JPS5926009A - 水準測定装置 - Google Patents

水準測定装置

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JPS5926009A
JPS5926009A JP13508682A JP13508682A JPS5926009A JP S5926009 A JPS5926009 A JP S5926009A JP 13508682 A JP13508682 A JP 13508682A JP 13508682 A JP13508682 A JP 13508682A JP S5926009 A JPS5926009 A JP S5926009A
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JP
Japan
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level
pressure
water level
point
measurement
Prior art date
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Pending
Application number
JP13508682A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomio Morimoto
森本 富夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujita Corp
Fujita Kogyo KK
Original Assignee
Fujita Corp
Fujita Kogyo KK
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Publication date
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Priority to JP13508682A priority Critical patent/JPS5926009A/ja
Publication of JPS5926009A publication Critical patent/JPS5926009A/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C5/00Measuring height; Measuring distances transverse to line of sight; Levelling between separated points; Surveyors' levels
    • G01C5/04Hydrostatic levelling, i.e. by flexibly interconnected liquid containers at separated points

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 で−一一一−−゛一 本発明者は最に昭和55年特狛願第163237号(特
開昭57− 5Q3x1 号公報参照)において、密閉
型水タンクと、同タンクに神1通され水位を測定しよう
どする複数の個所に設置された複数の水位言1と、前記
密閉型水タンク内の圧力を測定する圧力検出器と、前記
密閉型水タンク内の圧力を調節する圧力調節装置と、前
記密閉型水タンク内の圧力の変動に伴なう前記複数の水
位側内の水位の変動による検出信号を受けて1ijJ 
+M、数の水位計の設U1個所の水準を測定1−ろとど
もに、前記圧力調整装置C′1°にjM要のflit挿
41信号を送イ14シて前記1’3閉型水タンク内の圧
力を制御する制御・ν2置とからなり、同制御装間より
前記圧ノ月す−1整装置に制御信号を送信して同圧力調
整装置を作ωJさせて前記密閉型水タンク内の圧力を変
動せしめ、この圧力の変動に対応した前記水位q内の水
位の変動に対応して、設置個所の低い水位計から高い方
の水位計に、或いは設置個所の高い水位計から低い方の
水位計に順次検知信号が発信され、この水位検出信号と
前記圧力検出器からの圧力信号とによって前記水位計の
設置された個所が順次検出されろように構成された圧力
式水準測定装置をv1′案した。
本発明はこの圧力式水準測定装置1Cを利用して、同装
置とレーザ一式水準測定装V1とを組合わせて、取扱い
が簡単で、比較的遠距離でも正’jj(fに測定でき、
しかも見通しのきかない個所でも開側し5ろ水準測定装
置を提供するために貸室されたものであって、レーザー
