JPS5928677A - エ−ジング試験システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は各種電気製品あるいは、その一部構成品に関
して、初期故障の除去等を目的として実施されるエージ
ング試験のために匣用され、これらの被試験物（以下Ｕ
ＵＴと記す）に対して、規定の負荷全接続し、規定の入
力電源及び入力信号（以下両者を合せて入力と記す）を
供給して、温度ストレスを加えつつ、その桶々の出力特
性全試験するための各機構を有するエージング試験シス
テム（以下単にシステムと記す）に関するものである。

従来のとの種装置として、第１図に示すものがあった。

図において、は）は恒温槽、（２）はエージング制御装
置、　＋３１Ｕテストキヤピテイ（以下単にキャピテイ
と記す）、＋４１はＵＵＴであシ、（５）はＵ　Ｕ　Ｔ
　（４］へ入力を供給する入力装置、（６）はｕｕＴｉ
４１への入力の供給を、スイッチ１２々を介して制御す
る入力制御回路。

（７）は負荷装置、（８）ばＵＵＴ出力の測定器、（９
）は試験規格に従って、　　ＵＵＴ出力の許容値範囲を
設定する規格値設定回路、　ｔｌｏｌは測定器（８）か
ら得られるＯＵＴ出力の測定値と、規格値設定回路（９
）で設定した規格値とを比較し、その良否を４！ＩＪ足
し、その結果を出力するＵＵＴ不具合検知回路である。

また（Ｉｌｌはエージング試験の最も基本的なプロフィ
ール全出力するサイクル発生装置、　（１２１はサイク
ル発生装置ＩＩＩＪと相まって９時々刻々のキャピテイ
内温度の目標値全出力する温度スロープ発生装置、αＪ
Ｉ／′ｉ加熱機。

（１４１は冷却機、ｕ５）はキャビティ内への送風温度
全。

加熱ｍ（１３１，冷却機（］４１を介して制御する温度
制御装置、　（１６］は送風機、（１ηにキャピテイ内
温度全検出する温度センサー、ｑ印はキャピテイ内の温
度全測定する温度測定器、Ｇ９）はキャビティ内温度の
許容範囲全設定するための温度許容値設定回路、ｃ！Ｉ
ｌｌは温度測定器Ｕ印から得られるキャビティ内温度測
定値と、温度許容値設定回路ＩＩ唄で設定したその許容
範囲と全比較し、その良否を判定し、その結果全出力す
る温度不具合検知回路である。［２１１は不具合が発生
した場合、送風系機器への電源の供給をスイッチ（ハ）
を介してしゃ断し、キャビティ（３）内への送風全停止
させる送風機器電源制御回路であるらまたの及び凶）は
スイッチであシ、＠に電源である。

次に動作について説明する。以下にこの発明に係るもの
として、試験項目にＯＵＴ＋４１の出力電圧全例にとり
説明する。

−Ｊ−１図に示すようにシステムにおいては、前記ｉ５
）、　＋６）、＋７）、＋８１．　［９１，００＋、　
ａ）装置類力らａるｕｕＴ＋ａの可動ルーフと、前記１
ａ１．　＋１２１．　（１３１，（＋４１．　（１５１
，（１６１゜＋１７１．　ＩＪ肌口９．（支）ｉ、　Ｃ
ＩＪ、（ハ）の装置類から成るキャビティ内温度の制（
財）ループとは、ｆイクル発生装置において制御の同期
が取られることと、不具合発生時に相互に保護回路金働
かせて、システム丑びにＵＵＴ＋４１全保護し合うこと
を除き独立している。

まずｕＵＴＩ４）の可動ループに関して説明すると。

入力機器（５）において作られたＵＵＴｉ４１への入力
電源並びに低周技信号は、入力の供給金人切するために
入力制御回路（６）によ多制御されるスイッチ−々全弁
して、キャビティ（３）内のＵ　Ｕ　Ｔｉ４１へ印加さ
れる。

