JPS5919190B2 - 鉛皮膜の製造方法 - Google Patents
鉛皮膜の製造方法Info
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- JPS5919190B2 JPS5919190B2 JP55040441A JP4044180A JPS5919190B2 JP S5919190 B2 JPS5919190 B2 JP S5919190B2 JP 55040441 A JP55040441 A JP 55040441A JP 4044180 A JP4044180 A JP 4044180A JP S5919190 B2 JPS5919190 B2 JP S5919190B2
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01M4/00—Electrodes
- H01M4/02—Electrodes composed of, or comprising, active material
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
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- C23C14/14—Metallic material, boron or silicon
- C23C14/16—Metallic material, boron or silicon on metallic substrates or on substrates of boron or silicon
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
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- C23C14/32—Vacuum evaporation by explosion; by evaporation and subsequent ionisation of the vapours, e.g. ion-plating
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
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- C30B23/02—Epitaxial-layer growth
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/02—Elements
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、化学的に安定であり、かつ基板に対する付着
力や、パッキング密度の高い鉛(以下Pbという)皮膜
の製造方法に関するものである。
力や、パッキング密度の高い鉛(以下Pbという)皮膜
の製造方法に関するものである。
従来よりPbは、工業的な電解における電極、鉛蓄電池
の電極材料などに用いられ、電気化学分野における重要
な材料となつている。また、このPbは、原子番号が大
きく密度も高いので、放射線遮へい材料として用いられ
るほか、種々のはんだ材料やケーブル等の被覆合金など
にも利用されている。
の電極材料などに用いられ、電気化学分野における重要
な材料となつている。また、このPbは、原子番号が大
きく密度も高いので、放射線遮へい材料として用いられ
るほか、種々のはんだ材料やケーブル等の被覆合金など
にも利用されている。
さらに、このPbは、7’に以下の極低温状態におくと
、超電導性を示すことから、例えばジョセフソン素子等
の超電導現象を利用した素子の実用化のための材料とし
ても重要である。
、超電導性を示すことから、例えばジョセフソン素子等
の超電導現象を利用した素子の実用化のための材料とし
ても重要である。
ところで、例えばこのPbを、超電導素子の材料として
用いる場合は、Pbの薄膜を形成することが必要である
が、従来Pbの薄膜を得るには、もつぱら真空蒸着法に
たよつていた。
用いる場合は、Pbの薄膜を形成することが必要である
が、従来Pbの薄膜を得るには、もつぱら真空蒸着法に
たよつていた。
しかしながら、この真空蒸着法により得られたPbの薄
膜は、固体のPbと比べて密度が小さく、例えば皮膜形
成後、空気中にさらすとO2と結合してすみやかに酸化
され、PbOあるいはPb02に変つてしまうという化
学的な不安定さをもつている。
膜は、固体のPbと比べて密度が小さく、例えば皮膜形
成後、空気中にさらすとO2と結合してすみやかに酸化
され、PbOあるいはPb02に変つてしまうという化
学的な不安定さをもつている。
また、この真空蒸着法で得られたPbの薄膜は、基板に
対する付着力も弱く、はく離しやすいという機械的に弱
い欠点をもち、さらに、Pbの薄膜の製造時に、その膜
厚や結晶配向軸の制御が困難であるという問題点がある
ために、上述した超電導素子への応用が困難となつてい
る。
対する付着力も弱く、はく離しやすいという機械的に弱
い欠点をもち、さらに、Pbの薄膜の製造時に、その膜
厚や結晶配向軸の制御が困難であるという問題点がある
ために、上述した超電導素子への応用が困難となつてい
る。
特に、超電導素子の場合、極低温と室温との間の温度サ
イクルを受けるため、この温度サイクルによつて、はく
