JPS5923205B2 - 透過性輻射線による対象体検査装置 - Google Patents
透過性輻射線による対象体検査装置Info
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- JPS5923205B2 JPS5923205B2 JP54051326A JP5132679A JPS5923205B2 JP S5923205 B2 JPS5923205 B2 JP S5923205B2 JP 54051326 A JP54051326 A JP 54051326A JP 5132679 A JP5132679 A JP 5132679A JP S5923205 B2 JPS5923205 B2 JP S5923205B2
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- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—HANDLING OF PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
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- G21K1/10—Scattering devices; Absorbing devices; Ionising radiation filters
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Description
【発明の詳細な説明】
5 この発明はX線のような透過性輻射線によつて対象
体を検査するための対象体検査装置に関するものである
。
体を検査するための対象体検査装置に関するものである
。
英国特許第1283915号明細書には、被検査体の平
面状横断部または仮想の輪切り部分の小”0 さい要素
における吸収または透過の映像が再構成されうるように
して透過性放射線により前記輪切り部分を検査するため
の装置が記載されている。
面状横断部または仮想の輪切り部分の小”0 さい要素
における吸収または透過の映像が再構成されうるように
して透過性放射線により前記輪切り部分を検査するため
の装置が記載されている。
前記特許明細書に記載されている装置の幾つかの実施例
においては、X線が扇形状の軌跡の形で与’5 えられ
なけれはならない。この場合には、一群の検知器が設け
られて放射線源からそれらの検知器までの狭い通路内を
移行する放射線を検知するようになされる。さらに、放
射線源と検知器は前記軌跡の平面に対して直交する軸線
のまわりで回転roしうるようになされているので、各
ビームの一連の角度位置に対して各検知器から一連の出
力が得られうるようになされている。かくして各検知器
は多数のビームに沿つての放射線に対する被検査体の透
過の表示を与える。これらの一連の出力信■5 号を利
用して映像再構成が実施される。X線が扇状の軌跡をな
して与えられる場合には、前記出力信号のうちの1つを
発生するために、比較的短い時間間隔で十分な入力が各
検知器によつて測定されうるように放射線源から大きい
放射線出力を得ることが望ましい。このような所望の大
きい放射線出力を得るためには、回転アノード型クーリ
ツジ管(ROtatinganOdeCOOlidge
tube)を用いることができる。このような管におい
ては、回転アノードは陰極からの電子流によつてX線が
発生される傾斜エツジを有している。放射線の必要な軌
跡はX線をコリメートすることによつて発生される。こ
の場合、放射線がコリメートされうる多数の方向がある
が、陰極が近接しているがためにコリメーシヨンに不適
当な方向も多数ある。コリメーシヨンによつて発生され
る軌跡上のX線の確立分布が一般的に均一でなく、アノ
ードの回転にともなつて変化しうるが、正確な映像再構
成のためには各ビームの放射線密度が既知であることが
要求されるので問題が生じる。この発明の目的はそのよ
うな問題を軽減することである。この発明によれは、こ
の目的を達成するため、有限の厚さを有し略扇形状に分
布する各種の方向に輻射線を放出し一定方向の対象体を
透過させるべく配置された輻射線源と、各種の方向から
対象体に輻射線を透過させるべく前記分布面内で対象体
に対して前記輻射線源を移動させるようにした装置と、
前記分布面内にある対象体を透過した輻射線を検知しこ
の輻射線の強度に関連した出力信号を形成する検出器と
、この検出器の出力信号に基づいて対象体の断面におけ
