JPS59155807A - 自動焦点検出装置 - Google Patents

自動焦点検出装置

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JPS59155807A
JPS59155807A JP2859483A JP2859483A JPS59155807A JP S59155807 A JPS59155807 A JP S59155807A JP 2859483 A JP2859483 A JP 2859483A JP 2859483 A JP2859483 A JP 2859483A JP S59155807 A JPS59155807 A JP S59155807A
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Yoshiaki Horikawa
嘉明 堀川
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/34Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Focusing (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、顕微鏡やカメラ等の光学系に用いられる自動
焦点検出装置であって、異なる光路を通って形成された
二つの像を多数の素子を配列して成る光電変換装置によ
シ個別に光電出力信号に変換し、該光電出力信号に基い
て二つの像の相対位置関係を検出することにより合焦検
出を行うようにした自動焦点検出装置に関するものであ
る。
この種従来の自動焦点検出装置には、三角測量を応用し
た距離計式のものや瞳を通る光束を分割して二つの像を
得るTTL方式のものがあり、いずれも二つの像の合致
を検出するのに二つの像についてデジタル的に相関を求
め、その相関値の極、値をもって一合致となし且つその
合致まで二つの像の相対移動量をもって像の位相差量と
するものであった。
第1図はその一例を示しており、図示しないイメージセ
ンサ−により撮られた二つの像のデータA、Bはサンプ
ルホールド回路、A−D変換器くいずれも図示せず)等
を通ってリング状のシフトレジスタ1a、1bに夫々記
憶される。この例では画像データを128ビツトで構成
している。
両画像データA、Bが夫々シフトレジスタla。
1bに格納されると、続いて差の絶対値を求める回路2
によυ各ビット毎の差の絶対値が求められ、更に加算器
3によってそれらの和が求められて二つの像の相関値と
なる。次に、クロックOLからのパルスによりシフトレ
ジスタ1bの画像データBが1ピツト分移動されて再び
回路2.加算器3ニヨり相関値が求められる。このよう
にして、クロックOLにより次々と一方の画像データを
移動させるたびに相関値が求められ、更にピークディテ
クタ4によって相関値の極値が求められ、極値を検出し
た位置が合焦位置となる。又、極値の場合のクロック数
がカウンタ5によって求められ、とのクロック数即ちシ
フトレジスタ1bの画像データBの移動量が二つの画像
の位相差量となり、これからデフォーカスの方向と量を
知ることが出来る。
ところが、と刀従来装置では、イメージセンサ−が一定
の大きさを有せざるを得ないためイメージセンサ−に写
る二つの像は単に位置がずれているだけでなく周辺部分
が異なったものとなり、その結i二つのシフトレジスタ
la、lbに記憶される画像データA 4. Bも単に
位置がずれでいるだけでなく端部において異なったもの
となり、而もこの一方の画像データをリング状に回転さ
せながら相関を計算するので、正確な像の位相差が求め
られ得なかった。この点を第2図に基づき詳細に説明す
れば、(a)及び(blはシフトレジスタ1aに格納さ
れた画像データA及びシフトレジスタ1bに格納された
画像データBを夫々用していて、焦点が合っていない場
合両方の画像データA、Bがずれ従ってビー、りp、、
p/もずれていると共に、両方の画像データA’、Bi
l″ti部において異なったものと壺 なっている。又、(C)シフトレジスタ1bの画像デー
タBをαビット移動せしめたものを示している。
従って、ピークP、P“が一致していることがら両画像
テークA、Bの位相差がαビットであることがわかるが
、(C)の画像データのうち0〜αビツトの部分は(b
)の状態におけるβ〜127ビツトの部分であり、(a
)と(C)の画像データは完全には一致しない。即ち、