離を生じないことが重要であり、この点からも、従来の
真空蒸着法により得られたPbの薄膜を、超電導素子に
適用することは困難である。
イクルを受けるため、この温度サイクルによつて、はく
離を生じないことが重要であり、この点からも、従来の
真空蒸着法により得られたPbの薄膜を、超電導素子に
適用することは困難である。
さらに、上述した電気化学分野、例えば各種電池の電極
材料としてのPbを薄膜化できれば、各種装置の小形・
軽量化や、材料節約が図れる利点が生ずるものであるが
、真空蒸着法で得られるPbの薄膜のもつ欠点のため、
未だ実現されていない。
材料としてのPbを薄膜化できれば、各種装置の小形・
軽量化や、材料節約が図れる利点が生ずるものであるが
、真空蒸着法で得られるPbの薄膜のもつ欠点のため、
未だ実現されていない。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、
化学的に安定で、かつ機械的強度の大きなPb皮膜を形
成すべく、本発明者が種々検討した結果、クラスタイオ
ンビーム法によりPb皮膜を形成すると、化学的、機械
的に安定なPb皮膜が得られることを見い出し、本発明
をなすに至つたものである。すなわち、本発明は、真空
系内で、少なくともその一部にPbのクラスタを含むP
bの蒸気流を形成し、さらにこのP!Dの蒸気流に電子
ビームを照射して一部をイオン化し、基板表面に射突さ
せることによつてクラスタイオンビーム法のもつ特有の
効果、例えば、基板表面における表面マイグレーシヨン
効果、イオン化されたPb原子の作る電界によるイオン
化効果、基板表面のスパツタリングと清浄効果、基板表
面に射突する粒子の運動エネルギーが熱エネルギーに変
換されることによる加熱効果などにより、基板に対する
付着力が強く、しかもパツキング密度が大きく、例えば
02雰囲気中などで酸化されることのない化学的に安定
で、機械的にも強いPb皮膜の製造方法を提供すること
を目的とするものである。
化学的に安定で、かつ機械的強度の大きなPb皮膜を形
成すべく、本発明者が種々検討した結果、クラスタイオ
ンビーム法によりPb皮膜を形成すると、化学的、機械
的に安定なPb皮膜が得られることを見い出し、本発明
をなすに至つたものである。すなわち、本発明は、真空
系内で、少なくともその一部にPbのクラスタを含むP
bの蒸気流を形成し、さらにこのP!Dの蒸気流に電子
ビームを照射して一部をイオン化し、基板表面に射突さ
せることによつてクラスタイオンビーム法のもつ特有の
効果、例えば、基板表面における表面マイグレーシヨン
効果、イオン化されたPb原子の作る電界によるイオン
化効果、基板表面のスパツタリングと清浄効果、基板表
面に射突する粒子の運動エネルギーが熱エネルギーに変
換されることによる加熱効果などにより、基板に対する
付着力が強く、しかもパツキング密度が大きく、例えば
02雰囲気中などで酸化されることのない化学的に安定
で、機械的にも強いPb皮膜の製造方法を提供すること
を目的とするものである。
さらに本発明は、Pb皮膜製造時の条件を適宜設定でき
、膜厚の制御や、結晶軸の配向方向を容易に制御できる
Pb皮膜の製造方法を提供するものである。
、膜厚の制御や、結晶軸の配向方向を容易に制御できる
Pb皮膜の製造方法を提供するものである。
以下、図面を参照して本発明によるPb皮膜の製造方法
の一実施例を説明するに、まずクラスタイオンビーム法
について説明する。
の一実施例を説明するに、まずクラスタイオンビーム法
について説明する。
クラスタイオンビーム法は、少なくとも一個の噴射ノズ
ルを有する密閉形のるつぼ内に、形成しようとする物質
の成分元素を充填し、加熱・蒸気化して、この蒸気をそ
の蒸気の圧力よりも十分低い圧力の高真空中、例えば、
前記成分元素の蒸気の圧力よりも1/100以下の圧力
の高真空中に前記ノズルより噴出させ、噴出時の断熱膨
張に基づく過冷却現象を利用して、通常100〜2,0
00個程度の原子が互いに緩く結合した塊状原子集団、
いわゆるクラスタを作り、このクラスタの少なくとも一
部をイオン化して、ノズル噴出時に付与された運動エネ
ルギー、あるいは必要に応じて前記クラスタイオンを電
界により加速して基板表面に輸送し、基板上に前記成分
元素の皮膜を形成しようとするものである。
ルを有する密閉形のるつぼ内に、形成しようとする物質
の成分元素を充填し、加熱・蒸気化して、この蒸気をそ
の蒸気の圧力よりも十分低い圧力の高真空中、例えば、
前記成分元素の蒸気の圧力よりも1/100以下の圧力
の高真空中に前記ノズルより噴出させ、噴出時の断熱膨
張に基づく過冷却現象を利用して、通常100〜2,0
00個程度の原子が互いに緩く結合した塊状原子集団、
いわゆるクラスタを作り、このクラスタの少なくとも一
部をイオン化して、ノズル噴出時に付与された運動エネ
ルギー、あるいは必要に応じて前記クラスタイオンを電
界により加速して基板表面に輸送し、基板上に前記成分
元素の皮膜を形成しようとするものである。
この場合、基板に射突するクラスタ及びクラスタイオン
のもつ運動エネルギーにより、基板表面のスパツタリン
グと清浄効果、あるいはイオン注入効果が生じ、付着力
の増大が図れ、また前記運動エネルギーの一部が熱エネ
ルギーに変換されることによる化学的な活性化が図れる
。
のもつ運動エネルギーにより、基板表面のスパツタリン
グと清浄効果、あるいはイオン注入効果が生じ、付着力
