JPS5916201B2 - 転写形状の測定方法 - Google Patents
転写形状の測定方法Info
- Publication number
- JPS5916201B2 JPS5916201B2 JP49078972A JP7897274A JPS5916201B2 JP S5916201 B2 JPS5916201 B2 JP S5916201B2 JP 49078972 A JP49078972 A JP 49078972A JP 7897274 A JP7897274 A JP 7897274A JP S5916201 B2 JPS5916201 B2 JP S5916201B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- molded product
- basic shape
- shape
- light
- contour map
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は等高線図によつて成形品の転写精度を測定す
る転写形状の測定方法に関する。
る転写形状の測定方法に関する。
たとえば、プレス成形によつて製造された成形品が、金
型に刻設された曲面形状の基本形をどの程度精密に転写
したかを測定する場合、従来は触針式の形状測定器で測
定するのが一般に行なわれていた。
型に刻設された曲面形状の基本形をどの程度精密に転写
したかを測定する場合、従来は触針式の形状測定器で測
定するのが一般に行なわれていた。
この触針式の形状測定器による転写精度の測定は、成形
品の表面に針を接触させて走査し、この針の移動量から
上記成形品の形状を求め、それを上記金型に刻設された
基本形と比較することにより、上記成形品の転写精度を
測定するものである。だが、このような触針式の形状測
定器によつて転写精度を測定する場合、成形品の表面全
体に針を走査させるということは容易なことではない。
品の表面に針を接触させて走査し、この針の移動量から
上記成形品の形状を求め、それを上記金型に刻設された
基本形と比較することにより、上記成形品の転写精度を
測定するものである。だが、このような触針式の形状測
定器によつて転写精度を測定する場合、成形品の表面全
体に針を走査させるということは容易なことではない。
また、針を成形品に接触させて走査すると、上記成形品
の表面に傷が付く虞れがあるなどの不都合があつた。こ
の発明は上記事情にもとづきなされたもので、その目的
とするところは、たとえば金型などに刻設された基本形
と、この基本形から成形される成形品との等高線図を光
学的に作成し、これらの等高線図から上記成形品の基本
形に対する転写精度を測定することにより、簡単で、し
かも非接触で測定を行うことができる転写形状の測定方
法を提供することにある。
の表面に傷が付く虞れがあるなどの不都合があつた。こ
の発明は上記事情にもとづきなされたもので、その目的
とするところは、たとえば金型などに刻設された基本形
と、この基本形から成形される成形品との等高線図を光
学的に作成し、これらの等高線図から上記成形品の基本
形に対する転写精度を測定することにより、簡単で、し
かも非接触で測定を行うことができる転写形状の測定方
法を提供することにある。
以下、この発明の一実施例を図面にもとづいて説明する
。
。
図中1は、たとえばプレス加工などに用いられる金型で
、この金型1には凹曲面からなる基本形2が刻設されて
いる。また、図中3は上記金型1から成形された凸曲面
からなる成形品で、この成形品3は載置合1上に置かれ
、その上方には、上記成形品3を覆うように微小幅で多
数の開口5a・・・が設けられた格子5が配設されてい
る。また、上記成形品3の斜上方には光源6が設けられ
、この光源6と対向して集光レンズTが配設されている
。また、成形品3の垂直上方には結像レンズ8と、この
結像レンズ8と対向して写真乾板9とが配設され、上記
成形品3の等高線図を、たとえばモアレ・トポグラフイ
ー法で作成する構成となつている。しかして、光源6か
ら光L1が発せられると、その光L1は集光レンズTで
集束され、格子5を介して成形品3を照射する。
、この金型1には凹曲面からなる基本形2が刻設されて
いる。また、図中3は上記金型1から成形された凸曲面
からなる成形品で、この成形品3は載置合1上に置かれ
、その上方には、上記成形品3を覆うように微小幅で多
数の開口5a・・・が設けられた格子5が配設されてい
る。また、上記成形品3の斜上方には光源6が設けられ
、この光源6と対向して集光レンズTが配設されている
。また、成形品3の垂直上方には結像レンズ8と、この
結像レンズ8と対向して写真乾板9とが配設され、上記
成形品3の等高線図を、たとえばモアレ・トポグラフイ
ー法で作成する構成となつている。しかして、光源6か
ら光L1が発せられると、その光L1は集光レンズTで
集束され、格子5を介して成形品3を照射する。
そののち、光L1は成形品3で反射して、その反射光L
2は格子5を通り抜けて結像レンズ8を介して写真乾板
9に第4図に示すような成形品3の等高線図10を形成
する。これと同様にして金型1に刻設された基本形2の
等高線図を求めると、第3図に示すように上記成形品の
等高線図10とは対称の等高線図11が得られる。この
ようにして作成された等高線図10,11において、も
しも、上記成形品3が金型1の基本形2を正確に転写し
ていたならば、上記等高線図10と11とは鏡対称とな
つているので、これらを裏返して重合させれば、等高線
はずれることなく一致する。
2は格子5を通り抜けて結像レンズ8を介して写真乾板
9に第4図に示すような成形品3の等高線図10を形成
する。これと同様にして金型1に刻設された基本形2の
