JPS59220603A - 表面検査装置 - Google Patents
表面検査装置Info
- Publication number
- JPS59220603A JPS59220603A JP58095247A JP9524783A JPS59220603A JP S59220603 A JPS59220603 A JP S59220603A JP 58095247 A JP58095247 A JP 58095247A JP 9524783 A JP9524783 A JP 9524783A JP S59220603 A JPS59220603 A JP S59220603A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coil
- detection data
- data
- detectors
- various detectors
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、ラインを通過する被検査体の表面状態、形状
などを検査する表面検査装置の改良に関する。
などを検査する表面検査装置の改良に関する。
従来、ラインを通過するコイルを剪断するだめに、コイ
ルの表面状態や形状などが表面検査装置により測定され
ていた。この表面検査装置は、ライン上に各種検出器例
えばコイル表側および裏側検出器、厚み検出器などを設
け、これら検出器から得られるデータからコイルにおけ
る欠陥を検出し、かつ、このデータを記録していた。し
たがって、従来の表面検査装置は、コイルの底面状態、
形状などの測定およびその測定データの記録の機能しか
なく、各種検出器よシ得られたデータからは、その検出
器と剪断機との距離関係が把握できなかった。
ルの表面状態や形状などが表面検査装置により測定され
ていた。この表面検査装置は、ライン上に各種検出器例
えばコイル表側および裏側検出器、厚み検出器などを設
け、これら検出器から得られるデータからコイルにおけ
る欠陥を検出し、かつ、このデータを記録していた。し
たがって、従来の表面検査装置は、コイルの底面状態、
形状などの測定およびその測定データの記録の機能しか
なく、各種検出器よシ得られたデータからは、その検出
器と剪断機との距離関係が把握できなかった。
このため、データを処理してコイル上の欠陥位置および
ラインからみた欠陥位置を正確に知ることができず、さ
らに、コイルを所定の位置で剪断するだめのライン制御
をリアルタイムに行なうことは不可能であった。
ラインからみた欠陥位置を正確に知ることができず、さ
らに、コイルを所定の位置で剪断するだめのライン制御
をリアルタイムに行なうことは不可能であった。
本発明は上記実情に基づいてなされたもので、その目的
とするところは、各種検出器と剪断機との距離データを
得て、被検査体における欠陥等の位置を正確に検査でき
る表面検査装置を提供することにある。
とするところは、各種検出器と剪断機との距離データを
得て、被検査体における欠陥等の位置を正確に検査でき
る表面検査装置を提供することにある。
本発明は、ライン上に所定の間隔を有して複数種鍍の検
出器を配置し、これらの検出器によって得たラインを通
過する被検査体の検出データを、これら検出器のうち基
準位置とした検出器と検出データを得た検出器との距離
に基づいた値によって定まる記憶部の所定の位置に記憶
し、この記憶された前記検出データに基づいて演算処理
部によシ前記被検査体の欠陥および形状を測定する表面
検査装置である。
出器を配置し、これらの検出器によって得たラインを通
過する被検査体の検出データを、これら検出器のうち基
準位置とした検出器と検出データを得た検出器との距離
に基づいた値によって定まる記憶部の所定の位置に記憶
し、この記憶された前記検出データに基づいて演算処理
部によシ前記被検査体の欠陥および形状を測定する表面
