JPS5923385B2 - 水銀−ナトリウムアマルガムのフロ−中のナトリウムの濃度の測定法 - Google Patents
水銀−ナトリウムアマルガムのフロ−中のナトリウムの濃度の測定法Info
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- JPS5923385B2 JPS5923385B2 JP53118537A JP11853778A JPS5923385B2 JP S5923385 B2 JPS5923385 B2 JP S5923385B2 JP 53118537 A JP53118537 A JP 53118537A JP 11853778 A JP11853778 A JP 11853778A JP S5923385 B2 JPS5923385 B2 JP S5923385B2
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は水銀−ナトリウムアマルガム中のナトリウムの
濃度の測定に関するものである。
濃度の測定に関するものである。
更に特に本発明は液体電解質を照合電極とアマルガムの
間に挿入して、アマルガムと照合電極の間に生じた起電
力をモニターすることによつて水銀−ナトリウムアマル
ガムのフロー中のナトリウムの濃度の数値を連続的に測
定する方法に関するものである。
間に挿入して、アマルガムと照合電極の間に生じた起電
力をモニターすることによつて水銀−ナトリウムアマル
ガムのフロー中のナトリウムの濃度の数値を連続的に測
定する方法に関するものである。
照合電極、電解液は電気化学槽を形成し、その起電力(
E.m.仁)はこの起電力が検出される瞬間におけるア
マルガム中のナトリウムの濃度の関数である。この方法
は塩化ナトリウムの水溶液が電解を受けそしてナトリウ
ムアマルガムの連続流が排出され、これから水でアマル
ガムの分解により水性水酸化ナトリウムが連続して得ら
れる塩素の製造のため使用される、水銀電極を用(・た
電解槽の場合に特に有用である。
E.m.仁)はこの起電力が検出される瞬間におけるア
マルガム中のナトリウムの濃度の関数である。この方法
は塩化ナトリウムの水溶液が電解を受けそしてナトリウ
ムアマルガムの連続流が排出され、これから水でアマル
ガムの分解により水性水酸化ナトリウムが連続して得ら
れる塩素の製造のため使用される、水銀電極を用(・た
電解槽の場合に特に有用である。
この電解槽の正確な操作のために、流出液アマルガム中
のナトリウム濃度の連続的測定及び記録された濃度の数
値が公称の選択値から著しく逸脱する時に(適当な調節
の手段によつて)電解槽の作動状態の変更が必要になる
。
のナトリウム濃度の連続的測定及び記録された濃度の数
値が公称の選択値から著しく逸脱する時に(適当な調節
の手段によつて)電解槽の作動状態の変更が必要になる
。
この後者の数値は原則的に0.15重量%以下の濃度が
経済的に不都合であり、一方0.5重量以上のものはア
マルガムのフロー特性を減少させるので、―般に0.1
5ないし0.50重量%の範囲内で選択される。
経済的に不都合であり、一方0.5重量以上のものはア
マルガムのフロー特性を減少させるので、―般に0.1
5ないし0.50重量%の範囲内で選択される。
公称値は一般に0.2−0.3重量%のオーダーのもの
である。かくして、本発明は水銀−ナトリウムアマルガ
ムのフロー中に浸漬された末端が多孔性隔壁又は毛管に
なつている電気絶縁性材料の導管を通して塩化ナトリウ
ムの水溶液を流すこと6溶液とアマルガムとの間の界面
の連続的更新を確保するような速度でそして1時間当り
、かつ多孔性隔壁の表面又は毛管開口の部分とアマルガ
ムとの間の接触の表面積の1詞当り少な〈とも4mtの
速度で前記の導管を通して前記の溶液を送ること.そし
て前記のアマルガムと6前記の導管内にかつ前記の溶液
と接触して配置したカロメル電極又は銀一塩化銀照合電
極との間に生じた起電力をモニターすること、前記のナ
トリウム金属の濃度が前記の起電力の一価関数であるこ
とを特徴とする水銀−ナトリウムアマルガムのフロー中
のナトリウム金属の濃度を測定する方法を供する。
である。かくして、本発明は水銀−ナトリウムアマルガ
ムのフロー中に浸漬された末端が多孔性隔壁又は毛管に
なつている電気絶縁性材料の導管を通して塩化ナトリウ
ムの水溶液を流すこと6溶液とアマルガムとの間の界面
の連続的更新を確保するような速度でそして1時間当り
、かつ多孔性隔壁の表面又は毛管開口の部分とアマルガ
ムとの間の接触の表面積の1詞当り少な〈とも4mtの
速度で前記の導管を通して前記の溶液を送ること.そし
て前記のアマルガムと6前記の導管内にかつ前記の溶液
と接触して配置したカロメル電極又は銀一塩化銀照合電
極との間に生じた起電力をモニターすること、前記のナ
トリウム金属の濃度が前記の起電力の一価関数であるこ
とを特徴とする水銀−ナトリウムアマルガムのフロー中
のナトリウム金属の濃度を測定する方法を供する。
本発明の特定具体例に従つて、このアマルガムは0.1
5ないし0.5重量%の公称のナトリウム濃度を有する
水銀一塩素電解槽から流出するナトリウム負荷プロセス
アマルガムである。
5ないし0.5重量%の公称のナトリウム濃度を有する
水銀一塩素電解槽から流出するナトリウム負荷プロセス
アマルガムである。
好ましくは、塩化ナトリウムの水溶液は操作温度で0.