ＵＵＴ１４１の出力は負荷装置（７）において消費され
るとともに測定器（８）で計測される。ＯＵＴ　　不具
合倹昶回路側は測定器（８）で得られた計測値と、規格
値設定回路（９）において予め設定されている規格値と
全比較して、　　ＵＵＴ［４Ｊに２ける不具合の兄生を
常時監視してｌ／＞６゜ 次に・　キャビティ（３）内の温贋制師ループについて
説明すると、サイクル発生装置［１１１並びに＠度スロ
ープ発生装置ｕカによシ作らｔ′した時々刻々のキャビ
ティ内温度の目標値が、温度制御装置ｔ１５１へ加えら
れる。温度制御装置ｌ１５Ｉはこの目標値に対して冷却
機０４１．加熱磯口３）に作用し、送風機［１６１から
キャビティ（３）並びにその中のＵＵＴ　　ｉ４１へ送
られる風の温度全判＠）する。キャビティ（３）内の温
度は温度センサー（１７１を介して温度制御装置σ５）
ヘフィードバックされ、これによりキャビティ内温度の
制御性を高めている。又、温度不具合検知回路（２＋１
は、温度センサー（１ηを介して温度測定器卵によシ計
測されたキャビティ内温度と、温度許容値設定回路０９
）において予め設定されたその許容範囲と全比較し、キ
ャビティ内温度に関する不具合の発生を常時監視してい
る。

最後に、不具合発生時のＵ　Ｕ　Ｔｉ４１並びにシステ
ムの保護７−ケンスについて説明する。Ｕ　Ｕ　Ｔｌ４
１の出力あるいはキャピテイ内温度に関して不具合が発
生すると、　　ＯＵＴ不具合検知回路００）及び温度不
具合検知回路痴においてこれを検知し、入力制御部回路
（６）Ｋ作用してＵＵＴ（４１への入力の供給全しゃ断
するとともに、送風ポ機器成源制両回路１２ＩＪにも作
用し。

、ｒ、　イｙ　ｆ’２３に介シテ、前記（１２＋、　（
１３１，０４１，ｆ１５１．　（ＩｆｉＦ）各機器への
電源の供給をしゃ断する。

この様に構成されている従来のシステムにおいてはエー
ジング試験実施中、何らかの不具合が発生した場合、　
　ＵＵＴｉ４）兼びにシステム全保護するために、　　
ＵＵＴｉ４１−＼の人力の供７＠全しゃ断し、且つキャ
ピテイ（３）及びＵＵＴ（４１への送風を止めることに
より、エージング試験全停止していた。しかしながら、
この棟のシステムにおいては、　　０ＵＴｔ４１自体に
起因する不良に対しては勿論、キャビティ内温度の不良
、あるいはＵＵＴｉ４１へ供給される入力の不良等の、
　　Ｕ　Ｕ　Ｔｉ４１に関する外的要因による不具合の
発生に対しても、無条件にエージング試験が停止される
欠点があった。−また予め定められた周期で定期的に、
試験者が０ＵＴ（４）の出力を読み取シ、記録しなけれ
ばならないものであった。

この発明け、これらの欠点を解消するためになされたも
ので、エージング試険実施中何らかの不具合が兄生じ、
これがＵ　Ｕ　Ｔ（４）に起因しない場合。

一旦エージング試雇−と中止し、これよ、９−２時間経
過後に、不良箇所金言めＵＵＴ１４）並びにシステム全
体の状態全チェックしてみて、これが正常であった場合
に（・ゴ、エージング試験全自動的に書間させることが
でき、また１発生した不具合に関する情報の記憶９及び
定期的に実施することが要求されているＵＵＴ＋４１の
出力情報の記１意、運びにこれらの情報の処理、Ｉ：Ｉ
］字を自動的に実施することができる７ステムを提供す
るものである。

以下第２図を用いて、この発明におけろその構成′ｆｒ
：説明する。図において、４ノはこの発明による自動制
御装置である。凶は記憶装置蓋でろフェージング試験に
必要なプログラム、発生した不具合に関する情報を記憶
する。＠は中央処理装置（Ｊ／Ｊ、下ＣＰＵと記す）で
記７意装置□□□との間でデータの授受を行なうと共に
、システムを構成する依？、器へ各棟の命令を出す。（
２８１ハ入出力インターフエースでＣＰＵ１刈と各棟人
出力装置間の中継を行なうものでりる。（ハ）はＡ／Ｄ
変像器であシｕｕ’ｒｍの入出力測定値並びにキャピテ
イ内温度の測定値を７ステム制師装置山からの制御部に
よシデジタル量に変換し。