検査装置である。
実施例
以下、本発明の一実施例について第１図ないし第３図を
参照して説明する。第１図は本発明に係る表面検査装置
をコイルの剪断システムに適用した場合の全体構成図で
ある。コイルＥが通過するライン上には、コイルＥの表
面状態や形状などを測定する各種検出器ＤＩ、Ｄ が
単位長Ｕ（例えば１ｍ）の整数倍の間隔ごとに設置され
ている。ここで、第１図に示すｔ１〜ｔ は基準位置と
する。これら検出器Ｄ１〜Ｄｎは、例えばコイルＥの表
側（すなわち第１図において上側）における欠陥に等を
検出するコイル表側検出器、コイル裏側検出器、氷検出
器、コイル幅検出計、コイル厚み検出計、ロールマーク
検出器、目視検査入力器等であシ、それぞれ測定の目的
や検出器Ｄ！〜Ｄｎの機能に応じた所定の位置に配置さ
れる。剪断機ＳＨは、得られたデータに基づいてコイル
Ｅを剪断するもので、各種検出器Ｄ１〜Ｄｎと同様に検
出器Ｄｎとの間隔が単位長Ｕの整数倍となる位置に設け
られている。
参照して説明する。第１図は本発明に係る表面検査装置
をコイルの剪断システムに適用した場合の全体構成図で
ある。コイルＥが通過するライン上には、コイルＥの表
面状態や形状などを測定する各種検出器ＤＩ、Ｄ が
単位長Ｕ（例えば１ｍ）の整数倍の間隔ごとに設置され
ている。ここで、第１図に示すｔ１〜ｔ は基準位置と
する。これら検出器Ｄ１〜Ｄｎは、例えばコイルＥの表
側（すなわち第１図において上側）における欠陥に等を
検出するコイル表側検出器、コイル裏側検出器、氷検出
器、コイル幅検出計、コイル厚み検出計、ロールマーク
検出器、目視検査入力器等であシ、それぞれ測定の目的
や検出器Ｄ！〜Ｄｎの機能に応じた所定の位置に配置さ
れる。剪断機ＳＨは、得られたデータに基づいてコイル
Ｅを剪断するもので、各種検出器Ｄ１〜Ｄｎと同様に検
出器Ｄｎとの間隔が単位長Ｕの整数倍となる位置に設け
られている。
中央処理装置Ａは、各種検出器Ｄ１〜Ｄｎからの検出デ
ータを演算処理して剪断機ＳＨによるコイルＥの剪断等
を決定する機能を有し、マン・マシンインターフェイス
Ｂはオペレータによる剪断システムの制御を行なわしめ
る機能を有し、まだ記録装置Ｃは得られた検出データを
記録する例えばタイプライタ等である。
ータを演算処理して剪断機ＳＨによるコイルＥの剪断等
を決定する機能を有し、マン・マシンインターフェイス
Ｂはオペレータによる剪断システムの制御を行なわしめ
る機能を有し、まだ記録装置Ｃは得られた検出データを
記録する例えばタイプライタ等である。
ココテ、中央処理装置Ａ１マン・マシンインターフェイ
スＢおよび記録装置Ｃにおける構成を第２図を参照して
説明する。なお、第２図においては説明の都合上検出器
はＤｌ、Ｄｎのみ示しである。入力回路■１〜Ｈｎは、
各種検出器Ｄ１〜Ｄｎからの検出データをコイルＥの進
行に応じタヘルスを発生する／？ルスジェネレータＰＧ
からのパルス信号（単位長進行信号）を受けてコイルＥ
が単位長Ｕ進むごとに取込むものである。
スＢおよび記録装置Ｃにおける構成を第２図を参照して
説明する。なお、第２図においては説明の都合上検出器
はＤｌ、Ｄｎのみ示しである。入力回路■１〜Ｈｎは、
各種検出器Ｄ１〜Ｄｎからの検出データをコイルＥの進
行に応じタヘルスを発生する／？ルスジェネレータＰＧ
からのパルス信号（単位長進行信号）を受けてコイルＥ
が単位長Ｕ進むごとに取込むものである。
また、検出データの取込みは欠陥、異常検出時のみ単位
長進行信号に同期した割込み信号の発生によっても行な
われる。これら入力回路Ｅｌ〜Ｅｎによって取込まれた
検出データは、中央処理装置Ａの記憶部Ｍに記憶される
。この記憶部Ｍには、ザイクリックなリスト構造をもつ
トラッキングリス）Ｌを有するもので、第３図に示す如
くの構成となっている。
長進行信号に同期した割込み信号の発生によっても行な
われる。これら入力回路Ｅｌ〜Ｅｎによって取込まれた