01Mないし飽和までの濃度を有する。最適条件下では
6流出液アマルガム中のナトリウム濃度の公称値は0.
2ないし0.3重量%でありそしてこの水溶液中の塩化
ナトリウムの濃度は1Mである。公知のように6塩素の
製造に使用される、水銀一塩素電解槽から排出されるア
マルガムは最初にこれが少量の水で処理されて塩化物及
び他の不純物を除去する室へ、次にアマルガムによつて
出口導管への通路が塞がれ、アマルガム以外の液がアマ
ルガム出口導管から出ないようになつている容器へ6そ
して最後に水で処理されてアマルガム中に含有されるナ
トリウムを対応する水酸化物へ変換するアマルガム解こ
う装置へ流される。
01Mないし飽和までの濃度を有する。最適条件下では
6流出液アマルガム中のナトリウム濃度の公称値は0.
2ないし0.3重量%でありそしてこの水溶液中の塩化
ナトリウムの濃度は1Mである。公知のように6塩素の
製造に使用される、水銀一塩素電解槽から排出されるア
マルガムは最初にこれが少量の水で処理されて塩化物及
び他の不純物を除去する室へ、次にアマルガムによつて
出口導管への通路が塞がれ、アマルガム以外の液がアマ
ルガム出口導管から出ないようになつている容器へ6そ
して最後に水で処理されてアマルガム中に含有されるナ
トリウムを対応する水酸化物へ変換するアマルガム解こ
う装置へ流される。
本発明によりアマルガム中のナトリウムの含量の測定を
電解槽からの出口とアマルガム解こう装置への入口の間
の任意の点で行なうことができる。
電解槽からの出口とアマルガム解こう装置への入口の間
の任意の点で行なうことができる。
好適具体例ではこの測定は室からの排出部に近く、アマ
ルガムが少量の水で処理される室で行なわれる。前記の
導管は一般に電気絶縁材料6例えば開放端部を有し、か
つ他端に多孔性隔壁又は毛管を保持するガラスの管状体
である。
ルガムが少量の水で処理される室で行なわれる。前記の
導管は一般に電気絶縁材料6例えば開放端部を有し、か
つ他端に多孔性隔壁又は毛管を保持するガラスの管状体
である。
照合電極は二つの端部の中間の位置に管状体内に配置さ
れ、そして開放端部近くで管状体の外部に配置された電
気端子に接続される。前記の電極は銀で作られ、一般に
ら旋形に曲げられた線からなり、この上に塩化銀が電解
によつて沈積される。
れ、そして開放端部近くで管状体の外部に配置された電
気端子に接続される。前記の電極は銀で作られ、一般に
ら旋形に曲げられた線からなり、この上に塩化銀が電解
によつて沈積される。
別の具体例によれば照合電極はその=端が粒子の形の固
体塩化銀と接触して(・る銀線からなる。
体塩化銀と接触して(・る銀線からなる。
これらの後者は塩化ナトリウムの溶液と電極の接触を確
保するように幾つかの孔を有する、管状体内に配置され
る、電気絶縁性材料、一般にガラスの適当なコンテナ一
内に収容される。使用時には、この管状体の開放端部を
溶液を含有する容器に連結し、多孔性隔壁又は毛管を保
持する端部をアマルガムのフロー中に浸漬しそして照合
電極の端子を測定装置、例えばミリ電圧計及び/又はプ
ロセスコンビユータの適当な入力に接続する。
保するように幾つかの孔を有する、管状体内に配置され
る、電気絶縁性材料、一般にガラスの適当なコンテナ一
内に収容される。使用時には、この管状体の開放端部を
溶液を含有する容器に連結し、多孔性隔壁又は毛管を保
持する端部をアマルガムのフロー中に浸漬しそして照合
電極の端子を測定装置、例えばミリ電圧計及び/又はプ
ロセスコンビユータの適当な入力に接続する。
溶液が流れるものに近くアマルガムのある区域に測定装
置の第二人力を接続する目的のために第二の電線を設け
る。
