JPS5921754U - せんい状試料測定用プロ−ブチツプ - Google Patents

せんい状試料測定用プロ−ブチツプ

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JPS5921754U
JPS5921754U JP1982114972U JP11497282U JPS5921754U JP S5921754 U JPS5921754 U JP S5921754U JP 1982114972 U JP1982114972 U JP 1982114972U JP 11497282 U JP11497282 U JP 11497282U JP S5921754 U JPS5921754 U JP S5921754U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe tip
measuring spiral
spiral samples
samples
measuring
Prior art date
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Pending
Application number
JP1982114972U
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English (en)
Inventor
花房　廣明
田島　祥光
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NTT Inc
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
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Publication of JPS5921754U publication Critical patent/JPS5921754U/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は従来のプローブチップによる取付構造を示す斜
視図、第２図は本考案プローブチップの一実施例を示し
Ａ図はその正面図、Ｂ図は同じ（平面図、第３図は本考
案プローブチップの他の実施例を示しＡ図はその正面部
分図、Ｂ図は同じくその平面図である。 ３・・・せんい状試料、４・・・ねじ、５・・・プロー
ブチップ、５ａ・・・溝、６・・・止め具。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 表面分析装置のプローブチップにおいて、試料を取付け
    る面に１木蓋くは２本以上の溝を、平行に、かつその間
    隔はせんい状試料の直径に等しいか或はそれよりやや大
    きく設けたことを特徴とするせんい状試料測定用プロー
    ブチップ。
JP1982114972U 1982-07-30 1982-07-30 せんい状試料測定用プロ−ブチツプ Pending JPS5921754U (ja)

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JP1982114972U JPS5921754U (ja) 1982-07-30 1982-07-30 せんい状試料測定用プロ−ブチツプ

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JPS5921754U true JPS5921754U (ja) 1984-02-09

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ID=30265563

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