相関の計算を0〜127ビツトの全ての画像データにつ
いて行うと、像の位相差が零の場合即ちピークP、P“
が一致した場合に相関の値が極−値になるとは限らない
。従って、この装置では正確な像の位相差を求めること
は困難である。
父、この装置では画像データの移動を1ピツトずつでし
か行っていないので、大きカブフォーカス量を検出する
場合に時間がかかつてしまうという欠点もあった。
本発明は、上記間順点に鑑み、光電変換装置の一部の素
子の光電出力信号を用いて相対位置関係を検出すると共
に、デフォーカス量が大きい場合は該光電変換装置の複
数個ずつずれた素子の光電出力信号を用いて相対位置関
係を検出するようにして、検出精度及び検出速度の大巾
な向上を実現した自動焦点検出装置を提供せんとするも
のであるが、以下第3図乃至第15図に示した一実施例
に基づきこれを説明すれば、第3図は本実施例に用いら
れる瞳分割法の原理を示しており、(a)において、6
は結像レンズ、7は結像レンズ6の前側で瞳の近傍に配
設された開ロアaを有する遮光板、8は像面であり、合
焦時には像面8上に像Qが結像されるが、非合焦時には
前ピン、後ピンに対応して像Qに関して各々光軸0に垂
直な方向で反対方向にずれた位置にボケた像Q1 + 
Q2が像面8上に形成される。(b)は遮光板7の開ロ
アaを光軸Oに関して反対側に移動させた場合を示して
おり、合焦時には像面8上に像Q′が結像されるが、非
合焦時には各々前ピン、後ピンに対応してボケた像Q1
′。
Q21が像面8上に形成される。従って、遮光板7の開
ロアaを例えば(a)の位置からfb)の位置へ移動さ
せると、合焦時には像Q及びQ′が同じ位置にあって移
動しないが、前ピンの場合には像はQlからQ1′の位
置へ移動し、まだ後ピンの場合にはQ2かうQ2′の位
置へ移動する。そして、8の像面上にいわゆるイメージ
センサ−を設けることにより像の状態を測定できる。
以上のことから、前ピン、後ピンの判別が可能となると
共に、その時の非合焦の量を像の移動方向及び量(すな
わち位相差)から知ることができる。
給4図は上記原理を顕微鏡に用いた場合の実施例の全体
図であり、51は光源、52はコンデンサージングであ
る。53はステージで、この上に標本をのせて観察を行
なう。54は対物レンズ、55は焦点検出系へ光を導く
ビームスプリッタ−156は接眼レンズに光の一部を導
くプリズム、57は接眼レンズである。58は写真用接
眼レンズ、59はフィルムである。ここまでは、普通の
顕微鏡と何ら異なるところは無い光学系である。60は
ビームスプリッタ−55からの光を検出光学系に導くリ
レーレンズ、61は瞳をつくるレンズ、62はレンズ6
1によってつくられた瞳の位置におかれる瞳分割器であ
る。63は結像レンズで、これを通る光をフィルター6
4を介してイメージセンサ−65上に結像させる。66
は瞳分割器駆動回路、67はステージ駆動回路であり、
それぞれマイクロコンピュータ70によって制御される
68はイメージセンサ−駆動回路、69はイメージセン
サ−65からの画像データをマイクロコンピュータ70
に入力するインターフェイス回路である。71は自動焦
点動作を行なったり、合焦表示や不可能表示を行なうコ
ンソールである。相関の演算や合焦の判定等は全てマイ
クロコンピュータ70が行なっている。相関の演算は最
近開発され市場に出ている計算専用LSIを用いると良
い。
次に各部分の動作について詳述する。第5図は二つの像
を形成する為に瞳を通る光束を分割する瞳分割器の具体
的な二つの例を示しており、(a)はガラス基板に連光
部分(斜線部)を設は且つ軸Oを中心に回転させること
により瞳9を半分ずつ交互に開閉す、るようにしたもの
であり、(b)は開口部】0を有した扇形のもので軸O
を中心に左右に回転させることにより瞳9を半分ずつ交
互に開閉するようになっている。(a)の場合は、DC
モータ等によって回転させつつ回転する瞳分割器による
同期信号に応じてイメージセンサ−で撮像する方法に適
している。(b)はマイクロコンピュータ等の制御装置
に従って瞳分割器を動かしながらそれと同期してイメー
ジセンサ−で撮像する方法に適している。かくして、以
上の様な瞳分割器によって第3図における(a)、(b
)の状態を作り出し、その(a)。
(b)の状態それぞれの場合の画像データをイメージセ
ンサ−によって得ることが可能となる。
父、一般に合焦の対象となる被写体や標本は視野の中心
