JPS59197854A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
- Publication number
- JPS59197854A JPS59197854A JP58072083A JP7208383A JPS59197854A JP S59197854 A JPS59197854 A JP S59197854A JP 58072083 A JP58072083 A JP 58072083A JP 7208383 A JP7208383 A JP 7208383A JP S59197854 A JPS59197854 A JP S59197854A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- image
- signal
- ultrasonic
- address
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
- G01N29/0618—Display arrangements, e.g. colour displays synchronised with scanning, e.g. in real-time
- G01N29/0627—Cathode-ray tube displays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02854—Length, thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は金属材料等の被恢査体の内部に存在する欠陥等
の位置９分布、及び大きさを検出する超音波探傷装置の
Ｃ二関する。
の位置９分布、及び大きさを検出する超音波探傷装置の
Ｃ二関する。
［発明の技術的背景とその問題点］
新しい超音波探傷方法としての電子走査型超音波探傷法
は、超音波ビームの集束、偏向及び走査を電子的に高速
制御することで、被検査体内部の欠陥等の分布を実時間
でＢノコ−１表示し、超音波探傷による内部欠陥等の有
無９分布及び形状等に対する判断を容易にするととＣ二
ｑ！ｆ徴がある。
は、超音波ビームの集束、偏向及び走査を電子的に高速
制御することで、被検査体内部の欠陥等の分布を実時間
でＢノコ−１表示し、超音波探傷による内部欠陥等の有
無９分布及び形状等に対する判断を容易にするととＣ二
ｑ！ｆ徴がある。
しかしながら被検査体内部のＢスコープ表示は、そのア
レイ型探触子位置に於ける一断面像を表示しているζ二
すぎないｏｔた、方向性を有するワレなどの欠陥は、そ
の欠陥の面Ｃ二対し特定方向からの縮量探傷でしか検出
できない。そのためこのような欠陥孟二対しては、探触
子を移動させ、欠陥等に対する、超音波の探傷方向を多
角度に変えて行なわなければならないが、探触子の移動
に伴ないＢノコ−１表示ｌ二於ける欠陥の画像表示も移
動する為、検査者の判断を困難にしている０特に、多方
向性の欠陥等である場合、探偵方向によって欠陥が表示
されたり、されなかったりするため、同一欠陥であるの
か、近接する別個の欠陥であるのか、判断が固辞である
。それら欠陥が、有害であるか否かの判断を行なううえ
で欠陥の位置１分布、形状等を高精度で検出することが
、不可欠であり、また検査効率の面からもそれら情報が
容易に得られる超音波探傷装置が要求されている０ ［発明の目的］ 本発明は上記のような要請（＝応じてなされたものであ
り方向性のある欠陥等Ｃ二対しても欠陥の位置はもとよ
り、その形状、大きさ及び分布等の情報を容易に得るこ
とのできる超音波探傷装置を提供する仁とを目的とする
。
レイ型探触子位置に於ける一断面像を表示しているζ二
すぎないｏｔた、方向性を有するワレなどの欠陥は、そ
の欠陥の面Ｃ二対し特定方向からの縮量探傷でしか検出
できない。そのためこのような欠陥孟二対しては、探触
子を移動させ、欠陥等に対する、超音波の探傷方向を多
角度に変えて行なわなければならないが、探触子の移動
に伴ないＢノコ−１表示ｌ二於ける欠陥の画像表示も移
動する為、検査者の判断を困難にしている０特に、多方
向性の欠陥等である場合、探偵方向によって欠陥が表示
