏡を回転させて光ビー
ムを振らせるようになっている。この種の装置は通常単
一の光ビームを用いているので、−回の掃引動作の間に
一本の走査線を掃引するだけであるが、複数の光ビー1
、を用いれば同時に複数本の走査線を掃引することがで
き、同一面積を走査するのに要する掃引動作の回数が単
一ビームの場合より少くてすみ、回転多面鏡の回転数を
低減させることができて、機械的な振動の減少、運動部
分の耐久性の向上環の効果が得られる。しかし、各走査
線は被走査mj上で結果的に隙間を生しないように掃引
する必要がある。このため複数の光ビームによって走査
する場合の走査方式に関して一回目の走査線の間に二回
目の走査線を入れるような提案がなされている。
他方光ビーム走査装置の光学系は光源を被走査面上に拡
大投影する光学系であって、]、 00倍程度の倍率を
有し、レーザプリンタ等の場合被走査面上の画素(ドツ
ト)の間隔は]、 OO/i 7rt位であるから、複
数のビームを用いる場合、複数の光源の間隔は100 
it mの]、 / 100即ち17z m程度と云う
ことになシ、このように光源間の距離を近接させて配置
するしとは技術的にきわめて困鮒である。複数の光源を
近接させて配置する方法として半導体レーザアレイを用
いる方法があるが、この場合でも発光部の間隔は構造上
とか発熱上の制約から100 p m位が限度と考えら
れている。半導体レーザアレイのような光源を用いたと
しても通常の光ビーム走査装置の光学系を用いていたの
では、同時に掃引される複数の走査線の間隔は1゜mm
程度となって画素間隔100μmに比し余りにも犬き過
き、被走査面の位置決め誤差や送り誤差、振動等の影響
を受は易くなる。
本発明は複数の光ビームによって形成される走査線の間
隔をレーザ、プリンタ等のドツト間隔に等しいかそれよ
り余り大きくない程度に近接さぜ得るだめの光学系を提
供することを目的とするものである。
以下本発明を実施例によって詳述するが、それに先立っ
て光ビーム走査装置の基本的な構造を説明しておく。第
1図は最も簡単な型でla、lb、]Cけ夫々光源、2
はコリメータレンズ、4はシ 回転多面鏡、6け辱θレンズ、′2は被走査面で3本の
線は走査線を示す。光源1から放射された光はコリメー
タレンズ2によって平行光束となって回転多面鏡に入射
する。回転多面鏡4は走査装置であって、矢印X(垂直
方向)を軸に回転せしめられて入射した平行光束を反射
し水平面内で振らせる。回転多面鏡4で反射された平行
光束は水平面内で振れなからfθレンズ6によって被走
査面7上に収束せしめられ、同面上を走査する。第2図
(d第1図の構造に回転多面鏡4の倒れ角補正、のだめ
の光学要素を(=1加した型を示す。第1図の構成で回
転多面鏡4は工作精度2回転軸のがたつき等により正確
に見れば各鏡面は垂直軸と平行な理想位置かられ?か傾
いており、かつその傾きは各面毎に異っている。この傾
きは被走査面上で走査線の位置が各走査毎に上下方向に
変化すると云う結果をもたらす。この走査線の上ド方向
の位置の変化は回転多面鏡で反射された光か鏡面の傾き
の違いで上下方向に振れることによって起る。この回転
多面鏡の鏡面の傾きの影響を補正するのが倒れ角補正で
ある。/リントリカル3とトロイダルレンズ5とがこの
倒れ角補正用の光学要素である。
シリンドリカルレンズ3はコリメータレンズ2を透過し
た平行光束を回転多面鏡の鏡面−1−に走査方向と平行
(水平)な線状に収束させる。トロイダルレンズ5は垂
直面内の焦点がfOレンズ6の光軸と回転多面鏡4の鏡
面との交点に近い位置に設定しである。この交点は回転
多面鏡4の回転によって多少移動するが、はぼ定点とみ
なずことかでき、トロイダルレンズ5の焦点はこの交点
の移動線はトロイダルレンズ5の焦点位置を含んでいる
従って回転多面鏡の面の傾きの変化で反射光が上下に振
れても、その振れはシリンドリカルレンズ3の焦点側近
を中心に振れているので、トロイダ軸 ルレンズ5を透過した光はfθレンズ6の光束と平行な
光束になって、fθレンズ6への入射点ノ高さが変化す
るだけである。fθレンズ6は光軸に平行な光を被走査
面に収束させるので、fθレンズ6への入射点の高さが
変化しても被走査面上の集光点の位置は動かない。これ
が倒れ角補正の作用である。
第3図、第4図は本発明の一実施例を説明する図で、第
1図に示した構成に立脚した実施例で、図は光路を真直
に展開した側面図である。光源は垂直(走査方向と直角
)方向に3個並んでおりla、1b、lcの番号がつけ
である。これら3個の光源によって形成される3本の光
ビー1..はその寸\では第3図に示すJ:うにfθレ
ンズ6によ、つて被走査面7上に離れて収束せしめられ
る。そこでfθレンズ6を出射した3本の光ビームに対
して鏡8a、8b、8cを挿入し、被走査面である円筒
7゛上に折返し反射させ、7“上で所定の間隔例えば1
00 )t mだけ離して3本の光ビームを集束させた
ものである。走査方向は第4図で図の紙面に垂直である
から鏡8a〜8 c (d−、図の紙面に垂直の方向に
長い形をしている。第5図d:第1図の型における他の
実施例で上下の2光束に対[7てfθレンズ6の光軸と
平行に平面鏡8“a、8“Cを設けて図のように集光さ
せたものである。飛んで第8図は第5図の実施例で平面
鏡8’a、  8“Cが大きな面積を要する不利を有す
るのを改善するため平面鏡8’a、  8’cの代りに
プリズム9a及び9Cを用い、中央の光束に対しても光
路長調整のため透明平行平面板9bが挿入しである。