検出データは、中央処理装置Ａの記憶部Ｍに記憶される
。この記憶部Ｍには、ザイクリックなリスト構造をもつ
トラッキングリス）Ｌを有するもので、第３図に示す如
くの構成となっている。
このトラッキングリストＬは、コイルの単位長における
各種検出器Ｄ１〜Ｄｎからの検出データを１スロツトと
するもので、この１スロツトには、第３図に示す如く各
種検出器Ｄ１〜Ｄｎからの検出データが格納される。つ
まシ、この記憶部Ｍは、ラインの最も上流の検出器Ｄｌ
を通過しつつあるコイルＥのデータの格納スロット番号
をトラッキング・ポインタで指しこれを入力基準点Ｓと
して検出器Ｄ１から出力される検出データを順次格納し
ていく。また、記憶部Ｍは、ポインタの偏位を第１図に
示す各種検出器Ｄ２〜Ｄｎと検出器り、 との距離ｔ
２〜ｔｎを単位長Ｕで除算した値（整数）とし、この値
で指定サレるスロットに各種検出器Ｄ２〜Ｄｎからの検
出データを格納するものである。なお、第１図に示すｔ
ｓｈは検出器Ｄ１から剪断機Ｓ Ｈまでの距離であシ、
１ｊは基準位置Ｓから任意のコイルＥの位置までの距離
、ｔｍはコイルＥの先端からコイルＥの任意の位置まで
の距離である。
各種検出器Ｄ１〜Ｄｎからの検出データを１スロツトと
するもので、この１スロツトには、第３図に示す如く各
種検出器Ｄ１〜Ｄｎからの検出データが格納される。つ
まシ、この記憶部Ｍは、ラインの最も上流の検出器Ｄｌ
を通過しつつあるコイルＥのデータの格納スロット番号
をトラッキング・ポインタで指しこれを入力基準点Ｓと
して検出器Ｄ１から出力される検出データを順次格納し
ていく。また、記憶部Ｍは、ポインタの偏位を第１図に
示す各種検出器Ｄ２〜Ｄｎと検出器り、 との距離ｔ
２〜ｔｎを単位長Ｕで除算した値（整数）とし、この値
で指定サレるスロットに各種検出器Ｄ２〜Ｄｎからの検
出データを格納するものである。なお、第１図に示すｔ
ｓｈは検出器Ｄ１から剪断機Ｓ Ｈまでの距離であシ、
１ｊは基準位置Ｓから任意のコイルＥの位置までの距離
、ｔｍはコイルＥの先端からコイルＥの任意の位置まで
の距離である。
トラッキングポインタはコイルＥが単位長Ｕ進行するご
とに１つ若いスロット番号を指す。なお、検出データの
削除は、ラインの最も下流における剪断機ＳＫからコイ
ルＥが単位長Ｕ通過したときに行なわれる。
とに１つ若いスロット番号を指す。なお、検出データの
削除は、ラインの最も下流における剪断機ＳＫからコイ
ルＥが単位長Ｕ通過したときに行なわれる。
データ表示処理部１０は１スロツトにおける各種検出器
Ｄ１〜Ｄｎの検出データに基づいて欠陥にの数やコイル
Ｅの形状を求めて、これを表示器１ノでｌＫＪ’ｉ−さ
せるものであって、予め設められたデータ表示位置Ｆで
トラッキングリストＬからの検出データの読出しが行な
われる。また、データ編集部１２は検出データを演算処
理し、通過したコイルＥにおける欠陥にの総計、コイル
ＥＯ評童−ζ剪断の決定などを行なうもので、予め設め
られたデータ編集、伝送位置Ｇ（剪断機ＳＨの位置）で
トラッキングリストＬからの検出データの読出しが行な
われる。これらデータ表示処理部１０およびデータ編集
部１２の検出データの読出しは、読出し位置Ｆ。
Ｄ１〜Ｄｎの検出データに基づいて欠陥にの数やコイル
Ｅの形状を求めて、これを表示器１ノでｌＫＪ’ｉ−さ
せるものであって、予め設められたデータ表示位置Ｆで
トラッキングリストＬからの検出データの読出しが行な
われる。また、データ編集部１２は検出データを演算処
理し、通過したコイルＥにおける欠陥にの総計、コイル
ＥＯ評童−ζ剪断の決定などを行なうもので、予め設め
られたデータ編集、伝送位置Ｇ（剪断機ＳＨの位置）で
トラッキングリストＬからの検出データの読出しが行な
われる。これらデータ表示処理部１０およびデータ編集
部１２の検出データの読出しは、読出し位置Ｆ。
Ｇと入力基準点Ｓとの間のコイルＥの長さを単位長Ｕで
