JPS59180414A - 被検査位置の遠隔測定方法 - Google Patents
被検査位置の遠隔測定方法Info
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- JPS59180414A JPS59180414A JP58055422A JP5542283A JPS59180414A JP S59180414 A JPS59180414 A JP S59180414A JP 58055422 A JP58055422 A JP 58055422A JP 5542283 A JP5542283 A JP 5542283A JP S59180414 A JPS59180414 A JP S59180414A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 7
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract description 21
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 206010073306 Exposure to radiation Diseases 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/225—Supports, positioning or alignment in moving situation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は被検査位置の遠隔測定方法に関する。
原子カプラントの供用期間中の検査は、放射能汚染と、
放射線せばくの問題から人が、目視又は触感によって、
各主検査機器や検査用探触子を、一定の位置に固定又は
設定することが出来ない。
放射線せばくの問題から人が、目視又は触感によって、
各主検査機器や検査用探触子を、一定の位置に固定又は
設定することが出来ない。
従って、可能な限り、遠隔自動操縦することのできる検
査機器の開発が要求される。
査機器の開発が要求される。
従来はその大半が放射線被ばくを覚悟で人力（手動）で
行なはれて居り、遠隔自動化されているのは、一部に過
ぎないのが現状である。又、その自動化されているもの
も、被検査位置がたとえば熔接ビードであるとき、その
熔接ビード及びその近傍の正確な位置に探傷用の超音波
探触子をセントすることは不可能であり、検査したとし
ても、その精度が大巾に低下することは否めない事実で
あった。
行なはれて居り、遠隔自動化されているのは、一部に過
ぎないのが現状である。又、その自動化されているもの
も、被検査位置がたとえば熔接ビードであるとき、その
熔接ビード及びその近傍の正確な位置に探傷用の超音波
探触子をセントすることは不可能であり、検査したとし
ても、その精度が大巾に低下することは否めない事実で
あった。
本発明は叙上問題点を一挙に解決したもので、被検査位
置の近傍に定説されている幾何学的形状変化部を、走査
器の形状用探触子でその幾何学的形状変化部における超
音波の反射波を検知することにより捕捉して、当該幾何
学的形状変化部位置から被検査位置を間接的に測定する
ようにしたことを特徴とする。
置の近傍に定説されている幾何学的形状変化部を、走査
器の形状用探触子でその幾何学的形状変化部における超
音波の反射波を検知することにより捕捉して、当該幾何
学的形状変化部位置から被検査位置を間接的に測定する
ようにしたことを特徴とする。
以下実施例をあげて説明する。
本発明の測定方法に用いる測定システムは形状用探触子
（２）及び探傷用探触子（３）を備えた走査器（１）と
、この走査器（１）と一体運動状の走行機（４）と、超
音波探傷器（５）ト、コントロールユニット（６）と、
［ＪＩユニ７ト（７）とで構成されており、超音波探傷
器（５）は公知のパルス反射式タイプのものであす、コ
ントロールユニット （６）は゛ンイクロコンピュータ
ーを有していて、超音波探傷器（５）とのタイミングコ
ントロールおよび走行機（４）の駆動コントロールさら
に両探触子（２）（３）の接触状況の検知と不良時の警
報等の処理を行うものであり、駆動ユニット（７）はコ
ントロールユニット（６）からの指令にもとすく走行機
（４）のモータ駆動及びモータ駆動状態に関する信号の
コントロールユニノ）（６）への出力を行うものである
。
（２）及び探傷用探触子（３）を備えた走査器（１）と
、この走査器（１）と一体運動状の走行機（４）と、超
音波探傷器（５）ト、コントロールユニット（６）と、
［ＪＩユニ７ト（７）とで構成されており、超音波探傷
器（５）は公知のパルス反射式タイプのものであす、コ
ントロールユニット （６）は゛ンイクロコンピュータ
ーを有していて、超音波探傷器（５）とのタイミングコ
ントロールおよび走行機（４）の駆動コントロールさら
に両探触子（２）（３）の接触状況の検知と不良時の警
報等の処理を行うものであり、駆動ユニット（７）はコ
ントロールユニット（６）からの指令にもとすく走行機
（４）のモータ駆動及びモータ駆動状態に関する信号の
コントロールユニノ）（６）への出力を行うものである
。
また形状用探触子（２）および探傷用探触子（３）は微
調整駆動装置（８）と一体運動状に連繋していて、走行
機（４）による大局的な移動と、微調整駆動装置（８）
による微妙な移動の双方が可能にしている。
調整駆動装置（８）と一体運動状に連繋していて、走行
機（４）による大局的な移動と、微調整駆動装置（８）
による微妙な移動の双方が可能にしている。
今、被検査位置（Ａ１）が溶接ビードで、この溶接ビー
ドの近傍に幾何学的形状変化部（Ａ２）が定説されてい
る被験体（Ａ）におけるその被検査位置（Ａ＋）の測定
法について説明すると、走査器（１）を被験体（Ａ）面
に沿い移動させて、形状探触子（２）により幾何学的形
状変化部（Ａ２）における調音波の反射波の変化を検知
することにより、幾何学的形状変化部（Ａ２）位置を捕
捉して、この幾何学的形状変化部（Ａ２）位置から被検
査位置（Ａ＋）を関節的に検知し、そして同被検査位置
（Ａ；）に探傷用探触子（３）を固定又は連続的に走査
さゼて溶接ビードを検査する。
ドの近傍に幾何学的形状変化部（Ａ２）が定説されてい
る被験体（Ａ）におけるその被検査位置（Ａ＋）の測定
法について説明すると、走査器（１）を被験体（Ａ）面
に沿い移動させて、形状探触子（２）により幾何学的形
状変化部（Ａ２）における調音波の反射波の変化を検知
することにより、幾何学的形状変化部（Ａ２）位置を捕
捉して、この幾何学的形状変化部（Ａ２）位置から被検
査位置（Ａ＋）を関節的に検知し、そして同被検査位置