る輻射線の吸収の変化を得るようにした処理装置を有す
る装置において、前記扇形状の輻射線分布領域の各方向
における輻射線の硬度の変化を補償するための装置を具
えるようにする。
においては、X線が扇形状の軌跡の形で与’5 えられ
なけれはならない。この場合には、一群の検知器が設け
られて放射線源からそれらの検知器までの狭い通路内を
移行する放射線を検知するようになされる。さらに、放
射線源と検知器は前記軌跡の平面に対して直交する軸線
のまわりで回転roしうるようになされているので、各
ビームの一連の角度位置に対して各検知器から一連の出
力が得られうるようになされている。かくして各検知器
は多数のビームに沿つての放射線に対する被検査体の透
過の表示を与える。これらの一連の出力信■5 号を利
用して映像再構成が実施される。X線が扇状の軌跡をな
して与えられる場合には、前記出力信号のうちの1つを
発生するために、比較的短い時間間隔で十分な入力が各
検知器によつて測定されうるように放射線源から大きい
放射線出力を得ることが望ましい。このような所望の大
きい放射線出力を得るためには、回転アノード型クーリ
ツジ管(ROtatinganOdeCOOlidge
tube)を用いることができる。このような管におい
ては、回転アノードは陰極からの電子流によつてX線が
発生される傾斜エツジを有している。放射線の必要な軌
跡はX線をコリメートすることによつて発生される。こ
の場合、放射線がコリメートされうる多数の方向がある
が、陰極が近接しているがためにコリメーシヨンに不適
当な方向も多数ある。コリメーシヨンによつて発生され
る軌跡上のX線の確立分布が一般的に均一でなく、アノ
ードの回転にともなつて変化しうるが、正確な映像再構
成のためには各ビームの放射線密度が既知であることが
要求されるので問題が生じる。この発明の目的はそのよ
うな問題を軽減することである。この発明によれは、こ
の目的を達成するため、有限の厚さを有し略扇形状に分
布する各種の方向に輻射線を放出し一定方向の対象体を
透過させるべく配置された輻射線源と、各種の方向から
対象体に輻射線を透過させるべく前記分布面内で対象体
に対して前記輻射線源を移動させるようにした装置と、
前記分布面内にある対象体を透過した輻射線を検知しこ
の輻射線の強度に関連した出力信号を形成する検出器と
、この検出器の出力信号に基づいて対象体の断面におけ
る輻射線の吸収の変化を得るようにした処理装置を有す
る装置において、前記扇形状の輻射線分布領域の各方向
における輻射線の硬度の変化を補償するための装置を具
えるようにする。
さらに、放射線を発生するための前記手段は、管の動作
とともに放射線が放出される斜角状の周辺縁をアノード
が有しておりかつ前記コリメート手段が前記表面に対し
て正接関係にあるあいだはほぼ正接関係にあるかまたは
平均軸線がそのような関係にある放射線の軌跡を発生す
るようになされた回転アノード管を含んでいることが好
ましい。
とともに放射線が放出される斜角状の周辺縁をアノード
が有しておりかつ前記コリメート手段が前記表面に対し
て正接関係にあるあいだはほぼ正接関係にあるかまたは
平均軸線がそのような関係にある放射線の軌跡を発生す
るようになされた回転アノード管を含んでいることが好
ましい。
以下図面に示す実施例につきこの発明をさらに詳細に説
明しよう。第1図に概略的に示されている装置は、放射
線に対する人体の平面状断面部分における要素領域の吸
収または透過の映像が再構成されうるようにして前記断
面部分を検査することを意図されたものである。
明しよう。第1図に概略的に示されている装置は、放射
線に対する人体の平面状断面部分における要素領域の吸
収または透過の映像が再構成されうるようにして前記断
面部分を検査することを意図されたものである。
この装置は検査されるべき人体の部分が挿入されうる開
口を有する患者位置決め部材1を具備している。部材1
は装置のフレーム(図示せず)に関して固定されている
。患者のための椅子またはテーブルが前記フレームに対
して固定された関係でもつて設けられる。X線源2は部
材1のまわりで回転するようになされた走査用環状体3
に固定されており、その環状体3を患者の検査時に一定
の速度で回転させるためにその環状体3の周囲リング5
を駆動する電動機4が設けられている。X線源2にはコ
リメータ6が設けられており、コリメータ6は、部材1
の開口を閉塞するのに十分な角度弦を有する薄い平面状
の扇形軌跡7に放射線源2からの放射線をコリメートす
る。この軌跡は図面に垂直な方向の寸法が薄いから患者
の薄い断面部分すなわち仮想輪切り部分だけがX線の軌
