JPS5917845U - 螢光ｘ線用標準試料 - Google Patents

螢光ｘ線用標準試料

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JPS5917845U
JPS5917845U JP11371182U JP11371182U JPS5917845U JP S5917845 U JPS5917845 U JP S5917845U JP 11371182 U JP11371182 U JP 11371182U JP 11371182 U JP11371182 U JP 11371182U JP S5917845 U JPS5917845 U JP S5917845U
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JP
Japan
Prior art keywords
rays
fluorescent
standard sample
metal oxide
sample
Prior art date
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Pending
Application number
JP11371182U
Other languages
English (en)
Inventor
秋本　実
湯浅　嘉之
栄樹 小林
森川　義武
Original Assignee
東京芝浦電気株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by 東京芝浦電気株式会社 filed Critical 東京芝浦電気株式会社
Priority to JP11371182U priority Critical patent/JPS5917845U/ja
Publication of JPS5917845U publication Critical patent/JPS5917845U/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
図面は本考案の一実施例を示す断面図である。 １・・・・・・試料板、２・・・・・・接着層、３・・
・・・・金属酸化物、４・・・・・・保護膜。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 接着層を介して試料板上に所定量の金属酸化物を載置し
    て固定し、この金属酸化物を保護膜により保護してなる
    ことを特徴とする螢光Ｘ線用標準試料。
JP11371182U 1982-07-27 1982-07-27 螢光ｘ線用標準試料 Pending JPS5917845U (ja)

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JP11371182U JPS5917845U (ja) 1982-07-27 1982-07-27 螢光ｘ線用標準試料

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JPS5917845U true JPS5917845U (ja) 1984-02-03

Family

ID=30263125

Family Applications (1)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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