JPS59200224A - 絞り口径検出装置 - Google Patents
絞り口径検出装置Info
- Publication number
- JPS59200224A JPS59200224A JP58074618A JP7461883A JPS59200224A JP S59200224 A JPS59200224 A JP S59200224A JP 58074618 A JP58074618 A JP 58074618A JP 7461883 A JP7461883 A JP 7461883A JP S59200224 A JPS59200224 A JP S59200224A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- aperture
- element unit
- mirror
- optical system
- lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/08—Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
- G03B7/099—Arrangement of photoelectric elements in or on the camera
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Cameras In General (AREA)
- Diaphragms For Cameras (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
- Focusing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は一眼レフレックスカメラにおける絞シロ径検出
装置に関するものであり、特に、ピント検出のための測
距用光学系と自動露出制御のための絞り口径検出用光学
系の共存を図った装置に関するものである。
装置に関するものであり、特に、ピント検出のための測
距用光学系と自動露出制御のための絞り口径検出用光学
系の共存を図った装置に関するものである。
（従来技術）
一眼レフレックスカメラにおいて撮影レンズを透過した
光によってピント検出のための測距信号を得るためには
、測距用光学系で被写体像を観測する必要がある。また
、プログラム方式あるいは □シャッタ速度優先
式などによって自動露出制御を行なう場合は、絞シロ径
を検出し、この検出信号に基づき最適の絞ｐ値に制御す
る必要がある。従来の測光用光学系は、被写体からの光
を測光することにより絞シロ径を検出するようになって
いるため、被写体からの光をある程度平均化する必要が
ある。そこで従来技術によって測距用光学系と絞シロ径
検出用光学系とを共存させようとしても、測距用光学系
は全反射光が必要であるのに対し、絞シロ径検出用光学
系には拡散光が必要になるため、両光学系の共存は困雛
であった。
光によってピント検出のための測距信号を得るためには
、測距用光学系で被写体像を観測する必要がある。また
、プログラム方式あるいは □シャッタ速度優先
式などによって自動露出制御を行なう場合は、絞シロ径
を検出し、この検出信号に基づき最適の絞ｐ値に制御す
る必要がある。従来の測光用光学系は、被写体からの光
を測光することにより絞シロ径を検出するようになって
いるため、被写体からの光をある程度平均化する必要が
ある。そこで従来技術によって測距用光学系と絞シロ径
検出用光学系とを共存させようとしても、測距用光学系
は全反射光が必要であるのに対し、絞シロ径検出用光学
系には拡散光が必要になるため、両光学系の共存は困雛
であった。
これをさらに図面を参照しなからｌ（明する。第１図に
おいて、−眼レフレックスカメラの撮影し／ズ１の後方
には、撮影レンズ１を透過した光をファインダ光学系側
と測距用光学系側とに分りるビームスプリッタたるメイ
ンミラー２が光軸に対シ４５°の角度で斜設されている
。メインミラー２は例えばクイックリターンミラーを外
し、周知のように、撮影時は躍ね上げられて撮影光路外
に退避するようになっている。メインミラー２の後方に
は、ミラー２を透過した光を下方に向って全反射させる