の増大が図れ、また前記運動エネルギーの一部が熱エネ
ルギーに変換されることによる化学的な活性化が図れる
。
さらに、基板に射突したクラスタ及びクラスタイオンは
、射突時に壊れて原子状の粒子になり基板表面を移動す
るマイグレーシヨン効果により結晶学的に良質な皮膜が
形成できるとともに、クラスタの一部がイオン化されて
いることにより、化学的に活性化状態にあつて、原子ど
うしの結合力も強まるとともに、表面の機械的な平坦度
も改善できるようになる。
、射突時に壊れて原子状の粒子になり基板表面を移動す
るマイグレーシヨン効果により結晶学的に良質な皮膜が
形成できるとともに、クラスタの一部がイオン化されて
いることにより、化学的に活性化状態にあつて、原子ど
うしの結合力も強まるとともに、表面の機械的な平坦度
も改善できるようになる。
しかも、上述した各効果は、基板温度、るつぼ周囲空間
の真空度、クラスタのイオン化率あるいはクラスタイオ
ンを加速する加速電圧を制御することにより調整可能と
なり、基板に成長させる皮膜を、アモルフアス状態、多
結晶状態及び単結晶状態と任意に制御でき、また結晶軸
の優先配向性も制御できるものである。
の真空度、クラスタのイオン化率あるいはクラスタイオ
ンを加速する加速電圧を制御することにより調整可能と
なり、基板に成長させる皮膜を、アモルフアス状態、多
結晶状態及び単結晶状態と任意に制御でき、また結晶軸
の優先配向性も制御できるものである。
例えば、加速電圧を種々変えた場合におけるクラスタイ
オンビーム法を用いて形成した皮膜の基板に対する付着
力及びパツキング密度の変化する様子の一例を第1図及
び第2図に示す。
オンビーム法を用いて形成した皮膜の基板に対する付着
力及びパツキング密度の変化する様子の一例を第1図及
び第2図に示す。
第1図は、ガラス基板上に銅の皮膜をクラスタイオンビ
ーム法により被着した場合の一例であり、加速電圧を0
〜10KV程度に変化させることにより、付着力が大幅
に向上する例が示されている。
ーム法により被着した場合の一例であり、加速電圧を0
〜10KV程度に変化させることにより、付着力が大幅
に向上する例が示されている。
また、第2図は、銅の基板上に金をクラスタイオンビー
ム法により被着した場合の、加速電圧がパツキング密度
に及ぼす影響について示すものであり、図中Dで示す通
常の真空蒸着における皮膜のパツキング密度と、図中B
Lで示す固体の金のバツキング密度との比較でクラスタ
イオンビーム法による皮膜のパツキング密度の変化を示
してある。この第2図から明らかなように、加速電圧が
0Vであつてもクラスタイオンビーム法により形成され
た皮膜は、真空蒸着法により得られる皮膜よりもそのパ
ツキング密度が高いが、加速電圧を1KV,2KV,・
・・と上げてゆくにつれて、そのパツキング密度が改善
され、固体に近くなつてゆくことがわかる。
ム法により被着した場合の、加速電圧がパツキング密度
に及ぼす影響について示すものであり、図中Dで示す通
常の真空蒸着における皮膜のパツキング密度と、図中B
Lで示す固体の金のバツキング密度との比較でクラスタ
イオンビーム法による皮膜のパツキング密度の変化を示
してある。この第2図から明らかなように、加速電圧が
0Vであつてもクラスタイオンビーム法により形成され
た皮膜は、真空蒸着法により得られる皮膜よりもそのパ
ツキング密度が高いが、加速電圧を1KV,2KV,・
・・と上げてゆくにつれて、そのパツキング密度が改善
され、固体に近くなつてゆくことがわかる。
このように、クラスタイオンビーム法では、その皮膜形
成条件を変えることにより、形成された皮膜の性質を制
御できるという特長があり、本発明は、このクラスタイ
オンビーム法の特長を利用して、化学的にも、また機械
的にも安定で、良質のPb皮膜を得ようとするものであ
る。
成条件を変えることにより、形成された皮膜の性質を制
御できるという特長があり、本発明は、このクラスタイ
オンビーム法の特長を利用して、化学的にも、また機械
的にも安定で、良質のPb皮膜を得ようとするものであ
る。
しかして、第3図に本発明によるPb皮膜の製造方法に
使用する装置の概略構成を示す。
使用する装置の概略構成を示す。
ここで1は、0.5罷〜2.0關程度の直径の1個又は
複数個のノズル2を有する密閉形のるつぼである。ここ
で、前記ノズル2は、その軸方向の厚みをできるだけ薄
くし、少なくともノズル径よりは厚みを薄くするいわゆ
るアスペクト比を1以下にして訃くことが望ましい。ま
た、このるつぼ1内には、適宜形状のPb粉末、あるい
はこれを加工した金属Pb3が充填されている。4は、
前記るつぼ1の周囲に設けられた加熱装置であり、この
実施例では、前記るつぼ1の周囲に電子放出用のコイル
状のフイラメントを配置し、これを加熱するとともに、
図示しない電源により前記るつぼ1に正電位を付与して
、フイラメントからの電子を加速し、るつぼ1の表面に
射突させてるつぼ1の温度を上昇させる電子衝撃形の加
熱装置を用いている。
複数個のノズル2を有する密閉形のるつぼである。ここ
で、前記ノズル2は、その軸方向の厚みをできるだけ薄
くし、少なくともノズル径よりは厚みを薄くするいわゆ
るアスペクト比を1以下にして訃くことが望ましい。ま
た、このるつぼ1内には、適宜形状のPb粉末、あるい
はこれを加工した金属Pb3が充填されている。4は、
前記るつぼ1の周囲に設けられた加熱装置であり、この
実施例では、前記るつぼ1の周囲に電子放出用のコイル