第6図は前述第2図に示しだ構成に立脚した実施例で、
基本的な考え方は第4図の実施例と同じであり、fθレ
ンズ6、を透過しだ3光束の夫々の光路に鏡8a、8b
、8cを挿入して被走査面7′上に所定の間隔で集光さ
せるようにしたものである。第7図に示す実施例も前述
第2図の構成における実施例である。この実施例では7
リンドリカルレンズ3と回転多面鏡4との間に鏡]、O
a、、、1ob、1c+cを挿入したものである。第6
図を参照すると判るように3個の光源:1. a、、 
 1 b、  ]−cから出た光はシリンドリカルレン
ズ30作用で回転多面鏡4上に異る高さで水平方向の線
状(従って第6図では点状)に集光する。そこで鏡10
a、]、Ob、100で夫々の光源から出だ光束を偏向
させて回転多面鏡4上で同一線l上に集光させるように
する。そうすると回転多面鏡4で反射される光は全て線
lから反射されているので、トロイダルレンズ5を透過
した後は全て平行になり、fθレンズ6によって被走査
面7上の一点に収束せられる。そこで鏡10a、10c
の傾きを微調整して3個の光源1a、lb、]、cから
出だ光を回転多面鏡4上で近接した3本の平行線上に集
光さぜるようにして、被走査面7上に−おける3光源か
ら出た光の集光点を上下に所定距離たけ11fずことか
できる。第9図は第7図の実施例における鏡]、Oa、
  コOcをプリズム1コa、:L]、cに代えだもの
で、真中の光束に対しては光路長調整のため透明平行平
面板11bが挿入しである。作用機能は第7図の実施例
と全く同しである。
複数の光ビームを用いて走査を行う場合、相互の走査の
同期性が問題になる。始めに述べたように光ビーム走査
装置は光源の像を100倍程度に拡大1〜で投影する光
学系であるから、複数の光源の横方向(走査方向と平行
)の位置関係が互に1μm程度ずれていても被走査面上
では0.1 ’m、 m程度の誤差となって現われ、通
常のレーサビームプリンタのドツト間隔程度となって無
視できない誤差である。複数光源の位置関係を1 /l
 m以下の誤差で設定することはきわめて困短であり、
光学的な誤差補正を行うか、電気的な走査同期の手段を
用いる必要がある。光学的な方法は例えば前述第7図、
第9図等で示した被走査面上における複数ビームの集合
点の走査方向と直角の方向の位置の調整手段と同様のも
のを走査方向と平行の方向に関しても設けるものである
。第11図は光学的な方法の他の一例を示す。この実施
例は前述第8図の実施例に立脚したもので第8図の各部
の符号がそのま\用いである。被走査面7上における複
数ビームの集光点の上下方向(走査方向と直角の方向)
の位置調整はプリズム等9a、9b、9cの矢印Z方向
の回転調整によって行われ、横方向のずれは9a、9b
、9cの垂直軸回ゎりの矢印Z方向の回転調整によって
補正される。この方法は第4図、第6図の実施例におい
ても鏡8a、8b、8cによって行うことができる。第
12図、第13図は電気的な走査同期制御のだめの同期
信号の取り方に関する実施例である。第12図は前述第
4図或は第6図の構成に基〈実施例である。鏡8a、8
b、8cとは別に3本の光ビームが走査端に来たとき、
各ビームを光検出器12a、12b、12cの方へ反射
サセル鏡]−3a、、  13 b、。
13cを設けたもので、鏡1.3a、  13b、  
1.3Cの走査方向の位置誤差をドツト間隔以下になる
ように調整しておくことにより、光検出器12μ〜12
cから得られる光検出信号を各ビー1、の走査開始の同
期信号とする。第13図は鏡13a〜・!I! ]3Cを用いず各ビームの走査部でビーl、をブリズノ
、9a等或はsea等を通さないで直進させ光検出器1
2a〜]、 2 cに入射させて同期信号を得るように
しだものである。
第10図は複数光源としての半導体レーザアレイの構成
の一例を示す。a、、a’等は坐導体V−ザで、bはp
形りラッド層、Cは活性層(レーザ発に 元部)、dはn形りラッド層、e i7i n 彫基板
で2、y等は光導波溝、gは各レーザa、 a“等を電
気的に絶縁するだめの溝である。
本発明装置は上述、したような構成で複数の光ビームに
よる走査線の間隔を必要に応じてOから任意の値まで自
由に調節できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は光ビーノ・走査装置の基本構成の一例を示す斜
視図、第2図は光ビーム走査装置の基本構成の他の一例
を示す斜視図、第3図は第1図に示した構成の光路を真
直に展開した側面図、第4図、第5図及び第6図は夫々
本発明の異る実施例の光路展開側面図、第7図は本発明
の他の一実施例の斜視図、第8図及び第9図は互に異る
更に他の実施例の光路展開側面図、第10図は半導体レ
ーザアレイの側面図、第11図は走査同期調整の−・方
法を説明する斜視図、第12図は同期信号を得る構成の
一実施例の斜視図、第13図は同期信号を得る構成の他
の一実施例の斜視図である。 −1−a、  ]、 b、  1 c、、、光源、21
1.コリメータレンズ、3・・・7リンドリカルレンズ
味 4・・・走査装置の回転多面鏡、5・・トロイダル
レンズ、6・・・fθレンズ、7・・・被走査面、8a
、  8b、  8c、  8’a、  8’c、10
a、10b、10cm−−鏡、9a、9c。 11 a、  1 ]−]c=−プリズム91)、ll
b・・・透明平行平面板、12a、]、2b、12c・
光検出器]、3a、13b、13c・・・鏡。 代理人 弁理士  縣   浩  介 第1Z図 第13図 Zl