サブミラー３が配置され、ザブミラー３で全反射された
測距用光学系の光路上には、測距用素子ユニット５が配
置されている。サブミラー３も、メインミラー２の躍ね
上げに伴なって躍ね上げられ、撮影光路外に退避するよ
うに々っている。以上述べた構成から明らかなように、
測距用素子ユニｙ ｌ・５には、サブミラー３による全
反射光が入射すると共に、被写体側からの光が収束して
入射する。このように構成された測距用光学系中のザブ
ミラー３を拡散ミラーとし、測距用素子ユニット５を測
光用素子ユニットに置き供えれば測光用光学系となり、
かかる構成の測光用光学系を有するカメラも知られてい
る。
おいて、−眼レフレックスカメラの撮影し／ズ１の後方
には、撮影レンズ１を透過した光をファインダ光学系側
と測距用光学系側とに分りるビームスプリッタたるメイ
ンミラー２が光軸に対シ４５°の角度で斜設されている
。メインミラー２は例えばクイックリターンミラーを外
し、周知のように、撮影時は躍ね上げられて撮影光路外
に退避するようになっている。メインミラー２の後方に
は、ミラー２を透過した光を下方に向って全反射させる
サブミラー３が配置され、ザブミラー３で全反射された
測距用光学系の光路上には、測距用素子ユニット５が配
置されている。サブミラー３も、メインミラー２の躍ね
上げに伴なって躍ね上げられ、撮影光路外に退避するよ
うに々っている。以上述べた構成から明らかなように、
測距用素子ユニｙ ｌ・５には、サブミラー３による全
反射光が入射すると共に、被写体側からの光が収束して
入射する。このように構成された測距用光学系中のザブ
ミラー３を拡散ミラーとし、測距用素子ユニット５を測
光用素子ユニットに置き供えれば測光用光学系となり、
かかる構成の測光用光学系を有するカメラも知られてい
る。
そこで、測距用光学系と１ｔｔ１１光用光学系とを共存
させようとして、第１図に示されているような構成の測
距用素子ユニット５の上面に拡散板を配置することが提
案されているか、この拡散板位置での光束は収束して結
像に近い状態にあ乙ため、これによって測光を行なうと
超中央重点測光と々ってし１い、一般の写真撮影に供す
ることはできない。ましてや、かかる光学系によって絞
シロ径を検出することは不可能であるから、プログラム
方式あるいはシャッタ速度優先式の自動露出制御のため
の絞り口径検出用光学系を測距用光学系と共に共存させ
ることは不可能であった。
させようとして、第１図に示されているような構成の測
距用素子ユニット５の上面に拡散板を配置することが提
案されているか、この拡散板位置での光束は収束して結
像に近い状態にあ乙ため、これによって測光を行なうと
超中央重点測光と々ってし１い、一般の写真撮影に供す
ることはできない。ましてや、かかる光学系によって絞
シロ径を検出することは不可能であるから、プログラム
方式あるいはシャッタ速度優先式の自動露出制御のため
の絞り口径検出用光学系を測距用光学系と共に共存させ
ることは不可能であった。
（目的）
本発明の目的は、−眼レフレックスカメラにおいて、測
距用光学系と自動露出制ｆｌｊの／ζめの絞り口径検出
光学系とを共存させることを可能にした絞り口径検出装
置を提供することに４）る。
距用光学系と自動露出制ｆｌｊの／ζめの絞り口径検出
光学系とを共存させることを可能にした絞り口径検出装
置を提供することに４）る。
（構成）
本発明の特徴は、−眼レフレックスカメラのメインミラ
ーの後方に、メイン−ミラーの透過光を全反射させるサ
ブミラーを配置直し、メインミラーによる全反射光を測
距用素子ユニット及び絞り口径検出素子ユニットによっ
て受光するようにし、絞シロ径検出素子ユニットの前方
に、絞り羽根の像を絞り口径検出素子上に結像させるレ
ンズを配置したことにある。
ーの後方に、メイン−ミラーの透過光を全反射させるサ
ブミラーを配置直し、メインミラーによる全反射光を測
距用素子ユニット及び絞り口径検出素子ユニットによっ
て受光するようにし、絞シロ径検出素子ユニットの前方
に、絞り羽根の像を絞り口径検出素子上に結像させるレ
ンズを配置したことにある。
以下、第２図及び第３図を参照しながら本発明を説明す
る。第２図は、本発明の基礎となった絞り口径検出装置
の例を示す。第２図において、−眼レフレックスカメラ
の撮影レンズ１１の後方には、レンズ１１を透過した光
