JPS59187272A - 電気定数測定装置 - Google Patents

電気定数測定装置

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JPS59187272A
JPS59187272A JP6128083A JP6128083A JPS59187272A JP S59187272 A JPS59187272 A JP S59187272A JP 6128083 A JP6128083 A JP 6128083A JP 6128083 A JP6128083 A JP 6128083A JP S59187272 A JPS59187272 A JP S59187272A
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JP
Japan
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circuit
voltage
output
phase
current
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JP6128083A
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Kazuho Kato
加藤 和穂
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Nippon Columbia Co Ltd
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Nippon Columbia Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は抵抗器とコイルまたはコンデンサとが接続され
た回路の抵抗値及びリアクタンス値を測定する電気定数
測定装置に関する。
背景技術とその問題点 従来の電気定数測定装置の一例を第1図に示す。
この第1図において、(1)は被測定回路を示し、この
被測定回路(1)はそれぞれ未知の抵抗値Rと静電容量
値Cとの並列回路であって、測定端子(2)及び(3)
の間に接続されて、発振器(4)からの既知の交流電圧
(以下基準電圧と込う) 止=Eme  が供給される
。この基準電圧iを供給されて、被測定回路(1)には
I=Imej(□1+1)なる電流が流れる。φはこの
電流と基準電圧との位相差である。(5)は電流/電圧
交換回路(以下I/V変換回路という)を示し、との■
/v変換回路(5)で被測定回路(1)に流れた交流電
流iがそれに比例する交流電圧に変換される。
工/v変換回路(5)の出力は交流/直流変換回路(6
)を介して直流電圧に変換される。また、’/v変換回
路(5)の出力は位相比較回路(7)において発振回路
(4)の出力である基準電王立と位相を比較される。(
8)はアナログ/デジタル変換回路(以下A/D変換回
路という)を示し、とのA/n変換回路(8)は交流直
流変換回路(6)及び位相比較回路(7)のアナログ出
力をデジタルデータに変換して演算器(9ンに供給する
演算器(9ンは供給されたデジタルデータの演算処理を
行なって、一方の出力端子αQに抵抗値のデータを、も
う一方の出力端子α力に静電容量値のデータを出力する
。両出力データは図示しない表示器に数値として表示さ
れる。
被測定回路(1)のアドミタンスtは上述の基準電とな
る。従って、被測定回路(1)のコンダクタンスG及び
サセプタンスBはそれぞれ G = ycosφ=  −B=Ysinφ−ωCとな
る。アドミタンスの絶対値Yは交流−直流変換回路(6
)の出力として、また位相φは位相比較回路(7)の出
力としてそれぞれ求められているので、被測定回路(1
)のコンダクタンスG及びサセプタンスB1従って抵抗
値R及び静電容量値C11−1,Y及びφから計算によ
って求めることができる。
従来の測定装置では高精度の位相比較回路(7)を必要
とし、また交流直流変換回路(6)の作動には供給され
る基準電圧の数拾サイクルもの長い時間が必要であった
。更に位相角の正弦・余弦の演算も必要であった。
発明の目的 本発明はこれらの点に鑑み、従来装置の諸欠点を改良し
た電気定数測定装置を提供することを目的とする。
発明の概要 本発明はそれぞれ電気定数の未知な抵抗器とコイルまた
はコンデンサとが接続された被測定回路に既知の交流電
圧または交流電流を印加し、この交流電圧または交流電
流の所定位相において被測定回路に流れた交流電流また
は発生した交流電圧を検出して、抵抗器の抵抗値ならび