状のフイラメントを配置し、これを加熱するとともに、
図示しない電源により前記るつぼ1に正電位を付与して
、フイラメントからの電子を加速し、るつぼ1の表面に
射突させてるつぼ1の温度を上昇させる電子衝撃形の加
熱装置を用いている。
そのほか、るつぼ1を加熱する方法として、るつぼ1が
導電材料で形成されている場合は、このるつぼ1の上下
部に特定の端子を設け、るつぼ1自体に低電圧大電流を
印加することによつてるつぼ1全体を加熱する抵抗加熱
法、あるいはるつぼ1の周囲にヒータを配置してるつぼ
1の加熱を行う輻射加熱法や、これらの組合せによる加
熱方法を必要に応じて適宜選択して使用できる。
導電材料で形成されている場合は、このるつぼ1の上下
部に特定の端子を設け、るつぼ1自体に低電圧大電流を
印加することによつてるつぼ1全体を加熱する抵抗加熱
法、あるいはるつぼ1の周囲にヒータを配置してるつぼ
1の加熱を行う輻射加熱法や、これらの組合せによる加
熱方法を必要に応じて適宜選択して使用できる。
また5は、熱遮へい板、6はイオン化室であり、後述す
るPbの蒸気の通路を囲むように円筒、角筒あるいは平
行板状に形成された網状のイオン化用の陽極7と、この
陽極の周囲に配置された電子放出用のフイラメント8及
び遮へい板9とにより構成されている。
るPbの蒸気の通路を囲むように円筒、角筒あるいは平
行板状に形成された網状のイオン化用の陽極7と、この
陽極の周囲に配置された電子放出用のフイラメント8及
び遮へい板9とにより構成されている。
11は、Pb皮膜を被着する基板12を保持する基板ホ
ルダ、13は、不要時に前記基板12に対するPbの射
突を阻止するシャツタである。
ルダ、13は、不要時に前記基板12に対するPbの射
突を阻止するシャツタである。
ここで、前記基板12としては、各種金属基板,半導体
基板あるいはガラス,セラミツクス,サフアイアなどの
絶縁基板等、任意のものを選定できる。また17は、前
記イオン化室6と基板12間に設けられ、図示しない電
源によりるつぼ1に対して負の電位が印加されて後述す
るイオン化されたPb′蒸気を加速する加速電極である
。さらに15は必要に応じて前記基板12を加熱ないし
冷却するための装置である。
基板あるいはガラス,セラミツクス,サフアイアなどの
絶縁基板等、任意のものを選定できる。また17は、前
記イオン化室6と基板12間に設けられ、図示しない電
源によりるつぼ1に対して負の電位が印加されて後述す
るイオン化されたPb′蒸気を加速する加速電極である
。さらに15は必要に応じて前記基板12を加熱ないし
冷却するための装置である。
しかして、上述した各部が図示しない真空容器内に適宜
な支持部材により支持されて配設され、この真空容器内
がすくなくとも10−5T0rr以下の高真空雰囲気に
排気される。
な支持部材により支持されて配設され、この真空容器内
がすくなくとも10−5T0rr以下の高真空雰囲気に
排気される。
次に、上述した装置を用いた本発明によるPb皮膜及び
その形成方法について述べる。
その形成方法について述べる。
まず、前述したようにるつぼ1内に適宜形状の金属Pb
3を充填し、ついで前述した各部材が収納されている真
空容器内を少なくとも10−5T0rr以下に排気する
。
3を充填し、ついで前述した各部材が収納されている真
空容器内を少なくとも10−5T0rr以下に排気する
。
しかして、前記加熱装置4を作動させ、るつぼ1を加熱
してるつぼ1内に充填されている金属Pbを加熱溶融さ
せてPbの蒸気3aを発生させる。この場合、Pbの加
熱温度はるつぼ1の周囲空間、すなわち真空容器内の圧
力に応じて設定されるものであり、るつぼ1内のPbの
蒸気の圧力をP1真空容器内の圧力をPOとした場合、
P/PO〉102好ましくはP/PO≧104となるよ
うに設定する。
してるつぼ1内に充填されている金属Pbを加熱溶融さ
せてPbの蒸気3aを発生させる。この場合、Pbの加
熱温度はるつぼ1の周囲空間、すなわち真空容器内の圧
力に応じて設定されるものであり、るつぼ1内のPbの
蒸気の圧力をP1真空容器内の圧力をPOとした場合、
P/PO〉102好ましくはP/PO≧104となるよ
うに設定する。
ところで、Pbは、その融点が328℃と比較的低いに
もかかわらず、蒸気圧が低いので、るつぼ1内のPbの
蒸気3aの圧力を上げるには、加熱温度をかなり高くす
る必要がある。
もかかわらず、蒸気圧が低いので、るつぼ1内のPbの
蒸気3aの圧力を上げるには、加熱温度をかなり高くす
る必要がある。
例えば、840℃におけるPbの蒸気圧が約10−1T
0rrであるので、るつぼ1内をこの温度に保つための
前記加熱温度としては、900こC〜1200℃程度が
必要である。
0rrであるので、るつぼ1内をこの温度に保つための
前記加熱温度としては、900こC〜1200℃程度が
必要である。
さらに、前記蒸気圧Pを大きくして皮膜形成速度を上げ
るために、形成されるPb皮膜の膜質を損わない範囲内
で前記加熱温度を上げるようにしてもよい。
るために、形成されるPb皮膜の膜質を損わない範囲内
で前記加熱温度を上げるようにしてもよい。
また、前記基板12の温度は、必要とするPb皮膜の性
質に応じて設定されるものであつて、例えば、皮膜に結
晶配向性をもたせようとする場合は、前記温度は比較的
高い方がよく、また表面の平坦度をよくしたい場合は、
比較的低い温度が適する。
質に応じて設定されるものであつて、例えば、皮膜に結
