JPS59190363A - 金属薄膜の形成方法 - Google Patents

金属薄膜の形成方法

Info

Publication number
JPS59190363A
JPS59190363A JP6313983A JP6313983A JPS59190363A JP S59190363 A JPS59190363 A JP S59190363A JP 6313983 A JP6313983 A JP 6313983A JP 6313983 A JP6313983 A JP 6313983A JP S59190363 A JPS59190363 A JP S59190363A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
high frequency
thin film
target material
sputtering
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6313983A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoru Itabashi
板橋 哲
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Orient Watch Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Orient Watch Co Ltd filed Critical Orient Watch Co Ltd
Priority to JP6313983A priority Critical patent/JPS59190363A/ja
Publication of JPS59190363A publication Critical patent/JPS59190363A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、高周波スパッタリングによる金属薄膜の形成
方法に関する。
従来、金属薄膜抵抗器等における金属薄膜の形成には、
第1図に示したような装置、つまり真空槽を形成するベ
ルジャA内に薄膜形成用の基板Bと、薄膜を形成すべき
金属材料からなる高周波平板電極Cを対向配設してなる
高周波スパッタ装置を用い、平板電極Cに高周波電力を
供給してグロー放電を発生させ、プラズマ内で励起され
たイオン化ガスを電極Cに衝突させることにより、電極
をターゲト材にして金属分子や原子を放出、飛散させて
基板上にイ+jMさせて薄膜を形成させていた。
ところが、イオン化ガス発生源をなす電極が平板状に形
成されている関係上、イオン化ガスが放散しやすくて電
極に衝突する確率が低く、特に薄膜抵抗器に使用するタ
ンタル等の難溶材ではスパッタリング速度が非常に遅い
という問題があった。
一方、スパッタリング速度を向」ニさせるべくターゲツ
ト材に磁界を作用させてイオン化カスにマグ4トロン運
動を与え、ターゲツト材へのイオン化ガスの衝突確率を
上げたマグネトロンスパッタ法も提案されているが、強
力な磁石部材を必要とするばかりでなく、イオン化ガス
がビーム状になってターゲツト材に衝突するため、ター
ゲツト材が局部的にスパッタされ、ターゲト材の有効な
利用が困難であるという問題があった。
さらに、これらの手法では、高周波電極が平板状に形成
されているため、電極のインピーダンスが高くて高周波
電源とのマツチングが取り&こくりXという問題があっ
た。
本発明は、このような事情に鑑み、ターゲ・ント材をコ