除算しだ値（整数）をポインタの偏位として、読出すス
ロットを指定して行なわれる。
除算しだ値（整数）をポインタの偏位として、読出すス
ロットを指定して行なわれる。
伝送部１３は、データ編集部１２で得られた編集データ
を他の装置へ伝送させるものである。
を他の装置へ伝送させるものである。
まだ入出力回路１４はデータ編集部１２で得られた剪断
の決定を剪断機ＳＨへ送シ、この剪断が行なわれたこと
を示す信号をデータ編集部１２へ入力させるものである
。
の決定を剪断機ＳＨへ送シ、この剪断が行なわれたこと
を示す信号をデータ編集部１２へ入力させるものである
。
次に上記の如く構成された装置の動作について説明する
。剪断システムが動作し、コイルＥが進行し始めると、
各種検出器Ｄ１〜ＤｎによってコイルＥの検査が行なわ
れる。そこで、各種検出器Ｄ１〜Ｄｎからの検出データ
は、ノやルスジェネレータＰＧからのパルス信号によっ
てコイルＥが単位長Ｕ進むごとに中央処理装置Ａに入力
する。そうして、入力された各検出データは各種検出器
ＤＩ％Ｄｎに対応する入力回路Ｈ１〜Ｈｎを介して入力
基準点Ｓから各種検出器ＤＩ −Ｄｎを単位長Ｕで除算
した値をポインタの偏差として、この偏差により指示さ
れるスロットに格納 。
。剪断システムが動作し、コイルＥが進行し始めると、
各種検出器Ｄ１〜ＤｎによってコイルＥの検査が行なわ
れる。そこで、各種検出器Ｄ１〜Ｄｎからの検出データ
は、ノやルスジェネレータＰＧからのパルス信号によっ
てコイルＥが単位長Ｕ進むごとに中央処理装置Ａに入力
する。そうして、入力された各検出データは各種検出器
ＤＩ％Ｄｎに対応する入力回路Ｈ１〜Ｈｎを介して入力
基準点Ｓから各種検出器ＤＩ −Ｄｎを単位長Ｕで除算
した値をポインタの偏差として、この偏差により指示さ
れるスロットに格納 。
される。これによシトシラギンブリストＬにおける検出
データは、コイルＥの進行に伴なって検出データが格納
されることによシサイクリックに変わっていく。そこで
、データ表示位置Ｆと入力基準点ＳとのコイルＥの長さ
を単位長Ｕで除算した値をポインタの偏差としてスロッ
トを指定し、検出データを読込みこの検出データに基づ
いて表示処理部１０によシコイルＥにおける欠陥の数な
どが求められ、表示器１１で表示される。さらに、この
検出データが、データ編集、伝送位置Ｇと入力基準点Ｓ
とのコイルＥの長さを単位長Ｕで除算した値をポインタ
の偏差としてそのスロットが指定されてデータ編集部１
２に読込まれる。このデータ編集部１２は読込んだ検出
データに基づいて通過したコイルＥにおける欠陥にの総
数などを求める。そして、この求められた編集データは
タイシライタ等によって印字、表示される。
データは、コイルＥの進行に伴なって検出データが格納
されることによシサイクリックに変わっていく。そこで
、データ表示位置Ｆと入力基準点ＳとのコイルＥの長さ
を単位長Ｕで除算した値をポインタの偏差としてスロッ
トを指定し、検出データを読込みこの検出データに基づ
いて表示処理部１０によシコイルＥにおける欠陥の数な
どが求められ、表示器１１で表示される。さらに、この
検出データが、データ編集、伝送位置Ｇと入力基準点Ｓ
とのコイルＥの長さを単位長Ｕで除算した値をポインタ
の偏差としてそのスロットが指定されてデータ編集部１
２に読込まれる。このデータ編集部１２は読込んだ検出
データに基づいて通過したコイルＥにおける欠陥にの総
数などを求める。そして、この求められた編集データは
タイシライタ等によって印字、表示される。
しかして、この編集データおよび表示器１１の表示デー
タに基づいてコイルＥの評価、剪断の決定等がなされ、
剪断機ＳＨによシコイルＥの剪断が行なわれる。
タに基づいてコイルＥの評価、剪断の決定等がなされ、
剪断機ＳＨによシコイルＥの剪断が行なわれる。
このように本装置においては、単位長Ｕおよびその整数
倍の間隔をおいて配置された各種検出器Ｄｌ−Ｄｎから
