JPS5916213B2 - 低温下引張り試験装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は低温条件下での試験片引張り試験装置に関する
。

一般的に低温下引張り試験は、真空断熱槽と、５ その
内側の液体窒素等の冷媒を充填した外槽と、液体ヘリウ
ム等を充填した内槽とにより恒温槽を形成し、この中に
試験温度条件を作るようにして。

同条件下において、試験片の引張り試験を行なうように
している。フ ところが、従来のこの種引張り試験を行
なう装置は、試験片を試験の都度１個だけ装着する構成
となつているため装着した試験片が所定低温になるのを
待つて引張り試験を行なうことになるから、同一低温条
件下で試験を繰り返す必要があるときヲ には、その再
毎に、試験片を装着しなおし、恒温槽内が設定温度に達
し、かつ同片が同温度になるのを待つて試験を行なわな
ければならず、この結果、時間的ロスが大きく、かつ作
業性が悪いものとなつている。

ワ そこで本発明は、上述従来の事情に鑑みて検討の結
果、恒温槽内に円筒を回転自在なるよう取付け、これと
回転自在に、かつ軸方向へ適宜間隔毎に設けた複数個の
接続フランジに複数個の試験片を装着しておき、該接続
フランジを回転して引張５ 本体の偏心位置に設けてあ
るプルロッドの延長線上に試験片を一致させることによ
り、各接続フランジを下位から順番に引き上げて各試験
片を順番に連続的に引張り試験できるようにしたことを
要旨とする低温引張り試験装置を得たものであつて、そ
の目的とするところは、複数個の試験片を装着しておき
、これらを同一慝温条件下で連続的に短時間に、かつ作
業性良く引張り試験できるようにしたことにある。

以下本発明を図示の実施例に基いて詳述すれば、第１図
に示したように、引張引試験の所望低温条件を作るのに
使用される恒温槽１は、真空断熱槽２、外槽３、内槽４
を順次外側から内側へ同心円状に配置して構成され、こ
れら真空断熱槽２、外槽３そして内槽４は上蓋５及び６
により何れも気密に閉塞され、外槽３には液体窒素等の
冷媒３ａを、内槽４には液体ヘリウム４ａ等を夫々充填
してある。

又、上記上蓋６の裏面には固定具７を設け、該固定具７
にベアリング８を介して円筒９が回転自在に、上記内槽
４の内側に垂設してあり、該円筒９の底部には後述する
試験片の一端を支持するデスク１０が一体に設けてある
と共に、その中心から立設したガイド杆１１は上蓋６を
貫通し、更に円筒９の周壁下部には試験片を装脱する為
の窓孔９ａが開口されている。

上記円筒９には、引張り本体１３が内装され、その頂壁
１３ａの偏心位置から立設したプルロツド１２は、上記
土蓋６の孔６ａから貫通し、この引張り本体１３内には
、複数本の各試験片１４，１５，１６の他端を支持する
為、複数個の各フランジ１７，１８，１９が配置してあ
る。

上記引張り本体１３は円筒状に形成されていて、その周
壁１３ｂの下端内周には上記接続フランジ１ｒを引き上
げする為の掛止部１３ｃを一体に備えている。

又、上記各接続フランジ１７，１８，１９は上記デスク
１０とによつて、夫々試験片１４，１５，１６を装着す
るが、各試験片１４，１５，１６は、円筒９の回転中心
を中心とする同一仮想円周線上において、夫々の一端を
デスク１０に装着し、それらの各他端は各接続フランジ
１７，１８，１９に装着される。

即ち、試験片１４はデスク１０と最下位の接続フランジ
１７に、又試験片１５はデスク１０と中間位置の接続フ
ランジ１８に、更に他の試験片１６はデスク１０と最上
位の接続フランジ１９に夫々装着される。

こ＼で、各試験片１４，１５，１６は、第３図に明示し
たように、夫々の端部はネジ部２１，２２，に形成して
あつて、夫々の一端はデスク１０の孔１０ａ・・・・・
・に固定される固定ネジ２０・・・・・・のネジ孔２０
ａに螺合装着され、一方他端は、試験片１４の場合は、
最下位の接続フランジ１７に穿設してあるネジ孔１７ａ
に直接螺合して装着し、他方の試験片１５，１６は、夫
々接続フランジ１８，１９から第１図、第２図に示した
ように垂設してあるガイド２３，２４の先端に設けたネ
ジ孔２３ａ，２４ａに螺合して夫々の接続フランジ１８
，１９に装着し、各接続フランジ１ｒ，１８，１９は、
夫々の試験片１４，１５，１６を引張り試験するのに充
分な間隔ｌを上下方向に保持し、かつ夫々は独立して引
き上げ可能に、つまり、各試験片１４，１５，１６が相
互に無関係の状態にあつて連動されないようになつてい
る。