跡によつて横切られる。それぞれ1個のコリメータ9を
有する一連の検知器8は部材1の開口を横切つた後に放
射線を受取るようになされており、コリメータ9は実質
的に各検知器が軌跡の長手方向に延長している狭いビー
ムからのみ放射線を受取るようになされている。従つて
、各検知器8は横方向に離間された複数のビーム通路に
沿つた放射線の透過を表わす出力信号を発生する。環状
体3が回転するにつれて、種々の検知器8から一連の出
力信号が得られ、環状体3の異なる角度位置に対応して
、検知器8から複数のグループの信号が得られる。これ
らの信号は補償回路10を通じて映像再構成回路11に
送られ、そこでは検査中の前記仮想輪切り部分の可変透
過または吸収を表わす映像が発生される。再構成回路1
1の動作は例えは前述した英国特許第1283915号
明細書に記載されているように任意適当な形態でありう
るから説明する必要はないであろう。前記特許明細書に
は反復法が記載されているが、コンポリユーシヨン(C
OnvOlutiOn)または他の論理処理を含む方法
も同様に用いられうる。再構成の精度は、検知器8に衝
突する特定のビームが受ける吸収の測定精度に実質的な
程度依存する。これがために、各ビームが放射線源2か
ら出る点におけるそれら各ビームの強度を正確に知る必
要がある。しかし、回転アノード型クーリツジ管から得
られるように放射線の軌跡が大面積に及ぶ場合(軌跡7
)には、その軌跡内で密度分布が実質的に変化すること
がある。この難点を軽減するために、複数の検知器12
(図面には3つ示されている)をちようどコリメータ6
の開口部に設置し、この検知器12が軌跡7の1つの主
表面近傍で放射線をさえぎるようにする。検知器12は
軌跡7の幅方向の一定間隔をもつた位置における放射線
の強度をモニターする。検知器12によつて対応するモ
ニター信号が得られ、そしてそれらの信号は、コリメー
タ9によつて決定される軌跡の各ビームに対する補正係
数を発生する計算回路13に与えられる。
口を有する患者位置決め部材1を具備している。部材1
は装置のフレーム(図示せず)に関して固定されている
。患者のための椅子またはテーブルが前記フレームに対
して固定された関係でもつて設けられる。X線源2は部
材1のまわりで回転するようになされた走査用環状体3
に固定されており、その環状体3を患者の検査時に一定
の速度で回転させるためにその環状体3の周囲リング5
を駆動する電動機4が設けられている。X線源2にはコ
リメータ6が設けられており、コリメータ6は、部材1
の開口を閉塞するのに十分な角度弦を有する薄い平面状
の扇形軌跡7に放射線源2からの放射線をコリメートす
る。この軌跡は図面に垂直な方向の寸法が薄いから患者
の薄い断面部分すなわち仮想輪切り部分だけがX線の軌
跡によつて横切られる。それぞれ1個のコリメータ9を
有する一連の検知器8は部材1の開口を横切つた後に放
射線を受取るようになされており、コリメータ9は実質
的に各検知器が軌跡の長手方向に延長している狭いビー
ムからのみ放射線を受取るようになされている。従つて
、各検知器8は横方向に離間された複数のビーム通路に
沿つた放射線の透過を表わす出力信号を発生する。環状
体3が回転するにつれて、種々の検知器8から一連の出
力信号が得られ、環状体3の異なる角度位置に対応して
、検知器8から複数のグループの信号が得られる。これ
らの信号は補償回路10を通じて映像再構成回路11に
送られ、そこでは検査中の前記仮想輪切り部分の可変透
過または吸収を表わす映像が発生される。再構成回路1
1の動作は例えは前述した英国特許第1283915号
明細書に記載されているように任意適当な形態でありう
るから説明する必要はないであろう。前記特許明細書に
は反復法が記載されているが、コンポリユーシヨン(C
OnvOlutiOn)または他の論理処理を含む方法
も同様に用いられうる。再構成の精度は、検知器8に衝
突する特定のビームが受ける吸収の測定精度に実質的な
程度依存する。これがために、各ビームが放射線源2か
ら出る点におけるそれら各ビームの強度を正確に知る必
要がある。しかし、回転アノード型クーリツジ管から得
られるように放射線の軌跡が大面積に及ぶ場合(軌跡7
)には、その軌跡内で密度分布が実質的に変化すること
がある。この難点を軽減するために、複数の検知器12
(図面には3つ示されている)をちようどコリメータ6
の開口部に設置し、この検知器12が軌跡7の1つの主
表面近傍で放射線をさえぎるようにする。検知器12は
軌跡7の幅方向の一定間隔をもつた位置における放射線
の強度をモニターする。検知器12によつて対応するモ