されたり、されなかったりするため、同一欠陥であるの
か、近接する別個の欠陥であるのか、判断が固辞である
。それら欠陥が、有害であるか否かの判断を行なううえ
で欠陥の位置１分布、形状等を高精度で検出することが
、不可欠であり、また検査効率の面からもそれら情報が
容易に得られる超音波探傷装置が要求されている０ ［発明の目的］ 本発明は上記のような要請（＝応じてなされたものであ
り方向性のある欠陥等Ｃ二対しても欠陥の位置はもとよ
り、その形状、大きさ及び分布等の情報を容易に得るこ
とのできる超音波探傷装置を提供する仁とを目的とする
。
［発明の概要］
本発明の超音波探傷装置は、アレイ型探触子を用いた電
子走査型超音波探傷器によす、イル検査体内部を多方向
の超音波ビームで走食し、その探触子位置での断面像を
得ると共に、アレイ型探触子を移動でせ、探触子の移動
と連動して動作する位置検出器ｆ二より探触子移動量（
に相当した断面像のシフトを画像メモリ上で行なうと共
Ｃ二、前アレイ型探傷予信組での断面像と加算し、各ア
レイ型探触子位置での断面像を合成し、被検査体内部の
欠陥等に対し、同時に多方向からの超音波ビームで探傷
されたのと向じ探傷画像を表示し、欠陥の位ｊ４．大き
さ１分布、形状等を画像表示するようＣ−したものであ
る。
子走査型超音波探傷器によす、イル検査体内部を多方向
の超音波ビームで走食し、その探触子位置での断面像を
得ると共に、アレイ型探触子を移動でせ、探触子の移動
と連動して動作する位置検出器ｆ二より探触子移動量（
に相当した断面像のシフトを画像メモリ上で行なうと共
Ｃ二、前アレイ型探傷予信組での断面像と加算し、各ア
レイ型探触子位置での断面像を合成し、被検査体内部の
欠陥等に対し、同時に多方向からの超音波ビームで探傷
されたのと向じ探傷画像を表示し、欠陥の位ｊ４．大き
さ１分布、形状等を画像表示するようＣ−したものであ
る。
実施例
以下本発明の一実施例について図面を参照して説明する
。第１図は本発明の一実施例の超音波探傷装置の構成を
ブロック的に示したものである。
。第１図は本発明の一実施例の超音波探傷装置の構成を
ブロック的に示したものである。
図（二於いて、直ｔ９状に配列された複数個の振動子を
有するアレイ型探触子１は電子走を型超音波探傷器２の
超音波送受信器と接続され、電子走査型超音波探傷器２
はアレイ型探触子１の作動する複数の超音波振動子の送
受信の時間的なタイミングを制御し板検肯体３内部へ超
音波ビームを電子的Ｃ二高速で集束、偏向走査させ、そ
の超音波ビームの偏向走査Ｃ応じた被検置体３の内部断
面１６！を画像表示するよう構成されると共に、超音波
ビームイ１ＩＩＩ向走査（ｉ７号２８及び、その超音波
ビーム走を位置−二於ける超音波受信号２ｂとビーム路
程信号２Ｃ２並びに、くり返し超音波ビーム偏向走査を
行なう際の基準どなる偏向走査基準信号２ｄを外部へデ
ジタル信号で出力するよう構成されている。
有するアレイ型探触子１は電子走を型超音波探傷器２の
超音波送受信器と接続され、電子走査型超音波探傷器２
はアレイ型探触子１の作動する複数の超音波振動子の送
受信の時間的なタイミングを制御し板検肯体３内部へ超
音波ビームを電子的Ｃ二高速で集束、偏向走査させ、そ
の超音波ビームの偏向走査Ｃ応じた被検置体３の内部断
面１６！を画像表示するよう構成されると共に、超音波
ビームイ１ＩＩＩ向走査（ｉ７号２８及び、その超音波
ビーム走を位置−二於ける超音波受信号２ｂとビーム路
程信号２Ｃ２並びに、くり返し超音波ビーム偏向走査を
行なう際の基準どなる偏向走査基準信号２ｄを外部へデ
ジタル信号で出力するよう構成されている。
また、アレイ型探触子ｉｔ二は、その移動量を検出する
位置検出器４が連結されており、探触子移動量を也気侶
号として得られるよう構成している。
位置検出器４が連結されており、探触子移動量を也気侶
号として得られるよう構成している。
位置検出器４としては、ポテンショメータ、差動トラン
ス、磁気スケール、パルスエンコーダ等を使用できるが
、操作性５価格の面からリニアポテンショメーターを用
いるのがよい。
ス、磁気スケール、パルスエンコーダ等を使用できるが
、操作性５価格の面からリニアポテンショメーターを用
いるのがよい。
