JPS591970B2 - 多波長光検知器 - Google Patents
多波長光検知器Info
- Publication number
- JPS591970B2 JPS591970B2 JP11723676A JP11723676A JPS591970B2 JP S591970 B2 JPS591970 B2 JP S591970B2 JP 11723676 A JP11723676 A JP 11723676A JP 11723676 A JP11723676 A JP 11723676A JP S591970 B2 JPS591970 B2 JP S591970B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead wire
- detector stand
- wavelength
- detection element
- pin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は複数の検知素子を絶縁台に取付けた多波長光検
知器に関するものである。
知器に関するものである。
第１図は本発明の対象である多波長光検知器が使用され
る多波長分光光度計の平面図である。
る多波長分光光度計の平面図である。
光源ランプ１からの光はレンズ２、Ｔで集光され入射ス
リットを通つて凹面回折格子９に入射する。凹面回折格
子９に入射した白色光は分散と収斂作用を受けて連続ス
ペクトルをローランド円上に結像する。したがつて、第
１図の如くフレキシブルチェーン４に多数の試験管を取
付けて被検試料を入れてその吸光度を上記多波長分光光
度計で検知すれば、試料中の複数成分量を同時にかつ迅
速に測定することができる。なお、試験管は水槽８に浸
漬して測光された後モータ６で回転するスプロケット５
で移動させられる。多波長光検知器１０は絶縁材に多数
の検知素子１１〜２０が取付けられているものである。
第２図は現在試みられている多波長光検知器の平面図で
あり、第３図はそれの止面図である。
リットを通つて凹面回折格子９に入射する。凹面回折格
子９に入射した白色光は分散と収斂作用を受けて連続ス
ペクトルをローランド円上に結像する。したがつて、第
１図の如くフレキシブルチェーン４に多数の試験管を取
付けて被検試料を入れてその吸光度を上記多波長分光光
度計で検知すれば、試料中の複数成分量を同時にかつ迅
速に測定することができる。なお、試験管は水槽８に浸
漬して測光された後モータ６で回転するスプロケット５
で移動させられる。多波長光検知器１０は絶縁材に多数
の検知素子１１〜２０が取付けられているものである。
第２図は現在試みられている多波長光検知器の平面図で
あり、第３図はそれの止面図である。
検知素子の取付状況を示すために第３図のＡ−Ａ笥面を
示したものが第４図であり、第５図は検知素子たけの拡
大断面図である。第５図において、検知素子１５は半導
体よりなる感光体２８が絶縁体２９の凹所に嵌め込まれ
てリード針２４に接続している。
示したものが第４図であり、第５図は検知素子たけの拡
大断面図である。第５図において、検知素子１５は半導
体よりなる感光体２８が絶縁体２９の凹所に嵌め込まれ
てリード針２４に接続している。
また、検知素子１５の上下にはピン孔２３が設けてある
。この検知素子１５を検知器台２１に取付けるには、セ
ラミック材より成る検知器台２１の凹所の所定の位置に
検知素子１５を嵌め込み、予め検知器台２１に加工して
ある盲孔とピン孔２３を合致させて直径０．８ｍｍのピ
ンを打ち込む。その前にリード針２４にはコネクターピ
ン２５をかぶせてｂ個所をハンダ付けして置きそれを検
知器台２１の孔に通す。次に、外部リード線２Ｔを圧縮
接続した雌コネクタ２６をコネクターピン２５に嵌め込
みａ部分をハンダ付けする。このようにすれば、感光体
２８に受けた波長光による電気信号を外部リード線２Ｔ
から取り出すことができる。多波長光検知器１０はこの
ような検知素子を多数取付けたものである。上記構造の
多波長光検知器には次のような欠点があつた。
。この検知素子１５を検知器台２１に取付けるには、セ
ラミック材より成る検知器台２１の凹所の所定の位置に
検知素子１５を嵌め込み、予め検知器台２１に加工して
ある盲孔とピン孔２３を合致させて直径０．８ｍｍのピ
ンを打ち込む。その前にリード針２４にはコネクターピ
ン２５をかぶせてｂ個所をハンダ付けして置きそれを検
知器台２１の孔に通す。次に、外部リード線２Ｔを圧縮
接続した雌コネクタ２６をコネクターピン２５に嵌め込
みａ部分をハンダ付けする。このようにすれば、感光体
２８に受けた波長光による電気信号を外部リード線２Ｔ
から取り出すことができる。多波長光検知器１０はこの
ような検知素子を多数取付けたものである。上記構造の
多波長光検知器には次のような欠点があつた。
即ち、多数の検知素子を検知器台に取付けるには、取付