晶配向性をもたせようとする場合は、前記温度は比較的
高い方がよく、また表面の平坦度をよくしたい場合は、
比較的低い温度が適する。
この場合、平坦な皮膜表面を得るためには、基板温度が
低い程、平坦度は改善される。例えば、超電導素子など
で、特に表面の平坦度を必要とされる場合は、前記基板
温度は50℃以下(場合によつてはO℃以下に冷却する
ことが表面平坦度をよくする上で効果的である。
低い程、平坦度は改善される。例えば、超電導素子など
で、特に表面の平坦度を必要とされる場合は、前記基板
温度は50℃以下(場合によつてはO℃以下に冷却する
ことが表面平坦度をよくする上で効果的である。
しかして、るつぼ1の内外の圧力差によりPbの蒸気3
aはノズル2よりるつぼ1外へ噴出し、この噴出速度に
相当する運動エネルギーを得て、基板12方向へ向う蒸
気流3bとなる。この場合、ノズル2の形状と前記圧力
P及びPOを前述した条件に応じて適宜調整する、ある
いはるつぼ1のノズル2の形状を工夫することによつて
、前記蒸気流3b中のPbの少なくとも一部は、噴出時
に断熱膨脹に基づく過冷却現象により、蒸気状のPb原
子や分子がフアンデルワールスカで緩く結合した巨大な
集合体であるクラスタが形成される。
aはノズル2よりるつぼ1外へ噴出し、この噴出速度に
相当する運動エネルギーを得て、基板12方向へ向う蒸
気流3bとなる。この場合、ノズル2の形状と前記圧力
P及びPOを前述した条件に応じて適宜調整する、ある
いはるつぼ1のノズル2の形状を工夫することによつて
、前記蒸気流3b中のPbの少なくとも一部は、噴出時
に断熱膨脹に基づく過冷却現象により、蒸気状のPb原
子や分子がフアンデルワールスカで緩く結合した巨大な
集合体であるクラスタが形成される。
ところで、るつぼ1外への噴出によつて運動エネルギー
を得た蒸気流3bは、イオン化室6に入りここで少なく
ともその一部がイオン化される。
を得た蒸気流3bは、イオン化室6に入りここで少なく
ともその一部がイオン化される。
すなわち、加熱されたフイラメント8から放出された電
子が、このフイラメント8と網状の陽極7との間に印加
された100〜1000V程度の電圧により加速され、
網状の陽極7を通り抜けて前記蒸気流3bに射突し、少
なくともその一部をイオン化する。また、前記クラスタ
は、前記イオン化室6でクラスタを構成する原子集団の
うちの1個の原子が前記電子衝撃によりイオン化され、
いわゆるクラスタイオンが形成される。
子が、このフイラメント8と網状の陽極7との間に印加
された100〜1000V程度の電圧により加速され、
網状の陽極7を通り抜けて前記蒸気流3bに射突し、少
なくともその一部をイオン化する。また、前記クラスタ
は、前記イオン化室6でクラスタを構成する原子集団の
うちの1個の原子が前記電子衝撃によりイオン化され、
いわゆるクラスタイオンが形成される。
このようにして、イオン化されたPb原子、中性のPb
原子あるいはPbのクラスタやクラスタイオンが、さら
に基板12方向に進み、シャツタ13が開放されている
と基板12の表面に射突して、ここに被着し、Pb皮膜
20が形成される。
原子あるいはPbのクラスタやクラスタイオンが、さら
に基板12方向に進み、シャツタ13が開放されている
と基板12の表面に射突して、ここに被着し、Pb皮膜
20が形成される。
この場合、基板12に射突するPbのもつ運動エネルギ
ーにより、基板表面がスバツタされたり、エツチングさ
へまた、イオン注入効果も加わつて、基板に対しきわめ
て付着力の強いPb皮膜が形成される。また、基板12
に射突した中性のクラスタやクラスタイオンは、射突時
に壊れて原子状の粒子となり、基板12に射突したPb
原子とともに基板12表面を移動する、いわゆるマイグ
レーシヨン効果により、移動しながら成長し、皮膜を形
成する。
ーにより、基板表面がスバツタされたり、エツチングさ
へまた、イオン注入効果も加わつて、基板に対しきわめ
て付着力の強いPb皮膜が形成される。また、基板12
に射突した中性のクラスタやクラスタイオンは、射突時
に壊れて原子状の粒子となり、基板12に射突したPb
原子とともに基板12表面を移動する、いわゆるマイグ
レーシヨン効果により、移動しながら成長し、皮膜を形
成する。
この皮膜形成の初期段階において、一部イオン化されて
いる粒子の作る電界が有効に作用する。
いる粒子の作る電界が有効に作用する。
すなわち、このイオンのもつ電界によつて結晶成長のた
めの核形成が促進され、さらにこの形成された核を中心
にして原子が集まり島状領域を形成する、いわゆるコア
レツセンスに有効に作用する。したがつて、形成される
Pb皮膜20を、Pb原子の凝集した皮膜として得るこ
とができ、パツキング密度の大幅な向上が図れることに
なる。
めの核形成が促進され、さらにこの形成された核を中心
にして原子が集まり島状領域を形成する、いわゆるコア
レツセンスに有効に作用する。したがつて、形成される
Pb皮膜20を、Pb原子の凝集した皮膜として得るこ
とができ、パツキング密度の大幅な向上が図れることに
なる。
もちろん、この付着力の向上や、パツキング密度の改善
は、第1図及び第2図に示した例と同様に、加速電極1
7に加速電圧を印加してゆくことによつて大幅に改善で
きるものである。さらに、形成されたPb皮膜20の厚
みは、るつぼ1の加熱温度、加速電圧等によつて任意に
制御できるものである。また、同時にこの加速電圧を印