電子走査型超音波探傷器２より出力さ第１．た偏向走査
信号２ａ、ビーム路程信号２Ｃは位置検出器４からの探
触子位置信号４ａと共に、テータ書込み用のアドレス変
換回路５へ入力され、画像メモリ６の書込用アドレス信
号５ａとしてアドレス切換回路７を介し前記画像メモリ
６の所定のアドレスを選定し、そのアドレスの記１．６
内で６ａと前配電子走食型超音波探傷ＩＳ２より荀られ
た超音波受信号２ｂを信号加算器８１二より加算し、再
度画像メモリ６へ記憶される。この時、超音波受信号２
ｂは、超音波ビーム偏向走査信号２ａ 、ビーム路程信
号２Ｃ及び探触子位置信号４ａｌ二応じ／ζ固体メモリ
６のアドレスへ加算記憶され、各探触位置での同面体の
合成が、画像メモリ６上で行なわれる。このとき表示用
アドレス発生回路９ｆ二より、表示用アドレス信号９ａ
がアドレス切換回路７を介しｉｉ！＋＋ １隊メモリ６
へ入力されることで画像メモリ６はそのアドレスの画像
信号６ａを表示用アドレス信号９ａと共Ｃ二表示装置Ｉ
Ｏへ順次出力する。表示装置１０は、表示用アドレス信
号９ａｌ二より、探傷範囲【二対応してＣＲＴ等の画像
表示器上を順次走査し、その走査線上で前記画像メモリ
６から読み出された、画像信号６ａにより輝度変調させ
、合成された断面像の画像表示を行う。
信号２ａ、ビーム路程信号２Ｃは位置検出器４からの探
触子位置信号４ａと共に、テータ書込み用のアドレス変
換回路５へ入力され、画像メモリ６の書込用アドレス信
号５ａとしてアドレス切換回路７を介し前記画像メモリ
６の所定のアドレスを選定し、そのアドレスの記１．６
内で６ａと前配電子走食型超音波探傷ＩＳ２より荀られ
た超音波受信号２ｂを信号加算器８１二より加算し、再
度画像メモリ６へ記憶される。この時、超音波受信号２
ｂは、超音波ビーム偏向走査信号２ａ 、ビーム路程信
号２Ｃ及び探触子位置信号４ａｌ二応じ／ζ固体メモリ
６のアドレスへ加算記憶され、各探触位置での同面体の
合成が、画像メモリ６上で行なわれる。このとき表示用
アドレス発生回路９ｆ二より、表示用アドレス信号９ａ
がアドレス切換回路７を介しｉｉ！＋＋ １隊メモリ６
へ入力されることで画像メモリ６はそのアドレスの画像
信号６ａを表示用アドレス信号９ａと共Ｃ二表示装置Ｉ
Ｏへ順次出力する。表示装置１０は、表示用アドレス信
号９ａｌ二より、探傷範囲【二対応してＣＲＴ等の画像
表示器上を順次走査し、その走査線上で前記画像メモリ
６から読み出された、画像信号６ａにより輝度変調させ
、合成された断面像の画像表示を行う。
画像メモリ６への超音波受信号２ｂの曹き込み及び表示
装置用への読出しのタイミングの制ｆ４１は、電子走査
型超音波探傷器２より出力された、偏向走査基準信号２
ｄと位置検出器４より出力はれた、探触子位置信号４ａ
の同期を同期回路１１によりとり、それを基準として、
タイミング発生回路１２によりｉＩｊ＋４像メモリ６へ
の書き込み読みだし制御信号１２ａ及び表示用アドレス
発生制御信号１２ｂ、♀１き通用アドレス信号５ａと表
示用アドレス９ａの切侠制御信号により行ガう。
装置用への読出しのタイミングの制ｆ４１は、電子走査
型超音波探傷器２より出力された、偏向走査基準信号２
ｄと位置検出器４より出力はれた、探触子位置信号４ａ
の同期を同期回路１１によりとり、それを基準として、
タイミング発生回路１２によりｉＩｊ＋４像メモリ６へ
の書き込み読みだし制御信号１２ａ及び表示用アドレス
発生制御信号１２ｂ、♀１き通用アドレス信号５ａと表
示用アドレス９ａの切侠制御信号により行ガう。
このように構成した超音波探傷装置（−おける画像合成
について、第２図を用いて説明する。被検査体３の表面
上に電子走査型超音波探傷器２に接続されたアレイ型探
触子１を配訪し、被検査体３の円部を多角度の縮量仮ビ
ーム≦−より高速Ｃ二走査し、かつあらかじめ設定され
た所定の探傷範囲１３に対し多角度からの超音波ビーム
で走査するよう、アレイ型探触子１を少なくともＰ０〜
Ｐ、ｎの範囲以上移動させ被検査体３の探傷を行なう。
について、第２図を用いて説明する。被検査体３の表面
上に電子走査型超音波探傷器２に接続されたアレイ型探
触子１を配訪し、被検査体３の円部を多角度の縮量仮ビ
ーム≦−より高速Ｃ二走査し、かつあらかじめ設定され