イル状に形成し、これを高周波電極しこ用1.Xること
によりターゲット領域でのイオン他力′スの滞留と、イ
ンピーダンスマ・ンチングの最適化を図り、もってHり
形成速度を向上させた薄膜の製造方法を提案することを
目的とする。
そこで、以下に抵抗器用金属薄膜の製造(こ例を採り1
本発明の詳細を実施例に基づl、)て説明する。
第2図は、本発明に使用する装置の一例を示す構成図で
あって、図示されていない排気ポンプ系に接続された排
気口1とガス導入口2とを備えた底面板3と、これに係
合するヘルジャ4と番こより形成された真空槽内の中央
には、本発明の特徴部分をなすターゲツト材を兼ねる高
周波コイル電極5が配設されている。この高周波コイル
電極5は、抵抗皮膜を構成するタンタル等の金属材料を
線材に加工して数ターンのコイルに形成し、その一端を
底面板に配設されたブッシング6に自立状態で着脱可能
に取り付け、下端を高周波電源7に接続している。高周
波コイル電極5の」三方には、抵抗皮膜の形成を受ける
基板Tを保持するホルダー8を電極5に対向して配設し
、ブンシュング9を介して高周波電源7のアース側に接
続して構成されている。
このように構成された装置において、ベルジャ4内を所
定の真空度に引いてアルゴンガス等のスパッタリング用
ガスを所定の分圧で導入し、高周波コイル電極5に高周
波電力を供給すると、アルゴンガスは、高周波電磁界の
作用を受け、高周波コイル電極5を包むようにして高周
波グロー放電を行なう。このため、高周波コイル電極5
は、グロー放電により発生したアルゴンガスイオンの粒
子によって包囲され、その表面全体がイオン化ガス粒子
の衝英を受ける。これにより、電極5を構成しているタ
ーゲト材は、均一にスパッタリングされて分子状になっ
て飛散し、上方の基板Tに付着してターゲト材による薄
膜を形成する。
[実  施  例  コ タンクルをターゲツト材とする高周波平板電極と基板を
対向配設したスパッタ装置を用い、高周波平板電極に2
00Wの高周波電力を供給してIX 10  Torr
のアルゴンガス雰囲気中で30分間のスパッタリングを
行なったところ、500オングストロームのタンタル薄
膜が形成された。
一方、タンタルの線材により構成した数ターンのコイル
を高周波コイル電極として用い、この高周波コイル電極
に200Wの高周波電力を供給してI X 10  T
orrのアルゴンガス雰囲気中で、30分間のスパッタ
リングを行なったところ、厚さ2000オングストロー
ムのタンタル薄膜を基板に形成することができた。
以上、説明したように本発明によれば、金属薄膜を形成
すべきターゲツト材により構成したコイルを高周波電極
とし、これをスパッタリングさせるようにしたので、タ
ーゲツト材全体にイオン化ガスを作用させて大きな面積
を均一にスパッタリングすることができ、ターゲト材の
有効な利用を図りつつ、安定した高い速度により金属薄
膜を形成することができるばかりでなく、高周波電力源
とのインピーダンスマツチングが取りゃすく、高周波電
力の有効な利用を図ることができるばかりでなく高周波
漏洩の虞れがない。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来のスパッタリング装置を示す概要図、第
2図は、本発明に使用するスパッタリング装置の一例を
示す装置の構成図である。 1・・・・排気口     2・・・・ガス導入口5・
・・・ターゲツト材をなす高周波コイル電極出願人 オ
リエント時計株式会社 代理人 弁理士 西 川 慶 冶 同   木  村  勝  彦