置の第二人力を接続する目的のために第二の電線を設け
る。
好ましくは、この第二の電線は導管の外部にかつこの開
放端部の近くに配置された第二の端子から導管に沿つて
延びる。
放端部の近くに配置された第二の端子から導管に沿つて
延びる。
この第二の電線は多孔性隔壁又は毛管に近い場所に下方
へ外部から絶縁され、そこではこれは絶縁性材料から突
出し、それ故に隔壁又は毛管が前記のアマルガムに浸漬
される時にアマルガムと直接に接触する。好ましくは前
記の第二の線は白金又は鉄である。カロメル電極は当業
者に公知であり,そして一般に水銀及び塩化第一水銀の
ペーストと接触した水銀からなり6このペーストが電解
溶液と接触している。
へ外部から絶縁され、そこではこれは絶縁性材料から突
出し、それ故に隔壁又は毛管が前記のアマルガムに浸漬
される時にアマルガムと直接に接触する。好ましくは前
記の第二の線は白金又は鉄である。カロメル電極は当業
者に公知であり,そして一般に水銀及び塩化第一水銀の
ペーストと接触した水銀からなり6このペーストが電解
溶液と接触している。
更に、白金線はその一端で水銀と接触している。この銀
塩化銀電極は例えば銀の線(又はシート)により容易に
作ることができ2その上に塩化銀が塩化水素酸の水溶液
の電解によつて形成される。アルカリ金属のアマルガム
からなる電極の電位の測定はかなりの間行なわれている
ことは認められよう。
塩化銀電極は例えば銀の線(又はシート)により容易に
作ることができ2その上に塩化銀が塩化水素酸の水溶液
の電解によつて形成される。アルカリ金属のアマルガム
からなる電極の電位の測定はかなりの間行なわれている
ことは認められよう。
特に、この電位はアマルガムと照合電極が電気化学槽に
とつて代表的な装置でアルカリ金属塩化物の水溶液によ
つで連結されている照合基準、例えばカロメル電極又は
前記のような銀一塩化銀電極と比較して測定された。し
かしながら、これらの技術はアルカリ金属含量、特に各
アマルガム中のナトリウムの連続測定にはまだ適用され
ていな(ゝ。実際に商業的規模で使用に必要であるよう
な長期間にわたつて信頼できかつ再現できる結果を得る
ことが許される条件は判明していなかつた。
とつて代表的な装置でアルカリ金属塩化物の水溶液によ
つで連結されている照合基準、例えばカロメル電極又は
前記のような銀一塩化銀電極と比較して測定された。し
かしながら、これらの技術はアルカリ金属含量、特に各
アマルガム中のナトリウムの連続測定にはまだ適用され
ていな(ゝ。実際に商業的規模で使用に必要であるよう
な長期間にわたつて信頼できかつ再現できる結果を得る
ことが許される条件は判明していなかつた。
実際に、アルカリ金属水酸化物及び水素のような生成物
の形成と共に電解液とアマルガムの間の界面で化学変化
が起き、そのため電極電位の数値、従つて各電気化学槽
の起電力値が変化してくることに注意すべきである。本
発明によつて操作することにより、前記の化学変化から
起因する欠点が排除され、そしてアマルガム中の電解液
の連続流によつて6アマルガムと電解液の間の界面の連
続した更新が重要性を有するのはこの点に関してである
。
の形成と共に電解液とアマルガムの間の界面で化学変化
が起き、そのため電極電位の数値、従つて各電気化学槽
の起電力値が変化してくることに注意すべきである。本
発明によつて操作することにより、前記の化学変化から
起因する欠点が排除され、そしてアマルガム中の電解液
の連続流によつて6アマルガムと電解液の間の界面の連
続した更新が重要性を有するのはこの点に関してである
。
かくして、電解質中の塩化ナトリウムの濃度は重要な要
因を構成しそして全操作中厳しく一定に保たねぱならな