た所定の探傷範囲１３に対し多角度からの超音波ビーム
で走査するよう、アレイ型探触子１を少なくともＰ０〜
Ｐ、ｎの範囲以上移動させ被検査体３の探傷を行なう。
アレイ型探触子１の任意の位儀ｇ Ｐ、 ｌ二於いて、
探触子１の中心からθ方向の超音波ビームで探傷した時
、超音波受信号２ｂは、超音波ビーム走査線上のＲ点ｇ
−欠陥等があれは、送（ｍパルスＴからビーム路程ｒた
け遅れて、欠陥からの反射エコーＦが受信され、従って
ビーム路ｇｒ及び超音波ビーム偏向角θＣより、欠陥の
位１ｄ％ Ｒ（ｘ、、９）を５次のようｇ二求められる
。
探触子１の中心からθ方向の超音波ビームで探傷した時
、超音波受信号２ｂは、超音波ビーム走査線上のＲ点ｇ
−欠陥等があれは、送（ｍパルスＴからビーム路程ｒた
け遅れて、欠陥からの反射エコーＦが受信され、従って
ビーム路ｇｒ及び超音波ビーム偏向角θＣより、欠陥の
位１ｄ％ Ｒ（ｘ、、９）を５次のようｇ二求められる
。
次Ｉ：、Ｐｏ−Ｐｍ及び（Ｄ＋α）の領域で示される探
傷範囲１．３１一対応するＭ（ｍ、ｄ＋α）の大きさの
マトリックス状画像メモリ６を構成し、超音波ビーム走
査線上ｆ一対応する、画像メモリ６のマトリックスセル
１４上に超音波受信号２ｂを書き込み、その探触子位置
Ｐｎｌ二於ける、超音波ビーム偏向走査範囲すべてにつ
いて順次書き込みを行なう。尚、画像メモリ６のマトリ
ックスセル１４へ超音波受信号２ｂの■き込みを行なう
場合、そのマトリックスセル１４上の前探触子位置Ｐｎ
−１で′；！、き込まれた、超音波受信号２ｂと加算さ
れた後、同一マトリックスセル１４へ招き込みを行ない
、所定探触子位置まで探触子を移動するとと１＝、前記
動作をくり返し行なう。
傷範囲１．３１一対応するＭ（ｍ、ｄ＋α）の大きさの
マトリックス状画像メモリ６を構成し、超音波ビーム走
査線上ｆ一対応する、画像メモリ６のマトリックスセル
１４上に超音波受信号２ｂを書き込み、その探触子位置
Ｐｎｌ二於ける、超音波ビーム偏向走査範囲すべてにつ
いて順次書き込みを行なう。尚、画像メモリ６のマトリ
ックスセル１４へ超音波受信号２ｂの■き込みを行なう
場合、そのマトリックスセル１４上の前探触子位置Ｐｎ
−１で′；！、き込まれた、超音波受信号２ｂと加算さ
れた後、同一マトリックスセル１４へ招き込みを行ない
、所定探触子位置まで探触子を移動するとと１＝、前記
動作をくり返し行なう。
以上の動作Ｃ二より、超音波探傷範囲１３内（二ついて
、多方向からの超音波ビームによる超音波受信号２ｂを
１ＩＩＩｌ像メモリ６上で位相加算さｆＬ１各アレイ型
探触子位予信、での超音波ビーム偏向走査による断面像
の合成がなされるものである。従って、画像メモリ６の
マトリックスセルの構成は、被検査体３を伝播する超音
波の波長λの少なくとも局以下の分解能で構成する必要
がある０尚超音波探傷範囲１３には％を二制限はないが
、使用する画像メモリ６の各章で上限が決定される。す
なわち、広い探傷範囲を必要とするなら、大容量の画像
メモリを用意すれば良い。
、多方向からの超音波ビームによる超音波受信号２ｂを
１ＩＩＩｌ像メモリ６上で位相加算さｆＬ１各アレイ型
探触子位予信、での超音波ビーム偏向走査による断面像
の合成がなされるものである。従って、画像メモリ６の
マトリックスセルの構成は、被検査体３を伝播する超音
波の波長λの少なくとも局以下の分解能で構成する必要
がある０尚超音波探傷範囲１３には％を二制限はないが
、使用する画像メモリ６の各章で上限が決定される。す
なわち、広い探傷範囲を必要とするなら、大容量の画像
メモリを用意すれば良い。
また、第２図のように、探傷範囲１３を被検査体３の厚
さＤ以上Ｃ二することも、厚さＤ以内とすることも本実
施例に於いて、何ら支障はないものである。
さＤ以上Ｃ二することも、厚さＤ以内とすることも本実
施例に於いて、何ら支障はないものである。
一方画像メモリ６上で画像合りスされた、探傷範囲１３
の断面像は、画像メモリ６のマトリックスセル１４をｌ
１ｆｉ次睨み出し、そのマトリックスセル１４のアドレ
ス情報Ｃ二対応させ、ＣＲＴ’％の画像表示器上を走賢
し、そのアドレスのマトリックスセル１４の記憶内容即
ち、位相加算された超音波受信号の信号レベルで輝度変
