JPS593254A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPS593254A JPS593254A JP57110759A JP11075982A JPS593254A JP S593254 A JPS593254 A JP S593254A JP 57110759 A JP57110759 A JP 57110759A JP 11075982 A JP11075982 A JP 11075982A JP S593254 A JPS593254 A JP S593254A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/36—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/38—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor by time filtering, e.g. using time gates
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、超音波探傷装置、特にＡスコープ表示のだめ
のゲート範囲の設定を適切に設定可能にしてなる超音波
探傷装置に関する。
のゲート範囲の設定を適切に設定可能にしてなる超音波
探傷装置に関する。
パルス法による超音波探傷は、取扱いが簡便である等の
長所を有しておシ、鋼材中に存在する欠陥等の探知等に
広く用いられている。
長所を有しておシ、鋼材中に存在する欠陥等の探知等に
広く用いられている。
以下で、鋼材中に存在する欠陥検出方法を説明する。
第１図で、被検査体（鋼材）１２中には、反射体（例え
ば、欠陥）２０．２１が存在している。
ば、欠陥）２０．２１が存在している。
鋼材１２の表面には探触子１１がおかれる。この探触子
１１は、鋼材の表面を長さ方向であるＸ方向を固定しな
がらその巾方向であるＸ方向に移動し、各探傷位置毎に
超音波を放射し、且つその反射波を受信する。同様に、
Ｘ方向位置を次々に変更しながら、Ｘ方向での探傷を行
う。この探触子１１の送受波制御は、送受波回路１０が
行う。
１１は、鋼材の表面を長さ方向であるＸ方向を固定しな
がらその巾方向であるＸ方向に移動し、各探傷位置毎に
超音波を放射し、且つその反射波を受信する。同様に、
Ｘ方向位置を次々に変更しながら、Ｘ方向での探傷を行
う。この探触子１１の送受波制御は、送受波回路１０が
行う。
探触子１１の移動、即ち、走査の様子を第２図に示す。
探触子１１は、走査ラインＬｌ、Ｌ２゜・・・・・・Ｌ
、、Ｌ１２．１．・・・・・・上に所定間隔で定められ
た送受波位置で被検査体１２に向けて超音波パルスビー
ムを送波し、被検査体１２に存在する反射体２０．２１
からの反射パルスビームを受波することができる。
、、Ｌ１２．１．・・・・・・上に所定間隔で定められ
た送受波位置で被検査体１２に向けて超音波パルスビー
ムを送波し、被検査体１２に存在する反射体２０．２１
からの反射パルスビームを受波することができる。
本例では被検査体１２の肉厚が階段状のものであるとし
、第１図、第２図に示すようにその幅方向をｙ方向、長
さ方向をＸ方向、厚み方向を２方向と定めるものとする
。
、第１図、第２図に示すようにその幅方向をｙ方向、長
さ方向をＸ方向、厚み方向を２方向と定めるものとする
。
第１図に示されるように超音波パルスビームは探触子１
１から被検査体１２に向けて屈折角θで送波される。被
検査体１２内に存在する反射体２０．２１を検出するた
めに、探触子１１は第２図の走査ラインＬに沿って移動
しながら各走査ライン上に所定間隔で定められた各送受