加する効果は、形成されるPb皮膜の結晶軸に優先配向
性をもたせることが可能となる。
は、第1図及び第2図に示した例と同様に、加速電極1
7に加速電圧を印加してゆくことによつて大幅に改善で
きるものである。さらに、形成されたPb皮膜20の厚
みは、るつぼ1の加熱温度、加速電圧等によつて任意に
制御できるものである。また、同時にこの加速電圧を印
加する効果は、形成されるPb皮膜の結晶軸に優先配向
性をもたせることが可能となる。
第4図は、Pb皮膜を形成すべき基板としてガラスを選
び、このガラス基板上に、前述した第3図に示す装置を
用いて、本発明の製造方法によりPb皮膜20を形成し
た場合における配向性の加速電圧依存性を測定した図で
ある。
び、このガラス基板上に、前述した第3図に示す装置を
用いて、本発明の製造方法によりPb皮膜20を形成し
た場合における配向性の加速電圧依存性を測定した図で
ある。
ここでは、るつぼ1の周囲空間を10−5T0rrの高
真空雰囲気に排気し、フイラメント8から放出するイオ
ン化電流を10077!A1基板12を10℃の基板温
度に保持して加速電圧を種々変えてPb皮膜20を形成
し、得られたPb皮膜20のX線回折パターンを測定し
たものである。
真空雰囲気に排気し、フイラメント8から放出するイオ
ン化電流を10077!A1基板12を10℃の基板温
度に保持して加速電圧を種々変えてPb皮膜20を形成
し、得られたPb皮膜20のX線回折パターンを測定し
たものである。
この場合、得られたPb皮膜20は、主に(111)面
及び(200)面の配向をもつが、加速電圧を上昇して
ゆくと、第4図に曲線aで示すように(111)面から
の回折強度が優勢となる。
及び(200)面の配向をもつが、加速電圧を上昇して
ゆくと、第4図に曲線aで示すように(111)面から
の回折強度が優勢となる。
また、(200)面と(111)面からの回折強度の比
(200)/(111)をプロツトしたのが第4図に示
す曲線bである。この曲線aとbから明らかなように、
加速電圧を上昇してゆくと(111)面の配向が優先し
、加圧電圧によつて優先配向性をもたせることが可能と
なることが明らかである。
(200)/(111)をプロツトしたのが第4図に示
す曲線bである。この曲線aとbから明らかなように、
加速電圧を上昇してゆくと(111)面の配向が優先し
、加圧電圧によつて優先配向性をもたせることが可能と
なることが明らかである。
このように、本発明の製造方法で得られるPb皮膜20
は、クラスタイオンビーム法のもつ特有の効果によつて
、基板12に対して付着力が強く、かつ固体のPbに近
いパツキング密度の高い皮膜となる。
は、クラスタイオンビーム法のもつ特有の効果によつて
、基板12に対して付着力が強く、かつ固体のPbに近
いパツキング密度の高い皮膜となる。
したがつて、このパツキング密度の増加により、形成さ
れたPb皮膜20を02中にさらしても酸化されること
が少なく、電極材料、あるいは超電導素子用の材料とし
ての使用が可能となるものである。
れたPb皮膜20を02中にさらしても酸化されること
が少なく、電極材料、あるいは超電導素子用の材料とし
ての使用が可能となるものである。
また、このパツキング密度の高い点、あるいは基板に対
する付着力が強い点は、繰返し冷却試験後のPb皮膜の
表面を観察することによつても明らかとなる。
する付着力が強い点は、繰返し冷却試験後のPb皮膜の
表面を観察することによつても明らかとなる。
すなわち、第5図aは、上記のように、基板12を10
℃の基板温度に保持した本発明の製造方法により得られ
たPb皮膜を、室温(300゜K)と液体窒素温度(7
7゜K)との間で繰返し冷却を11回行つた結果の表面
を電子顕微鏡で観察した写真であり、この繰返し冷却試
験によつても、Pb皮膜は何らはく離を生ぜず、初期の
表面平坦性の良好な状態を保つている。
℃の基板温度に保持した本発明の製造方法により得られ
たPb皮膜を、室温(300゜K)と液体窒素温度(7
7゜K)との間で繰返し冷却を11回行つた結果の表面
を電子顕微鏡で観察した写真であり、この繰返し冷却試
験によつても、Pb皮膜は何らはく離を生ぜず、初期の
表面平坦性の良好な状態を保つている。
これに対し、通常の真空蒸着法により得られたPb皮膜
を、同じ繰返し冷却試験に供した場合は、第5図bに示
すように部分的にはく離してしまい、この二つの電子顕
微鏡による表面観察写真を比べることによつて、本発明
の製造方法により得られるPb皮膜の付着力の強さや、
パツキング密度の高さ、並びに表面の平坦性が明らかと
なる。
を、同じ繰返し冷却試験に供した場合は、第5図bに示
すように部分的にはく離してしまい、この二つの電子顕
微鏡による表面観察写真を比べることによつて、本発明
の製造方法により得られるPb皮膜の付着力の強さや、
パツキング密度の高さ、並びに表面の平坦性が明らかと
なる。
上述したように、本発明の製造方法では、基板に対する
付着力が強く、パツキング密度の高いPb皮膜が得られ
るとともに、またその製造時の条件を種々設定すること
により付着力、パツキング密度とともに、形成されるP
b皮膜の厚さや、結晶軸の配向性をも制御できるため、
このPb皮膜の使用目的に応じて種々の特性の皮膜が形
成できるという特長を有する。例えば、電子計算機等の
電子機器を小形化する上から、その実現が期待されてい
るトンネル接合形ジヨセフソン素子の構造は、第6図に