にあるとは限らないので、イメージセンサ−は視野の中
心だけでなくなるぺ〈広範囲にわたっていることが望ま
しい。しかし、視野全体をカバーしようとするとイメー
ジセンサ−の素子数を増やす必要がある。これは合焦精
度を一定に保つためには素子のピッチをある程度の大き
さにしなければならないところからくる。
この点について以下説明する。第6図は二つの像の位相
差量とデフォーカス量との関係を示す図である。こ\で
は、説明を簡単にする為に点像を考える。13は光学系
の光軸であり、後側聞口数がN A’の光学系によって
点像11が形成されているとする。今デフォーカス量δ
dの位置にイメージセンサ−12があるとすると、二つ
の像11A。
11BはSpだけ位相差をもって形成されるから、δd
とSpの関係は となる。今10×の対晩レンズを用いた場合の合焦精度
を考える。10×対物レノズのNAを0.40とすると
NA’は0.04となり、(1)式からδd〒258p
              (2)が導かれる。一方
、10×対物レンズの焦点深度tは t = ’□             (8)NA’ で表わされる(εは最小錯乱円である)から、ε−0,
05mm(20本/mm)分解能K 相当) t4++
h’t = ’ 1.25mm           
  (4)となる。この焦点深度以内の合焦検出精度が
必要であるから、 δd=−−(5) として δa = 0.625mm            (
6)よって Sp = 251+m             (7
)となる。この程度の像の位相差量を精度良く求めるに
は、イメージセンサ−12のダイオードアレイのピッチ
がやはり25μm程度である必要がある。
以上の様に合焦精度の要求からイメージセンサ−12の
ピッチが決定される。この場合板に128個のダイオー
ドアレイを有するイメージセンサ−を用いたとすると、
イメージセンサ−がカバーする範囲は128 X 0.
025 = 3.2mmとなり、これは視野数21(視
野が直径21mm )に比べて非常に小さく、合焦の対
象となる被写体をイメージセンサ−の位置(一般的には
中心)に移動させて合焦を行う必要が生じる。
第7図は本実施例に使用したイメージセンサ−とそこに
おける処理方法を示したものである。本実施例は512
個のフオ、トダイオードアレイを有するイメージセンサ
−を使用しているが、このイメージセンサ−によると5
12 X (1,025= 12.8mmとなり、視野
のか々りの部分をカバーすることができる。
しかし、全てのビット(ダイオードアレイ)を用いて相
関演算すると非常に演算時間が長くなるし、意味も無い
。そこで512ビツトを128ビツトの五つのブロック
a −dに分け、その内股もコントラストの高いブロッ
クで相関の演算を行なう。
ここで、コントラスト計算方法の一例について説明する
。一般にコントラスト評価の評価関数としては、’f 
(x)をセンサーのXビット目の出力とした場合 C−Σl f(x) −f (X+1 ) I又は、 C−Σ(f(X) −f (X+1 ) )2となるこ
とが知られている。本実施例の場合、コントラストの変
化を精度良く知る必要のあるコントラスト法による川魚
合わせとは異なり、各ブロック間の相対的コントラスト
強度を知れば良いから、必ずしも隣りのビットの差を計
算する必要はない。例えば C−Σ′1f(X)−f(X+5)I とする(Σ′はXを4つおきに計算するという意味−I
f(64)−f(69)l+・・・・+l f (18
4)−f (188) lとなり、差の絶対値を31回
計算しながら加算すれば良いことになる。従来の計算法
なら121回心要となる。
尚、ここで5ビット隣りの値との差の絶対値を4ピツト
おきに計算しているのは、ただ単に隣りの値の差の絶対
値を4ビツトおきに計算するよりもコントラストの感度
を良くするためである。この点に関し、例えば第8図に
示したイメージセンザー上の光の強度分布lに基づき比
較計算を行ってみると、本実施例の場合は C= If(64)−f(69)l+1f(68)−f
(73)l= 113−301+125−601 =52 となるのに対し、従来の場合は 0’−1f(64)−f(65)l+1f(68)−f
(69)1= 113−141+125−3(] = 6 となることから、・本実施例の方が従来の場合よりコン
トラスト感度が良くなっている。
更に、計8算量を少なくする為にXビット隣りの値との
差を求め、これをXビットおきに計算する場合は、x>