波位置で超音波ビームの送受波を行なう。このとき、送
受液位１ｆＵ１では屈折角θと肉厚ｈｌからＡスコープ
上のゲート範囲はｇ！となシ、探触子１１に受波された
反射パルスは第＋３図示されるようになる１又、送受波
位置Ｕ２では肉厚がｈ２であるのでＡスコープ上のゲー
ト範囲はｇ２となり、探触子１１に受波された反射パル
スは第４図に示されるようになる。
１から被検査体１２に向けて屈折角θで送波される。被
検査体１２内に存在する反射体２０．２１を検出するた
めに、探触子１１は第２図の走査ラインＬに沿って移動
しながら各走査ライン上に所定間隔で定められた各送受
波位置で超音波ビームの送受波を行なう。このとき、送
受液位１ｆＵ１では屈折角θと肉厚ｈｌからＡスコープ
上のゲート範囲はｇ！となシ、探触子１１に受波された
反射パルスは第＋３図示されるようになる１又、送受波
位置Ｕ２では肉厚がｈ２であるのでＡスコープ上のゲー
ト範囲はｇ２となり、探触子１１に受波された反射パル
スは第４図に示されるようになる。
同、第３図、第４図で、Ｔが送信パルスであり、ｔｌｌ
〜ｔ１４．ｔ２１〜１２３が反射波応答時間、Ｒ１１〜
Ｒ１４，Ｒ２１〜Ｒ，２３が受信波信号、ＰＩ３．ＰＩ
３が受信波信号のピーク値（波高呟）を示す。更に、第
３図での、受信波信号Ｒ１１，Ｒ，１２は探触子近傍の
不感帯領域でのノイズを示す。
〜ｔ１４．ｔ２１〜１２３が反射波応答時間、Ｒ１１〜
Ｒ１４，Ｒ２１〜Ｒ，２３が受信波信号、ＰＩ３．ＰＩ
３が受信波信号のピーク値（波高呟）を示す。更に、第
３図での、受信波信号Ｒ１１，Ｒ，１２は探触子近傍の
不感帯領域でのノイズを示す。
本例では第３図の波形はＡスコープに表示され、この表
示によって反則体２０に関する情報、例えばその位置及
び大きさを以下のように求めることができる。
示によって反則体２０に関する情報、例えばその位置及
び大きさを以下のように求めることができる。
即ち、Ａスコープの表示画面な探触子１１の繰り返し移
動を行ないながら観察し、その時の反射パルスＲの波高
値Ｐの変化の様子を観察する。この時、該波高値Ｐが最
大（第３図においてＲ１３）となると探触子１１は第１
図に示されるようにその中心ビームが反射体２０に照射
する送受波位置に位置するので、このときの位置Ｙ＋＋
伝播時間ｔ１ａから反射体２０が存在する座標が求めら
れ、また波高値Ｐ１３から被検査体２０の大きさが求め
られる。
動を行ないながら観察し、その時の反射パルスＲの波高
値Ｐの変化の様子を観察する。この時、該波高値Ｐが最
大（第３図においてＲ１３）となると探触子１１は第１
図に示されるようにその中心ビームが反射体２０に照射
する送受波位置に位置するので、このときの位置Ｙ＋＋
伝播時間ｔ１ａから反射体２０が存在する座標が求めら
れ、また波高値Ｐ１３から被検査体２０の大きさが求め
られる。
以上のように、従来方法によれば、被検査体１２に存在
する反射体２０．２１の位置及び大きさを知ることがで
きる。
する反射体２０．２１の位置及び大きさを知ることがで
きる。
しかしながら、従来では被検査体毎に厚みと屈折角を考
慮してＡスコープのゲート範囲を設定していた。これは
被検査体の底面や境界面からの反射パルスの受波を考慮
しているものであシ、屈折角が０°のときは特に注意を
要する。従って、同一走査ラインでろ９ながら厚みが変
わるたびにＡスコープのゲート範囲設定を行なわなけれ
ばならず探傷に長時間を要するという問題点があった。
慮してＡスコープのゲート範囲を設定していた。これは
被検査体の底面や境界面からの反射パルスの受波を考慮
しているものであシ、屈折角が０°のときは特に注意を
要する。従って、同一走査ラインでろ９ながら厚みが変
わるたびにＡスコープのゲート範囲設定を行なわなけれ