示すようになるが、ここで下部の超電導皮膜25として
、本発明の製造方法によるPb皮膜を用い、しかもこの
超電導皮膜25としてのPb皮膜の製造時には、加速電
圧を高く設定してパツキング密度の大きい皮膜を作る。
付着力が強く、パツキング密度の高いPb皮膜が得られ
るとともに、またその製造時の条件を種々設定すること
により付着力、パツキング密度とともに、形成されるP
b皮膜の厚さや、結晶軸の配向性をも制御できるため、
このPb皮膜の使用目的に応じて種々の特性の皮膜が形
成できるという特長を有する。例えば、電子計算機等の
電子機器を小形化する上から、その実現が期待されてい
るトンネル接合形ジヨセフソン素子の構造は、第6図に
示すようになるが、ここで下部の超電導皮膜25として
、本発明の製造方法によるPb皮膜を用い、しかもこの
超電導皮膜25としてのPb皮膜の製造時には、加速電
圧を高く設定してパツキング密度の大きい皮膜を作る。
ついで、今度は、加速電圧を0、ないしは低く設定し、
前記超電導皮膜25上に極薄のPb膜、例えば10゜A
程度の皮膜を形成する。
前記超電導皮膜25上に極薄のPb膜、例えば10゜A
程度の皮膜を形成する。
この皮膜は、加速電圧が低いことから、パツキング密度
が低く、例えばこれを02雰囲気中にさらせば、ただち
に酸化され、PbOないしはPbO2の酸化膜26が形
成される。またこの場合、酸化膜26の形成は、02雰
囲気中で、Pb皮膜を形成する、いわゆる反応性クラス
タイオンビーム法により行うようにしてもよい。その後
、再び高真空中で、超電導皮膜25の製造と同様に高加
速電圧により、Pb皮膜を前記酸化膜26上に被着すれ
ば、パツキング密度の高い上部の超電導皮膜27が形成
され、第6図に示す構造のジヨセフソン素子が形成でき
る。
が低く、例えばこれを02雰囲気中にさらせば、ただち
に酸化され、PbOないしはPbO2の酸化膜26が形
成される。またこの場合、酸化膜26の形成は、02雰
囲気中で、Pb皮膜を形成する、いわゆる反応性クラス
タイオンビーム法により行うようにしてもよい。その後
、再び高真空中で、超電導皮膜25の製造と同様に高加
速電圧により、Pb皮膜を前記酸化膜26上に被着すれ
ば、パツキング密度の高い上部の超電導皮膜27が形成
され、第6図に示す構造のジヨセフソン素子が形成でき
る。
すなわち、本発明の製造方法によれば連続した製造工程
により超電導素子の製造が可能になるというすぐれた特
長を有するものである。
により超電導素子の製造が可能になるというすぐれた特
長を有するものである。
以上述べたように、本発明によるPb皮膜の製造方法に
よれば、クラスタイオンビーム法を用いて蒸気流の加速
電圧等を制御してPb皮膜の形成を行う方法において、
Pbの蒸気流を、50℃以下に制御した基板に射突させ
てPb皮膜を得るようにしたので、緻密で結晶軸の配向
特性が良く、しかも平坦な表面を有するPb皮膜を得る
ことが出来、特に表面の平坦度を必要と?れる超電導素
子の製法として優わた効果がある。
よれば、クラスタイオンビーム法を用いて蒸気流の加速
電圧等を制御してPb皮膜の形成を行う方法において、
Pbの蒸気流を、50℃以下に制御した基板に射突させ
てPb皮膜を得るようにしたので、緻密で結晶軸の配向
特性が良く、しかも平坦な表面を有するPb皮膜を得る
ことが出来、特に表面の平坦度を必要と?れる超電導素
子の製法として優わた効果がある。
第1図及び第2図は、クラスタイオンビーム法による特
性を説明するための図、第3図は、本発明によるPb皮
膜の製造方法に使用する装置の一例を示す概略構成図、
第4図は、本発明による皮膜の製造方法の一実施例によ
り得られたPb皮膜の特性を示す図、第5図A,bは、
同実施例及び従来の真空蒸着法により得られたPb皮膜
の繰返し冷却試験を行つた後の表面状態を示す電子顕微
鏡写真、第6図は、本発明によるPb皮膜の製造方法に
より得られるPb皮膜を用いた素子例を示す概略構成図
である。 1・・・・・・るつぼ、2・・・・・・ノズル、3b・
・・・・・Pbの蒸気流、4・・・・・・加熱装置、6
・・・・・・イオン化室、12・・・・・・基板、20
・・・・・・Pb皮膜。
性を説明するための図、第3図は、本発明によるPb皮
膜の製造方法に使用する装置の一例を示す概略構成図、
第4図は、本発明による皮膜の製造方法の一実施例によ
り得られたPb皮膜の特性を示す図、第5図A,bは、
同実施例及び従来の真空蒸着法により得られたPb皮膜
の繰返し冷却試験を行つた後の表面状態を示す電子顕微
鏡写真、第6図は、本発明によるPb皮膜の製造方法に
より得られるPb皮膜を用いた素子例を示す概略構成図
である。 1・・・・・・るつぼ、2・・・・・・ノズル、3b・
・・・・・Pbの蒸気流、4・・・・・・加熱装置、6
・・・・・・イオン化室、12・・・・・・基板、20
・・・・・・Pb皮膜。
Claims (1)
- 1 一個又は複数個のノズルを有する密閉形るつぼ内に
充填した鉛を加熱して蒸気化し、この鉛の蒸気をその圧
力の少なくとも10^−^2以下の圧力を有する高真空
雰囲気中に前記ノズルから噴出させて鉛の蒸気流を形成
する工程と、前記鉛の蒸気流に電子ビームを照射して少
なくともその一部をイオン化する工程と、前記ノズルか
ら噴出した鉛の蒸気流を加速電極による電界により加速
して運動エネルギーを付与し、基板表面に輸送する工程
と、少なくともその一部がイオン化されている鉛の蒸気