Yが好ましい。本実施例はX二5>4=Yである。
なお、上記関数fに用いるデータは画像データA、Bの
どちらか一方で良い。
かくして、以上の様な方法でブロックa、b。
・・・・、eのコントラストを計算してその内の一番コ
ントラストの良いものを選ぶが、ここで第7図から明ら
かなようにブロックaとbが128〜192ビツトで重
なっているので、無駄な計算をしないように64〜12
8 ピッ ト 、128〜192ピッl−,192〜2
56ビツトのコントラストを各々計算し、ブロックaの
コントラストは64〜128ビツトと128〜192ビ
ツトのコントラストの和、ブロックbのコントラストは
128〜192ビツトと192〜256ビツトのコント
ラストの和としても良い。尚、ブロックa 、 b 、
 c 、 a。
eが各々の半分ずつ重なり合っているのは、ブロックの
境界に画像強度変化の著しい部分がある場合でもその変
化を含んだブロックを設定できるようにする為である。
例えばブロックa、cの境界すなわち192ビット近辺
に画像強度変化の著しい部分があった場合、ブロックa
あるいはブロックCでは情報を全て使うことは出来ない
が、ブロックbが設定されていれば情報の全てがブロッ
クbに含まれることになり都合が良い。コントラストを
求める演算は相関の演算に比べて非常に短時間で済むの
で、本実施例の演算時間は128ビツトだけの相関演算
時間+α程度の時間で済む。父、両側のそれぞれ64ビ
ツトにブロックを設定していないのは、像をずらして相
関を計算する場合に第2図で述べたことが起こらないよ
ってする為である。
以上のように処理を行なえば、必ずしも合焦させるべき
被写体や標本が視野の中心になくとも被写体のおる部分
(ブロック)が自動的に選ばれて焦点検出が行われる。
以上のことは特に固定的なブロックを定めておく必要は
なく、視野の大部分をカバーするように配設されたイメ
ージセンサ−の数多くの7オトダイオードアレイの中か
ら、相関演算に必要なフォトダイオードアレイを含んだ
部分をコントラスト等で選べば良い。寸だ観察用の視野
中にマーク等を設は手動で設定するようにしても良い。
この様にすると視野中に立体的な標本があって(、ある
いはゴミがあっても、使用者の合わせたい被写体に焦点
を合わせることができる。
次に、全体の動作について説明する。捷ず、第4図のイ
メージセンサ−65からの二つの画像データA及びBは
インターフェイス69を通してマイクロコンピュータ7
0のメモリに格納される。そして、五つのブロックの内
設もコントラストの高いブロックが選択され、そのブロ
ックの画像データによって相関が演算される。仮に第7
図のブロックaを選択したとして話を進める。
相関演算はメモリに格納された二つの画像に対応する画
像データAと画像データBとを相対的に1ビツトずつず
らしながら計算し、何ビット分ずらしたら画像が重なっ
たかを判定して像の位相差量を求める。相関の1式は、
例えば となり、ABSは絶対値を表わし、関数fA(X)、f
B(X)は夫々画像データA、BのXビット目の値を表
わしている。そして、−組の関数fA、fBについてδ
としている。又、この例では一64≦δ≦64としてい
る。このδの範囲は合焦点近くでは狭くすることができ
るので、演算時間の短縮となる。
実際のδの値はイメージセンサ−の1ビツトごとの値し
かとらないので、さらに精度良く検出する為には相関の
離数的な値をカーブフイテイングとその前後の圧点O9
p、qを用いて二次曲線近似ヲ行うことによって求める
こともできる1、(第10図)。
以上の結果、視野の多くの部分をカッ<−シ且つ合焦の
精度を維持しながら、演算時間をほとんど増加させない
で済む。
上記の例ではδが−64〜64の範囲にあり、この範囲
のデフォーカス量は(6)式から0.625X64=4
0mmとなり1.対物側では40/102= 0−4=
400μmである力・らデフォーカス量が±400μm
となる。これ以上の広い範囲のデフォーカス量を検出範
囲に入れようとする場合、δの範囲を増やすことが考え
られるが、これは計算量が増大し好捷しくない。捷だそ
の様にデフォーカス量が大きい場合に上記の様な精度の
高い計算をしても意味が無い。
そこで、本実施例では画像データとして取込んだデータ
の内の数ビットごとのデータを用いてコントラストや相
関の計算を実行している。具体的には5ビットおきにデ
ータを用いるとすると、画像メモリ中−のデータf(0
) ! f (1) 、 f (2) 、・・・・、f