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 薄膜を形成すべき金属材料によりコイル状電極を構成し
    、該電極と膜形成を受ける基板をスパッタリングガスが
    導入された真空槽内に対向して配設し、前記電極に高周
    波電力を供給して前記ガスをイオン化し、このイオン化
    ガスにより前記電極をターゲツト材にしてスパッタリン
    グする金属薄膜の形成方法。
JP6313983A 1983-04-11 1983-04-11 金属薄膜の形成方法 Pending JPS59190363A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6313983A JPS59190363A (ja) 1983-04-11 1983-04-11 金属薄膜の形成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6313983A JPS59190363A (ja) 1983-04-11 1983-04-11 金属薄膜の形成方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59190363A true JPS59190363A (ja) 1984-10-29

Family

ID=13220628

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6313983A Pending JPS59190363A (ja) 1983-04-11 1983-04-11 金属薄膜の形成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59190363A (ja)

Cited By (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1992007969A1 (en) * 1990-10-31 1992-05-14 International Business Machines Corporation Apparatus for depositing material into high aspect ratio holes
EP0859070A1 (en) * 1997-02-06 1998-08-19 Applied Materials, Inc. Coating of inside of vacuum chambers
EP0840351A3 (en) * 1996-10-31 1998-09-16 Applied Materials, Inc. Method of reducing generation of particulate matter in a sputtering chamber
US5902461A (en) * 1997-09-03 1999-05-11 Applied Materials, Inc. Apparatus and method for enhancing uniformity of a metal film formed on a substrate with the aid of an inductively coupled plasma
US6023038A (en) * 1997-09-16 2000-02-08 Applied Materials, Inc. Resistive heating of powered coil to reduce transient heating/start up effects multiple loadlock system
US6042700A (en) * 1997-09-15 2000-03-28 Applied Materials, Inc. Adjustment of deposition uniformity in an inductively coupled plasma source
US6077402A (en) * 1997-05-16 2000-06-20 Applied Materials, Inc. Central coil design for ionized metal plasma deposition
US6103070A (en) * 1997-05-14 2000-08-15 Applied Materials, Inc. Powered shield source for high density plasma
US6146508A (en) * 1998-04-22 2000-11-14 Applied Materials, Inc. Sputtering method and apparatus with small diameter RF coil
US6190513B1 (en) 1997-05-14 2001-02-20 Applied Materials, Inc. Darkspace shield for improved RF transmission in inductively coupled plasma sources for sputter deposition
US6210539B1 (en) 1997-05-14 2001-04-03 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for producing a uniform density plasma above a substrate
US6217718B1 (en) 1999-02-17 2001-04-17 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for reducing plasma nonuniformity across the surface of a substrate in apparatus for producing an ionized metal plasma
US6228229B1 (en) * 1995-11-15 2001-05-08 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for generating a plasma
US6231725B1 (en) 1998-08-04 2001-05-15 Applied Materials, Inc. Apparatus for sputtering material onto a workpiece with the aid of a plasma
US6235169B1 (en) 1997-08-07 2001-05-22 Applied Materials, Inc. Modulated power for ionized metal plasma deposition
US6238528B1 (en) 1998-10-13 2001-05-29 Applied Materials, Inc. Plasma density modulator for improved plasma density uniformity and thickness uniformity in an ionized metal plasma source
US6254737B1 (en) 1996-10-08 2001-07-03 Applied Materials, Inc. Active shield for generating a plasma for sputtering
US6254746B1 (en) 1996-05-09 2001-07-03 Applied Materials, Inc. Recessed coil for generating a plasma
US6345588B1 (en) 1997-08-07 2002-02-12 Applied Materials, Inc. Use of variable RF generator to control coil voltage distribution
US6361661B2 (en) 1997-05-16 2002-03-26 Applies Materials, Inc. Hybrid coil design for ionized deposition
US6368469B1 (en) 1996-05-09 2002-04-09 Applied Materials, Inc. Coils for generating a plasma and for sputtering
US6375810B2 (en) 1997-08-07 2002-04-23 Applied Materials, Inc. Plasma vapor deposition with coil sputtering
US6409890B1 (en) 1999-07-27 2002-06-25 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for forming a uniform layer on a workpiece during sputtering
US6451179B1 (en) 1997-01-30 2002-09-17 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for enhancing sidewall coverage during sputtering in a chamber having an inductively coupled plasma
US6475356B1 (en) 1996-11-21 2002-11-05 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for improving sidewall coverage during sputtering in a chamber having an inductively coupled plasma
US6506287B1 (en) 1998-03-16 2003-01-14 Applied Materials, Inc. Overlap design of one-turn coil
US6565717B1 (en) 1997-09-15 2003-05-20 Applied Materials, Inc. Apparatus for sputtering ionized material in a medium to high density plasma
US6579426B1 (en) 1997-05-16 2003-06-17 Applied Materials, Inc. Use of variable impedance to control coil sputter distribution
US6599399B2 (en) 1997-03-07 2003-07-29 Applied Materials, Inc. Sputtering method to generate ionized metal plasma using electron beams and magnetic field
US6652717B1 (en) 1997-05-16 2003-11-25 Applied Materials, Inc. Use of variable impedance to control coil sputter distribution
US6660134B1 (en) 1998-07-10 2003-12-09 Applied Materials, Inc. Feedthrough overlap coil
WO2008127493A1 (en) * 2007-01-29 2008-10-23 Tosoh Smd, Inc. Ultra smooth face sputter targets and methods of producing same
US8398832B2 (en) 1996-05-09 2013-03-19 Applied Materials Inc. Coils for generating a plasma and for sputtering