にコイルまたはコンデンサのりアクタンス値を測定する
ようにし、短時間で高精度の測定結果が得られるように
したものである。
実施例 以下、第2図乃至第8図を参照しながら本発明電気定数
測定装置の実施例について説明しよう。
実施例の構成の説明に先立ち、第2図によって本発明の
基本概念を説明する。
いま、抵抗器とコンデンサとが並列接続された被測定回
路のアドミタンスを y=a+jnの形で表せば、これに基準電圧E = E
ylsinωtが印加されて流れる電流はi = (G
+jB)Emsinωt =GEmS石ωt+BEmcosωt ・・・・・・・
・・・・・■となる。■式の右辺第1項は抵抗器を流れ
る電流IRであって、第2図に実線で示すようにω1=
0°及びωt=180°において零となる。第2項はコ
ンデンサを流れる電流ICであって、第2図に鎖線で示
すように、ωt−90°及びωt=270°において零
となる。
従って第2図から明らかなように、90°及び270゜
の時点にIRのピーク値IBMが現れ、0°及び180
″の時点にICのピーク値工ざMが現れる。
本発明はこれらのピーク値を測定することによってその
目的を達成するものである。
本発明の第一の実施例を第3図に示す。この第3図にお
いて、第1図に対応する部分には同一の符号を付して重
複説明を省略する。
第3図において、(6)及びに)はそれぞれ第1及び第
2のゼロクロス検知回路(以下ZC検知回路という)を
示し、第1のZC検知回路α■には発振器(4)の出力
を直接供給し、また第2のZC検知回路(6)には90
°進相回路α◆を介して発振器(4)の出力を供給する
。そして両ZC検知回路(6)及び(6)の出力をオア
回路αeに供給する。α・は第1の単安定マルチバイブ
レータ(以下■という)を示し、この第1の■ff(1
0にはオア回路(ト)の出力を供給する。αηはサンプ
ルホールド回路(以下SH回路という)を示しこのSH
回路αのには工/V変換回路(5)のアナログ出力と第
1のMMVαeの出力パルスとを供給する。そしてこの
SH回路α乃の出力をA/D変換回路(8)に供給する
。α枠は遅延回路を示し、この遅延回路(1枠は第1の
■■(1419の出力を所定時間遅延させて第2の■α
つに供給する。この第2の■αつの出力を”/D変換回
路(8)に供給する。(イ)及びQυはそれぞれ第1及
び第2の波形整形回路を示し、第1の波形整形回路(ホ
)には発振器(4)の出力を直接供給し、第2の波形整
形回路Qυには90°進相回路α→の出力を供給する。
(2)は排他的オア回路を示し、この排他的オア回路(
2つには両波形整形回路翰及び(21)の出力を供給す
る。(ハ)及び(2)はそれぞれ第1及び第2のDフリ
ップフロラ、7′′(以下DFFという)を示し、第1
のDFF (2■には第1の波形整形回路−の出力を供
給し、第2のDFF (24)には排他的オア回路(2
渇の出力を供給する。両DFF (23)及び(財)に
クロックとして第2のMMVα呻の出力を供給する。そ
して両DF’F (23)及び(24)の出力を演算器
(9)に供給する。
本例電気定数測定装置は次のように動作する。
被測定回路(1)に発振器(4)から第4図Aに示すよ
うな基準電圧を供給すると、被測定回路(1)には第4
図Cに示すよりなφだけ進相した正弦波電流が流れる。
この電流を”/D変換回路(5)によってφだけ進相し
た電圧に変換する。このφだけ進相した電圧は、前述の
ように基準電圧の位相が00及び180°の点ではコン
デンサに流れる電流のピーク値ICMに対応する電圧E
CMが現れ、まだ90°及び270゜の点では抵抗に流
れる電流のピーク値IBMに対応する電圧ERMが現れ
る。
一方、第1のZC検知回路(6)は、発振器(4)から
供給された基準電圧の位相が0°及び180°の点で零
レベルを過ぎることを検知して、第4図りに示すゼロク
ロスパルスを発生する。同様に、第2のzC検知回路0
′3は、第4図Bに示す90°進相回路αゆの出力が零
レベルを過ぎる点(即ち基準電圧の位相が90°及び2
70°の点)を検知して、第4図Eに示すゼロクロスパ
ルスを発生する。両ZC検知回路(6)及びα■のゼロ
クロスパルスを共にオア回路(ト)に供給すると、オア
回路◇→の出力は両ゼロクロスパルスの和となる。この
オア回路α→の出力が第1の■■αQをトリガして、■
■α・は基準電圧の0’、 90’、 180’及び2
70°において立上る、第4図Fに示すような、サンプ
リングパルスを発生する。サンプリングホールド回路(
1カは、このサンプリングパルスルスによって、基準電
圧の00.90°、180°及び2700の点における