(510)。
f (511)の内のf(0)? f(5) 、 f(
IQ 9・・・・、 f (505) 、f (510
)が使用するデータになると考えれば良い。実際には計
算の際[5ヒツトおきのデータを用いるに過きない。例
えば(8)弐に R(δ)二 Σ lf  (96+4n)−fB(96
+4n+δ)+   (9)n、=OA の様になる。この場合は、デフォーカス量が大きく像も
ぼやけて低周波成分しかないから、ブロック分けは行な
っていない。この場合のδの変化雁も5つおきに言1算
するから、ノの範囲を例えば−200≦δ≦200とし
た場合でも相関計算の回数は81回となり少なくて済む
。検出範囲は±1.25mmとなる。
以上の様に、画像データを数ビットおきに用いることに
より計算量を増やすことなく検出範囲を広げられる。こ
の様にデフォーカス量の大きい時は数ビットごとの計算
により焦点位置の近くに合わせ、その後に前述の精度を
考えた計算を行なうと、合焦可能範囲が広く且つ合焦精
度の良い自動焦点検出を行なうことが出来る。
さらにデフォーカス量が大きい場合には、画像データか
らコントラスト(計算量が少なくて済む)だけを計算し
つつステージを移動し、コントラストが一定の 値にな
ってから相関による焦点合わせを行なうようにすると良
い。才だこれは、コントラストが一定以上ないと相関計
算が誤った像位相を計算する恐れもあるので、それより
低いコントラストの場合は計算しないなどの判断に用い
てもよい。
尚、カメラ等対物光学系を移動して焦点合わせを行なう
装置の場合は、光学系を駆動するのは言う捷でもない。
上記の実施例の場合、瞳を通る光束を分割して二つの像
を得るので、光学系の偏芯や瞳の偏芯等で画像データA
とBの光量が異なる場合がある。
特に合焦系をアタッチメント形式にすると影響が出やす
い。また瞳位置に瞳分割器が無い場合には、第11図の
ように画像データAとBで光量にむらが出来る。第12
図は光量むらを模式的に説明する図である。(a)の場
合、瞳と瞳分割器が一致しているから各像高り、i、j
に対して瞳を通過する光量は全てaに等しい。(b)の
場合、瞳と瞳分割器が一致していないから、各像高り、
i、jに対して瞳を通過する光量はそれぞれす、a、c
となって不均一となり、光量むらが生じる。
以上のような光量差や光量むらがあると、画像データA
とBの二つの像の相似性が悪化し、相関処理結果の精度
が著しく低下することになる。そこで補正か必要となる
。補正の一つの例は、イメージセンサ−の固定パターン
ノイズの除去によく用いられている方法で、あらかじめ
均一な光でイメージセンサ−を露光しその画像データを
得る。
入射光が均一であることにより画像データは固定パター
ンノイズそのものであるから、その逆数によって補正係
数をつくれば、その後画像データに補正係数をかけるこ
とにより固定パターンノイズの影響を除くことができる
。本実施例の場合、合焦光学系を通した均一な光で画像
データA及びBを得ると画像データAとBは偏芯等によ
り第11図の様に光量むらのあるデータとなっている。
従って、その逆数等によって補正係数をつくり同様な処
理を行なえば、光量むらの影響を除くことが出来る。光
量差がある場合もその光学系を通して同様な処理・を行
なえば同様々効果を得るととができる。付随的にはイメ
ージセンサ−の固定パターンノイズの除去にもなる。均
一光で露光する具体的方法としては、ステージ53上に
試料をおかない状態での画像データを入力する方法が簡
単である。
以上のように、上記の補正には一度均一光によるデータ
入力を行なう必要がある。とれはめんどうな操作ではな
いが、それでも補正用のデータ入力を行ないたくない場
合は計算によって補正することも出来る。第13図はそ
れを説明する図で、y軸をセンサーアレイの並び方向に
y軸を画像データの強度の方向に夫々とっである。画像
データA。
Bの値は、第12図の説明でもわかる通りある一定の傾
きをもつ直線と考えることが出来る。それデれをeA、
lBとする。画像データlAの傾きをβ9とすると、画
像データlAの式は、lAをlAの光量の平均として、 y−βAX十ハ ら求めることか出来る。kはその光学系の特性により決
−まるもので、あらかじめ測定しておけば良い。画像デ
ータA、Bの光量の平均を工al)l!とすると、補正
係数αば となり、これによって光量差の補正及び光量むらの補正
ができる。
以上の様に、均一光を用いたりあるいは計算することで