調がみることにより％茨示器へ画像合成された、断面像
が表示される。
の断面像は、画像メモリ６のマトリックスセル１４をｌ
１ｆｉ次睨み出し、そのマトリックスセル１４のアドレ
ス情報Ｃ二対応させ、ＣＲＴ’％の画像表示器上を走賢
し、そのアドレスのマトリックスセル１４の記憶内容即
ち、位相加算された超音波受信号の信号レベルで輝度変
調がみることにより％茨示器へ画像合成された、断面像
が表示される。
尚、この画像表示装置１０は、画像メモリ６に記憶され
ているイぎ号レベルで輝度変調して画像表示する階調表
示及び所定信号レベルでディスクリされた、２値化信号
で輝度変調して画像表示する２値化表示のいずれについ
ても切り換えて表示可能なよう構成されていることをつ
け加えておく。
ているイぎ号レベルで輝度変調して画像表示する階調表
示及び所定信号レベルでディスクリされた、２値化信号
で輝度変調して画像表示する２値化表示のいずれについ
ても切り換えて表示可能なよう構成されていることをつ
け加えておく。
さらに、画像合成するときのアレイ創探触子位置Ｐｎの
間隔は、探傷範囲１３の深さ方向り十〇が小さい場合、
即ち被検査体３の表面から浅い所を検査対象とする場合
には、短かいビーム路程ｒ′の特定な点Ｒ′と探触子中
心とを結ぶ線上を通る超音波ビームの偏向角θが、わず
かな探触子移動量で大きく変化するため、探触子の移動
間隔は、小さくする必要がある。逆に、検青対象領域か
深い領域、即ち、長いビーム路程ｒ″の特定な点Ｒ″で
は、そのＲ″と探触子中心を結ぶ線上を通る超音波ビー
ムの偏向角θは、探触子移動量を太きくしないと変化し
ないので、探触子移動間隔を大きくとることが出来る。
間隔は、探傷範囲１３の深さ方向り十〇が小さい場合、
即ち被検査体３の表面から浅い所を検査対象とする場合
には、短かいビーム路程ｒ′の特定な点Ｒ′と探触子中
心とを結ぶ線上を通る超音波ビームの偏向角θが、わず
かな探触子移動量で大きく変化するため、探触子の移動
間隔は、小さくする必要がある。逆に、検青対象領域か
深い領域、即ち、長いビーム路程ｒ″の特定な点Ｒ″で
は、そのＲ″と探触子中心を結ぶ線上を通る超音波ビー
ムの偏向角θは、探触子移動量を太きくしないと変化し
ないので、探触子移動間隔を大きくとることが出来る。
従って探触子の移動間隔は、探侮範囲１３内の対象とす
る特定領域の深さ方向Ｃ二対する表面からの最小距離に
よって決定すれば良く、画像メモリ６のマトリックス構
成には、何ら開力しないものである。
る特定領域の深さ方向Ｃ二対する表面からの最小距離に
よって決定すれば良く、画像メモリ６のマトリックス構
成には、何ら開力しないものである。
尚本発明の朴”１成によれは、第４図にボしたように被
検査体３へ入射された超音波ビームは、探傷面と反対の
面で反射し伝播するが、その伝播径路は幾何学的に容易
に求められるため、被検査体３の反射面の形状寸法を記
憶して赴くことにより、超音波伝播径路上の任倉の点Ｒ
（ｘ、 、ｙ ）の位置を答易ζ二知り得るため、この
ような反射した超音波ビームＣ二よる画像合成Ｃ１適用
し得るものである。
検査体３へ入射された超音波ビームは、探傷面と反対の
面で反射し伝播するが、その伝播径路は幾何学的に容易
に求められるため、被検査体３の反射面の形状寸法を記
憶して赴くことにより、超音波伝播径路上の任倉の点Ｒ
（ｘ、 、ｙ ）の位置を答易ζ二知り得るため、この
ような反射した超音波ビームＣ二よる画像合成Ｃ１適用
し得るものである。
従って、第５図（ａ）に示したような形状の欠陥１５（
二対して本発明を適用するととＣ二より、欠陥１５に対
し探傷面方向からの超音波ビームのみで面」像合成した
場合第５１Ｘｌ（＋））のよつｌ−１欠陥１５０１部分
しか表示されないが、探傷面と反対側の面で反射させた
、超音波ビームをも使用するととＣ二より、第５図（Ｃ
）のよう【−１欠陥Ｊ５の形状に対応した画像を合成す
ることができる。
二対して本発明を適用するととＣ二より、欠陥１５に対
し探傷面方向からの超音波ビームのみで面」像合成した
場合第５１Ｘｌ（＋））のよつｌ−１欠陥１５０１部分
しか表示されないが、探傷面と反対側の面で反射させた
、超音波ビームをも使用するととＣ二より、第５図（Ｃ