け場所に設けた盲孔と検知素子のピン孔とを合わせて位
置決めピン３０を打ち込まなければならない。取扱う部
材は極めて小形であるのでこの作業が非常に面倒で時間
を要していた。また、ｎ個の検知素子に２ｎ個リード線
を取付けるには４ｎ個所をハンダ付けしなければならな
い。この作業が面倒であると共にハンダ付箇所が多いこ
とは故障の原因が生じ易く信頼性が低下する。本発明の
目的は、上記従来の欠点を除き、構造が簡単で作業が容
易であり、しかも信頼性が高い多波長光検知器を提供す
るにある。
け場所に設けた盲孔と検知素子のピン孔とを合わせて位
置決めピン３０を打ち込まなければならない。取扱う部
材は極めて小形であるのでこの作業が非常に面倒で時間
を要していた。また、ｎ個の検知素子に２ｎ個リード線
を取付けるには４ｎ個所をハンダ付けしなければならな
い。この作業が面倒であると共にハンダ付箇所が多いこ
とは故障の原因が生じ易く信頼性が低下する。本発明の
目的は、上記従来の欠点を除き、構造が簡単で作業が容
易であり、しかも信頼性が高い多波長光検知器を提供す
るにある。
本発明の要点は、位置決めピンを検知素子に装置してお
きこれをピン孔に打ち込むこと、および、検知素子に取
付けたリード線を長くしてこれに外部リード線を圧接ハ
ンダ付けすることによつて、作業の簡便と信頼性の向上
を計つたことである。
きこれをピン孔に打ち込むこと、および、検知素子に取
付けたリード線を長くしてこれに外部リード線を圧接ハ
ンダ付けすることによつて、作業の簡便と信頼性の向上
を計つたことである。
第６図は本発明の一実施例である多波長光検知器の断面
図であり、第７図はその検知素子だけの拡大断面図であ
る。第７図において、位置決めピン３０は検知素子台に
埋め込み固定されており、コネクターピン２５は検知器
台２１の厚さよりも長くしてある点が第５図と異なつて
いる。この検出素子は第６図の如く検知器台２１に設け
た盲孔に位置決めピン３０を挿し込んで取付ける。コネ
ニクタピン２５は検知器台２１の背面に出るので、こ
れに外部リード線２７を圧接した雌コネクタ２６を挿し
込んでＣ点をハンダ付けする。この場合の取付作業時間
は従来の１／３に短縮できた。本実施例は検知素子の取
付けが簡単でハンダ付ｊ箇所が半減し信頼性が向上する
という効果がある。第８図は本発明の他の実施例である
多波長光検知器の断面図である。検知素子にはピン兼用
りード線３１が絶縁体２９に埋め込み固定されており、
その先端は感光体２８に接続されている。この検知素子
のピン兼用リード線３１をセラミツク材より成る検知器
台２１の孔に通して取付ける。外部リード線２７をピン
兼用リード線３１に圧接するかハンダ付けすれば良い。
本実施例はコネクターピンを必要とせず、検知素子の取
付作業が更に簡略化されるという効果がある。
図であり、第７図はその検知素子だけの拡大断面図であ
る。第７図において、位置決めピン３０は検知素子台に
埋め込み固定されており、コネクターピン２５は検知器
台２１の厚さよりも長くしてある点が第５図と異なつて
いる。この検出素子は第６図の如く検知器台２１に設け
た盲孔に位置決めピン３０を挿し込んで取付ける。コネ
ニクタピン２５は検知器台２１の背面に出るので、こ
れに外部リード線２７を圧接した雌コネクタ２６を挿し
込んでＣ点をハンダ付けする。この場合の取付作業時間
は従来の１／３に短縮できた。本実施例は検知素子の取
付けが簡単でハンダ付ｊ箇所が半減し信頼性が向上する
という効果がある。第８図は本発明の他の実施例である
多波長光検知器の断面図である。検知素子にはピン兼用
りード線３１が絶縁体２９に埋め込み固定されており、
その先端は感光体２８に接続されている。この検知素子
のピン兼用リード線３１をセラミツク材より成る検知器
台２１の孔に通して取付ける。外部リード線２７をピン
兼用リード線３１に圧接するかハンダ付けすれば良い。
本実施例はコネクターピンを必要とせず、検知素子の取
付作業が更に簡略化されるという効果がある。
以上本発明は、検知器台に検知素子を取付ける作業を簡
単容易にすると共に、ハンダ付け箇所を減少させて信頼
性を向上させるという効果がある。
単容易にすると共に、ハンダ付け箇所を減少させて信頼
性を向上させるという効果がある。
第１図は多波長分光光度計の平面図、第２図は現在試み
られている多波長光検知器の平面図、第３図は第２図の
正面図、第４図は第３図のＡ−Ｎ断面図、第５図は第４
図の倹知素子の拡大断面図、第６図は本発明の一実施例
である多波長光検知器の断面図、第７図は第６図の検知
素子の拡大断面図、第８図は本発明の他の実施例である
多波長光検知器の断面図である。 符号の説明、１・・・・・・光源ランプ、２，７・・・
・・・レンズ、３・・・・・・試験管、９・・・・・・
凹面回折格子、１０・・・・・・多波長光検知器、１１
〜２０・・・・・・検知素子、２１・・・・・・検知器