ばならず探傷に長時間を要するという問題点があった。
又、第５図に示されるようなノズルの場合は、例えば送
受液位ｔｉ Ｕ ｓのときは底面までのビーム路程長が
ｔ３であシ、送受波位置Ｕ４ 、Ｕｓのときはビーム路
程長が１４．１．というように全面にわたシビーム路程
長が異なってくるためＡスコープのゲート範囲設定が非
常に大変となる。さらに探触子特性的によるノイズを受
波した場合は複数のパルスがＡスコープ上に描かれるこ
とになり、反射パルスの波高値最大を探知することが困
難であった。このため従来では、繰り返して探触子を移
動させていずれの反射体によるものか見当をつけており
、被検査体に存在する反射体の正確な情報を得ることが
難しいこと及びそのため長時間を要した。
受液位ｔｉ Ｕ ｓのときは底面までのビーム路程長が
ｔ３であシ、送受波位置Ｕ４ 、Ｕｓのときはビーム路
程長が１４．１．というように全面にわたシビーム路程
長が異なってくるためＡスコープのゲート範囲設定が非
常に大変となる。さらに探触子特性的によるノイズを受
波した場合は複数のパルスがＡスコープ上に描かれるこ
とになり、反射パルスの波高値最大を探知することが困
難であった。このため従来では、繰り返して探触子を移
動させていずれの反射体によるものか見当をつけており
、被検査体に存在する反射体の正確な情報を得ることが
難しいこと及びそのため長時間を要した。
以上説明したように、従来の超音波探傷装置は、被検査
体の厚みが一様でない場合、ノイズ等が発生した場合は
反射体に関する情報を正確にかつ容易に求めることがで
きないという欠点があった。
体の厚みが一様でない場合、ノイズ等が発生した場合は
反射体に関する情報を正確にかつ容易に求めることがで
きないという欠点があった。
本発明の目的は、厚みが一様でない被検査体に存在する
反射体及びノイズ等が発生した場合であっても反射体に
関する情報を正確にかつ容易に求めることができる超音
波探傷装置を提供することにある。
反射体及びノイズ等が発生した場合であっても反射体に
関する情報を正確にかつ容易に求めることができる超音
波探傷装置を提供することにある。
本発明の要旨は、被検査体の厚みと、その厚みの存在す
る位置と、反射エコー許容路程長（有効ビーム路程長）
とをソフトゲート情報としてバッファメモリに格納させ
ておき、実際の探傷時の送受波位置から上記バッファメ
モリ内のソフトゲート情報を読出し、反射体位置の評定
を自動的に行いＡスコープゲート範囲の自動設定を行っ
てなる点にある。
る位置と、反射エコー許容路程長（有効ビーム路程長）
とをソフトゲート情報としてバッファメモリに格納させ
ておき、実際の探傷時の送受波位置から上記バッファメ
モリ内のソフトゲート情報を読出し、反射体位置の評定
を自動的に行いＡスコープゲート範囲の自動設定を行っ
てなる点にある。
以下、図面により本発萌を詳述する。
第６図は本発明の超音波探傷装置の実施例を示す図であ
る。被検査体１２上の探触子１１は、図示しない走査駆
動系によってＸｓ Ｙ方向を互いに特定しながら移動す
る。送受波回路１０は、探触子１１での超音発生制ＸＩ
（Ｔ）及び、探触子１１で受波した受波信号の受信（）
１）とを行う。尚、一般には、Ｔは超音波パルスビーム
であり、Ｒは反射パルスビームである。送受波回路１０
は、反射パルスビームを検波する。ディジタル化回路１
４は、検波出力をディジタル信号に変換する。
る。被検査体１２上の探触子１１は、図示しない走査駆
動系によってＸｓ Ｙ方向を互いに特定しながら移動す
る。送受波回路１０は、探触子１１での超音発生制ＸＩ
（Ｔ）及び、探触子１１で受波した受波信号の受信（）
１）とを行う。尚、一般には、Ｔは超音波パルスビーム