ＣＰＵ（イ）へ出力する。田はシステム制御装置でＵＵ
Ｔ（４）又Ｖまシステムにおいて発生した不具合ｋｔ　
　ＣＰＵ（イ）へ通用し、またその不具合に対処するＣ
ＰＵ１ｌからの命令を受けてシステム全体へ各種の制御
信号を出力する。ｔａｉ＋　ｉ試験者が入出力インター
フェース■を介してＣＰＵ＠と会話するためのキーボー
ドである。ｆ３２１１−１ｔ工−ジング試験中発生した
不具合に関するデータ及びＵＵＴ出力計測値データ、あ
るいは試験者への各撞メツセージ全印字するためのブ９
ンターである。１３３１は上記不具合データ韮びにＯＵ
Ｔ　出力データ全表示するための表示器である。

（至）はタイマーであシ定期データ取シ等の時期全ＣＰ
Ｕ（イ）へ知らせるために、入出力インターフェース（
ハ）を介して、定期的にＷ！ｌｊ）込みをかけ心。他に
ついては第１図と同一あるいは同等である。ただし、測
定器（８ン及び規格値設定回路（９）並びにＵ　Ｕ　’
ｒ不具合検知回路υＯ）については各々、　　ＵＵＴｉ
４１へ供給される人力の測定と、これに関する規格値の
設定と。

この規格値に対する測定値の良否の判定及び結果の出力
と全追加する。

次にこの発明の芙施例による。エージング試験手順を、
第２図、第３図及び第４図を用いて説明する。ただし、
　　ＵＵＴ（４）は既にキャピテイ（３）内に置かれ、
入力全供給するためのケーブル等も接続済であ見せたン
ステム全構成する全ての機器には電源が供給されていて
、スタンバ・イ状悪にあるものとする。

まず、一度も不具合が発生せずエージング試験が完了し
た場合について説明すると、（Ａで記憶装置（渕に予め
記憶されている試験プログラム−２ＣＰＵ曽ヘロードし
、これに実行全格す。この結果ＣＰＵｃ？７）はキーボ
ード（３１Ｊからの試験者によるコマンドの入力待ち、
あるいはンスナム制御装置（３０）を介した不具合発生
時等の割ｐ込み待ちの状態となる。この状態でサイクル
発生装置全スタートさせることによシェ−ジング試験が
開始される。またこれと同期してサイクル発生装置０１
１から、ンステム制側］装置ｒｔ　ｔ；（Ｑｌ、入出力
インターフェース■を介してＣＰＵ的へスタート割シ込
みがかかシ、これ以後のタイマー図からＣＰＵ（４）へ
の割り込みが有効となる。なおＣＰＵの）はこの割シ込
みの回数を計数し、その１如よ予め定められた値に合致
するまでの時間々隔によシ、定期データ取シあるいｅま
エージング試験完了等へ時期金刈ることができる。エー
ジング試躾翔始後は（イ）、　（’７）、　（牝（２）
、プ）の繰シ返し動作に入シ。

（イノで定期データ取９の時期となった場合、（１）で
ＵしＴの出力電圧は測定器（８）によシ測定され、　ｋ
／Ｄ変換器でデジタル量に変換され、入出力インターフ
ェース（ハ）全弁してＣＰＵ（２）に読み込まれ、（７
）で予めだめられたフォーマットに従って処理され、　
Ｏｒ）で予め記憶装置□□□に記憶烙れ“Ｃいる試験者
へのメツセージと合せて、プリンター＜３２１上に印字
される。

こうしてエージング試験が実施され、　（ｆＡにおいて
エージング試験が兄ｒとなった場合、（コツでＣＰＵ的
からの命令によシ、システム制御装置（４））は人力制
御回路（６）を制（財）してスイッチ、２３１全ＯＦＦ
にし、ＵＵｌ（４）への入力の供給をし中断して、（力
で送風系機器電源制御回路２ＪＪ全制御してスイッチ［
有］全ＯＦＦにし。