ニター信号が得られ、そしてそれらの信号は、コリメー
タ9によつて決定される軌跡の各ビームに対する補正係
数を発生する計算回路13に与えられる。
3つの検知器12は、軌跡7の幅方向における放射線の
強度分布の法則が実質的に放物線法則に従うものとして
示されており、この場合には、その法則を決定するには
3つの検知器で十分である。
強度分布の法則が実質的に放物線法則に従うものとして
示されており、この場合には、その法則を決定するには
3つの検知器で十分である。
しかしながら、検知器12の数は所要の精度に応じて変
更されうる。計算回路13で得られた補正係数は所要の
態様で種々の検知器9からの出力信号を補正するために
補償回路10に与えられる。補償回路10は映像再構成
回路11とは分離して示されているが、その映像再構成
回路11の都合のよい位置に包含されうるものである。
放射線源1は回転アノード型クーリツジ管であるが、こ
の管は各ビームの放射線強度が正確な映像再構成のため
に十分大きくなるように使用される。
更されうる。計算回路13で得られた補正係数は所要の
態様で種々の検知器9からの出力信号を補正するために
補償回路10に与えられる。補償回路10は映像再構成
回路11とは分離して示されているが、その映像再構成
回路11の都合のよい位置に包含されうるものである。
放射線源1は回転アノード型クーリツジ管であるが、こ
の管は各ビームの放射線強度が正確な映像再構成のため
に十分大きくなるように使用される。
第2図に示されているように、回転アノード管は、本質
的には、例えはパイレツクス・ガラスで形成された外被
管20によつて画定され高真空に脱気された容器と、陰
極21と、前記容器内に取付けられた回転可能なアノー
ド22とよりなつている。水ジヤケツト23はアノード
22のためのヒートシンクである。アノード22は、電
子ビームに対して角度をもつたターゲツト表面を与える
ように斜角状の周囲縁を有しており、この発明の1つの
特徴によれは、電子ビームは放射状に配置されたスリツ
ト25(第4図参照)の態様でそのターゲツト表面に入
射する。前記ターゲツト表面に対する電子ビーム24の
衝突に応答して、第3図における破線26から集められ
うる特徴を有する確率分布関数に従つて、X線が前記タ
ーゲツト表面から実質的にすべての方向に放出される。
これはスリツト25において縁28に正接する平面に対
する関数を示す。従来はコリメータ・を付設するための
窓を設けられた鉛の容器(図示せず)で管1を包囲し、
その場合、窓を、第3図において27で示されている方
向、即ち確率分布関数26が最大値をとる方向における
ビームに沿つて放射されたX線を受取るように位置づけ
るのが普通であつた。しかしながら、関数27の値はそ
の最大値の両側で急速に低下するから、確率関数をペン
シル・ビームの横断面寸法に亘つて実質的に一定に維持
するために、前記窓の寸法を薄いペンシル・ビームだけ
を通過させるように限定する必要があつた。しかしなが
ら、この発明の重要な特徴によれは、窓とコリメータ6
は、横断面形状が実質的に長方形でありかつ平面が実質
的に扇形であつて軌跡7を形成するX線を受取るように
位置づけられる。
的には、例えはパイレツクス・ガラスで形成された外被
管20によつて画定され高真空に脱気された容器と、陰
極21と、前記容器内に取付けられた回転可能なアノー
ド22とよりなつている。水ジヤケツト23はアノード
22のためのヒートシンクである。アノード22は、電
子ビームに対して角度をもつたターゲツト表面を与える
ように斜角状の周囲縁を有しており、この発明の1つの
特徴によれは、電子ビームは放射状に配置されたスリツ
ト25(第4図参照)の態様でそのターゲツト表面に入
射する。前記ターゲツト表面に対する電子ビーム24の
衝突に応答して、第3図における破線26から集められ
うる特徴を有する確率分布関数に従つて、X線が前記タ
ーゲツト表面から実質的にすべての方向に放出される。
これはスリツト25において縁28に正接する平面に対
する関数を示す。従来はコリメータ・を付設するための
窓を設けられた鉛の容器(図示せず)で管1を包囲し、
その場合、窓を、第3図において27で示されている方
向、即ち確率分布関数26が最大値をとる方向における
ビームに沿つて放射されたX線を受取るように位置づけ
るのが普通であつた。しかしながら、関数27の値はそ
の最大値の両側で急速に低下するから、確率関数をペン
シル・ビームの横断面寸法に亘つて実質的に一定に維持
するために、前記窓の寸法を薄いペンシル・ビームだけ