をファインダ光学系側と絞シロ径検出光学系側とに分け
るビームスプリッタたるメインミラー１２が光軸に対し
４５°に斜設されている。メインミラー１２は周知のよ
うに撮影時に撮影光路外に退避するようになっている。
る。第２図は、本発明の基礎となった絞り口径検出装置
の例を示す。第２図において、−眼レフレックスカメラ
の撮影レンズ１１の後方には、レンズ１１を透過した光
をファインダ光学系側と絞シロ径検出光学系側とに分け
るビームスプリッタたるメインミラー１２が光軸に対し
４５°に斜設されている。メインミラー１２は周知のよ
うに撮影時に撮影光路外に退避するようになっている。
ミラー１２の後方には、ミラー１２を透過した光を斜め
下方に向って全反射させるサブミラー１３か配置δされ
ている。サブミラー１３もメインミラー１２と共に撮影
時に撮影光路外に退避するようになっている。メインミ
ラー１２を透過し、かつ、サブミラー１３によって全反
射された絞り口径検出光学系の光路上には、結像レンズ
１４とその後方に絞り口径検出素子ユニット１５が配置
されている。結像レンズ１４は絞り口径検出光学系の光
束を上記検出素子ユニット１５に導くと共に撮影レンズ
１１の絞り羽根の像を上記検出素子ユニット１５上に結
像させるようになっている。
下方に向って全反射させるサブミラー１３か配置δされ
ている。サブミラー１３もメインミラー１２と共に撮影
時に撮影光路外に退避するようになっている。メインミ
ラー１２を透過し、かつ、サブミラー１３によって全反
射された絞り口径検出光学系の光路上には、結像レンズ
１４とその後方に絞り口径検出素子ユニット１５が配置
されている。結像レンズ１４は絞り口径検出光学系の光
束を上記検出素子ユニット１５に導くと共に撮影レンズ
１１の絞り羽根の像を上記検出素子ユニット１５上に結
像させるようになっている。
上記検出素子ユニット１５は、レンズ１１の開放絞り値
、例えばＦｌ、４の射出瞳像１６捷でを充分に包括でき
るようになっている。検出素子１５は、ＣＣＤ、 ＭＯ
８型イメージセンサ、あるいはＰＳＤ等でなる位置検出
素子ユニットである。
、例えばＦｌ、４の射出瞳像１６捷でを充分に包括でき
るようになっている。検出素子１５は、ＣＣＤ、 ＭＯ
８型イメージセンサ、あるいはＰＳＤ等でなる位置検出
素子ユニットである。
かかる構成の絞り口径検出装置によれは、レンズ１１の
絞り羽根からの光は、メインミラー１２を透過し、サブ
ミラー１３で全反射され、結イ９レンズ１４を通って絞
り口径検出素子ユニット１５に導かれると共に、絞り羽
根の１ト′が検出素子ユニット１５上に結像される。そ
こでいま、撮影レンズ１１の絞りが開放絞りになってい
るものとすると、検出素子ユニット］５の周辺部に絞り
羽根の像が結像され、検出素子ユニット１５の出力がそ
の周辺部において急激に変化する。次に、レンズ１１の
絞り羽根を順次絞り込んでいくと、絞り羽根の結像位置
か検出素子ユニット１５の周辺部から中心部に向って順
次移動し、検出素子ユニット１５の出力か急激に変化す
る位置が、周辺部から中心部に向って順次移動する。従
２て、逆に、検出素子ユニット１５の出力が急激に変化
する位置を検出することによって実際の絞り口径を直接
的に検出することかでき、この検出信号に基つき自動露
出のための叙シロ径の制御を行なうことができる。
絞り羽根からの光は、メインミラー１２を透過し、サブ
ミラー１３で全反射され、結イ９レンズ１４を通って絞
り口径検出素子ユニット１５に導かれると共に、絞り羽
根の１ト′が検出素子ユニット１５上に結像される。そ
こでいま、撮影レンズ１１の絞りが開放絞りになってい
るものとすると、検出素子ユニット］５の周辺部に絞り
羽根の像が結像され、検出素子ユニット１５の出力がそ
の周辺部において急激に変化する。次に、レンズ１１の
絞り羽根を順次絞り込んでいくと、絞り羽根の結像位置
か検出素子ユニット１５の周辺部から中心部に向って順
次移動し、検出素子ユニット１５の出力か急激に変化す
る位置が、周辺部から中心部に向って順次移動する。従
２て、逆に、検出素子ユニット１５の出力が急激に変化
する位置を検出することによって実際の絞り口径を直接
的に検出することかでき、この検出信号に基つき自動露
出のための叙シロ径の制御を行なうことができる。