等高線図を求めると、第3図に示すように上記成形品の
等高線図10とは対称の等高線図11が得られる。この
ようにして作成された等高線図10,11において、も
しも、上記成形品3が金型1の基本形2を正確に転写し
ていたならば、上記等高線図10と11とは鏡対称とな
つているので、これらを裏返して重合させれば、等高線
はずれることなく一致する。
しかし、成形品の転写精度が悪い場合は、上記等高線図
10と11との等高線はずれて、第5図に示すようにモ
アレ現像により上記ずれ量に比例した次数を有する縞模
様、すなわちモアレ縞12が現われるので、成形品3の
転写精度および上記ずれ量の次数より誤差を知ることが
できるものである。なお、上記実施例においては、等高
線図を作成するのにモアレ・トポグラフイ一法を用いた
が、他の手段としてホログラフイ一法、干渉計法、など
によつて等高線図を作成しても、上記実施例と同様に成
形品の転写精度を測定することができる。
10と11との等高線はずれて、第5図に示すようにモ
アレ現像により上記ずれ量に比例した次数を有する縞模
様、すなわちモアレ縞12が現われるので、成形品3の
転写精度および上記ずれ量の次数より誤差を知ることが
できるものである。なお、上記実施例においては、等高
線図を作成するのにモアレ・トポグラフイ一法を用いた
が、他の手段としてホログラフイ一法、干渉計法、など
によつて等高線図を作成しても、上記実施例と同様に成
形品の転写精度を測定することができる。
また、転写精度を測定する対象としてプレス加工などの
ように金型に刻設された基本形から成形される成形品に
ついて述べたが、切削加工などのように基本形のない成
形品においては、理論的に基本形を求めて等高線図を作
成することにより、上記実施例と同様に転写精度を測定
することができる。さらに、上記実施例では成形品の等
高線図を作成するのに写真乾板を用いて行つたが、この
写真乾板の変わりに拡散板と、この拡散板と重合して基
本形の等高線図を配置し、上記拡散板に成形品の等高線
図を投影して、肉眼またはテレビカメラを介して上記基
本形と成形品との等高線図のずれを測定すれば、成形品
の転写精度の測定を短時間で行うことができるので、生
産ラインなどに使用することも可能である。さらに、基
本形が凸曲面からなり、成形品が凹曲面からなる場合も
上記実施例と同様転写形状を測定できることは無論であ
る。以上述べたようにこの発明においては、一方が凹曲
面からなり、他方が凸曲面からなる基本形と成形品との
等高線図を作成し、これら等高線を重ね合せることによ
つて生じるモアレ縞により上記成形品の基本形に対する
転写精度を測定することを特徴とする。
ように金型に刻設された基本形から成形される成形品に
ついて述べたが、切削加工などのように基本形のない成
形品においては、理論的に基本形を求めて等高線図を作
成することにより、上記実施例と同様に転写精度を測定
することができる。さらに、上記実施例では成形品の等
高線図を作成するのに写真乾板を用いて行つたが、この
写真乾板の変わりに拡散板と、この拡散板と重合して基
本形の等高線図を配置し、上記拡散板に成形品の等高線
図を投影して、肉眼またはテレビカメラを介して上記基
本形と成形品との等高線図のずれを測定すれば、成形品
の転写精度の測定を短時間で行うことができるので、生
産ラインなどに使用することも可能である。さらに、基
本形が凸曲面からなり、成形品が凹曲面からなる場合も
上記実施例と同様転写形状を測定できることは無論であ
る。以上述べたようにこの発明においては、一方が凹曲
面からなり、他方が凸曲面からなる基本形と成形品との
等高線図を作成し、これら等高線を重ね合せることによ
つて生じるモアレ縞により上記成形品の基本形に対する
転写精度を測定することを特徴とする。
したがつて、成形品の転写精度の測定を簡単に、かつ非
接触で行うことができるようになつたので、能率の向上
が計れるばかりが、成形品の表面に傷を付けることなく
測定できるという実用上の利用価値は大きい。
接触で行うことができるようになつたので、能率の向上
が計れるばかりが、成形品の表面に傷を付けることなく
測定できるという実用上の利用価値は大きい。
図面は、この発明の一実施例を示すもので、第1図は基
本形が刻設された金型を示す縦断面図、第2図は等高線
図を作成する手段を示す概略的構成図、第3図は基本形
の等高線図、第4図は成形品の等高線図、第5図は重ね
合された等高線図によつて生じるモアレ縞を示す平面図
である。 2・・・・・・基本形、3・・・・・・成形品、10,
11・・・・・・等高線図、12・・・・・・モアレ縞
。
本形が刻設された金型を示す縦断面図、第2図は等高線
図を作成する手段を示す概略的構成図、第3図は基本形
の等高線図、第4図は成形品の等高線図、第5図は重ね
合された等高線図によつて生じるモアレ縞を示す平面図
である。 2・・・・・・基本形、3・・・・・・成形品、10,
11・・・・・・等高線図、12・・・・・・モアレ縞
。
Claims (1)
- 1 光源より発せられた光を光学系で平行光にしこの平
行光を格子を介して対応関係になる基本形およびこの基
本形より得られる成形品の凹凸二つの物体に別々に照射
し、各照射された物体のそれぞれの反射光によつて鏡対
称になる等高線図を作成し、上記二つの高等線図の一方
を裏返して両者を重ね合わせモアレ現像によるモアレ縞
を得このモアレ縞より上記二つの物体のずれ量を測定す