送風系機器への電源の供給をしゃ断して、　　ＵＵＴ（
４１並びにキャビティ（３）への送風を止める。以上に
よシェージング試験は完了となる。

次にエージング試ｊ検実施中に何らかの不具合が発生し
た場合のこれに対する処理について説明する。

まず、　ＵＵＴ１４１　　の出力において不良が発生し
た場合について説明すると、第３図においては（２）か
ら（匂へ分岐する。

（匂でＯＵＴ出力か不良であった場合、（ソノでＵＵＴ
ｉ４！への入力を測定器（８）によシ測定し、−ノでＵ
ＵＴ不具合検知回路において規格値と比較する。この結
果（７）で入力不良ではなかった場合、ＵＵＴｉ４Ｊの
不良と判断し、エージング試験中断ルーテン（ホ）、（
丸（ミン。

（ム）、し）へ分岐し、（ホ）で（コ）と同様に入力の
供給全しゃ断し、（ツで（切と同様に送風を停止し、（
′１５でエージング試験開始以来、これすでに発生した
不具合に関する情＠７．ＣＰＵ弼中の主起１．ｌ￥部か
ら、予めＵＵＴ（４＋　ごとに確保された記憶装置（２
６）内の領域へ一括して転送し、（ム）でエージング試
験を中断するととになった直接の原因である不具合情報
を予め定められたフォーマットに従って処理し、（７）
でこれ全プリンター１３２１上に印字し、エージング試
験全中断する。しかしながら、もしく７）において入力
が不良であった場合には、（ツ）から始まる入力不良処
理ルーチンへ分岐し、（巧でＵＵＴ＋４１の不良データ
ヲ含む全ての前記入出力データ、並びにキャビティ内温
度データがＡ／Ｄ変換器■、入出力インターフェース□
□□）を経てＣＰＵ　　＠に読み込まれ、（２）、（ト
）でレフ、（句と同様に処理され、プリンター（３２１
上に印字される。なお不具合データに関して１ｃＰＵ＠
内の主記憶部にそのまま記憶されていて、エージング試
験完了後（す、に）において、（ミ）と同様に記憶装置
□□□）へ転送され、記憶される。次に（力で（コ）と
同様に入力の供給全しゃ断し、に）でサイクル発生装置
［１１と温度スロープ発生装置（ｏ、と全ホールドさせ
て。

キャピテイ（３）内の温度を、その目標値に関して保持
する。ここまでが不具合の発生に対応して、ンステム並
びにＵＵＴｔ４１’を保護するための処理である。

次に自動復帰の処理について説明するが、その概要け、
不具合発生から１０分間々隔で最高３回即ち３０分後ま
で不具合の状況全モニターし、この間に不具合が消滅し
た場合にぼエージング試験全自動的に再開させるもので
ある。１ず（省で無条件に１０分間待ちの状態となり、
レフでシステム制御装置（ＪはＣＰＵ（２７）からの命
令によりＯＵＴ　　不具合検知回路（１０）並びに温度
不具合検知回路囚の働きを無効にしつつ、入力制御回路
（６）全制御してスイッチ＠ｆＯＮにし、　　ＵＵＴｉ
４１への入力の供給全再開させる。次にＯＵＴ不具合検
知回路叫並びに温度不具合検知回路（４）〕の働き全復
帰させ、　（／ｉ、　（ヒ）、（功で測定器（８）によ
シＵＵＴ（４１の出力電圧を測定し、良否の判定を行な
い、もし良となった場都には、（へ）でキイクル発生装
置（１］Ｊ運びに温度スロープ発生装置（１２１に作用
して。

キャピテイ（３）内の温度スロープ全復帰させ、その後
正常時のエージング試験ルーチン（イ葱ユら（カへ分岐
する。また、もし否となった場合にｉ−ｔ、発生した不
具合が消滅するまで１図、（ト）、（ト）、（７）、に
）。