即ち、図示例によると、第１図、第２図に明示したよう
に、最下位と、中間位置にある接続フランジ１７，１８
には貫通孔１７ｂ，１７ｃ、１８ａを夫々設けてあつて
、上記ガイド２３，２４を挿通させ、最下位の接続フラ
ンジ１ｒ１）甥１張り本体１３により間隔ｌの範囲内で
引き上げられて、方の試験片１４を引張り試験する時、
他の試験片１５，１６はそのま＼の状態に保持されるよ
うに、又、試験片１５が上述と同様にして引張り試験さ
れる時、他の試験片１６はそのま＼の状態に保持される
ようになつている。又、各接続フランジ１７，１８，１
９は上記ガイド杆１１に直接回転、かつ摺動自在なるよ
う外装してもよく、又は図示例の如く、上記ガイド杆１
１に外装したガイド管２５に回転、かつ摺動自在なるよ
う配装される。

更に、各試験片１４，１５，１６が装着される仮想円周
線は、上記プルロツド１２のそれと同一とし、回転変位
させることで、プルロツド１２の延長線に夫々の試験片
１４，１５，１６が位置されるようになつている。

而して上記構成において、これを用いて試験片の引張り
試験を行なう時は、先ず各試験片１４，１５，１６の他
端を接続フランジ１７及び１８，１９のガイド２３，２
４におけるネジ孔１ｒａ，２３ａ，２４ａに夫々螺着し
た後、デスク１０の孔１０ａに固定ネジ２０を螺動しな
がら嵌合して夫々の一端をデスク１０に固定し、夫々を
デスク１０と各接続フランジ１７，１８，１９に装着し
て準備は完了する。

このように準備したものを恒温槽１に内装し、当該槽１
内部が試験を行なう為の設定低温条件となつた後、引張
り試験を行なうことがこの際次のような順位で行なわれ
る。

先ず、円筒９を任意の方向へ回転操作すると、各試験片
１４，１５，１６を介して各接続フランジ１７，１８，
１９は回転するので、このようにして試験片１４を第１
図に示した如くプルロツド１２の延長線上に一致させた
後プルロツド１２により引張り本体１３を引き上げると
、その下端に形成した掛止部１３ｃと掛止する接続フラ
ンジ１７は引き上げられ、一方円筒９は軸方向に固定し
ているので、試験片１４の引張り試験を行なうことがで
きる。

この時、接続フランジ１７の貫通孔１７ｂ，１７ｃにガ
イド２３，２４は挿通してあるので、他方の試験片１５
，１６は静止したま＼の状態にある。

このようにして第１番目の試験片１４の試験終了後は、
接続フランジ１７が間隔！だけ引き上げられて、第１図
、第２図の位置から第４図に示したように他の接続フラ
ンジ１８の裏面に突き当つている。

従つて、第２番目の試験を行なうには、円筒９により接
続フランジ１７，１８，１９を回転して試験片１５をプ
ルロツド１２の延長線上に一致させ、然る後プルロツド
１２により引張り本体１３を引き上げれば、最下位の接
続フランジ１７を介して接続フランジ１８は引き上げら
れるので、試験片１５の引張り試験を行なうことができ
る。

この場合、他方の試験片１６は上述と同様にして静止し
ている。以下上述と同様な操作によつて残りの試験片１
６の引張り試験を行なうことができる。

尚、図示例では、３個の試験片を装着した場合であるが
、上記接続フランジ１７，１８，１９を更に４個、５個
等所望数配設することによつて、更に多数個の試験片を
装着できるので、このようにすることにより多数個の試
験片を順番に連続して引張り試験を行なうことができる
。