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)複数の光ビームを発生する光源と、これら複数の
    光ビームを被走査面上に結像させる光学系と、これら複
    数の光ビームを振らせて走査を行わせる走査装置とを有
    し、上記各光ビームを走査方向と垂直の方向に偏向させ
    て被走査面一にでの各光ビームの集光点の間隔を調整す
    るだめの光学要素を各光ビームが分離した位置に設けた
    ことを特徴とする光ビーム走査装置。 (2)光ビームを偏向させる光学要素が各光ビーム毎に
    設けられた鏡である特許請求の範囲第1項記載の光ビー
    ム走査装置。 (3)光ビームを偏向させる光学要素が各光ビーム毎に
    設けられたプリズムである特許請求の範囲第光 間に配置された特許請求の範囲第2項或は第3項記載の
    光ビーム走査装置。 (5)  i記光学要素が走査装置の前側(光源側)に
    配置された特許請求の範囲第2項或は第3項記載の光ビ
    ーム走査装置。
JP57124789A 1982-07-16 1982-07-16 光ビ−ム走査装置 Pending JPS5915218A (ja)

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JP57124789A JPS5915218A (ja) 1982-07-16 1982-07-16 光ビ−ム走査装置

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JP57124789A JPS5915218A (ja) 1982-07-16 1982-07-16 光ビ−ム走査装置

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JPS5915218A true JPS5915218A (ja) 1984-01-26

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JP57124789A Pending JPS5915218A (ja) 1982-07-16 1982-07-16 光ビ−ム走査装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60166916A (ja) * 1984-02-10 1985-08-30 Hitachi Ltd 光走査装置
US5305022A (en) * 1992-03-24 1994-04-19 Fuji Xerox Co., Ltd. Interlaced multi-beam scanning type recording apparatus
US5619488A (en) * 1991-09-07 1997-04-08 Fuji Xerox Co., Ltd. Information recording device

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