以°上の説明で明らかなように、第２図に示され′ て
いるようなｅｂ口径検出装置では、サブミラー１３の全
反射光を検出素子ユニット１５に導くことによって絞り
口径を検出するようになっている。
いるようなｅｂ口径検出装置では、サブミラー１３の全
反射光を検出素子ユニット１５に導くことによって絞り
口径を検出するようになっている。
一方、第１図について既に説明した通り、測距用素子ユ
ニットもサブミラーの全反射光によって測距信号を出力
するようになっている。従って、何れも全反射光を利用
するものであり、ここにおいて測距用光学系と絞り口径
検出用光学系の共存の第３図は、測距用光学系と絞り口
径検出用光学系の共存を図った本発明の実施例を示す。
ニットもサブミラーの全反射光によって測距信号を出力
するようになっている。従って、何れも全反射光を利用
するものであり、ここにおいて測距用光学系と絞り口径
検出用光学系の共存の第３図は、測距用光学系と絞り口
径検出用光学系の共存を図った本発明の実施例を示す。
第３図において、撮影レンズ１１とメインミラー１２と
サブミラー１３と結像レンズ１４と絞り口径検出素子ユ
ニット１５は、第２図について説明したものと同様のも
のが同様に配置されており、検出素子ユニット１５は、
レンズ１１の開放絞り値の射出瞳１６までを充分に包括
できるように々っている。従って、第２図の例と同様に
検出素子二ニット１５の出力により絞り口径を検出１゛
ることかで □きる。サブミラー１３の全反射光路
上にはまたレンズ２４と測距用素子ユニット２５が配置
されていて、サブミラー１３とレンズ２４と４］］１距
用素子ユニツト２５とによって８１１＋距用光学系が構
成されている。測距用素子ユニット２５上には、撮影レ
ンズ１１とレンズ２４との作用によって被写体像が結像
され、もって、周知の如く測距信号が出力 那され
るようになっている。測距用素子ユニット２５と絞シロ
径検出素子ユニット１５は同一基板上に一体的に集積さ
れて形成されている。よって、この実施例によれば、測
距用光学系と絞シロ径検出光学系が共存しておシ、測距
信号と絞り口径検出信号とを得ることができる。
サブミラー１３と結像レンズ１４と絞り口径検出素子ユ
ニット１５は、第２図について説明したものと同様のも
のが同様に配置されており、検出素子ユニット１５は、
レンズ１１の開放絞り値の射出瞳１６までを充分に包括
できるように々っている。従って、第２図の例と同様に
検出素子二ニット１５の出力により絞り口径を検出１゛
ることかで □きる。サブミラー１３の全反射光路
上にはまたレンズ２４と測距用素子ユニット２５が配置
されていて、サブミラー１３とレンズ２４と４］］１距
用素子ユニツト２５とによって８１１＋距用光学系が構
成されている。測距用素子ユニット２５上には、撮影レ
ンズ１１とレンズ２４との作用によって被写体像が結像
され、もって、周知の如く測距信号が出力 那され
るようになっている。測距用素子ユニット２５と絞シロ
径検出素子ユニット１５は同一基板上に一体的に集積さ
れて形成されている。よって、この実施例によれば、測
距用光学系と絞シロ径検出光学系が共存しておシ、測距
信号と絞り口径検出信号とを得ることができる。
（効果）
本発明によれば、撮影レンズ及びメインミラーを透過し
た光をサブミラーで全反射させ、この全反射光を絞り口
径検出素子ユニット上に収束させて絞シ羽根の像を結像
させるようにし、これによって絞り口径を検出するよう
にしたから、同じく全反射光学系である測距用光学系と
共存させることが可能となり、よって、焦点検出装置を
有し、しかもプログラム方式等の自動露出制御装置を有
する一眼レフレックスカメラを容易に得ることが可能に
なった。また、絞シロ径検出装置は絞り込みの絶対変化
を検出するようになっているから、自動露出制御のね度
を向上させることができるし、従来一般に行々われてい
るように、ストロークの限られた絞りレバーの位置を検
出するのではなく、ストロークが充分に大きい絞り羽根
の動きを直接光学的に検出するようになっているから、
一段当りの絞り羽根の移動ストロークが大きく、それた
け精度の高い絞り口径検出を行なうととができるなど、
多くの効果を奏する。
た光をサブミラーで全反射させ、この全反射光を絞り口
径検出素子ユニット上に収束させて絞シ羽根の像を結像