であり、Ｒは反射パルスビームである。送受波回路１０
は、反射パルスビームを検波する。ディジタル化回路１
４は、検波出力をディジタル信号に変換する。
バッファメモリ１５は、ディジタル化回路１４及び位置
検出器１３の出力及び超音波屈折角θ。
検出器１３の出力及び超音波屈折角θ。
超音波ビームの伝播速度■、被被検体体厚みに応じたソ
フトゲート情報Ｓｆとを記憶する。バッファ内に格納す
るデータの中で、ソフトゲート情報Ｓ、は、実際の探傷
に先立って格納される。屈折角θ、及び伝播速度■は、
実際の探傷に先立って格納してもよく、或いは実際の探
傷中に検知してオンラインで格納させてもよい。
フトゲート情報Ｓｆとを記憶する。バッファ内に格納す
るデータの中で、ソフトゲート情報Ｓ、は、実際の探傷
に先立って格納される。屈折角θ、及び伝播速度■は、
実際の探傷に先立って格納してもよく、或いは実際の探
傷中に検知してオンラインで格納させてもよい。
プロセッサ１６は、バッファメモリ１５内の格納データ
を選択的に取込み、反射体位置の自動的な評定及びゲー
ト範囲の自動設定を行う。表示装置１７は、プロセッサ
の演算結果を取込み、その画面上にＡスフ−１表示を行
う。
を選択的に取込み、反射体位置の自動的な評定及びゲー
ト範囲の自動設定を行う。表示装置１７は、プロセッサ
の演算結果を取込み、その画面上にＡスフ−１表示を行
う。
以下、バッファメモリ１５への位置情報ＸｓＹ等の格納
、ソフトゲート情報の内容、及びこれらニ基ツくプロセ
ッサ１６による処理について詳述する。
、ソフトゲート情報の内容、及びこれらニ基ツくプロセ
ッサ１６による処理について詳述する。
第７図に、ソフトゲート情報Ｓ１の格納状態を示す。第
７図（イ）で、Ｓ Ｇｌ 、 Ｓ Ｇ２ 、 ・−・−
・・、 ＳＧＮはソフトゲート情報領域を示し、それぞ
れ被検体のＸ、ｙの位置に応じたソフトゲート情報群よ
り成る。ソフトゲート情報領域ＳＧＩ、８Ｇ２の内容を
第７図（ロ）に示す。ソフトゲート情報領域ＳＧＩは、
先頭にソフトゲート情報Ｓｒｌを持ち、更に、該ソフト
ゲート情報Ｓ、ｌを持つ領域をＸ、ｌ、Ｘ、ｌ。
７図（イ）で、Ｓ Ｇｌ 、 Ｓ Ｇ２ 、 ・−・−
・・、 ＳＧＮはソフトゲート情報領域を示し、それぞ
れ被検体のＸ、ｙの位置に応じたソフトゲート情報群よ
り成る。ソフトゲート情報領域ＳＧＩ、８Ｇ２の内容を
第７図（ロ）に示す。ソフトゲート情報領域ＳＧＩは、
先頭にソフトゲート情報Ｓｒｌを持ち、更に、該ソフト
ゲート情報Ｓ、ｌを持つ領域をＸ、ｌ、Ｘ、ｌ。
Ｙ＠Ｉｌ’ｊ＊ｌで設定している。Ｘ、ｌ（Ｘ ＜ Ｘ
ｓ ｒ ＋及びｙｓ＋ ＜ ｙ ＜ ｙｅ、の時の（ｘ
、ｙ）がＳａｔを持つ領域となる。更に、８．１は、超
音波送信から反射波受信までの応答時間即ちビーム路程
１＠１＋ｔ、。
ｓ ｒ ＋及びｙｓ＋ ＜ ｙ ＜ ｙｅ、の時の（ｘ
、ｙ）がＳａｔを持つ領域となる。更に、８．１は、超
音波送信から反射波受信までの応答時間即ちビーム路程
１＠１＋ｔ、。
によっても決まる。ビーム路程ｔが１−＋ ＜ １ ＜
１．１であって、且つ上記位置関係をＸ、ｙが満足する
時に、対応するソフトゲート情報Ｓ□を特定できる。更
に、ｈｌはそのソフトゲート情報Ｓｇｌでの厚みを示す
。ビーム路程１．ｌ＊ １．、は基準ビーム路程範囲を
設定する値でもある。
１．１であって、且つ上記位置関係をＸ、ｙが満足する
時に、対応するソフトゲート情報Ｓ□を特定できる。更
に、ｈｌはそのソフトゲート情報Ｓｇｌでの厚みを示す
。ビーム路程１．ｌ＊ １．、は基準ビーム路程範囲を
設定する値でもある。
以上のことは、第７図（ロ）に示すソフトゲート情報領
域ＳＧ２についても同様に、位置Ｘ、２． Ｘ、２ 。
域ＳＧ２についても同様に、位置Ｘ、２． Ｘ、２ 。
