JPS59193348A - 溶接位置検出装置 - Google Patents
溶接位置検出装置Info
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- JPS59193348A JPS59193348A JP58068686A JP6868683A JPS59193348A JP S59193348 A JPS59193348 A JP S59193348A JP 58068686 A JP58068686 A JP 58068686A JP 6868683 A JP6868683 A JP 6868683A JP S59193348 A JPS59193348 A JP S59193348A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- gate
- welded part
- signal
- welding
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- Pending
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/30—Arrangements for calibrating or comparing, e.g. with standard objects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/72—Investigating presence of flaws
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02854—Length, thickness
-
- G—PHYSICS
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- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
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- G01N2291/02881—Temperature
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は電縫管なでの溶接部の良否を検査するときに
用いる超音波探傷装置の探触子の位置ぎめをするために
必要な溶接部の位置検出装置に関するものである。
用いる超音波探傷装置の探触子の位置ぎめをするために
必要な溶接部の位置検出装置に関するものである。
従来のこの種検出装置としては光等を用いた方法がある
。ここで、従来の検出方法を第1図を用いて説明する。
。ここで、従来の検出方法を第1図を用いて説明する。
第1図において、(1)は■Tvカメラ、(2)は超音
波探触子、(3)は溶接部、(4)は電縫管、(5)は
投光器、(6)は信号処理部である。
波探触子、(3)は溶接部、(4)は電縫管、(5)は
投光器、(6)は信号処理部である。
第2図は第1図に示した装置による溶接部(3)の検出
装置を説明するための図で2図中、(7)は■Tvカメ
ラによって得られるビデオ信号、(8)は前記ビデオ信
号(7)の時間微分波形である。
装置を説明するための図で2図中、(7)は■Tvカメ
ラによって得られるビデオ信号、(8)は前記ビデオ信
号(7)の時間微分波形である。
第1図においてITVカメラ(1)と超音波探触子(2
)の相対的な位置関係は概知で、しかも制御できるよう
になっており、溶接部(3)に対する工Tvカメラ(1
)の位置がわかれば超音波探触子(2)から出る超音波
を溶接部(3)に当たるように、その位置を制御できる
ようになっている。
)の相対的な位置関係は概知で、しかも制御できるよう
になっており、溶接部(3)に対する工Tvカメラ(1
)の位置がわかれば超音波探触子(2)から出る超音波
を溶接部(3)に当たるように、その位置を制御できる
ようになっている。
いま電縫管(4)の溶接部(3)をITVカメラ(1)
で撮像する。この際、溶接部(3)と電縫管(4)の前
記溶接部(3)以外の部分とのコントラストを強調する
ため、溶接部(3)付近に投光器によって光を照射して
おく。このようにしてITVカメラ(1)によって得ら
れるビデオ信号(7)は溶接部(3)とそれ以外の部分
では出力レベルが異るから、信号処理部(6)によって
前記ビデオ信号(7)の時間微分をとれば、その波形(
8)から溶接部(3)の端の位置を検出でき1例えばそ
の中点をとることによって溶接部(3)に対するI ’
I’ Vカメラ(1)の位置を検出できる。
で撮像する。この際、溶接部(3)と電縫管(4)の前
記溶接部(3)以外の部分とのコントラストを強調する
ため、溶接部(3)付近に投光器によって光を照射して
おく。このようにしてITVカメラ(1)によって得ら
れるビデオ信号(7)は溶接部(3)とそれ以外の部分
では出力レベルが異るから、信号処理部(6)によって
前記ビデオ信号(7)の時間微分をとれば、その波形(
8)から溶接部(3)の端の位置を検出でき1例えばそ
の中点をとることによって溶接部(3)に対するI ’
I’ Vカメラ(1)の位置を検出できる。
この従来の検出装置においては、溶接部(3)の少L7
盛り上った部分と電縫管の他の部分とのコントラストの
違いを利用して溶接部(3)の位置を検出しているがコ
ントラストの違いを利用して溶接部(3)の位置を検出
しているが、コントラストが小さbものに対しては測定
精度が良くない上、外観の違いから判定しているだめ必
ずしも、真の溶接部とは言い難い。さらに電縫管の製造
ミルによっては上記溶接部(3)の盛り一]一つだ部分
をビー ドカフタで研削した後にしか溶接位置検出装置
を設置できないことがあるが、この場合には溶接部(3
)の盛り上った部分がなくなるため電縫管の他の部分と
のコントラストがさらに低下し、溶接部(3)の位置検