発光部、同レーザー発光部による画像を処理して同面イ
(とレーザー受光部系%74点までの距11jlcを泪
測するように構成されたレーザー受光部、同レーザー受
光部の装架された圧力式水準測定装置、及び同水準測定
装置におけろ基準用連通方式水位セン・す°−と可撓管
を介して連結された測定用連通方式水位センサーよりな
ることを特徴とする水準測定装置に係るものである。
以下本発明を図示の実施例について説明する。
(a)はプリンター、バッテリー、レーザー画像処理ユ
ニットを含むマイクロコンピュータ−内蔵型の圧力式水
準測定装置Et、(b)はレーザー発光部、(c)は前
記測定装置(a)本体に搭載されたレーザー受光部、(
d)は同レーザー受光部における工TVカメラで、前記
測定装置。仏)に′t6ける基準用連通方式水位センサ
ー(e)と測定用連通方式水位センサー(f)とが可撓
性連通管(glとによって連結されている。
第4図乃至第16図は圧力式水準測定装置、の一実施例
を示し、密閉型水タンク(1)と略々鉛直方向に配設さ
れた電極式水位引(2)とは可撓性連通管(8)を介し
て連通し、同水位泪(2)は非導電性制質の管(3)と
、同筒(3)内の底部に配設された陰極(4)と、前記
管(3)内で同陰IU(4)より7fI要間隔なイI−
シて上方に配置された下側陽極(5)と、前記管(3)
内で同T 11111 J:tろ極に5)より5 []
 mmの間隔を存して上方に配置i−′jされた上側陽
極(6)と、管取付部(7)とよりなり、図示されない
被測定個所、例えばサイロの滑揚ハリ枠に同管取付部(
7)により一体に取付けられるようになっている。
また前記密閉型水タンク(11の底部に、圧力計(9)
が付設され、同圧力削(9)は第6図に図示されろよう
に第4アンプ04)を介して10ピツ)An)変換器0
5)に接続され、同AD変換器(T5)の出力端はマイ
クロコンピュータ(13)に接続されており、前記密閉
型水タンクflj内の1戊部圧力が検出されて、デジタ
ル信号としてマイクロコンピュータ(13+に送信され
るようになっている。
前記圧力泪(9)の圧力検出値は、温度の変化に影響さ
れるため、これを刹1i fatすべく、41司/コン
スタンタン熱電対(10)がAil記圧力g1(9)の
検出1>jlaの近くに設けられ、同熱電対(11の出
力グ1Aは温度変換ユニットおよびデジタルボトルメー
タよりなる温度補償器([6)を介して前記マイクロコ
ンピュータ(I(8)に接続されている。
さらに前記密閉型水タンクけ)の頂部に11(、磁井(
Itと小型エアーポンプα2が付設されており、第7図
に図示されろように、コンピュータ(13)からの制御
信号がソリッドステートリレー面を介してこれら電磁弁
(11)および小型エアーポンプ(1渇に送信されろよ
うになっている。
さらにまた前記′rl)、磁式水位言1 (2+の下側
1−り極(5)と上側陽4f (6)はマルチプレクサ
−(18)の入力端に接続され、同マルチプレクサ−(
IRIの出力端はコンパレータ(11を介してマイクロ
コン上0ユータ(13)に接続されており、マイクロコ
ンピュータ(13)から発信されたノξルス信号はそれ
ぞれ2個il!i:列に接続されたインノζ−タ(20
)により出力ドライープされてマルチプレクサーOQに
送信され、ハイからローに落ちるチップセレクタ信号か
マイクロコンピュータ(13)からライン(21)を介
(、てマルチプレクサ−(1ネに送信されろようになっ
ている。
前記圧力式水〜・測定装置を使用する場合、マイクロコ
ンピュータ03)をスタートさせイ)と、マイクロコン
ピュータ(1:llからソリッドステイトリレー0′l
)へ制御ノξルス信号が発イiされ、同リレー(17)
の動作により、第9図に図示されろように、小型エアー
ポンプ02は停止され、Tli’、 (f(弁住旧ま開
放されて、密閉型水タンク(1)内の圧力は大気圧に設
定されろ。
次に小型エアーポンプ(1カが作動され、T1を磁弁(
12が閉じて、密閉型水タンクtitが加圧状態に設定
されろ。
そしてこの場合には、チップセレクタ18号がマイクロ
コンピュータ(1:3+より発信されず、10個の1「
極式水位唱(2)の内、特定の電極式水位ff+ +2
1のみが水位を検出しうるようにプIろ。従ってこの、
T、+7定電極式水位計(2)内の水位が上昇して、下
側陽極(5)に水面が接した1(、−に、この特定水位
削(2)の下側陽極(5)からコンパレータ(田に設定
’Itj圧より大きな1G。
圧か印加されて、マイクロコンピュータ(13)に下位
水位検出信号が送信され、その時の水’+MIが圧力泪
(9)で測定され、下側陽極(5)の水面接触時の圧力
カウント値へが求められる。
さらに密閉型水タンク(1)のLF、力か1.)’1.