い。
因を構成しそして全操作中厳しく一定に保たねぱならな
い。
しかしながら、アマルガムへ電解質の供給速度の一定性
は実験的に評価してこの速度は多孔性隔壁(又は毛管の
開口)とアマルガムの間の接触の表面の1cdに対して
1時間当り4dの最小値以上に大き(・限り、重要では
ない。特に好適な速度は前記の接触の表面の1cdに対
して1時間当り8m12である。前記の供給速度の上限
は臨界的ではなく、経済的配慮及び最終的に生じた水酸
化ナトリウムに塩素イオンで汚染しないことの必要性に
よつて指定される。
は実験的に評価してこの速度は多孔性隔壁(又は毛管の
開口)とアマルガムの間の接触の表面の1cdに対して
1時間当り4dの最小値以上に大き(・限り、重要では
ない。特に好適な速度は前記の接触の表面の1cdに対
して1時間当り8m12である。前記の供給速度の上限
は臨界的ではなく、経済的配慮及び最終的に生じた水酸
化ナトリウムに塩素イオンで汚染しないことの必要性に
よつて指定される。
前記の条件下で操作することによつて、論議している測
定の成功に不可欠である界面の連続的更新が得られる。
これに関してアマルガムのフローは界面の満足すべき更
新を確保するために不十分であることは認められよう。
定の成功に不可欠である界面の連続的更新が得られる。
これに関してアマルガムのフローは界面の満足すべき更
新を確保するために不十分であることは認められよう。
実際に移動するがアマルガム内に電解質の注入なしにア
マルガムで行なつた試験は何ら有用な結果を生じなかつ
た。アマルガムのレベルに関して電解質を含有するタン
クの高さに基づいた液体の頂部によつて、かつまた使用
した毛管開口の寸法又は多孔性隔壁の特性を介して電解
質のフローの大きさを調節できる。
マルガムで行なつた試験は何ら有用な結果を生じなかつ
た。アマルガムのレベルに関して電解質を含有するタン
クの高さに基づいた液体の頂部によつて、かつまた使用
した毛管開口の寸法又は多孔性隔壁の特性を介して電解
質のフローの大きさを調節できる。
特に毛管開口の直径は好都合には0.3ないし1.0r
wLのオーダーの数値を有する。好適な多孔性隔壁は3
ないし150ミクロンの孔を有する半融ガラスのもの、
例えばP1(3−15ミクロンの孔)及びP4(90−
150ミクロン)として市販のものである。アマルガム
に供給される電解質の量は最終的に生ずる水酸化ナトリ
ウム中の塩素イオンに無視し得る低い増加(10ppm
以下)を生ずるようなものである。
wLのオーダーの数値を有する。好適な多孔性隔壁は3
ないし150ミクロンの孔を有する半融ガラスのもの、
例えばP1(3−15ミクロンの孔)及びP4(90−
150ミクロン)として市販のものである。アマルガム
に供給される電解質の量は最終的に生ずる水酸化ナトリ
ウム中の塩素イオンに無視し得る低い増加(10ppm
以下)を生ずるようなものである。
実際の具体例では6アマルガムは約75るCの温度であ
り、一方照合電極は周辺温度な(゛しアマルガムの温度
に近(・温度であり、これは前記の照合電極の位置によ
つて異なる。
り、一方照合電極は周辺温度な(゛しアマルガムの温度
に近(・温度であり、これは前記の照合電極の位置によ
つて異なる。
実際的に、銀一塩化銀照合電極の場合において温度のこ
の差により影響は見られなかつた。
の差により影響は見られなかつた。
カロメル電極の場合にはE.m.f.は1℃に対して約
0.24ミリボルトだけ影響される。実験的に、前記の
照合電極で、電解液中1Mないし飽和までの塩化ナトリ
ウムの濃度で、そして0.6重量%までのアマルガム中
のナトリウムの濃度で.ボルトで表わしたE.m.f.