出精度がさらに悪くなる欠点があった。
盛り上った部分と電縫管の他の部分とのコントラストの
違いを利用して溶接部(3)の位置を検出しているがコ
ントラストの違いを利用して溶接部(3)の位置を検出
しているが、コントラストが小さbものに対しては測定
精度が良くない上、外観の違いから判定しているだめ必
ずしも、真の溶接部とは言い難い。さらに電縫管の製造
ミルによっては上記溶接部(3)の盛り一]一つだ部分
をビー ドカフタで研削した後にしか溶接位置検出装置
を設置できないことがあるが、この場合には溶接部(3
)の盛り上った部分がなくなるため電縫管の他の部分と
のコントラストがさらに低下し、溶接部(3)の位置検
出精度がさらに悪くなる欠点があった。
この発明はこれらの従来の欠点を除去するだめに溶接部
(3)まわ漫の温度分布から溶接部(3)の位置を検出
するようにしだものである。以下図面に。Lす、この発
明の実施例について説明する第3図に卦いて、(9)は
レンズ、 !IIは赤外線検出器、 Cl11は最高温
度位置検出回路である。
(3)まわ漫の温度分布から溶接部(3)の位置を検出
するようにしだものである。以下図面に。Lす、この発
明の実施例について説明する第3図に卦いて、(9)は
レンズ、 !IIは赤外線検出器、 Cl11は最高温
度位置検出回路である。
第3.1シIVCおいて接合部付近(3)より放射され
る赤外線をレンズ(9)を通し、て電縫管(4)の溶接
部(3)ラインと直角に配置された赤外線検出器(1c
jに集光させる。赤外線検出器filには接合部(3)
より放射される赤外線の強度に応じたレベルの電気信号
が出力され、これを最高温度位置検出回路により赤外線
検出器filの最高温度の位置信号を出力する。第4図
は第3図に示した溶接部(3)の溶接部付近の表面A、
Bの温度分布(1擾を示したものであり、電縫管の
溶接直後の赤外線検出器01の出力はOを役大出力値と
して左右にほぼ対称となっている。
る赤外線をレンズ(9)を通し、て電縫管(4)の溶接
部(3)ラインと直角に配置された赤外線検出器(1c
jに集光させる。赤外線検出器filには接合部(3)
より放射される赤外線の強度に応じたレベルの電気信号
が出力され、これを最高温度位置検出回路により赤外線
検出器filの最高温度の位置信号を出力する。第4図
は第3図に示した溶接部(3)の溶接部付近の表面A、
Bの温度分布(1擾を示したものであり、電縫管の
溶接直後の赤外線検出器01の出力はOを役大出力値と
して左右にほぼ対称となっている。
第5因は最高温度位置検出回路の内部回路ブロックを示
しだもので、 aeia:前述の赤外線検出器で赤外線
検出のフォトダイオードがN、−、Niまでアレイを構
成している。(ul)はアナログマルチ・スキャナ−,
(112)はアナログkMP群、 (11,3)はゲー
トスキャナー、 (114) Idタイミング回路。
しだもので、 aeia:前述の赤外線検出器で赤外線
検出のフォトダイオードがN、−、Niまでアレイを構
成している。(ul)はアナログマルチ・スキャナ−,
(112)はアナログkMP群、 (11,3)はゲー
トスキャナー、 (114) Idタイミング回路。
(115)はゲ−1・回路、 (116)は比較回路
、 (11,7)はMAXレジスタ、 (118)
けカウンタ回路である。
、 (11,7)はMAXレジスタ、 (118)
けカウンタ回路である。
赤外線検出器θQに入力した溶接部(3)より放射され
た赤外線信号はアナログ・マルチスキャナ(111,)
により、所定ブロックの信号がとり出される。とり出さ
れた個々の信号はアナログAMP回路群(112)によ
り増幅され、ゲートスキャナ(113)に渡される。ゲ
ートスキャナ(113)からはタイミング回路の指示に
従ってN1からはじ寸りN2、 N3・・・・・・と
データがとり出され比較回路(116)で前デーJ、M
AXレジスタ(1ry)の値と比較される。ここで入力
データがM A、 Xレジスタ(117)のデータより
太きければ、入力データの値をMAXレジスタ(117
)に入れ、同時にゲート(115) Kカウント信号を
送る。入力データ(d:第4図に示すように廟次上昇し
、ピークに達し下降していく。比較回路(116)では
MAXレジスタ(117)の内容が入力より小さい場合
にはゲ−) (+16)を閉じカウンタ(118)に信
号を送らない。そのためカウンタQ+8)にはピーク信
号の位置が保持されることになる。比較回路は(116
)は以上の動作をN、からNiまで行ない、カウンタに
ピーク位置を保持させる。カウンタは赤外線検出器(1
■のN1〜Niまでスキャンしてリセットされ9次々と
新しく入力されるデータについて同じ動作をくりかえし
ていく。
た赤外線信号はアナログ・マルチスキャナ(111,)
により、所定ブロックの信号がとり出される。とり出さ
れた個々の信号はアナログAMP回路群(112)によ
り増幅され、ゲートスキャナ(113)に渡される。ゲ
ートスキャナ(113)からはタイミング回路の指示に
従ってN1からはじ寸りN2、 N3・・・・・・と
データがとり出され比較回路(116)で前デーJ、M
AXレジスタ(1ry)の値と比較される。ここで入力
データがM A、 Xレジスタ(117)のデータより
太きければ、入力データの値をMAXレジスタ(117
)に入れ、同時にゲート(115) Kカウント信号を
送る。入力データ(d:第4図に示すように廟次上昇し
、ピークに達し下降していく。比較回路(116)では
MAXレジスタ(117)の内容が入力より小さい場合
にはゲ−) (+16)を閉じカウンタ(118)に信
号を送らない。そのためカウンタQ+8)にはピーク信
号の位置が保持されることになる。比較回路は(116
)は以上の動作をN、からNiまで行ない、カウンタに
ピーク位置を保持させる。カウンタは赤外線検出器(1
■のN1〜Niまでスキャンしてリセットされ9次々と
新しく入力されるデータについて同じ動作をくりかえし
ていく。