ｙｅ２．Ｙ＠２、ビーム路程ｔ、２ＨＬ２とによってソ
フトゲート情報Ｓｔ２を特定している。他のＳＧについ
ても同様である。
フトゲート情報Ｓｔ２を特定している。他のＳＧについ
ても同様である。
第８図は、位置検出器１３．ディジタル化回路１４を介
して取込んでなるオンライン情報の格納状態を示す。第
８図（イ）は、各走査位置毎に形成される情報群であシ
、図では、走査位置（ｘ＋＋ ｙｔ）（９） 及び走査位Ｔｔ、 （ｘｌ＋ ｙ２）の一部の様子とが
示しである。
して取込んでなるオンライン情報の格納状態を示す。第
８図（イ）は、各走査位置毎に形成される情報群であシ
、図では、走査位置（ｘ＋＋ ｙｔ）（９） 及び走査位Ｔｔ、 （ｘｌ＋ ｙ２）の一部の様子とが
示しである。
探触子１１はマルチチャンネル方式を採用しており、３
チヤンネルを有するものとする。３チヤンネルとは、走
査位置直下の探傷を行うチャンネル（θ−００）、走査
位置より右方４５°の角度位置の探傷を行うチャンネル
（θ＝４５°）、走査位置より右方６０°の角度位置の
探傷を行うチャンネル（θ＝６０°）である。但し、第
８図では、θ＝＝０°、θ−４５°、θ＝６０°の代り
に、θ＝θｌ、θ＝θ２．θ−θ３と一般化している。
チヤンネルを有するものとする。３チヤンネルとは、走
査位置直下の探傷を行うチャンネル（θ−００）、走査
位置より右方４５°の角度位置の探傷を行うチャンネル
（θ＝４５°）、走査位置より右方６０°の角度位置の
探傷を行うチャンネル（θ＝６０°）である。但し、第
８図では、θ＝＝０°、θ−４５°、θ＝６０°の代り
に、θ＝θｌ、θ＝θ２．θ−θ３と一般化している。
更に、各チャンネル毎に、取込むべき受信波のエコー高
さＰ＋ 、Ｐｘ 、Ｐｇを設定し、このエコー高さを越
えたエコーのみを取込み格納させている。情報領域Ａ
Ｔｌ １ 、 Ａ Ｔ１２ 、 ＡＴＩｓは、エコー
高さよりも大きな値を持つエコーＡ及びその時のビーム
路程Ｔを格納する領域である。
さＰ＋ 、Ｐｘ 、Ｐｇを設定し、このエコー高さを越
えたエコーのみを取込み格納させている。情報領域Ａ
Ｔｌ １ 、 Ａ Ｔ１２ 、 ＡＴＩｓは、エコー
高さよりも大きな値を持つエコーＡ及びその時のビーム
路程Ｔを格納する領域である。
第８図６：Ｉ）は情報領域ＡＴＩＩの細部構成を示す。
４組のエコー及びビーム路程（Ａ１１ｌ Ｔｉｔ Ｌ
（ＡＩ２１Ｔ１２ Ｌ （Ａ＋ａ＋ ＴＩりｌ （
ＡＩ４１ Ｔｌ４）を取込み格（１０） 納している。従って、前述のエコー高さＰｌは、高いレ
ベルの４個のエコーを取込むための設定値である。この
ピーク高さの設定によって、ピーク高さ以下のレベルの
エコーの取込みを除去できる。
（ＡＩ２１Ｔ１２ Ｌ （Ａ＋ａ＋ ＴＩりｌ （
ＡＩ４１ Ｔｌ４）を取込み格（１０） 納している。従って、前述のエコー高さＰｌは、高いレ
ベルの４個のエコーを取込むための設定値である。この
ピーク高さの設定によって、ピーク高さ以下のレベルの
エコーの取込みを除去できる。
第８図（ハ）は情報Ａ Ｔ Ｉ ２の事例であシ、４組
のエコー及びその時のビーム路程を示している。
のエコー及びその時のビーム路程を示している。
以上の各種データの他に、超音波の伝播速度Ｖをデータ
として格納させている。伝播速度Ｖは、前記チャンネル
毎に異なることがあり、例えば、直下探傷では縦波速度
ＶＬ、傾斜方向の探傷では横波速度Ｖａを与える。更に
、被検体自身に材質の異なる部分が存在する時には、そ
れに応じて伝播速度Ｖの設定を行う。
として格納させている。伝播速度Ｖは、前記チャンネル
毎に異なることがあり、例えば、直下探傷では縦波速度
ＶＬ、傾斜方向の探傷では横波速度Ｖａを与える。更に
、被検体自身に材質の異なる部分が存在する時には、そ