を通過させるように限定する必要があつた。しかしなが
ら、この発明の重要な特徴によれは、窓とコリメータ6
は、横断面形状が実質的に長方形でありかつ平面が実質
的に扇形であつて軌跡7を形成するX線を受取るように
位置づけられる。
軌跡7の中心線は電子ビーム24の中心線に対して実質
的に直交関係にある。換言すれは、軌跡7はアノード2
2の正接表面28に対して実質的に正接して延長してい
るが、電子ビーム24はそれに対して実質的に放射方向
に延長している。軌跡7の幅を横切る方向において、確
率分布関数26は広い最大値を示すので、電子ビーム2
4の対応する寸法に比較して拡大された寸法を有するに
もかかわらず、軌跡7の幅を横切る方向には制限された
確率変化が生ずるにすぎない。軌跡7の幅を横切る方向
の関数26の変化は前述のように複数の放射線検知器1
2によつてモニターされるのであるが、この場合、検知
器12は前記鉛容器内において前記幅を横切る方向に配
列されかつ前記容器の窓の上面または下面から若干偏倚
された平面内に点在せしめて配置されているから、検知
器12は前記窓を通過する放射線に影響を及ぼすことは
ない。
的に直交関係にある。換言すれは、軌跡7はアノード2
2の正接表面28に対して実質的に正接して延長してい
るが、電子ビーム24はそれに対して実質的に放射方向
に延長している。軌跡7の幅を横切る方向において、確
率分布関数26は広い最大値を示すので、電子ビーム2
4の対応する寸法に比較して拡大された寸法を有するに
もかかわらず、軌跡7の幅を横切る方向には制限された
確率変化が生ずるにすぎない。軌跡7の幅を横切る方向
の関数26の変化は前述のように複数の放射線検知器1
2によつてモニターされるのであるが、この場合、検知
器12は前記鉛容器内において前記幅を横切る方向に配
列されかつ前記容器の窓の上面または下面から若干偏倚
された平面内に点在せしめて配置されているから、検知
器12は前記窓を通過する放射線に影響を及ぼすことは
ない。
従つて、検知器12は軌跡7の上方または下方主表面近
傍で放射線をさえぎる。かくして、軌跡7の幅を横切る
方向における放射線の放出の変化が補償されうる。アノ
ード22は回転するから、それの異なる部分が異なる放
出特性を呈することができ、従つて、それがアノード2
2の回転に対する放出特性の詳細な相関関係を得るのに
有益である。
傍で放射線をさえぎる。かくして、軌跡7の幅を横切る
方向における放射線の放出の変化が補償されうる。アノ
ード22は回転するから、それの異なる部分が異なる放
出特性を呈することができ、従つて、それがアノード2
2の回転に対する放出特性の詳細な相関関係を得るのに
有益である。
このことは、検知器12とアノード22を回転するため
に用いられる駆動回路(図示せず)とから得られる情報
を利用してなされうる。しかしながら、アノードの各回
転に対する基準点を確立するためには、アノード22の
ターゲツト表面に対する電子ビームの入射は、第4図に
おいて25aで示されているように前記ターゲツト表面
の内径の内方に延長せしめられたスリツト25(第3図
)のそれに調節される。ターゲツト表面の内周面のちよ
うど内側には螢光材料のスポツト29が設けられており
、アノード22の回転ごとに電子ビームがそのスポツト
を1回たたき、そのスポツトに螢光を生ぜしめ、適当な
光検知器(図示せず)によつて検知されうる光出力信号
を発生せしめる。コリメータの好ましい構成が第5図に
示されている。
に用いられる駆動回路(図示せず)とから得られる情報
を利用してなされうる。しかしながら、アノードの各回
転に対する基準点を確立するためには、アノード22の
ターゲツト表面に対する電子ビームの入射は、第4図に
おいて25aで示されているように前記ターゲツト表面
の内径の内方に延長せしめられたスリツト25(第3図
)のそれに調節される。ターゲツト表面の内周面のちよ
うど内側には螢光材料のスポツト29が設けられており
、アノード22の回転ごとに電子ビームがそのスポツト
を1回たたき、そのスポツトに螢光を生ぜしめ、適当な
光検知器(図示せず)によつて検知されうる光出力信号
を発生せしめる。コリメータの好ましい構成が第5図に
示されている。
この場合、コリメータは、それの構成は明らかであろう
から示されていないが、スリツト25に対して実質的に
直交関係にある放射線の軌跡、即ち電子ビーム24が衝
突するアノード上の狭い条帯を選択するようになされて
いる。このような構成にすれは、条帯25上のスリツト
が検査されるべき仮想輪切り部分の深さを決定する。こ
の構成は軌跡7の幅方向の分布の均一性を改善するとと