して特定電極式水位側(2)の下側陽極(5)より5 
[] mrn上方に位置した」二側陽極(6)に水面が
接した時に、前記したと同様にこの時の水頭圧が圧力i
it (9)で測定され、その時の圧力カウント値Bが
求められる。
その結果、A−B−〇  の増分カウント数が求められ
、水位計(2)における1mm水頭の上昇時のカラント
数 /!5oがマイクロコンピュータ(13)にて算定
される。
その後、再びエアーポンプ(12)を停止させ、T[C
磁ノズル旧)を開放して、初期の大気圧状態に戻し、図
示されない油圧ジヤツキで、環状の滑揚型枠を上昇させ
、所定ストロ二り手引後、油圧ジヤツキの作動を停止さ
せ、初期値の大気圧カイ−IPを圧力計(9)で測定す
る(第12図参pa1. )。
さらにまたエアーポンプ02+を作動させ、電磁弁01
)を閉じ、密閉型水タンク(1)内を加圧し、10個の
’or、極式水位計(2)の水頭を一斉に上ケ1させろ
(第11図乃至第12図参照)。
この場合には、チップセレクタnrj号がマイクロコン
ピュータ(13)よりマルチプレク@J−(1)Qk叫
;11欠的に送信され、この間欠的なチツプセレクタイ
i、! 号により各電極式水位側(2)の上側l’AI
 J・’l< f61が順次選択されてスキャンされ、
マイクロコン上0ユータFl:i+ 、J:り出力され
たパルス(,4号によって、スキャンされた上側陽極(
6)が陰極(4)に対して導通状7.i↓1即し水位か
上側陽極(6)に達したかどう検出され、2!L 、i
ll’l状態であればその時の圧力値Sn(n番目の水
位s1+2+の意味)か圧力計(9)にて求められろ。
このようにして10個の電(・π式水位計(2)が全て
動作された後、エアーポンプ(I2)を停止させろとN
もに電磁弁圓を開放し、初期状態に復帰させた時の圧力
を圧力側(5))で測定し、その値が初期IJ−力値P
と等しければ、 P −5n−C150 にて各1を元極式水位fll’(21の設+<1個Qi
の水位を頗る容易に能率良く測定することができろ。
しかし元に4帰させた時の圧力匝が初期圧力値Pと等し
くなければ、再びエアー71?ンプ([2)を作動させ
るとともに電イdn弁旧)を閉じ、前記したと同4’l
′iにスキャンさせて、各水位計(2)の水位を求めろ
ものである。
これを何回も繰返しても復帰圧力値と初期圧力値Pとが
等しくないときには、前記タンク(1)または連通管(
8)が水漏れしたことに基因するものであり、これらを
修復すればよい。
前記圧力式水垢測定装置によれば、密閉型水タンク(1
)と各電極式水位記(2)とは連通管(8)で;tl互
に連通しているため、見通しの悪い場所でも測定しよう
とする個所の水位を自動的に極めて能率よ(測定できる
ものである。
第2図はレーザーによる水阜測定装(〜と前記圧力式水
準測定装置との相対位(「°を関係を示すもので、Aは
レーザー受光部(C100点基(f、iiポイント、B
、Cは夫々基準用水位センサーレベル++”インド及び
測定用水位センザーレはルアI?インドを示し、LSは
レーザー受光部(C1におけろレーザースポット位許な
示す。
Hoはレーザー受光部(C1の0点基p、It 、l?
イントカ・らレーザースポットLSまでの距離(未知甚
夕)、Hはレーザー受光部(c)のO点基孕スrインド
から基準用水位センサーレベルBまでのh’1ipJP
(既知数)、)I は基準用水位センサーレベルポイン
)13から測定用水位センサーレベル71?インドC庄
での距1’1lff(未知数)、H3はレーザー受)Y
4部(clOO点基準ポイントAから1lllllll
l上ンサーレベルス1璽ントCまでの距邸巨未知θ)を
示1− 。
而して図示の実施例によって例え+、r:9t〜、i!