れに応じて伝播速度Ｖの設定を行う。
第９図にプロセッサ１６を中心とする処理のフローチャ
ートを示す。
ートを示す。
探触子１１は第２図の始点（ＸＯｒ ｙｏ ）から終点
（Ｘｍ＋ｙ−）まで各走査ラインＬｒ ＋ Ｌ２ ＋・
・・・・・Ｌｌ＋Ｌｌ＋１＋・・・・・・に沿って移動
制御され、この移動時に各ラインＬ上の各送受波位置で
超音波ビームの送受波を行なう。これによシバツファメ
モ（１１） す１５に第８図に示す如きデータが形成される。
（Ｘｍ＋ｙ−）まで各走査ラインＬｒ ＋ Ｌ２ ＋・
・・・・・Ｌｌ＋Ｌｌ＋１＋・・・・・・に沿って移動
制御され、この移動時に各ラインＬ上の各送受波位置で
超音波ビームの送受波を行なう。これによシバツファメ
モ（１１） す１５に第８図に示す如きデータが形成される。
プロセッサ１６は、メモリ１５に記憶されている反射パ
ルス（エコー）から送受液位１ｔ（ｘ、ｙ）対応の情報
を読出す（フロー１ｏＯ）。更に第７図に示したソフト
ゲート情報群ＳＧＩ、ＳＧ２゜・・・・・・のテーブル
ＳＧをサーチする。ＳＧＩ→ＳＧ２→ＳＧ３→・・・・
・・とサーチしてゆき、探触子位置対応のＳＧＩを探し
出す（フロー１０１）。この該当するＳＧＩの探索は、
探触予信ｔｉｆｆｉｘ、 ｙに対して、 Ｘａ ＋ ＜ Ｘ＜ Ｘｅ ＋ ・旧・・・
・・（１）’ｊ ａ ｌ ＜ ｙ＜ Ｙ ＠ １
・旧旧・・（２）が成立つことが粂件となる。
ルス（エコー）から送受液位１ｔ（ｘ、ｙ）対応の情報
を読出す（フロー１ｏＯ）。更に第７図に示したソフト
ゲート情報群ＳＧＩ、ＳＧ２゜・・・・・・のテーブル
ＳＧをサーチする。ＳＧＩ→ＳＧ２→ＳＧ３→・・・・
・・とサーチしてゆき、探触子位置対応のＳＧＩを探し
出す（フロー１０１）。この該当するＳＧＩの探索は、
探触予信ｔｉｆｆｉｘ、 ｙに対して、 Ｘａ ＋ ＜ Ｘ＜ Ｘｅ ＋ ・旧・・・
・・（１）’ｊ ａ ｌ ＜ ｙ＜ Ｙ ＠ １
・旧旧・・（２）が成立つことが粂件となる。
次に、上記探触予信ｆｉｘ、ｙの該当するＳＧＩの中か
ら、ビーム路程（伝播時間）範囲であるＦ１＋Ｌ１を読
出し、Ｘ、ｙ位置での反射パルスのエコ一時間Ｔと比較
する。
ら、ビーム路程（伝播時間）範囲であるＦ１＋Ｌ１を読
出し、Ｘ、ｙ位置での反射パルスのエコ一時間Ｔと比較
する。
ｔ ＃ Ｉ ＜ Ｔ ＜ ｔ ＊ １ ・・
団・・・・（３）であれば、ビーム路程が該当範囲内で
あるとして、その時のＳＧＩのソフトゲート情報Ｓｇ＋
を読出ず（１２） （フロー１０２）。そして、該パルス情報は、反射体の
位置及び大きさの評定の対象としてメモリ１５に四込む
（フロー１０３）。フロー１０４では、パルス列Ｉモ１
の全パルスについてソフトゲート判定が行われたか否か
がチェックされ、完了してお；？’Ｌば、フロー１０５
でラインＬｌの全パルス列についてソフトゲートが行わ
れたかチェックされる。７０−１０６で全ラインについ
てのソフトゲート判定が完了していること全確認すると
、処理は終Ｔする。
団・・・・（３）であれば、ビーム路程が該当範囲内で
あるとして、その時のＳＧＩのソフトゲート情報Ｓｇ＋
を読出ず（１２） （フロー１０２）。そして、該パルス情報は、反射体の
位置及び大きさの評定の対象としてメモリ１５に四込む
（フロー１０３）。フロー１０４では、パルス列Ｉモ１
の全パルスについてソフトゲート判定が行われたか否か
がチェックされ、完了してお；？’Ｌば、フロー１０５
でラインＬｌの全パルス列についてソフトゲートが行わ
れたかチェックされる。７０−１０６で全ラインについ
てのソフトゲート判定が完了していること全確認すると
、処理は終Ｔする。
第１０１＊ｌ Ｉｔ：Ｋ、第９図の処理で得た反射パル
スの情報から反射体位置（ｘ、ｙ、ｚ）の算出を行う処