I/v変換回路(5)のアナログ出力をサンプルしその
値をサンプリングパルス持続時間だけ保持する。
このサンプルホールド回路αりがサンプルした値は即ち
前述のECM及びERMに他ならない。第1の■■αQ
の出力であるサンプリングパルスは遅延回路α樽を介し
て第2のW(1つをトリガして、第4図Gに示すような
、Aろ変換開始パルスを発生させる。A/I)変換回路
(8)はとのA/D変換開始パルスを俟ってサンプルホ
ールド回路α力の出力をデジタルデータに変換す−る。
遅延回路Q椴の遅延時間τはサンプルホールド回路α力
のホールド完了時間よりも長く設定しであるので、被測
定回路(1)の抵抗器及びコンデンサを流れる電流のピ
ーク値に対応する電圧ERM及びECMは確実にデジタ
ルデータに変換される。
演算器(9)はA/D変換回路(8)の出力であるデジ
タルデータを処理して被測定回路(1)の抵抗値及び容
量値を算出するが、演算のためには各入力データが基準
電圧のどの位相に対応しているかを判別する信号が必要
となる。
まず、基準電圧の正もしくは負の期間を判別する信号を
作るため、第Iの波形整形回路−によって発振器(4)
の出力を第4図Hに示すような基準・9ルスに整形する
また、基準電圧の00または180°の位相に対応する
のか、90°または270°の位相に対応するのか、換
言すれば、リアクタンスか抵抗かを判別する信号を作る
ためには、90°進相回路αゆの出力を第2の波形整形
回路0υによって第4図Jのように波形整形し、第1の
波形整形回路(社)の出力と共に排他的オア回路(2杯
供岬して、第4図Kに示すような基準電圧の90°毎に
反転する倍周パルスを得る。上述のような基準i4ルス
と倍周パルスとによって、演算器(9)の各入力データ
が基準電圧のどの位相に対応するかを知ることができる
ので、基準A?ルスを第1のDFF (23)に、倍周
パルスを第2のDFF (24)にそれぞれ供給し、第
2のW(6)の出力パルスをクロックとして、演算器(
9)に転送する。
こうして基準電圧の00及び90°の位相における測定
値Echt及びERMから被測定回路のコンダクタンス
及びキャパシタンスが得られる。更に、180°及び2
70°の位相における測定値−ECM及び−ERMの絶
対値とECM及びERMと金それぞれ平均すれば測定の
確度を高めると共に直流オフセットを除去することがで
きる。
本例電気定数測定装置のI/’V変換回路(5)の具体
的構成例を第5図に示す。この第5図において(25)
は演算増幅器を示し、この演算増幅器(ホ)の反転入力
端子と出力端子との間にRfなる帰還抵抗(26)を接
続し、非反転入力端子を接地する。かかる構成では電流
iを印加すると出力電圧はe。−−iRfとな多入力電
流iに比例する。
本例電気定数測定装置では従来例で用いた高精度の位相
比較回路ならびに交流直流変換回路を必要とせず、測定
時間は基準電圧の1周期あれば良〈従来例に比べて大幅
に短縮することができる。
また演算に三角函数を含まないので演算器の構成が簡単
になる。
本発明の第2の実施例を第6図に示す。この第6図にお
いて、第1図及び第3図に対応する部分には同一の符号
を付して重複説明を省略する。
第6図において、(5)は公知の7エイズロツクループ
(以下PLLという)を示し、このPLL(資)は電圧
制御発振器(以下VCOという)12al、位相比較器
−、低域フィルタ(至)及び増幅器0])から構成され
る。
vco (gBの出力を補正用の移相回路0■を介して
被測定回路(1)に供給する。0)は参照発振器を示し
、この参照発振器器の出力を3ケの分周器(ロ)、(ロ
)及び0Qを介してPLL (27)の位相比較器(2
9)に供給すると共に、演算器(9)に供給する。また
、第1の分周器(ロ)の出力を第1のMMVαカに供給
し、第2の分周器(ハ)の出力を演算回路(9)に供給
する。
PLL (27)は3ケの分周器(ロ)〜(ロ)によっ
て1/8に逓降された参照発振器(至)の周波数及び位
相にロックしているが、第7図Rに示す分局器OQの出
力の立上シと第7図Sに示すvco (2sの正弦波出
力のゼロクロス点とはθだけ位相がずれているので、移
相回路0→によって位相ずれを補正して、被測定回路(
1)に供給する基準電圧の位相O0の点と分周器(ト)
の出力の立上)とを一致させる。分周器0ゆの出力は、
第7図Pに示すように、被測定回路(1)に供給する基
準電圧の4倍の周波数であるから、この分周器(ロ)の
出力で第1の■■αi−)リガして、第7図Fに示すサ
ンプリングパルスを発生させ、サンプルホールド回路α
力は、前述の実施例と同様に、基準電圧の位相が00.