）のよう【−１欠陥Ｊ５の形状に対応した画像を合成す
ることができる。
さら（二、２■６図１二示したように、アレイ型探触子
１を二個使用する二探触子法ｆ二於いても、探触子間圧
ｍｌｉ ” ＋超音波送信用探触子１ａの超音波ビーム
偏向角θ１．縮量波受悄用探触子１ｂの超晋波ビ □
−ム偏向角θ２及び超音波ビーム路程ｒｌ＋ｒ９により
、超音波伝播径路上のＲ（あ１．）点の位置を幾何学的
に求めることが可能であり、従って本発明（＝よる画像
合成な二探触子法にも適用しつるものである。
１を二個使用する二探触子法ｆ二於いても、探触子間圧
ｍｌｉ ” ＋超音波送信用探触子１ａの超音波ビーム
偏向角θ１．縮量波受悄用探触子１ｂの超晋波ビ □
−ム偏向角θ２及び超音波ビーム路程ｒｌ＋ｒ９により
、超音波伝播径路上のＲ（あ１．）点の位置を幾何学的
に求めることが可能であり、従って本発明（＝よる画像
合成な二探触子法にも適用しつるものである。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明の超音波探傷装置において
は任意に設定された探触子位置の被検査体断面像を画像
メモリへ記憶し、探触子と連動して作動する捺触予信置
検出器Ｃ二より所定探触子位置での断面像を画像メモリ
上で位相加算すること５二より多角度からの超音波ビー
ムで得られる被倹丘体の合成断面像が第３図へ示したよ
うに画像表示されるよう超音波探傷装置を構成したので
、従来の電子走葺型縮量波探偽装置に比べ、被検査体内
部欠陥の位置１分布、大きさ及び形状等が容易に得られ
、測定精度も向上すると共【二検査効率が向上する利点
がある。％Ｃ二、多方向性の欠陥Ｃ二対しても容易にそ
の形状及び大きさが画像表示されるため欠陥に対する検
査者の判断が容易となる。
は任意に設定された探触子位置の被検査体断面像を画像
メモリへ記憶し、探触子と連動して作動する捺触予信置
検出器Ｃ二より所定探触子位置での断面像を画像メモリ
上で位相加算すること５二より多角度からの超音波ビー
ムで得られる被倹丘体の合成断面像が第３図へ示したよ
うに画像表示されるよう超音波探傷装置を構成したので
、従来の電子走葺型縮量波探偽装置に比べ、被検査体内
部欠陥の位置１分布、大きさ及び形状等が容易に得られ
、測定精度も向上すると共【二検査効率が向上する利点
がある。％Ｃ二、多方向性の欠陥Ｃ二対しても容易にそ
の形状及び大きさが画像表示されるため欠陥に対する検
査者の判断が容易となる。
また電子走査法の実時間でＥ１俗表示する長所を残シ２
、探触子移！ｌｉ＋、＋に伴ない画像メモリ上でノＩＭ
次画仰合成すると共ｌ二、合成された断面像を実時間で
画像表示するようイを成したので、従来の電子走査法に
比べ検査効率が向上すると共に、欠陥ｆ二対する判断を
容易ｆ二する利点がある。
、探触子移！ｌｉ＋、＋に伴ない画像メモリ上でノＩＭ
次画仰合成すると共ｌ二、合成された断面像を実時間で
画像表示するようイを成したので、従来の電子走査法に
比べ検査効率が向上すると共に、欠陥ｆ二対する判断を
容易ｆ二する利点がある。
第１図は本発明の一笑施例のトロ昔波抹傷装置のブロッ
ク回、第２図及び第３図はル１図で示した装置の画像合
成の作用を説明する説明図、第４図用５図及び第６図は
本発明」の縮量阪探傷装を行の応用例を示す説明図であ
る。 １・・・アレイ型探触子、 ２・・・電子走食型岨音波探領器、３・・・被検査体、
４・・位置検出器、 ５・・・アドレス変換回路、
６・・・画像メモリ、 ７・・・アドレス切換回路
、８・・・信号加算器、９・・・表示用アドレス発生回
路、１０・・・１１ｂ１像表示装置、−Ｊ、Ｉ・・・同
期回路、１２・・・タイミング発生回路、１３・・探傷
範囲、１４・・・画像メモリマトリクスセル、１５・・
・欠陥。
ク回、第２図及び第３図はル１図で示した装置の画像合
成の作用を説明する説明図、第４図用５図及び第６図は
本発明」の縮量阪探傷装を行の応用例を示す説明図であ
る。 １・・・アレイ型探触子、 ２・・・電子走食型岨音波探領器、３・・・被検査体、
４・・位置検出器、 ５・・・アドレス変換回路、
６・・・画像メモリ、 ７・・・アドレス切換回路
、８・・・信号加算器、９・・・表示用アドレス発生回
路、１０・・・１１ｂ１像表示装置、−Ｊ、Ｉ・・・同