台、２４・・・・・・リード線、２７・・・・・・外部
リード線、２８・・・・・・感光体、２９・・・・・・
絶縁体、３０・・・・・一位置決めピン、３１・・・・
・・ピン兼用リード線。
られている多波長光検知器の平面図、第３図は第２図の
正面図、第４図は第３図のＡ−Ｎ断面図、第５図は第４
図の倹知素子の拡大断面図、第６図は本発明の一実施例
である多波長光検知器の断面図、第７図は第６図の検知
素子の拡大断面図、第８図は本発明の他の実施例である
多波長光検知器の断面図である。 符号の説明、１・・・・・・光源ランプ、２，７・・・
・・・レンズ、３・・・・・・試験管、９・・・・・・
凹面回折格子、１０・・・・・・多波長光検知器、１１
〜２０・・・・・・検知素子、２１・・・・・・検知器
台、２４・・・・・・リード線、２７・・・・・・外部
リード線、２８・・・・・・感光体、２９・・・・・・
絶縁体、３０・・・・・一位置決めピン、３１・・・・
・・ピン兼用リード線。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 検知器台の所定場所に複数の検知素子を設置し、上
記検知素子の感光体の位置が分光器のスペクトル結像場
所に合致するように配置される多波長光検知器において
、上記検知素子に固定した信号取出し用リード線の長さ
を上記検知器台の厚さよりも大とし、外部リード線と検
知器台外において接続することを特徴とする多波長光検
知器。 ２ 特許請求の範囲第１項において、上記検知素子は位
置決めピンを備え、上記検知器台は上記位置決めピンに
合致するピン孔を備えたことを特徴とする多波長光検知
器。 ３ 特許請求の範囲第１項において、上記検知素子の信
号引出し用リード線を上記検知器台の上記リード線通過
孔に密着させ、上記検知器台と上記検知素子とを一体に
構成したことを特徴とする多波長光検知器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11723676A JPS591970B2 (ja) | 1976-10-01 | 1976-10-01 | 多波長光検知器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11723676A JPS591970B2 (ja) | 1976-10-01 | 1976-10-01 | 多波長光検知器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5343579A JPS5343579A (en) | 1978-04-19 |
| JPS591970B2 true JPS591970B2 (ja) | 1984-01-14 |
Family
ID=14706743
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11723676A Expired JPS591970B2 (ja) | 1976-10-01 | 1976-10-01 | 多波長光検知器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS591970B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5592661A (en) * | 1978-12-28 | 1980-07-14 | Ueno Seiyaku Oyo Kenkyusho:Kk | Coated fumaric acid preparation for food or feed additive and its production |
| JPS59146577A (ja) * | 1983-02-08 | 1984-08-22 | Ajinomoto Co Inc | チルド流通調理食品の保存法 |
| EP1041372B1 (de) * | 1999-04-01 | 2006-03-01 | Gretag-Macbeth AG | Spektrometer |
| US20220034792A1 (en) * | 2018-12-20 | 2022-02-03 | Hitachi High-Tech Corporation | Spectrophotometer, spectrometer, and method of manufacturing spectrophotometer |
-
1976
- 1976-10-01 JP JP11723676A patent/JPS591970B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5343579A (en) | 1978-04-19 |
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