休〕、（２）、シフ、←９．（ヒ］、（巧の繰シ返し動
作に込る。

しかしながら、もしく−５＋）において不具合発生から
３０分経過後も不具合が消滅しなかった場合、１１″１
Ｊ４ｃエージング試験の中断ルーチンＴ−ｎ、　（Ｓ’
）、　（ム）、し）へ分岐し、エージング試験は停止さ
れる。

最後にエージング試験実施中にキャビティ内温度が不良
となった場合について説明するが、その処理方法は前記
ＯＵＴ　　出力において不具合が発生し′ｆＩ：、場合
と殆ど同じである。異なる点を上げると３点あり、まず
第１点は単なるキャビティ内温度の制御不良によるエー
ジング試験の中Ｅｌｊｒｋ防止するために＊、　ＣＰＵ
助はシステム制御装置Ｌ；（０１、入出力インターフェ
ースｑを経て、不具合検知回路（イ）ｊからキャビティ
内温度不艮にょる割シ込みを受けた場合、ただちに不具
合発生と−ｆ（Ｉ断するのではなく。

これよシ（ト）で１分間峙ちの状態になり、その後（づ
で再度キャピテイ内＠度をチェックし、もしくニ）。

（シフにおいて正常であれば、そのままエージング試験
を続行する。しかし、もしも再チェックの結果も同様に
否であった場合には、不具合発生と−ＴＩＩ断　″し、
一連の不具合処理ルーチン（刃か奴〃ト分岐する。第２
点ロー（ソ）、（イ）、（７）におけるＵＵＴ（４１へ
供給される入力のチェックを実施しないことである。

第３魚目に、自動復帰の処理において、不具合発生時か
ら、１０分間々隔で繰シ返し実施される不具合状態のチ
ェユクを実施するとき、　　ＵＵＴ＋４１への入力の供
給はじゃ…■した才まであシ、４チェックの結果が良と
なった場合に始めて、入力制御回路（６）全制御してス
イッチ＆２）’ｋＯＮにすることによシ。

０ＵＴｔ４１への入力の供−Ｉ＠全　　において再開す
ることである。他については、　（５）、　ｆ辺、（）
ＩＪ、　（−、（吻、（ワノ、（ｙ）が図、　（７″）
、（ト）、（刀、に）、（ヌｊ、けりに、（巧、（アθ
（イイ）（クク）が（ハ）、　（ヒ１．（巧、　←りに
、　　（メオ）、（力カ〕、（キ午）。

ρり）が（舅。（ミ］、（ムラ。レフに各々相当する。

なお以上Ｖｉ破試験物に関する試験項目として出力′亀
圧全例にとり説明したが、この発明にこれに限らず被試
験物に関して最も適当なもの全適用して良い。寸た不具
合発生によシェージング試験を一旦中止した後、被試験
物及びシステムの状態金再チェックする才での待ち時間
、韮びにこの再チェックの許容回数け、そ瓦ぞれ１０分
及び１分、あるいは３圓と規定したが、この発明はこれ
に限らず個々のシステム及び被試験物に合せて適当な数
値金運んで良い。

以上の構成及び動作についての説明において判るように
、この発明によれば、システムは自動復帰機構を付加し
たことによ汎　エージング試験実施中に発生した被試験
物に関して外的要因による軽微な不良に対して中止され
ることがなくなる利点を有する。またエージング試験に
おいて、定期的に実施することが要求されている被試験
物の出力信号の測定、記録、及び印字、並びにこの間に
発圧した不具合に関するデータの記録、及び印字が全て
自動的に実施されるために測定誤シや記録誤シがなくな
る利点もある。さらには不具合データに関しては、この
システムによシ検出された全ての不具合に対するデータ
が、被試験物別に記憶装置に記憶されておシ、キーボー
ドから所定のコマンドを入力することによシ、これ全簡
単に且つ極めて短時間に得ることができる。