期回路、１２・・・タイミング発生回路、１３・・探傷
範囲、１４・・・画像メモリマトリクスセル、１５・・
・欠陥。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 ″ａ数個の超音波振動子を直線状に配列して成り
被検体上を移動する探触子と、この探触子Ｓ二超音波発
生用の電力を供給する探傷器と、前記被検体上での前記
探触子の位置を検出する位置検出器と、前記探触子が被
検体内Ｃ二縮量波束な多角度で偏向走査することＣ二よ
って得られる各探触予信１ｉ：ｔでの被検体の断面像を
合成し表示する画像合成表示手段とを・備えたことを％
徴とする超音波探傷装置。 ２ 画像合成手段手段は、探傷器からの走査位ｂ・ｔｌ
に号と位置検出器からの探触子位置信号とを行列状に対
応させて記憶し超音波走査と探触子移動に伴なって記憶
内容を逐次加算して断面像の合成記憶を行う画像合成手
段と、この画像合成手段の内容を順次読み出し、画１隊
として表示する画像表示手段とを備えたことを特徴とす
る特許ｍｌ求の範囲第１項記載の超音波探傷装置。 ３、画像合成表示手段は、画像合成手段への画像データ
書込みと合成さノｔた画像データの画像表示手段への読
出しとを微少時間で交互ｆ二線り返すことにより合成画
像を実時ＩＨ」で表示することを特徴とする特許請求の
範囲第２．！Ｊ記載の超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58072083A JPS59197854A (ja) | 1983-04-26 | 1983-04-26 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58072083A JPS59197854A (ja) | 1983-04-26 | 1983-04-26 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59197854A true JPS59197854A (ja) | 1984-11-09 |
Family
ID=13479154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58072083A Pending JPS59197854A (ja) | 1983-04-26 | 1983-04-26 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59197854A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62261955A (ja) * | 1986-05-09 | 1987-11-14 | Toshiba Corp | 超音波探傷装置 |
| WO1997036175A1 (fr) * | 1996-03-28 | 1997-10-02 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Detecteur de defauts par ultrasons et procede de detection de defauts par ultrasons |
| JP2007271267A (ja) * | 2006-03-30 | 2007-10-18 | Sumiju Shiken Kensa Kk | 水素に起因する損傷及び腐食減肉現象の検査方法 |
| US8020445B2 (en) * | 2004-06-14 | 2011-09-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Three-dimensional ultrasonic imaging device |
-
1983
- 1983-04-26 JP JP58072083A patent/JPS59197854A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62261955A (ja) * | 1986-05-09 | 1987-11-14 | Toshiba Corp | 超音波探傷装置 |