の数値は一般に19ないし2.2の範囲内にあることが
判明した。
0.24ミリボルトだけ影響される。実験的に、前記の
照合電極で、電解液中1Mないし飽和までの塩化ナトリ
ウムの濃度で、そして0.6重量%までのアマルガム中
のナトリウムの濃度で.ボルトで表わしたE.m.f.
の数値は一般に19ないし2.2の範囲内にあることが
判明した。
公知のナトリウム濃度を有するアマルガムを使用するこ
とで行なつた、ミリボルトで測定したE.m.f.の結
果を第1ないし第4表で示す。特に第1表のデータはカ
ロメル電極と銀−塩化銀電極、及び電解質として塩化ナ
トリウムの飽和溶液を使用し、アマルガムを75℃に保
つて得ら簀れた。P4型の多孔性隔壁を通してかきまぜ
たアマルガムの中へ電解質を流入させた。第1表には酸
滴定法により測定した重量百分率(%Na)としてアマ
ルガム、中のナトリウムの濃度の数値.及び1000倍
したモル分率(×Na)を記録する。
とで行なつた、ミリボルトで測定したE.m.f.の結
果を第1ないし第4表で示す。特に第1表のデータはカ
ロメル電極と銀−塩化銀電極、及び電解質として塩化ナ
トリウムの飽和溶液を使用し、アマルガムを75℃に保
つて得ら簀れた。P4型の多孔性隔壁を通してかきまぜ
たアマルガムの中へ電解質を流入させた。第1表には酸
滴定法により測定した重量百分率(%Na)としてアマ
ルガム、中のナトリウムの濃度の数値.及び1000倍
したモル分率(×Na)を記録する。
ヨロメル電極の場合及び銀一塩化銀の電極の場合にE.
m.f.の数値(MV)を対応して各々示す。電解質と
してIM水性塩化ナトリウムを使用する同様な試験の結
果を第2表に記録する。
m.f.の数値(MV)を対応して各々示す。電解質と
してIM水性塩化ナトリウムを使用する同様な試験の結
果を第2表に記録する。
電解質としてIM水性塩化ナトリウムを使用しそしてア
マルガムを25℃の温度に保つ前記の試験に類似の試験
の結果を第3表に示す。
マルガムを25℃の温度に保つ前記の試験に類似の試験
の結果を第3表に示す。
0.47mの出口開口の直径を有するポリフルオロエチ
レン毛管を介して、電解質として1M水性塩化ナトリウ
ムを75℃に保つたアマルガムの中に流入させる前記の
試験に類似する試験の結果を第4表に記録する。
レン毛管を介して、電解質として1M水性塩化ナトリウ
ムを75℃に保つたアマルガムの中に流入させる前記の
試験に類似する試験の結果を第4表に記録する。
第1図の曲線の形状から、考慮した濃度の全域にわたつ
て非常に正確に、E.m.f.の測定によつてアマルガ
ム中のナトリウムの濃度を測定する?ことが可能である
ことが判る。
て非常に正確に、E.m.f.の測定によつてアマルガ
ム中のナトリウムの濃度を測定する?ことが可能である
ことが判る。
第2図に略示した装置を使用して第1な(゛し第4表に
記録したデータが得られた。
記録したデータが得られた。
電解質は導管11を介してコンテナ−10からそして導
管11から多孔性隔壁13を介してアマルガム12の中
へ連続的に流れる。照合電極14をコンテナ一10の電
解質に浸漬させる。この照合電極は塩化銀の粒子に取囲
まれる銀線からなり、全体は電解質と接触できるように
孔あけされた小さなガラス円筒内に閉じ込められる。ア
マルガム12は受器15に装入され6これには図示のよ
うに循環する液体によつて、所望の温度にアマルガムを
導くジャケットが設けられる。
管11から多孔性隔壁13を介してアマルガム12の中
へ連続的に流れる。照合電極14をコンテナ一10の電
解質に浸漬させる。この照合電極は塩化銀の粒子に取囲
まれる銀線からなり、全体は電解質と接触できるように
孔あけされた小さなガラス円筒内に閉じ込められる。ア
マルガム12は受器15に装入され6これには図示のよ
うに循環する液体によつて、所望の温度にアマルガムを
導くジャケットが設けられる。
このアマルガムを適当にふるい分ける磁気かきまぜ機に
よるかきまぜの下に保つ。白金線をアマルガムに浸漬し
そして照合電極と白金線の端子を線18及び19によつ
て図示しないデイジタル電圧計オリオン101−A型へ
接続する。使用したカロメル電極は水銀に白金線を浸漬
させた、水銀及び水銀一塩化第一水銀ペーストからなる
。
よるかきまぜの下に保つ。白金線をアマルガムに浸漬し
そして照合電極と白金線の端子を線18及び19によつ
て図示しないデイジタル電圧計オリオン101−A型へ
接続する。使用したカロメル電極は水銀に白金線を浸漬
させた、水銀及び水銀一塩化第一水銀ペーストからなる
。
電解質と接触できるような孔を有する小型ガラス瓶の中