、光学系の偏芯あるいは瞳の偏芯の影響や瞳と瞳分割器
が一致していない影響を補正し除去することが出来る。
その結果、合焦の精度が向上し、検出範囲も拡がる。更
には合焦検出部もアタッチメント形式にしても使用出来
る。最も大きな効果としては、瞳位置の異なる各種各倍
率の対物レンズが使用出来ることである。
また、顕微鏡のように多くの種類の対物レンズを用いる
とそれぞれの対物レンズによシ瞳位置が違うので、瞳分
割器を瞳位置に全ての対物レンズについて正しく設置す
ることが難しい。この不具合の解決法の一つとして1童
分割器を複数個設けることが考えられる。複数の瞳分割
器をそれぞれの対物しン・ズの瞳位置に設けることによ
り瞳と瞳分割器とを一致させる。一つの瞳分割器を使用
している場合、他の瞳分割器が瞳をけらないように構、
成されているのは言うまでもない。例えば第14図のよ
うに第5図と同じ瞳分割器を二枚連結したものを用いて
もよい。
第4図において、フィルター64は赤外カットフィルタ
ー或いはバンドパスフィルターであって、イメージセン
サ−及び光源51等の分光感度1分光分布が比想感度と
異なるので、そのことによる焦点ずれの現象を防ぐ役目
をする。
以上のような自動焦点装置の制御、演算処理を行つ場合
、マイクロコンピュータ及び演算処理ユニットによる方
法が最も設計容易で安価である。
これについて、第15図のフローチャートで説明を補足
す・る。これは最も基本的な場合を示している。合焦が
開始されると、まず顕微鏡の状態が合焦動作に適した状
態になっているかをチェックし、対物の種類3倍率を判
別する。これは、光量むら補正の場合対物の種類及び倍
率によってパラメータが異なり、像位相差量をステージ
移動量に変換する変換の係数も倍率によって違うからで
ある((1)式参照)。次に、イメージセンサ−からへ
及びfBのデータを得てメモリに格納する。その後、光
量むらを補正し、再びメモリに格納する。合焦開始時は
焦点が大きくずれていることがあるので、5ビツトおき
の相関演算でおおよその焦点位置を決定する((9)式
参照)。そして、相関により求めた像位相差量をステー
ジ移動量に変換しステージを移動する。そこで再びfA
、 f)3のデータを得、補正を行なう。次にコントラ
スト評価によりフ゛ロックを決定する。コントラストが
一定値以上なければ相関による結果の信頼性が少ないの
で、もう一度5ビット相関を行ないステージを焦点位置
に近づける。数回性なってもコントラストが上がらない
場合は試料のコントラストが低すぎるので不可能表示を
行なう。コントラストが一定以上あれば、決定されたブ
ロックで相関を計算し、ステージを移動して合焦する。
合焦の確認としてもう一度fA、fBを得、相関を計算
する。ここで像位相差量が焦点深度内の値であれば合焦
であり、ステージを移動しない。もし焦点深度外であれ
ばもう一度同じ動作を繰り返す。
以上は最も基本的な動作を説明したもので、実際のプロ
グラムには試料が無かった場合とか機械が故障した場合
のフェイル・セイフ等も考慮されている。
壕だ5ビツト相関から1ビツト相関に移る場合の判定に
像位相差量を用いてもよい。前例の場合−200≦δ≦
200の範囲を5つおきに計算しているが、相関R(δ
)が最小値をとるδが一200≦δ′≦200ならばそ
の分ステージを移動した後に1ビツト相関に移る。この
場合判定条件を一180≦δ′≦180のように計算し
たδの範囲より小さめに設定するほうがよい。これはデ
フォーカス量が大きい場合には雑音等で誤って最小値を
とるδ′を決定することがあるからである。
第16図は第二実施例とし、て中央処理装置以外を・・
−ドウエアで構成した例の制御・演算回路を示している
。これについて説明すれば、まずコンソール7Iからの
合焦開始信号により瞳分割器駆動回路66が働き画像デ
ータAをイメージセンサ−65によシ得る。イメージセ
ンサ−65は瞳分割器62と同期してセンサー駆動回路
68により撮像を開始する。この時、蓄積型イメージセ
ンサ−の場合は(一般に固体撮像素子はこの型)、一度
以前に蓄積された信号を消去する為にカラ読み出しを行
なう。イメージセンサ−65から連続して読み出される
画像データAはサンプルホールド回路31.A/Dコン
バータ32.スイッチ回路33を通って第一メモリ34
に記憶される。そして、図示していないメモリにあらか
じめ記憶されている補正係数データによって画像データ
Aは補正されて再び第一メモリ34に記憶される。補正