の検出データを各踵検出器Ｄｌ−Ｄｎまでの距離ｔｌ−
ｔｎを単位長Ｕで除算した値をポインタの偏位としてト
ラッキングリストＬのスロットに格納させるので、各種
検出器Ｄ２〜Ｄｎの検出データは検出器り、からの距離
ｔ１〜ｔｎに対応したものとカシコイルＥにおける欠陥
Ｋがラインからみてどの位置にあるかが正確に知ること
ができ為。
倍の間隔をおいて配置された各種検出器Ｄｌ−Ｄｎから
の検出データを各踵検出器Ｄｌ−Ｄｎまでの距離ｔｌ−
ｔｎを単位長Ｕで除算した値をポインタの偏位としてト
ラッキングリストＬのスロットに格納させるので、各種
検出器Ｄ２〜Ｄｎの検出データは検出器り、からの距離
ｔ１〜ｔｎに対応したものとカシコイルＥにおける欠陥
Ｋがラインからみてどの位置にあるかが正確に知ること
ができ為。
さらに、多数の検出器からの検出データの処理が容易と
なり、検出器の追加も容易に行なえる。また、統一した
トラッキングリストに検出データを格納するので、複雑
な処理機能が可能となシ、その処理機能の追加も容易に
可能となる。そして、剪断システムにおける剪断等のり
アルタイムでの制御が可能となる。
なり、検出器の追加も容易に行なえる。また、統一した
トラッキングリストに検出データを格納するので、複雑
な処理機能が可能となシ、その処理機能の追加も容易に
可能となる。そして、剪断システムにおける剪断等のり
アルタイムでの制御が可能となる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものではない
。たとえば、コイルＥに対する詳細な検査を必要とする
検出器に対しては、単位長 ・を整数等分した
トラッキングリストを新たに設け、このトラッキングリ
ストに検出器からの検出データが単位長ぶん蓄積された
時点で、その検出データを読出し、処理を行なってその
結果をトラッキングリストＬに格納してもよい。これに
よシ、コイルＥの詳しい検査を行なうことができる。
。たとえば、コイルＥに対する詳細な検査を必要とする
検出器に対しては、単位長 ・を整数等分した
トラッキングリストを新たに設け、このトラッキングリ
ストに検出器からの検出データが単位長ぶん蓄積された
時点で、その検出データを読出し、処理を行なってその
結果をトラッキングリストＬに格納してもよい。これに
よシ、コイルＥの詳しい検査を行なうことができる。
また、本装置は、コイルＥの検査だけではなく、例えば
板ガラスラインにおいて板ガラスの表面および内部の検
査や鉄鋼ラインにおいて鉄鋼の表面およびその形状の検
査等に応用してもよい。
板ガラスラインにおいて板ガラスの表面および内部の検
査や鉄鋼ラインにおいて鉄鋼の表面およびその形状の検
査等に応用してもよい。
本発明によれば、各種検出器を単位長およびその整数倍
の間隔で配置し、これら検出器からの検出データを被検
査体が単位長およびその整数倍進むごとに取込廿１、こ
の検出データを各種検出器の配置によって決まる偏位に
基づいてトラッキングリストに格納させるので、各種検
出器と剪断機の距離関係をもった検出データが得られ、
被検査体における欠陥等の位置を正確に検査できる表面
検査装置を提供することができる。
の間隔で配置し、これら検出器からの検出データを被検
査体が単位長およびその整数倍進むごとに取込廿１、こ
の検出データを各種検出器の配置によって決まる偏位に
基づいてトラッキングリストに格納させるので、各種検
出器と剪断機の距離関係をもった検出データが得られ、
被検査体における欠陥等の位置を正確に検査できる表面
検査装置を提供することができる。
第１図は本発明に係る一実施例の表面検査装置を剪断シ
ステムに適用した場合の全体構成図、第２図は本装置の
構成側図、第３図は本装置における記憶部の構成図であ
る。 ’Ｊ Ｏ・・・データ表示処理部、１ノ・・・表示器、
１２・・・データ編集部、１３・・・伝送部、１４・・