に全体を封入する。多孔性隔壁の代りに使用した毛管は
従来記載されている。試験では電解質の供給速度は接触
の表面積の1cdに対して時間当り約8m1に等しかつ
た。
に全体を封入する。多孔性隔壁の代りに使用した毛管は
従来記載されている。試験では電解質の供給速度は接触
の表面積の1cdに対して時間当り約8m1に等しかつ
た。
第3図に示したプローブは開放端部21で開き、かつ下
端に多孔性隔壁22を有する、ガラス又は他の絶縁性材
料の円筒状本体20を含む。内部的には、両端の中間の
位置に、図示の場合には、塩化銀が上に沈積された銀ら
せん体からなる照合電極23を配置する。
端に多孔性隔壁22を有する、ガラス又は他の絶縁性材
料の円筒状本体20を含む。内部的には、両端の中間の
位置に、図示の場合には、塩化銀が上に沈積された銀ら
せん体からなる照合電極23を配置する。
本体20の中間部分はプラスチツク材料、例えばポリプ
ロピレンのさや24により取囲まれる。
ロピレンのさや24により取囲まれる。
アマルガムと接触のために、その上方部分がさや24と
本体20の間の管状空間部に密封して挿入されるように
形成される、鉄の環25が下方部分から突出する。この
管状空間部内には端子クランプ28へ環25を接続する
線26が収容される。線27は照合電極23を端子クラ
ンプ29に接続する。このプローブは好都合には直径2
ないし3cm、長さ20ないし50c!nの寸法を有し
、後者はプローブが使用されるべき装置に応じて必然的
に異なる。
本体20の間の管状空間部に密封して挿入されるように
形成される、鉄の環25が下方部分から突出する。この
管状空間部内には端子クランプ28へ環25を接続する
線26が収容される。線27は照合電極23を端子クラ
ンプ29に接続する。このプローブは好都合には直径2
ないし3cm、長さ20ないし50c!nの寸法を有し
、後者はプローブが使用されるべき装置に応じて必然的
に異なる。
第4図には照合電極が塩化銀の粒子33ど接触した、銀
線32からなる特定の具体例を示す。
線32からなる特定の具体例を示す。
照合電極はコンテナ−30に収容され、これは電解質と
電極の接触のために孔を有する、プローブの本体と一般
に同一の材料のものでぁる。電解質による粒子の除去を
避けるために、図示のガラスウール34及び35を挿入
すると好都合である。
電極の接触のために孔を有する、プローブの本体と一般
に同一の材料のものでぁる。電解質による粒子の除去を
避けるために、図示のガラスウール34及び35を挿入
すると好都合である。
このプローブには好都合にはその上方部分にこれが使用
されるべき室の壁にこれを固着するための手段を設ける
。
されるべき室の壁にこれを固着するための手段を設ける
。
使用時には、このプローブを一般に2−3cmのオーダ
ーの深さまでアマルガムに浸漬する。電解質を含有する
管に上方部分を連結する。第5図は第3図又は第4図の
プローブを含む、本発明の方法を実施するための装置を
示す。
ーの深さまでアマルガムに浸漬する。電解質を含有する
管に上方部分を連結する。第5図は第3図又は第4図の
プローブを含む、本発明の方法を実施するための装置を
示す。
更に特に、参照数字36は電解槽を示し、ここでは塩素
及び水銀−ナトリウムアマルガムが生成される。槽36
から排出されるアマルガムは少量の水で洗浄されるべく
室37に流入する;図では簡単のためこの洗浄のために
使用した装置を示さない。次にアマルガムは導管38を
通して室39へ流入し、ここで底の上のアマルガムは入
口導管38と出口導管40との間に層を形成し.その層
によつて出口導管40への通路が塞がれ、アマルガム以
外の液が出口導管からでないようになつている。
及び水銀−ナトリウムアマルガムが生成される。槽36
から排出されるアマルガムは少量の水で洗浄されるべく
室37に流入する;図では簡単のためこの洗浄のために
使用した装置を示さない。次にアマルガムは導管38を
通して室39へ流入し、ここで底の上のアマルガムは入
口導管38と出口導管40との間に層を形成し.その層
によつて出口導管40への通路が塞がれ、アマルガム以
外の液が出口導管からでないようになつている。
そして次にアマルガムは導管40によつてアマルガム解
こう装置(図示せず)へ流入し、≦方水溶液はライン4
1を通して排出される。プローブ42を室37に挿入し
そして前記の室から排出部に近い場所でアマルガムに浸
漬する。
こう装置(図示せず)へ流入し、≦方水溶液はライン4
1を通して排出される。プローブ42を室37に挿入し
そして前記の室から排出部に近い場所でアマルガムに浸
漬する。