90’、 180°及び270°の点において被測定コ
ンデンサ及び抵抗器に流れる電流の−一り値に対応する
電圧ECM及びERMをサンプルホールドする。また、
分周器(ロ)の出力を基準パルスとして基準電圧の正ま
たは負の期間を判別すること、第7図Qに示す分周器0
→の出力を倍周・ぐルスとして抵抗またはりアクタンス
を判別することも前述の実施例におけると同様である。
本発明の第3の実施例の要部を第8図に示す。
この第8図において、(Is)は被測定回路を示し、こ
の被測定回路(IS)はそれぞれ未知の抵抗Rとインダ
クタンスLの直列回路であって、演算増幅器(2つの反
転入力端子と出力端子との間に被測定回路を接続し、演
算増幅器(251の非反転入力端子を接地する。
被測定回路(IS)と演算増幅器(2!51とは、前出
第5図の電流/電圧変換回路に類似の、インピーダンス
/電圧変換回路を構成している。発振器(4)の基準電
圧を抵抗器Of)を介して定電流Ic5inωtとして
インピーダンス/電圧変換回路に供給すると、演算増幅
器(2ωの出力端子に現れる電圧はM−−(R+iωL
)IcsIfIωt=  (RI c sinωを十ω
LIC可ωt)・・・・・・・・・■となる。この0式
は前出の0式と互いに双対(dual)な関係にあるか
ら、前述の第=の実施例において被測定回路(1)に流
れる電流を電圧に、被測定回路の並列アドミタンスを直
列インピーダンスに、それぞれ入換えればそのまま本実
施例の説明となることは双対の理(Principle
 of duality)によって明らかである。
本例は特に被測定回路の定数を直列インピーダンスとし
て表示するのに好適でちる。
なお、本発明はこれらの実施例のみに限定されるもので
はなく、多くの変形が可能なことは容易に理解すること
ができよう。
発明の効果 以上詳述のように、本発明によれば被測定回路に印加す
る基準電圧または電流の所定位相における電流値まだは
電圧値から被測定回路の電気定数を測定するようにした
ので、高精度の位相比較回路及び所要動作時間の長い交
流/直流変換回路ならびに三角函数の演算を必要とせず
、短時間で高精度の測定結果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の電気定数測定装置の構成例を示すブロッ
ク図、第2図、第4図及び第7図は本発明の説明に供す
る線図、第3図は本発明の一実施例の構成を示すブロッ
ク図、第5図は第3図の要部を示す結線図、第6図は本
発明の他の実施例の構成を示すブロック図、第8図は本
発明の更に他の実施例の要部を示す結線図である。 (4)は発振器、(5)は電流/電圧変換回路、(8)
はアナログ/デジタル変換回路、(9)は演算器、(6
)及び(1罎はゼロクロス検知回路、CL・及び(至)
は単安定マルチパイプレーク、α力はサンプルホールド
回路、(ハ)及び(2I)は波形整形回路、(27)は
PLL 、 (28)は電圧制御発振器、0埠は参照発
振器、(ロ)〜OQは分周器である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. それぞれ電気定数の未知な抵抗器とコイルまたはコンデ
    ンサとが接続された被測定回路に既知の交流電圧または
    交流電流を印加し、該交流電圧または交流電流の所定位
    相において上記被測定回路に流れた交流電流または発生
    した交流電圧を検出して、上記抵抗器の抵抗値ならびに
    上記コイルまたはコンデンサのりアクタンス値を測定す
    るようにしたことを特徴とする電気定数測定装置。
JP6128083A 1983-04-07 1983-04-07 電気定数測定装置 Pending JPS59187272A (ja)

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