（Ａ；）に探傷用探触子（３）を固定又は連続的に走査
さゼて溶接ビードを検査する。
又、形状用探触子（２）および探傷用探触子（３）が垂
直な探触子タイプである場合（図示ゼず）には、両探触
子（２）（３）の間隔を、被検査位置（Ａ１）と形状変
化部（Ａ２）間と同等に調節しておくことにより、被検
査位置（Ａ１）の検知および探傷が良好になる。
直な探触子タイプである場合（図示ゼず）には、両探触
子（２）（３）の間隔を、被検査位置（Ａ１）と形状変
化部（Ａ２）間と同等に調節しておくことにより、被検
査位置（Ａ１）の検知および探傷が良好になる。
したがって本発明によれば、被検査位置の近傍に定説さ
れている幾何学的形状変化部を、形状用探触子によって
検知捕捉゛することにより、その幾何学的形状変化部位
置から被検査位置を関節的に検知するため、その精度が
数關台と正確で、遠隔測定でき、各種検査機器や検査用
探触子を被検査位置に固定又は連続的に走査させ得るも
のであり、特に原子カプラントにおける被検査体の検査
用に好適であり、放射線被爆および放射能汚染の問題を
解消することができる。
れている幾何学的形状変化部を、形状用探触子によって
検知捕捉゛することにより、その幾何学的形状変化部位
置から被検査位置を関節的に検知するため、その精度が
数關台と正確で、遠隔測定でき、各種検査機器や検査用
探触子を被検査位置に固定又は連続的に走査させ得るも
のであり、特に原子カプラントにおける被検査体の検査
用に好適であり、放射線被爆および放射能汚染の問題を
解消することができる。
第１図は本発明測定方法に用いた測定システムを示すブ
ロック図。第２図は走査器の正面図。 第３図は測定状態の部分断面図である。 図中、 （Ａ）は被験体 （Ａ Ｉ）は被検査位置 （Ａ２）は幾何学的形状変化部 （１）は走査器 （２）は形状用探触子
ロック図。第２図は走査器の正面図。 第３図は測定状態の部分断面図である。 図中、 （Ａ）は被験体 （Ａ Ｉ）は被検査位置 （Ａ２）は幾何学的形状変化部 （１）は走査器 （２）は形状用探触子
Claims (1)
- 被検査位置の近傍に幾何学的形状変化部が定説されてい
る被験体において、走査器の形状用単結子で上記幾何学
的形状変化部における超音波の反射波を検知することに
より捕捉して、その幾何学的形状変化部位置から被検査
位置を関節的に検知することを特徴とする被検査位置の
遠隔測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58055422A JPS59180414A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 被検査位置の遠隔測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58055422A JPS59180414A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 被検査位置の遠隔測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59180414A true JPS59180414A (ja) | 1984-10-13 |
Family
ID=12998134
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58055422A Pending JPS59180414A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 被検査位置の遠隔測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59180414A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1061333A1 (de) * | 1999-03-09 | 2000-12-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur Abstandbestimmung unter Verwendung von Ultraschall und Ultraschallprüfkopf |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4928088A (ja) * | 1972-07-18 | 1974-03-13 | ||
| JPS5357568A (en) * | 1976-11-02 | 1978-05-24 | Shell Int Research | System for removing oil from water surface |
| JPS5348000B2 (ja) * | 1974-07-01 | 1978-12-25 | ||
| JPS54116394U (ja) * | 1978-02-03 | 1979-08-15 | ||
| JPS5642987B2 (ja) * | 1977-08-10 | 1981-10-08 |
-
1983
- 1983-03-31 JP JP58055422A patent/JPS59180414A/ja active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4928088A (ja) * | 1972-07-18 | 1974-03-13 | ||
| JPS5348000B2 (ja) * | 1974-07-01 | 1978-12-25 | ||
| JPS5357568A (en) * | 1976-11-02 | 1978-05-24 | Shell Int Research | System for removing oil from water surface |
| JPS5642987B2 (ja) * | 1977-08-10 | 1981-10-08 | ||
| JPS54116394U (ja) * | 1978-02-03 | 1979-08-15 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1061333A1 (de) * | 1999-03-09 | 2000-12-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur Abstandbestimmung unter Verwendung von Ultraschall und Ultraschallprüfkopf |
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