電解質用のコンテナ−44に管43によりプローブの上
端部を接続する。ミリ電圧計47にプローブの端子を連
結する線を45と46として示す。槽36の操作を制御
するように設計されたプロセスコンピユータ一に接続の
ための線を48と49として示す。第5図に略示する型
式の装置では塩素の製造用に使用する水銀陰極を有する
工業用電解槽で測定を行なつた。
端部を接続する。ミリ電圧計47にプローブの端子を連
結する線を45と46として示す。槽36の操作を制御
するように設計されたプロセスコンピユータ一に接続の
ための線を48と49として示す。第5図に略示する型
式の装置では塩素の製造用に使用する水銀陰極を有する
工業用電解槽で測定を行なつた。
特に使用したプロープは1cdの表面積を有する4P多
孔性隔壁を有する、第4図に記載した型式のものである
。約8d/時の速度で多孔性隔壁を通して塩化ナトリウ
ムの1M水溶液を流した。アマルガムの平均温度は75
℃であつた。第5表には1月の間にわたつて毎日得られ
た結果を示し、そして特にミリボルトでE.m.f.の
数値、第2図の校正曲線により測定したアマルガム中の
ナトリウム濃度の対応値、及び酸滴定法で測定した濃度
の同一数値を示す。
孔性隔壁を有する、第4図に記載した型式のものである
。約8d/時の速度で多孔性隔壁を通して塩化ナトリウ
ムの1M水溶液を流した。アマルガムの平均温度は75
℃であつた。第5表には1月の間にわたつて毎日得られ
た結果を示し、そして特にミリボルトでE.m.f.の
数値、第2図の校正曲線により測定したアマルガム中の
ナトリウム濃度の対応値、及び酸滴定法で測定した濃度
の同一数値を示す。
第1図は第4表に要約した試験でアマルガム中のナトリ
ウムの分率の関数として(対数尺度でプロットした)ミ
リボルトでE.m.f.を示す(縦軸に直線尺度でプロ
ツトした)ダイヤグラムであり;第2図は第1−4表に
要約した試験に使用した装置を略示し;第3図は照合電
極及び電解質のための導管を含む、本発明の方法に使用
のためのプローブを示し;第4図は第3図のプローブの
中間部分の変型を示し;そして第5図は水銀一塩素電解
槽と関連した、本発明の方法を実施するための装置の一
具体例を示す。
ウムの分率の関数として(対数尺度でプロットした)ミ
リボルトでE.m.f.を示す(縦軸に直線尺度でプロ
ツトした)ダイヤグラムであり;第2図は第1−4表に
要約した試験に使用した装置を略示し;第3図は照合電
極及び電解質のための導管を含む、本発明の方法に使用
のためのプローブを示し;第4図は第3図のプローブの
中間部分の変型を示し;そして第5図は水銀一塩素電解
槽と関連した、本発明の方法を実施するための装置の一
具体例を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 水銀−ナトリウムアマルガムのフロー中に浸漬され
た末端が多孔性隔壁又は毛管になつている電気絶縁性材
料の導管を通して塩化ナトリウムの水溶液を流すこと、
溶液とアマルガムの間の界面の連続的更新を確保するよ
うな速度でそして1時間当りかつ多孔性隔壁の表面又は
毛管開口の部分とアマルガムとの間の接触表面積の1c
m^2当り少なくとも4mlの速度で前記の導管を通し
て前記の溶液を送ること、そして前記のアマルガムと前
記の導管内にかつ前記の溶液と接触して配置したカロメ
ル電極又は銀−塩化銀照合電極との間に生じた起電力を
モニターすること、前記のナトリウム金属の濃度が前記
の起電力の一価関数であることを特徴とする水銀−ナト
リウムアマルガムのフロー中のナトリウム金属の濃度を
測定する方法。 2 前記の溶液中の塩化ナトリウムの濃度が操作温度で
0.01Mから飽和値であることを特徴とする特許請求
の範囲第1項による方法。 3 前記の水銀−ナトリウムアマルガムが水銀−塩素電
解槽からのプロセスアマルガムであることを特徴とする
特許請求の範囲第1項又は第2項による方法。 4 前記のアマルガムが0.15〜0.50重量%のナ
トリウムの公称濃度を有することを特徴とする特許請求
の範囲第1項〜第3項の何れか1項による方法。 5 前記のアマルガムが0.2〜0.3重量%のナトリ
ウムの公称濃度を有することを特徴とする特許請求の範
囲第1項〜第4項の何れか1項による方法。 6 前記の溶液中の塩化ナトリウムの濃度が実質上1M
であることを特徴とする特許請求の範囲第1項〜第5項
の何れか1項による方法。 7 前記の溶液が時間当りかつ前記の接触の表面の1c
m^2当り8mlのオーダーの速度で流れることを特徴
とする特許請求の範囲第1項〜第6項の何れか1項によ
る方法。 8 前記の毛管開口が0.3〜1mmの直径を有しそし