もに、その軌跡の深さ方向に放射線のより均一な密度分
布を与えるという利点を有している。第5図における軌
跡7の場合のように放出表面に対して直交関係にある平
面内の実質的な角度的拡がりに亘つてアノードからX線
が発生される場合には、ビームは、アノードの表面から
輻射線が出る角度に従つて硬度が変化する傾向がある。
第5図の例においては、これは角度に応じて選択的に吸
収する吸収ウエツジ29によつて補償される。そのウエ
ツジは、X線の硬度を角度と実質的に無関係にし、被検
査体に対して実質的に均一な吸収特性を有するような形
状となされている。以上この発明の特定の実施例につい
て説明したが、この発明はそれらに限定されるものでは
なく、この発明の範囲内で種々の変形変更の可能である
ことは当業者には明らかであろう。
から示されていないが、スリツト25に対して実質的に
直交関係にある放射線の軌跡、即ち電子ビーム24が衝
突するアノード上の狭い条帯を選択するようになされて
いる。このような構成にすれは、条帯25上のスリツト
が検査されるべき仮想輪切り部分の深さを決定する。こ
の構成は軌跡7の幅方向の分布の均一性を改善するとと
もに、その軌跡の深さ方向に放射線のより均一な密度分
布を与えるという利点を有している。第5図における軌
跡7の場合のように放出表面に対して直交関係にある平
面内の実質的な角度的拡がりに亘つてアノードからX線
が発生される場合には、ビームは、アノードの表面から
輻射線が出る角度に従つて硬度が変化する傾向がある。
第5図の例においては、これは角度に応じて選択的に吸
収する吸収ウエツジ29によつて補償される。そのウエ
ツジは、X線の硬度を角度と実質的に無関係にし、被検
査体に対して実質的に均一な吸収特性を有するような形
状となされている。以上この発明の特定の実施例につい
て説明したが、この発明はそれらに限定されるものでは
なく、この発明の範囲内で種々の変形変更の可能である
ことは当業者には明らかであろう。
第1図はこの発明の実施例による透過性放射線により物
体を検査するための装置を示す概略構成図、第2図は第
1図に示されたような装置においてX線源として用いら
れうる回転アノード型クーリツジ管の一例を示す概略横
断面図、第3図は回転アノードと、それに重畳せしめて
X線に対する確率分布関数とを示す拡大正両立面図、第
4図は第2図と類似の図であつて、回転アノードによつ
て放出されたX線がこの発明の一例に従つてコリメート
される方向を示す図、第5図はこの発明の他の例に従つ
て放射線がコリメートされる他の好ましい方向を示す図
である。 1・・・・・・患者位置決め部材、2・・・・・・X線
源、a・・・・・・走査環状体、4・・・・・・電動機
、6・・・・・・コリメータ、7・・・・・・扇形軌跡
、8・・・・・・検知器、9・・・・・・コリメータ、
10・・・・・・補償回路、11・・・・・・映像再構
成回路、12・・・・・・検知器、13・・・・・・計
算回路、20・・・・・・外被管、21・・・・・・陰
極、22・・・・・・回転アノード、23・・・・・・
水ジヤケツト、24・・・・・・電子ビーム、25・・
・・・・スリツト、26・・・・・・確率分布関数。
体を検査するための装置を示す概略構成図、第2図は第
1図に示されたような装置においてX線源として用いら
れうる回転アノード型クーリツジ管の一例を示す概略横
断面図、第3図は回転アノードと、それに重畳せしめて
X線に対する確率分布関数とを示す拡大正両立面図、第
4図は第2図と類似の図であつて、回転アノードによつ
て放出されたX線がこの発明の一例に従つてコリメート
される方向を示す図、第5図はこの発明の他の例に従つ
て放射線がコリメートされる他の好ましい方向を示す図
である。 1・・・・・・患者位置決め部材、2・・・・・・X線
源、a・・・・・・走査環状体、4・・・・・・電動機
、6・・・・・・コリメータ、7・・・・・・扇形軌跡
、8・・・・・・検知器、9・・・・・・コリメータ、
10・・・・・・補償回路、11・・・・・・映像再構
成回路、12・・・・・・検知器、13・・・・・・計
算回路、20・・・・・・外被管、21・・・・・・陰
極、22・・・・・・回転アノード、23・・・・・・
水ジヤケツト、24・・・・・・電子ビーム、25・・
・・・・スリツト、26・・・・・・確率分布関数。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 有限の厚さを有し略扇形状に分布する各種の方向に
輻射線を放出し一定方向の対象体を透過させるべく配置
された輻射線源と、各種の方向から対象体に輻射線を透