理である。先ず、フロー１０７で上記選択された該当反
射パルス情報を読出す。この該当反射パルス情報とは、
第８図に示した如き情報である。
スの情報から反射体位置（ｘ、ｙ、ｚ）の算出を行う処
理である。先ず、フロー１０７で上記選択された該当反
射パルス情報を読出す。この該当反射パルス情報とは、
第８図に示した如き情報である。
フロー１０８では、該当反射パルス情報から反射体位置
（Ｘ、Ｙ、Ｚ）を算出する。
（Ｘ、Ｙ、Ｚ）を算出する。
反射体位ｆｉｔ、（Ｘ、 Ｙ、 Ｚ）の算出は、例えば
、次のようになる。
、次のようになる。
Ｘ ＝ Ｘ ・・・・・・・・・
（４）（１３） Ｙ＝ｔｓｉｎθ十ｙ ・・・・・・・・・（５）
Ｚ＝ｔｃＯ！Ｉθ ・・・・旧・・（６）
ここで、Ｘ、ｙは探触子位置、θは屈折角、ｔはビーム
路程長である。但し、Ｚが該当ソフトゲート情報Ｓｇ＋
に設定されている被検査体の厚みり、よシも犬である時
は、 Ｚ ＝２８ｇ＋ （ｈ Ｉ ） Ｚ ・
・川−・・（力で与えられる。
（４）（１３） Ｙ＝ｔｓｉｎθ十ｙ ・・・・・・・・・（５）
Ｚ＝ｔｃＯ！Ｉθ ・・・・旧・・（６）
ここで、Ｘ、ｙは探触子位置、θは屈折角、ｔはビーム
路程長である。但し、Ｚが該当ソフトゲート情報Ｓｇ＋
に設定されている被検査体の厚みり、よシも犬である時
は、 Ｚ ＝２８ｇ＋ （ｈ Ｉ ） Ｚ ・
・川−・・（力で与えられる。
第１１図に探触子１１による２つの位置Ｕｌ。
Ｕ２での探傷の様子を示し、第１２図に２つの位置Ｕｌ
、Ｕ２でのＡクコ−１表示例を示す。但し、Ｕｌ、Ｕ２
での表示例を、図面の都合上同一時間軸で示しているが
、これはあくまで表示の便宜による。図で明らかな点は
、近傍点でのノイズｆＬｌｌ、Ｒ，１２を除去できたこ
と、ゲート情報Ｓｉｌ １８１２が適切に選択でき、Ａ
スコープ上での表示が適切であること、且つ所定のピー
ク以上のみのエコーを表示でき雑音が適切に除去できて
いること等である。更に、これらの総合結果として欠陥
等の検出が正確であることがわかる。
、Ｕ２でのＡクコ−１表示例を示す。但し、Ｕｌ、Ｕ２
での表示例を、図面の都合上同一時間軸で示しているが
、これはあくまで表示の便宜による。図で明らかな点は
、近傍点でのノイズｆＬｌｌ、Ｒ，１２を除去できたこ
と、ゲート情報Ｓｉｌ １８１２が適切に選択でき、Ａ
スコープ上での表示が適切であること、且つ所定のピー
ク以上のみのエコーを表示でき雑音が適切に除去できて
いること等である。更に、これらの総合結果として欠陥
等の検出が正確であることがわかる。
（１４）
以上の実施例によれば、Ａスコープ上でのゲート軛囲を
、探触子の位Ｉｔ、反射エコーの伝播時間とで特定でき
、且つ反射パルスの表示に対しても必要なパルスのみが
表示できる利点を持つ。
、探触子の位Ｉｔ、反射エコーの伝播時間とで特定でき
、且つ反射パルスの表示に対しても必要なパルスのみが
表示できる利点を持つ。
尚、第８図の情報テーブルは、−短の演算を前提とする
が、これはプロセッサ１６が行ってもよい。第１３図は
、かかる観点になる他の実施例をボす。送受信器１０１
位置検出器１３のアナログ清報を時分割でＡＤ変換器１
８が取込みＡ、Ｄ変換する。プロセッサ１９は、ＡＤ変
候器１８の出力を取込み、且つ別入力であるθ、Ｖ、Ｓ
、を取込与、バッファメモリ２０内に、第７図、第８図
の如＠六−プルを作成する。然る後、このテーブルをサ
ーチし、且つ演算処理することによって、対応する８ｇ
＋のサーチ、反射パルスの評定等の処理を行い、表示装
置（図示せず）に表示させる。
が、これはプロセッサ１６が行ってもよい。第１３図は
、かかる観点になる他の実施例をボす。送受信器１０１
位置検出器１３のアナログ清報を時分割でＡＤ変換器１