i物等における6朴“i造部分のレベルを開側しようと
−づ−ろ場合、測定用水位センサー(f+のレベル1j
セインlを、予めしばル出しされた基準墨FL+111
1上りの紳に合致させ、次いで前記圧力式水亭測定装[
々(al Kよって基帖用水位センサー(elのレベル
1jセイン[3と測定用水位センサー(f)のレベル1
jインドCまでの距離I(を求めろ。またこれと同時に
hiJ配水御上   −測定装置(a)の画像処理ユニ
ットによってレーザー受光部(C)に入ってくるレーザ
ースポットLSと、レーザー受光部(c)00点基準ポ
イントAとσ9距9[EHo  をn1測演算する。
Hl は前述のように既知の値であるので、次式によっ
てLSの絶対位置が判る。
LS=Ho+H1+(FL+1m)−H2このようにL
Sの絶対位置が判ると、次に測定しようとする位置まで
本体を移動していくと、逆の計算、即ち次式によって測
定位置のレベルポイントC点が求められる。
G =H+LS−(Ho+H,) 本発明においては前記したように、圧力式水準測定装置
に、レーザー発光部による画像を処理して同画像とレー
ザー受光部基準点までの距離を言(測するように構成さ
れたレーザー受光部を装架し、前記圧力式水準測定装置
におけろ基準用連通方式水位センサーに可撓管を介して
測定用連通方式水位センサーを連結し、圧力式水準測定
装(ハ1とレーザー測定装置とを組合わせて使用し、前
記したようにレーザー受光部におけるレーザースポット
の絶対位置を測定したのち、前記測定用連通方式水位セ
ンサーを可撓管を利用して所要の測定個所に移動ぜしめ
ろこと忙より、比較的遠用(iTrtでも正イifに水
準を測定し5ろのみならず、見’)iTr Lの直接き
かない個所でもiiI記測定用連J1ハ方式水位センザ
ーに連結された++J撓管の長さを変えろことによって
水準測定がn」能となり、更に従来の光学式レベル計器
に比して1人で取扱いができ、広1’1iij囲のff
+測が可能となり、盛替えの必要か少ない。
なお前記圧力式水準測定装置にプリンターを内蔵すると
、各測定点において計測されたレベルの値が自動表記さ
れろものである。
以上本発明を実施例について説明したが、本発明は勿論
このような実施例にだけ局限されろものではなく、本発
明の’M神を逸脱しない1lIcj囲内で種々の設計の
改変を施しうろものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る水準測定装置の一実施例を示す斜
面図、第2図は圧力式水準7Illl定装置i;+″と
レーザ一式測定装置との相対位置関係を示す説明図、第
6図は本装置による開側方法を示す沖、明図、第4図は
圧力式水準測定装置の概略図、第5図はその水位計部分
の縦断側面図、第6図は圧力検出部の回路図、第7図は
圧力調節装置a、のブロック図、第8図は水位言(検出
部分の回路図、第9図は圧力式水準測定装置のフローチ
ャート、第10図乃至第13図はその作動状態を示した
説明図である。 (a)・・・圧力式水準測定装置凸°、(b)・・・レ
ーザー発光部、(C)・・・レーザー受光部、(e)・
・・基準用連通方式水位センサー、(f+・・・測定用
連通方式水位センサー、(gl・・・可撓特代理人 弁
理士 岡 本 jljJ、  文 外2名第1図 第27 第3図 啓 第10図 第11閉 第13ソ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. レーザー発光部、同レーザー発光部による画像を処理し
    て同画像とレーザー受光部基準点までの距離を計測する
    ように構成されたレーザー受光部、同レーザー受光部の
    装架された圧力式水準測定装置id、及び同水準測定装
    置における基準用連通方式水位センサーと可撓管を介し
    て連結された測定用連通方式水位センサーよりなること
    を特徴とする水準測定装置。
JP13508682A 1982-08-04 1982-08-04 水準測定装置 Pending JPS5926009A (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5788311A (en) * 1980-11-21 1982-06-02 Fujita Corp Level measuring device under pressure system

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5788311A (en) * 1980-11-21 1982-06-02 Fujita Corp Level measuring device under pressure system

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