以上説明したように本発明に係る低温下引張り試験装置
によれば、恒温槽１内には、外部から回転自在なるよう
吊持され，その回転中心から同一円周線上に複数個の試
験片１４，１５，１６の一端を夫々支持するデスク１０
を備えた円筒９と、上記円筒９と同一回転中心をもつて
回転自在に、かつ軸方向へ摺動可能に所定間隔に配置さ
れ、上記各試験片１４，１５，１６の他端を夫々支持す
る複数個の接続フランジ１７，１８，１９と、これら接
続フランジ１７，１８，１９が内装されていてその下端
に最下位のフランジ１７裏面当接用の掛止部１３ｃを有
し、しかも上記各試験片１４，１５，１６と同一円周線
上にプルロツド１２を備えた引張り本体１３とからなり
、上記接続フランジ１７，１８，１９の回転によつて各
試験片１４，１５，１６をプルロツド１２の延長線上と
一致させると共に同ロツドを引き上げることにより下位
接続フランジ１７から順番に引き上げて複数個の試験片
１４，１５，１６を連続的に引張り試験するよう構成し
たことを特徴としているから、引張り試験を同一低温条
件下で繰り返えし行なう場合、恒温槽１内を一度設定温
度とするだけで、複数個の試験片１４，１５，１６を連
続的に引張り試験することができるので、従来例のよう
に設定温度に達するまで待つという時間的ロスや、その
都度試験片を脱着する面倒もないから、短時間に、かつ
作業性良く引張り試験を所定低温条件下で行なうことが
できる利点がある。

又、複数回の引張り試験を行なうのに恒温槽１内を一度
設定温度に調整すれば良いの（−、５．低温雰囲気を作
る液体窒素や液体ヘリウムの使用量を低減できて経済的
であり、又試験片１４・・・・・・の引張り及び支持並
びに回転各手段としては、円筒９と引張り本体１３と、
複数個の接続フランジ１７・・・・・・とから簡単に形
成することができるので低コストに製作することができ
るのみならず、試験片支持に構造複雑なチヤツク等を用
いる必要はなく、ネジ込み方式を採用できるので簡単に
して堅牢な支持力が得られ、もつて引張りロスを生じる
ことノはない。

さらに本発明は試験片１４，１５，１６の上端を、軸方
向へ摺動可能に所定間隔に配置された複数個の接続フラ
ンジ１７，１８，１９にて支持し、プルロツド１２を備
えた引張り本体１３に上記フランジ１ｒ，１８，１９を
内装すると共に、内本体１３の下端には最下位のフラン
ジ１７の裏面外周と当接する掛止部１３ｃを設けてなる
ので、試験片１４，１５，１６は任意形状のものを用い
ることができるのはもちろんのこと、試験にあたつては
、最下位のフランジ１１から順に各試験片１４，１５，
１６をプルロツド１２の延長線上と一致させて、当該ロ
ツド１２を引張るといつた簡単な操作によつて試験を行
なうことができ、次の試験に際しては接続フランジ１７
，１８，１９を円筒９と共に回転させるだけでよいから
、前回の試験片が次の試験の障害になるといつた試験不
能虞れがなく、連続的な引張り試験を確実に行なうこと
ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る低温下引張り試験装置を示した縦
断側面図、第２図は同装置の第１図における−線矢視縦
断面図、第３図は同装置における試験片の支持手段を示
した断面図、第４図は同装置における主要部を示した引
張り試験時の従断側面図である。 １・・・・・・恒温槽、９・・・・・・円筒、１０・・
・・・・デスク、１１・・・・・・ガイド杆、１２・・
・・・・プルロツド、１３・・・・・・引張り本体．１
３ｃ・・・・・・掛止部、１４，１５，１６・・・・・
・試験片、１７，１８，１９・・・・・・接続フランジ
、１７ｂ，１ｒＣ，１８ａ・・・・・・貫通孔、２３，
２４・・・・・・ガイド、２５・・・・・・ガイド管。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 恒温槽内には、外部から回転自在なるよう吊持され
   、その回転中心から同一円周線上に複数個の試験片の一
   端を夫々支持するデスクを備えた円筒と、上記円筒と同
   一回転中心をもつて回転自在に、かつ軸方向へ摺動可能
   に所定間隔に配置され、上記各試験片の他端を夫々支持
   する複数個の接続フランジと、これら接続フランジが内
   装されていてその下端に最下位の接続フランジ裏面当接
   用の 掛止部を有し、しかも上記各試験片と同一円周上
   にプルロッドを備えた引張り本体とからなり、上記接続
   フランジの回転によつて各試験片をプルロッドの延長線
   上と一致させると共に同ロッドを引き上げることにより
   下位接続フランジから順番に 引き上げて複数個の試験
   片を連続的に引張り試験するよう構成したことを特徴と
   する低温下張り試験装置。 ２ 各接続フランジが、ガイド管に等間隔に支承されて
   いて、ガイド杆に回転、かつ摺動自在なるよう取付けて
   形成されている特許請求の範囲第１項記載の低温下引張
   り試験装置。 ３ 各接続フランジが、夫々に支持される試験片のガイ
   ドを挿通する貫通孔を備え、少なくとも軸方向に対して
   相互に独立可動なるよう形成されている特許請求の範囲
   第１項記載の低温下引張り試験装置。