過させるべく前記分布面内で対象体に対して前記輻射線
源を移動させるようにした装置と、前記分布面内にある
対象体を透過した輻射線を検知しこの輻射線の強度に関
連した出力信号を形成する検出器と、この検出器の出力
信号に基づいて対象体の断面における輻射線の吸収の変
化を得るようにした処理装置とを有する装置において、
前記扇形状の輻射線分布領域の各方向における輻射線の
硬度の変化を補償するための装置を具えて成る透過性輻
射線による対象体検査装置。 2 特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記輻
射線の硬度の変化を補償するための装置は輻射線の通路
に配置された輻射線吸収体であり、この吸収体を通過し
た後の輻射線の硬度は前記分布中の方向に実質上依存し
ないようにして成る透過性輻射線による対象体検査装置
。 3 特許請求の範囲第2項記載の装置において、前記吸
収体は、前記分布平面内において、前記輻射線源に関し
て放射状方向に連続的に変化する吸収行程長を有するよ
うにして成る透過性輻射線による対象体検査装置。 4 特許請求の範囲第3項記載の装置において、前記吸
収体は楔形であるようにして成る透過性輻射線による対
象体検査装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB2632573A GB1475492A (en) | 1973-06-01 | 1973-06-01 | Apparatus for examining objects by means of penetrating radiation |
| GB000026325/73 | 1973-06-01 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS558790A JPS558790A (en) | 1980-01-22 |
| JPS5923205B2 true JPS5923205B2 (ja) | 1984-05-31 |
Family
ID=10241889
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6245174A Expired JPS5436837B2 (ja) | 1973-06-01 | 1974-05-31 | |
| JP54051326A Expired JPS5923205B2 (ja) | 1973-06-01 | 1979-04-25 | 透過性輻射線による対象体検査装置 |
Family Applications Before (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6245174A Expired JPS5436837B2 (ja) | 1973-06-01 | 1974-05-31 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US3940625A (ja) |
| JP (2) | JPS5436837B2 (ja) |
| DE (2) | DE2426343C2 (ja) |
| GB (1) | GB1475492A (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4076985A (en) * | 1973-08-18 | 1978-02-28 | Emi Limited | Computerized tomographic scanner with beam distribution control |
| GB1493593A (en) * | 1974-01-31 | 1977-11-30 | Emi Ltd | Radiography |
| GB1493148A (en) * | 1974-01-31 | 1977-11-23 | Emi Ltd | Radiography |
| US4066902A (en) * | 1974-03-23 | 1978-01-03 | Emi Limited | Radiography with detector compensating means |
| US4289968A (en) * | 1975-01-23 | 1981-09-15 | Emi Limited | Radiography |