| WO1997036175A1 (fr) * | 1996-03-28 | 1997-10-02 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Detecteur de defauts par ultrasons et procede de detection de defauts par ultrasons |
| US8020445B2 (en) * | 2004-06-14 | 2011-09-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Three-dimensional ultrasonic imaging device |
| JP2007271267A (ja) * | 2006-03-30 | 2007-10-18 | Sumiju Shiken Kensa Kk | 水素に起因する損傷及び腐食減肉現象の検査方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10401328B2 (en) | Synthetic data collection method for full matrix capture using an ultrasound array | |
| KR860001348A (ko) | 초음파 탐상법 및 장치 | |
| JP2012058112A (ja) | アレイ探触子を用いた超音波探傷方法及び装置 | |
| GB2048476A (en) | Method and apparatus for ultrasonic imaging using a line source and a linear receiver array | |
| Busse et al. | Review and discussion of the development of synthetic aperture focusing technique for ultrasonic testing (SAFT-UT) | |
| JPS59197854A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JP3609975B2 (ja) | サイジング用超音波探傷装置およびサイジング探傷方法 | |
| JPH11211706A (ja) | 扇形走査式超音波検査装置 | |
| Becker et al. | Development of an Ultrasonic Imaging System for Inspection of Nuclear Reactor Pressure Vessels | |
| KR100543736B1 (ko) | 초음파 영상 표시 방법 | |
| JPH0527080A (ja) | 超音波信号処理装置 | |
| JPH0572980B2 (ja) | ||
| JPH0584462B2 (ja) | ||
| JPS6091257A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JPS62153746A (ja) | 超音波もしくは電磁波による物体映像化方法 | |
| JPS62153749A (ja) | 超音波もしくは電磁波による物体映像化装置 | |
| JPS63295961A (ja) | 超音波もしくは電磁波による物体映像化方法 | |
| JPH0440360A (ja) | 複合材の超音波探傷方法 | |
| Onoe | Computer processing of ultrasonic images | |
| JPS59221654A (ja) | 透過式超音波探傷方法および装置 | |
| JPH0215025B2 (ja) | ||
| JPH01318951A (ja) | 超音波もしくは電磁波による物体映像化装置 | |
| JPS62153748A (ja) | 超音波もしくは電磁波による物体映像化装置 | |
| JPS59138950A (ja) | 超音波画像装置 | |
| JPH0644038B2 (ja) | 物体映像化装置 |