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54103789A (en) * 1978-02-03 1979-08-15 Hitachi Ltd Sputtering apparatus

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54103789A (en) * 1978-02-03 1979-08-15 Hitachi Ltd Sputtering apparatus

Cited By (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0816266B2 (ja) * 1990-10-31 1996-02-21 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 高アスペクト比の穴に材料を付着させる装置
WO1992007969A1 (en) * 1990-10-31 1992-05-14 International Business Machines Corporation Apparatus for depositing material into high aspect ratio holes
US6264812B1 (en) 1995-11-15 2001-07-24 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for generating a plasma
US6297595B1 (en) 1995-11-15 2001-10-02 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for generating a plasma
US6228229B1 (en) * 1995-11-15 2001-05-08 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for generating a plasma
US8398832B2 (en) 1996-05-09 2013-03-19 Applied Materials Inc. Coils for generating a plasma and for sputtering
US6254746B1 (en) 1996-05-09 2001-07-03 Applied Materials, Inc. Recessed coil for generating a plasma
US6783639B2 (en) 1996-05-09 2004-08-31 Applied Materials Coils for generating a plasma and for sputtering
US6368469B1 (en) 1996-05-09 2002-04-09 Applied Materials, Inc. Coils for generating a plasma and for sputtering
US6254737B1 (en) 1996-10-08 2001-07-03 Applied Materials, Inc. Active shield for generating a plasma for sputtering
US5961793A (en) * 1996-10-31 1999-10-05 Applied Materials, Inc. Method of reducing generation of particulate matter in a sputtering chamber
EP0840351A3 (en) * 1996-10-31 1998-09-16 Applied Materials, Inc. Method of reducing generation of particulate matter in a sputtering chamber
US6475356B1 (en) 1996-11-21 2002-11-05 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for improving sidewall coverage during sputtering in a chamber having an inductively coupled plasma
US6899799B2 (en) 1996-11-21 2005-05-31 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for improving sidewall coverage during sputtering in a chamber having an inductively coupled plasma
US6451179B1 (en) 1997-01-30 2002-09-17 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for enhancing sidewall coverage during sputtering in a chamber having an inductively coupled plasma
EP0859070A1 (en) * 1997-02-06 1998-08-19 Applied Materials, Inc. Coating of inside of vacuum chambers
US6217715B1 (en) 1997-02-06 2001-04-17 Applied Materials, Inc. Coating of vacuum chambers to reduce pump down time and base pressure
US6599399B2 (en) 1997-03-07 2003-07-29 Applied Materials, Inc. Sputtering method to generate ionized metal plasma using electron beams and magnetic field
US6103070A (en) * 1997-05-14 2000-08-15 Applied Materials, Inc. Powered shield source for high density plasma
US6210539B1 (en) 1997-05-14 2001-04-03 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for producing a uniform density plasma above a substrate
US6190513B1 (en) 1997-05-14 2001-02-20 Applied Materials, Inc. Darkspace shield for improved RF transmission in inductively coupled plasma sources for sputter deposition
US6077402A (en) * 1997-05-16 2000-06-20 Applied Materials, Inc. Central coil design for ionized metal plasma deposition
US6652717B1 (en) 1997-05-16 2003-11-25 Applied Materials, Inc. Use of variable impedance to control coil sputter distribution
US6361661B2 (en) 1997-05-16 2002-03-26 Applies Materials, Inc. Hybrid coil design for ionized deposition