| DE2503789C3 (de) * | 1975-01-30 | 1980-10-09 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Einrichtung zum Ermitteln der Absorption einer Strahlung in einer Ebene eines Körpers, mit einer Anordnung einer Strahlenquelle und einer Vielzahl von Strahlendetektoren, die relativ zu dem Körper kontinuierlich gedreht wird |
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| GB1536448A (en) * | 1976-06-01 | 1978-12-20 | Emi Ltd | Radiography |
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| US9870892B2 (en) | 2011-11-23 | 2018-01-16 | Koninklijke Philips N.V. | Periodic modulation of the X-ray intensity |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US3432657A (en) * | 1965-07-06 | 1969-03-11 | Intelligent Instr Inc | X-ray helical scanning means for displaying an image of an object within the body being scanned |
| GB1283915A (en) * | 1968-08-23 | 1972-08-02 | Emi Ltd | A method of and apparatus for examination of a body by radiation such as x or gamma radiation |
| US3737660A (en) * | 1969-10-09 | 1973-06-05 | Hida X Ray | Apparatus for taking tomograms of parabolically curved objects |
| SE347859B (ja) * | 1970-11-30 | 1972-08-14 | Medinova Ab | |
| JPS52249B2 (ja) * | 1973-05-15 | 1977-01-06 |
-
1973
- 1973-06-01 GB GB2632573A patent/GB1475492A/en not_active Expired
-
1974
- 1974-05-29 DE DE2426343A patent/DE2426343C2/de not_active Expired
- 1974-05-29 DE DE2462564A patent/DE2462564B2/de not_active Ceased
- 1974-05-30 US US05/474,767 patent/US3940625A/en not_active Expired - Lifetime
- 1974-05-31 JP JP6245174A patent/JPS5436837B2/ja not_active Expired
-
1979
- 1979-04-25 JP JP54051326A patent/JPS5923205B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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| DE2462564B2 (de) | 1979-09-06 |
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| JPS5436837B2 (ja) | 1979-11-12 |
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| DE2462564A1 (de) | 1977-11-03 |
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| JPS558790A (en) | 1980-01-22 |
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