ることを特徴とする転写形状の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP49078972A JPS5916201B2 (ja) | 1974-07-10 | 1974-07-10 | 転写形状の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP49078972A JPS5916201B2 (ja) | 1974-07-10 | 1974-07-10 | 転写形状の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS517960A JPS517960A (en) | 1976-01-22 |
| JPS5916201B2 true JPS5916201B2 (ja) | 1984-04-13 |
Family
ID=13676802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP49078972A Expired JPS5916201B2 (ja) | 1974-07-10 | 1974-07-10 | 転写形状の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5916201B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004133324A (ja) * | 2002-10-11 | 2004-04-30 | Fuji Photo Film Co Ltd | 電子画像形成方法 |
| JP2016070918A (ja) * | 2014-10-01 | 2016-05-09 | 本田技研工業株式会社 | 成形物の製造方法、形状測定方法及び形状測定装置 |
-
1974
- 1974-07-10 JP JP49078972A patent/JPS5916201B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS517960A (en) | 1976-01-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4443705A (en) | Method for locating points on a three-dimensional surface using light intensity variations | |
| US5289264A (en) | Method and apparatus for ascertaining the absolute coordinates of an object | |
| US4340306A (en) | Optical system for surface topography measurement | |
| US5467184A (en) | Method of large deformation measurement using speckle interferometry | |
| CA2048358A1 (en) | Field shift moire system | |
| JPS6013443B2 (ja) | 被測定物の高さ測定装置 | |
| US3619064A (en) | Moire gauging systems | |
| US3612693A (en) | Method for measurement of surface profile change using a vernier scale in hologram interferometry | |
| US4125025A (en) | Instrument for measuring the amplitude of vibration of a vibrating object | |
| US7417747B2 (en) | Method and a device for measuring the three dimension surface shape by projecting moire interference fringe | |
| CN100529656C (zh) | 利用电子散斑干涉载频调制技术测量物体形貌的方法 | |
| JPS5916201B2 (ja) | 転写形状の測定方法 | |
| Butime et al. | 3D reconstruction methods, a survey | |
| CN114199524A (zh) | 一种透镜面形测量装置及方法 | |
| Xie et al. | Four-map absolute distance contouring | |
| RU2042920C1 (ru) | Устройство для определения рельефа поверхности объекта | |
| JPS5952963B2 (ja) | 変形の測定方法 | |
| US6885449B1 (en) | Optical inspection system based on spatial filtering using a refractive-index-grating | |
| Asundi | Moiré interferometry for deformation measurement | |
| CN114061467A (zh) | 一种透镜厚度测量装置及方法 | |
| JPH0587541A (ja) | 2次元情報測定装置 | |
| Reid | A moiré fringe alignment aid | |
| Butters | Speckle pattern interferometry using video techniques | |
| Reid | Surface form measurement by heterodyne moiré contouring | |
| Boone | Laser produced moiré gratings |