係数データはあらかじ・め均一光を入射して画像センサ
ーで撮像した前述の画像データの逆数にその時の画像デ
ータA、Bの平均値を掛けたものである。
512ビツトのイメージセンサーの場合を考える。
画像データA、Bは両方台わせると0〜1023ビツト
まで合計1024個と々る。画像データAは0〜511
ビツト、画像データBは512〜1023ビツトとする
。試料が無い状態での均一光で得た画像データのnビッ
ト目のイ直をXnとすると、nビットk   =− h となる。
次に、画像データAが第一メモリ34に格納されると、
i1m分割器62は画像データBを取る状態になり画像
データBは画像データAと同様にして第二メモリ35に
補正されて格納される。第一メモリ34に格納されたデ
ータは第7図に示したブロックごとにコントラスト判別
器36に送られ、コントラストの高さにより用いるべき
ブロックが決定される。ブロックb′のコントラストが
最も高い場合にはアドレス指定回路37に128が与え
られる。アドレスシフト回#!r38には初期値−32
か入っており、アドレス指定回路37が第一メモリ34
の128を指定すると、アドレスシフト回路38は第二
メモリ35の96を指定する。そして画像データfA(
128)とfB(96)が減算器39に入カサレ、絶対
値回路4oを経テ]fA(128)−fB(96)1ノ
演算が行なわれる。そして、加算器41を経てメモリ4
2に格納てれる。以上が終ると、アドレス指定回路37
はメモリ34の129を指定し、アドレスシフト回路3
8はメモリ35の97を指定し、以後同様に演算され1
fA(129) fB(97)1  は加算器41によ
って前のデータl fA(t2g)−fB(96) l
に加えられてメモリ42に格納される。以後第一メモリ
34のアドレス255まで繰り返され、相が完了する。
この計算が完了すると、アドレスシフト回路38の値は
−31になり、 が計算される。そして、これはアドレスシフト回路38
の値が31になるまで続き、全体の相関演算 が行なわれる。続いて中央処理装置43によりメモリ4
2内のR(δ)を比較し、R(δ)が最小となるδを見
つけて像の位相差量とする。それに従ってステージ駆動
回路67を駆動しピントを合わせる。
尚、デフォーカス量が太きく一32≦δ≦31の位相差
量では不足な場合は、アドレス指定回路37は第一メモ
リ34の128を指定し且つアドレスシフト回路38の
初期値は−64となる。そして、それぞれの相関計算が
終るごとに2ずつ増え、R(64)= l f′A(1
28)−fB(128−64)l +l fA(]30
)−fB(130−64月−+−・・・・・・・・・ 
刊fA(382)−fB(382−64) 1R(−6
2)=  ・・・・・・・ R(60)−・・・・・・・ という計算が行なわれる。これは画像データを1ビツト
おきに用いたことに相当し、同じ計算量で像位相差の検
出範囲が二倍になっている。但し合焦精度は1/2にな
る。
以上のように像位相差を計算しステージ駆動回路67を
駆動してピントを合わせるが、ピントを正確に合わせる
為上記動作を数回繰り返しても良い。尚、コンソール7
1では合焦開始や合焦表示を行なう。
上述の如く、本発明による自動焦点検出装置は、イメー
ジセンサ−で得た画像データの一部だけを用いて相関演
算を行うと共に、デフォーカス量が大きい場合は画像デ
ータの複数個ずつずれたデータを用いて相関演算を行っ
ているので、検出精度及び検出速度が大幅に向上する。
尚、本発明は、二つのイメージセンサ−を用いた自動焦
点検出装置にも適用し得るのは言う丑でもない。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の自動焦点検出装置の要部回路を示す図、
第2図は上記従来例のシフトレジスタに記憶される画像
データの一例を示す図、第3図は本発明による自動焦点
検出装置の一実施例に用いられる瞳分割法の原理を示す
図、第4図は上記実施例の全体図、第5図は上記実施例
に用いられる瞳分割器の具体例を示す正面図、第6図は
二つの像の位相差量とデフォーカス量との関係を示す図
、第7図は上記実施例のイメージセンサ−とそこにおけ
る処理方法を示す図、第8図はイメージセンザー上の光
の強度分布の一例を示す図、第9図及び第10図は合焦
点付近における精度の良い位相差計算法を示す図、第1
1図は上記実施例における画像データの光量むらを示す
図、第12図は光量むらを模式的に説明する図、第13