させるようにし、これによって絞り口径を検出するよう
にしたから、同じく全反射光学系である測距用光学系と
共存させることが可能となり、よって、焦点検出装置を
有し、しかもプログラム方式等の自動露出制御装置を有
する一眼レフレックスカメラを容易に得ることが可能に
なった。また、絞シロ径検出装置は絞り込みの絶対変化
を検出するようになっているから、自動露出制御のね度
を向上させることができるし、従来一般に行々われてい
るように、ストロークの限られた絞りレバーの位置を検
出するのではなく、ストロークが充分に大きい絞り羽根
の動きを直接光学的に検出するようになっているから、
一段当りの絞り羽根の移動ストロークが大きく、それた
け精度の高い絞り口径検出を行なうととができるなど、
多くの効果を奏する。
第１図はピント検出のための測距用光学系を有する従来
の一眼レフレックスカメラの例を示す光学配置図、第２
図は本発明の基礎となった絞り口 □径検出装置
を有する一眼レフレックスカメラの例を示す光学配置図
、第３図は本発明の実施例を示す光学配置図である。 １１・・・撮影レンズ、１２・・・メインミラー、１３
・・・サブミラー、１４・・レンズ、１５・・絞り口径
検出素子ユニット、２４・・・レンズ、２５・・測距用
素子ユニット。
の一眼レフレックスカメラの例を示す光学配置図、第２
図は本発明の基礎となった絞り口 □径検出装置
を有する一眼レフレックスカメラの例を示す光学配置図
、第３図は本発明の実施例を示す光学配置図である。 １１・・・撮影レンズ、１２・・・メインミラー、１３
・・・サブミラー、１４・・レンズ、１５・・絞り口径
検出素子ユニット、２４・・・レンズ、２５・・測距用
素子ユニット。
Claims (1)
- １、撮影レンズの透過光を反射光と透過光に分割するメ
インミラーと、メインミラーの透過光を全反射するサブ
ミラーと、このサブミラーによって導かれた光束を受け
て測距用信号を出力する測距用素子ユニットと、上記サ
ブミラーによって導かれた光束を受けて絞り口径信号を
出力する絞り口径検出素子ユニットと、絞り口径検出素
子ユニットの前方に配置されていて、この絞シロ径検出
素子上に絞り羽根の像を結像させるレンズとを有してな
る絞り口径検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58074618A JPS59200224A (ja) | 1983-04-27 | 1983-04-27 | 絞り口径検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58074618A JPS59200224A (ja) | 1983-04-27 | 1983-04-27 | 絞り口径検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59200224A true JPS59200224A (ja) | 1984-11-13 |
Family
ID=13552338
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58074618A Pending JPS59200224A (ja) | 1983-04-27 | 1983-04-27 | 絞り口径検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59200224A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113533958A (zh) * | 2021-06-17 | 2021-10-22 | 西安北方光电科技防务有限公司 | 一种密度盘光阑时间检测仪及检测方法 |
-
1983
- 1983-04-27 JP JP58074618A patent/JPS59200224A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113533958A (zh) * | 2021-06-17 | 2021-10-22 | 西安北方光电科技防务有限公司 | 一种密度盘光阑时间检测仪及检测方法 |
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