【図面の簡単な説明】

オ１図は従来のエージング試験システムを示す図、１・
２図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第３図お
よび第４図はこの発明の一実施例におけるエージング試
験手順の流れ図である。図中。 山は恒温槽、（２）はエージング制御装置、（３）はテ
ストキャピテイ、（４）は被試験物、（５）は入力機器
、（６）は入力制御回路、（７）は負荷装置、（８１は
測距器、（９ｊは規格値設定回路、　ｔｌＯ＋はＯＵＴ
不具合検知回路、σ］Ｊはザイクル発生装置０口２）は
温度スロープ発生装置。 １１３１　Ｕ加熱機、ｕ４Ｉｉ冷却ｉｔ　ｕ５１Ｕ温度
制御装置、　［６１は送風機、１１ηＶｉ温度センサー
、ｕ８）は温度測定器。 ０９）は温度許容値設定回路、（イ））は温度不具合横
用回路、　１２］Ｊは送風系機器電源制御回路、の及び
（ハ）はスイッチ、（至）は電源、　１２５＋は自動動
御装置、凶は記憶装置、啼は中央処理装置、公）に入出
力インターフェース、　［２９１はＡ／Ｄ変換器、１刻
はシステム制御装置、　ｔ３１１げキーボード、国はプ
リンター、０３１は表示器、　ｔ３４）はタイマーであ
る。 なお１図中、同一あるいは相当部分には同一符号を付し
て示しである。 第２図 第３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 は）各ａ電気製品あるいは、その一部構成品のエージン
   グ試験に使用され、これらの被試験物に。 負荷全接続する負荷装置と、入力電源及び入力信号を供
   給する入力装置と、温度ストレスをガロえるために外部
   から温度制御をすることが可能な空間金有し、この空間
   部の温度全検出する温度センサーヲ有する恒温槽と、前
   記入力信号入力電源及びとの被試験物の出力信号あるい
   は前記温度センサーの出力信号全測定する測定器と、前
   記各被測定信号に対する許容範囲全設定する設定回路と
   、前記設定値と前記測定値とを各々比較しその良否全判
   定し、その結果に応じてｐｆｒ定の出力信号を出す不具
   合検知回路と、これらの装置類に対する谷撞制帥保獲回
   路とによシ構成されるエージング試験システムにおいて
   、エージング試験実施中に前記不具合検知回路の出力信
   号により何らかの不具合の発生が検知され、この不具合
   が被試験物に起因しないものであった場合、制御保護回
   路を働かせて前記入力信号及び入力電源の供給をしゃヵ
   ｒＬ。 且つ前記恒＠摺内空間部の温度をその目標値に関して保
   持することによシ、一旦エージング試験を中止し、とれ
   よシ一定時間Ｍ過後に、前記不具合検知回路の働きを無
   効ドしつつ前記入力信号及び入力電源の供給を再開させ
   １次に前記不具合検知回路の働き全復帰させて不具合の
   発生を再度監視させ、これが正常な場合には前記恒温槽
   内空間部の＠度特性全復帰させる等の処置をしてエージ
   ング試験を自動的に再開させ、再度不具合か発生した場
   合にはこの不具合が消滅するまで前記エージング試験の
   一時停止処理を繰シ返し実施し、そしてとの繰夛返し回
   数が予め定められた回数に達した場合にはエージング試
   験続行不可能とｆ（Ｉｌ＃ｒＬ。 これを中止するように構成した自動復帰機構を付加した
   こと全特徴とするエージング試験システム。 １２）エージング試験に必要なプログラム及び各種測定
   データあるいは試験者へのメッセージヲ汀ピ憶する記憶
   装置と、この記憶装置との間でデータの授受を行なうと
   共にこのエージング試験システム全構成する機器へ各種
   の命令を出す中央処理装置と、測定器から得られた各種
   測定データをデジタル緻に変換し前記中央処理装置へ出
   力するＡ／Ｄ変換器と、定期データ取シ等の時期を前記
   中央処理装置に知らせるタイマーと、各種測定データあ
   るいは試験者へのメツセージ全印字するプリンターと全
   備え、エージング試験実施中に発生した不良に関する情
   報の読み取り、及び予め定められた周期で定期的に実施
   する被試験物出力信号の読み取シ、並びにこれらの情報
   の処理、記憶、及び印字全自動的に行なうことができる
   ようにしたことを特徴とする特許請求の範囲オｉ１１項
   記載のエージング試験システム。