US6579426B1 (en) 1997-05-16 2003-06-17 Applied Materials, Inc. Use of variable impedance to control coil sputter distribution
US6345588B1 (en) 1997-08-07 2002-02-12 Applied Materials, Inc. Use of variable RF generator to control coil voltage distribution
US6235169B1 (en) 1997-08-07 2001-05-22 Applied Materials, Inc. Modulated power for ionized metal plasma deposition
US6375810B2 (en) 1997-08-07 2002-04-23 Applied Materials, Inc. Plasma vapor deposition with coil sputtering
US5902461A (en) * 1997-09-03 1999-05-11 Applied Materials, Inc. Apparatus and method for enhancing uniformity of a metal film formed on a substrate with the aid of an inductively coupled plasma
US6042700A (en) * 1997-09-15 2000-03-28 Applied Materials, Inc. Adjustment of deposition uniformity in an inductively coupled plasma source
US6565717B1 (en) 1997-09-15 2003-05-20 Applied Materials, Inc. Apparatus for sputtering ionized material in a medium to high density plasma
US6023038A (en) * 1997-09-16 2000-02-08 Applied Materials, Inc. Resistive heating of powered coil to reduce transient heating/start up effects multiple loadlock system
US6506287B1 (en) 1998-03-16 2003-01-14 Applied Materials, Inc. Overlap design of one-turn coil
US6146508A (en) * 1998-04-22 2000-11-14 Applied Materials, Inc. Sputtering method and apparatus with small diameter RF coil
US6660134B1 (en) 1998-07-10 2003-12-09 Applied Materials, Inc. Feedthrough overlap coil
US6231725B1 (en) 1998-08-04 2001-05-15 Applied Materials, Inc. Apparatus for sputtering material onto a workpiece with the aid of a plasma
US6238528B1 (en) 1998-10-13 2001-05-29 Applied Materials, Inc. Plasma density modulator for improved plasma density uniformity and thickness uniformity in an ionized metal plasma source
US6217718B1 (en) 1999-02-17 2001-04-17 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for reducing plasma nonuniformity across the surface of a substrate in apparatus for producing an ionized metal plasma
US6409890B1 (en) 1999-07-27 2002-06-25 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for forming a uniform layer on a workpiece during sputtering
WO2008127493A1 (en) * 2007-01-29 2008-10-23 Tosoh Smd, Inc. Ultra smooth face sputter targets and methods of producing same
JP2010516900A (ja) * 2007-01-29 2010-05-20 トーソー エスエムディー,インク. 超平滑面スパッターターゲットとそれを製造する方法
US8556681B2 (en) 2007-01-29 2013-10-15 Tosoh Smd, Inc. Ultra smooth face sputter targets and methods of producing same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS59190363A (ja) 金属薄膜の形成方法
US4179351A (en) Cylindrical magnetron sputtering source
EP0595624B1 (en) Film forming apparatus for filling fine pores of a substrate
US4309266A (en) Magnetron sputtering apparatus
JPS60135573A (ja) スパツタリング方法及びその装置
JPH073450A (ja) 低圧動作用マグネトロンスパッタリングソース
JP4344019B2 (ja) イオン化スパッタ方法
US5078847A (en) Ion plating method and apparatus
US4065370A (en) Method of ion plating a thin metallic strip for flashlamp starting
JPS62290866A (ja) 薄膜形成装置
JP2973058B2 (ja) 高真空・高速イオン処理装置
Chopra et al. Duoplasmatron ion beam source for vacuum sputtering of thin films
JPH08188873A (ja) 多層光学フィルムを形成するための方法及び装置
JPS627852A (ja) 薄膜形成方法
JPH09511280A (ja) 基板をコーティングするための方法及び装置
JP3659653B2 (ja) 基板上に層を設ける方法およびこれに使用するスパッタリング装置
US6342139B1 (en) Sputtering system
RU2073743C1 (ru) Способ нанесения покрытий в вакууме и устройство для его осуществления
JPS6127464B2 (ja)
JPH01139762A (ja) スパッタリング装置
JP2768960B2 (ja) 薄膜形成装置
JPS6127463B2 (ja)
JP3364692B2 (ja) 電磁波シールド用成膜方法と装置
JPH02197567A (ja) プラズマスパッタ装置
JPS58171568A (ja) スパツタリング装置