図は光量むらの補正方法を示す図、第14図は他の瞳分
割器の斜視図、第15図は上記実施例のコンピュータに
よる制御及び演算処理方法を示すフローチャート、第1
6図は他の実施例の制御・演算回路を示す図である。 51・・・・光源、52・・・・コンデンサーレンズ、
53・・・・ステージ、54・両対物レンズ、55・・
・・ ビームスプリッタ−156・山プリズム、57・
・・・接眼レンズ、58・・・・写真用接眼レンズ、5
つ・・・・フィルム、60・・・・リレーレンズ、61
・・・・レンズ、62・・・・瞳分割器、63・・・・
結像レンズ、64・・・・フィルター、65・・・・イ
メージセンサー、66・・・・瞳分割器1駆動回路、6
7・・・・ステージ5駆動回路、68・山イ、メージセ
ンサー駆動回路、69・・・・インターフェイス回路、
7o・・・・マイクロコンピュータ、71・・・・コン
ソール。 6〕τj’We 代理人 篠原泰司;−=l′:lii’E!−+++−
I− 11図    第2凶 第3図 r 第4図 9 第5図 十S 図 19図   オio図 オti図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 異なる光路を通って形成された二つの像を多数の素子を
    配列して成る光電変換装置により個別に光電出力信号に
    変換し、該光電出力信号に基づいて二つの像の相対位置
    関係を検出することにより合焦検出を行うようにした自
    動焦点検出装置において、光電変換装置の一部の素子の
    光電出力信号を用いて相対位置関係を検出すると共に、
    デフォーカス量が大きい場合は該光電変換装置の複数個
    ずつずれだ素子の光電出力信号を用いて相対位置関係を
    検出するようにしたことを特徴とする自動焦点検出装置
JP2859483A 1983-02-24 1983-02-24 自動焦点検出装置 Granted JPS59155807A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2859483A JPS59155807A (ja) 1983-02-24 1983-02-24 自動焦点検出装置
DE3406578A DE3406578C2 (de) 1983-02-24 1984-02-21 Automatische Brennpunktermittlungsvorrichtung
US06/928,730 US4740678A (en) 1983-02-24 1986-11-10 Automatic focus detecting device in which two objects images formed through different light paths are converted to photoelectric signals
US07/140,537 US4833315A (en) 1983-02-24 1988-01-04 Automatic focus detecting device in which two object images formed through different light paths are converted to photoelectric signals

Applications Claiming Priority (1)

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JPS59155807A true JPS59155807A (ja) 1984-09-05
JPH0553241B2 JPH0553241B2 (ja) 1993-08-09

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JPH02126212A (ja) * 1988-11-07 1990-05-15 Nikon Corp 焦点検出装置
US5572011A (en) * 1993-12-28 1996-11-05 Olympus Optical Co., Ltd. Focus detecting method and distance measuring method with a plurality of light fluxes and a contrast operation

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