・入出力回路、Ｄ１〜Ｄｎ・・・各種検出器、Ｈ１〜Ｈ
ｎ、、。 入力回路、ＰＧ・・・パルスジェネレータ、Ｍ・・・記
憶部、Ｌ・・・トラッキングリスト、Ａ・・・中央処理
装置ｓ Ｂ・・・マン・マシン・インターフェイス、Ｃ
・・・記録装置、ＳＨ・・・剪断機、Ｅ・・・コイル。
ステムに適用した場合の全体構成図、第２図は本装置の
構成側図、第３図は本装置における記憶部の構成図であ
る。 ’Ｊ Ｏ・・・データ表示処理部、１ノ・・・表示器、
１２・・・データ編集部、１３・・・伝送部、１４・・
・入出力回路、Ｄ１〜Ｄｎ・・・各種検出器、Ｈ１〜Ｈ
ｎ、、。 入力回路、ＰＧ・・・パルスジェネレータ、Ｍ・・・記
憶部、Ｌ・・・トラッキングリスト、Ａ・・・中央処理
装置ｓ Ｂ・・・マン・マシン・インターフェイス、Ｃ
・・・記録装置、ＳＨ・・・剪断機、Ｅ・・・コイル。
Claims (1)
- ラインを通過する被検査体上に予め定められた間隔ごと
に配置され、前記被検査体の欠陥および形状を検出する
複数種類の検出器と、これら検出器からの検出データを
前記被検査体が所定の長さ進むごとに取込む入力部と、
この入力部により取込んだ検出データを、前記複数の検
出器のうち基準位置とした検出器と前記検出デニタを得
た検出器との距離に基づいた値によって定まる位置に記
憶する記憶部と、この記憶部に記憶された前記検出デー
タに基づいて前記被検査体の欠陥および形状を得る演算
処理部とを具備したことを特徴とする表面検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58095247A JPS59220603A (ja) | 1983-05-30 | 1983-05-30 | 表面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58095247A JPS59220603A (ja) | 1983-05-30 | 1983-05-30 | 表面検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59220603A true JPS59220603A (ja) | 1984-12-12 |
Family
ID=14132421
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58095247A Pending JPS59220603A (ja) | 1983-05-30 | 1983-05-30 | 表面検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59220603A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61213621A (ja) * | 1985-03-19 | 1986-09-22 | Nippon Steel Corp | 腐食鋼材の厚み測定精度向上方法 |
| JPS61218936A (ja) * | 1985-03-25 | 1986-09-29 | Takigawa Kogyo Kk | 丸鋼の探傷設備 |
-
1983
- 1983-05-30 JP JP58095247A patent/JPS59220603A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61213621A (ja) * | 1985-03-19 | 1986-09-22 | Nippon Steel Corp | 腐食鋼材の厚み測定精度向上方法 |
| JPS61218936A (ja) * | 1985-03-25 | 1986-09-29 | Takigawa Kogyo Kk | 丸鋼の探傷設備 |
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