て前記の多孔性隔壁が3〜150ミクロンの孔を有する
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項〜第7項の何れ
か1項による方法。 9 前記の多孔性隔壁が約1cm^2の表面積を有する
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項〜第8項の何れ
か1項による方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53118537A JPS5923385B2 (ja) | 1978-09-26 | 1978-09-26 | 水銀−ナトリウムアマルガムのフロ−中のナトリウムの濃度の測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53118537A JPS5923385B2 (ja) | 1978-09-26 | 1978-09-26 | 水銀−ナトリウムアマルガムのフロ−中のナトリウムの濃度の測定法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5544959A JPS5544959A (en) | 1980-03-29 |
| JPS5923385B2 true JPS5923385B2 (ja) | 1984-06-01 |
Family
ID=14739038
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53118537A Expired JPS5923385B2 (ja) | 1978-09-26 | 1978-09-26 | 水銀−ナトリウムアマルガムのフロ−中のナトリウムの濃度の測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5923385B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6118082U (ja) * | 1984-07-06 | 1986-02-01 | 日本蚕毛染色株式会社 | 静電気防止用キ−ホルダ− |
| JPS6134983U (ja) * | 1984-08-06 | 1986-03-04 | 東洋物産株式会社 | キ−ホルダ− |
| JPS6147880U (ja) * | 1984-08-31 | 1986-03-31 | 善亮 柳瀬 | 箒型キイホルダ− |
| JPH01104276U (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-13 | ||
| JPH0213463U (ja) * | 1988-07-11 | 1990-01-26 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4879748A (en) * | 1985-08-28 | 1989-11-07 | American Telephone And Telegraph Company | Parallel processing pitch detector |
-
1978
- 1978-09-26 JP JP53118537A patent/JPS5923385B2/ja not_active Expired
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6118082U (ja) * | 1984-07-06 | 1986-02-01 | 日本蚕毛染色株式会社 | 静電気防止用キ−ホルダ− |
| JPS6134983U (ja) * | 1984-08-06 | 1986-03-04 | 東洋物産株式会社 | キ−ホルダ− |
| JPS6147880U (ja) * | 1984-08-31 | 1986-03-31 | 善亮 柳瀬 | 箒型キイホルダ− |
| JPH01104276U (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-13 | ||
| JPH0213463U (ja) * | 1988-07-11 | 1990-01-26 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5544959A (en) | 1980-03-29 |
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