流を、50℃以下に制御した基板に射突させて前記基板
表面に鉛皮膜を被着させる工程を含んでなることを特徴
とする鉛皮膜の製造方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55040441A JPS5919190B2 (ja) | 1980-03-31 | 1980-03-31 | 鉛皮膜の製造方法 |
| US06/248,212 US4394210A (en) | 1980-03-31 | 1981-03-27 | Process for forming a lead film |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55040441A JPS5919190B2 (ja) | 1980-03-31 | 1980-03-31 | 鉛皮膜の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56139673A JPS56139673A (en) | 1981-10-31 |
| JPS5919190B2 true JPS5919190B2 (ja) | 1984-05-02 |
Family
ID=12580724
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55040441A Expired JPS5919190B2 (ja) | 1980-03-31 | 1980-03-31 | 鉛皮膜の製造方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4394210A (ja) |
| JP (1) | JPS5919190B2 (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4601922A (en) * | 1983-09-21 | 1986-07-22 | Konishiroku Photo Industry Co., Ltd. | Method of forming a layer of thin film on a substrate having a multiplicity of mesh-like holes |
| JPS6353259A (ja) * | 1986-08-22 | 1988-03-07 | Mitsubishi Electric Corp | 薄膜形成方法 |
| US4904526A (en) * | 1988-08-29 | 1990-02-27 | 3M Company | Electrically conductive metal oxide coatings |
| US5026599A (en) * | 1988-08-29 | 1991-06-25 | Minnesota Mining & Manufacturing | Array of densely packed discrete metal microspheres coated on a substrate |
| EP0425589B1 (en) * | 1989-01-13 | 1994-07-27 | Hughes Aircraft Company | Plasma/radiation assisted molecular beam epitaxy method and apparatus |
| US5219655A (en) * | 1989-01-23 | 1993-06-15 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Composite including an inorganic image and method of transferring such an image |
| US5017255A (en) * | 1989-01-23 | 1991-05-21 | Clyde D. Calhoun | Method of transferring an inorganic image |
| GB2251631B (en) * | 1990-12-19 | 1994-10-12 | Mitsubishi Electric Corp | Thin-film forming apparatus |
| EP0551117A2 (en) * | 1992-01-08 | 1993-07-14 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Large scale integrated circuit device and thin film forming method and apparatus for the same |
| JP3910466B2 (ja) * | 2002-02-26 | 2007-04-25 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 半導体又は絶縁体/金属・層状複合クラスタの作製方法及び製造装置 |
| JP4442558B2 (ja) * | 2005-01-06 | 2010-03-31 | 三星モバイルディスプレイ株式會社 | 蒸発源の加熱制御方法,蒸発源の冷却制御方法および蒸発源の制御方法 |
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