このように、この発明は電縫管(4)の最大温度位置点
すなわち溶接の中心点を検出できることから超音波探触
子(2)を溶接部(3)に位置決めできる利点がある。
すなわち溶接の中心点を検出できることから超音波探触
子(2)を溶接部(3)に位置決めできる利点がある。
さらに溶接部(3)の温度分布02は比較的鋭い変化を
するから7位置検出装置パラメータを上記温度分布にあ
わせて最適化することによって判定精度の向」二をはか
ることができる。またビードカッタで溶接部(3)の盛
り上った部分を研削した後でも同様な温度分布を有して
いるから同じような測定精度を達成できる利点がある。
するから7位置検出装置パラメータを上記温度分布にあ
わせて最適化することによって判定精度の向」二をはか
ることができる。またビードカッタで溶接部(3)の盛
り上った部分を研削した後でも同様な温度分布を有して
いるから同じような測定精度を達成できる利点がある。
以上は電縫管の溶接位置を検出する場合について説明し
たが、この発明はこれに限らず平板同志の溶接部に使用
してもよい。
たが、この発明はこれに限らず平板同志の溶接部に使用
してもよい。
以上のように、この発明は最大温度位置を検出すること
により、真の溶接部(3)の位置を検出できる上、測定
精度を向上でき、またビードカッタによる研削後も同様
に位置検出できるという効果を有する。
により、真の溶接部(3)の位置を検出できる上、測定
精度を向上でき、またビードカッタによる研削後も同様
に位置検出できるという効果を有する。
第1図は従来の溶接部の位置検出装置を示す図、第2図
は従来の検出装置を説明するための図、第3図はこの発
明の実施例を示す図、第4図はこの発明の検出装置を説
明するだめの図。 第5図はこの発明の検出装置を説明するだめのブロック
図である。図中、(1)はITVカメラ。 (2)は超音波探触子、(3)は溶接部、(4)は電縫
管。 (5)は投光器、(6)は信号処理部、(7)はビデオ
信号、(8)はビデオ信号の微分波形、(9)はレンズ
、01は赤外線検出器、aυは最高温度位置検出回路で
ある。 0は最大温度位置、 A、 Bは最大温度位置0を
はさんで互いに反対側にある電縫管表面上に位置してい
る。 なお7図中、同一あるいは相当部分には同一符号を付し
て示しである。 代理人 大岩増雄 第 2 図 第4図 れ睦
は従来の検出装置を説明するための図、第3図はこの発
明の実施例を示す図、第4図はこの発明の検出装置を説
明するだめの図。 第5図はこの発明の検出装置を説明するだめのブロック
図である。図中、(1)はITVカメラ。 (2)は超音波探触子、(3)は溶接部、(4)は電縫
管。 (5)は投光器、(6)は信号処理部、(7)はビデオ
信号、(8)はビデオ信号の微分波形、(9)はレンズ
、01は赤外線検出器、aυは最高温度位置検出回路で
ある。 0は最大温度位置、 A、 Bは最大温度位置0を
はさんで互いに反対側にある電縫管表面上に位置してい
る。 なお7図中、同一あるいは相当部分には同一符号を付し
て示しである。 代理人 大岩増雄 第 2 図 第4図 れ睦
Claims (1)
- 電縫管等の溶接位置検出装置において、溶接部近傍の領
域から放射される赤外線を赤外線検出器に集光するレン
ズ系と、赤外線を受光する赤外線検出器と、受光した赤
外線の信号出力から溶接部の表面上の温度の最高温度位
置を検出する回路とで構成されていることを特徴とする
溶接位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58068686A JPS59193348A (ja) | 1983-04-19 | 1983-04-19 | 溶接位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58068686A JPS59193348A (ja) | 1983-04-19 | 1983-04-19 | 溶接位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59193348A true JPS59193348A (ja) | 1984-11-01 |
Family
ID=13380867
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58068686A Pending JPS59193348A (ja) | 1983-04-19 | 1983-04-19 | 溶接位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59193348A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51121359A (en) * | 1975-04-16 | 1976-10-23 | Kobe Steel Ltd | Hot measurement of large-sized forging dimensions |
| JPS5626206A (en) * | 1979-08-09 | 1981-03-13 | Canon Inc | Detecting device |
-
1983
- 1983-04-19 JP JP58068686A patent/JPS59193348A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51121359A (en) * | 1975-04-16 | 1976-10-23 | Kobe Steel Ltd | Hot measurement of large-sized forging dimensions |
| JPS5626206A (en) * | 1979-08-09 | 1981-03-13 | Canon Inc | Detecting device |
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