８が取込みＡ、Ｄ変換する。プロセッサ１９は、ＡＤ変
候器１８の出力を取込み、且つ別入力であるθ、Ｖ、Ｓ
、を取込与、バッファメモリ２０内に、第７図、第８図
の如＠六−プルを作成する。然る後、このテーブルをサ
ーチし、且つ演算処理することによって、対応する８ｇ
＋のサーチ、反射パルスの評定等の処理を行い、表示装
置（図示せず）に表示させる。
本笑施例では、プロセッサ１９今単独で第７図。
第８図のテーブルの編集ができ、且つこのテーブルに基
づき演算処理ができるので、処理上の一貫性を貫くこと
ができる。
づき演算処理ができるので、処理上の一貫性を貫くこと
ができる。
（１５）
以上説明したように、本発明によれば、厚みが一様でな
い被検査体においても同一のＡスコープゲート設定で探
傷を行なうことができ探傷時間が短縮できる。又、肉厚
の変化に応じてゲート設定が可能であるため反射体の位
置計算及び大きさの評定が正確にかつ容易に行うことが
できる。さらに、探傷中に発生したノイズに対しても除
去できるため、より正確な探傷を行なうことができる。
い被検査体においても同一のＡスコープゲート設定で探
傷を行なうことができ探傷時間が短縮できる。又、肉厚
の変化に応じてゲート設定が可能であるため反射体の位
置計算及び大きさの評定が正確にかつ容易に行うことが
できる。さらに、探傷中に発生したノイズに対しても除
去できるため、より正確な探傷を行なうことができる。
第１図は従来の超蛭波探傷の説明図、第２図はその走査
手順を示す図、第３図、第４図は反射波のタイムチャー
ト、第５図はノズルを被検体とする時の１兄四回、第６
図は本発明の実施例図、第７図（イ）、（ロ）、及び第
８図（イ）、（ロ）、（ハ）はメモリ内のテーブル図、
第９図、第１０図は処理のフローチャート、第１１図は
探傷説明図、第１２図は、Ａスコープ表示例図、第１３
図は他の実施例図である。 １０・・・送受信器、１１・・・探触子、１２・・・被
検体、１３・・・位置検出器、１４・・・ディジタル化
回路、１５・・・バッファメモリ、１６・・・プロセッ
サ、１７（１６） ・・・表示装［１゜ 代理人 弁理士 秋本正実 （１７） 茅ｌ 固 万 ＼ （χ牝ｊ？ｌ） 茅３ 目 茅４固 茅５目 ＄２ 目 ０ ３０４−一 茅７目 （イ２ （ロ） 第 ８ 目 （４） １口）
（／＼）ＡＴＩＩＡＴ１２ 特開昭５９−３２５４（７） 茅９目 茅１０目 ０ｇ ■
手順を示す図、第３図、第４図は反射波のタイムチャー
ト、第５図はノズルを被検体とする時の１兄四回、第６
図は本発明の実施例図、第７図（イ）、（ロ）、及び第
８図（イ）、（ロ）、（ハ）はメモリ内のテーブル図、
第９図、第１０図は処理のフローチャート、第１１図は
探傷説明図、第１２図は、Ａスコープ表示例図、第１３
図は他の実施例図である。 １０・・・送受信器、１１・・・探触子、１２・・・被
検体、１３・・・位置検出器、１４・・・ディジタル化
回路、１５・・・バッファメモリ、１６・・・プロセッ
サ、１７（１６） ・・・表示装［１゜ 代理人 弁理士 秋本正実 （１７） 茅ｌ 固 万 ＼ （χ牝ｊ？ｌ） 茅３ 目 茅４固 茅５目 ＄２ 目 ０ ３０４−一 茅７目 （イ２ （ロ） 第 ８ 目 （４） １口）
（／＼）ＡＴＩＩＡＴ１２ 特開昭５９−３２５４（７） 茅９目 茅１０目 ０ｇ ■
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、被検査体上を走査しながら移動する超音波探触子と
、該超音波探触子に超音波用パルスを送シ超音波を被検
査体中に送波させると共に探触子で検出された反射波を
受信する送受信器と、探触子の各走査位置毎にその位置
での反射エコー許容路程長範囲内での送受信器で受信し
た実際の反射エコーを選別し、且つ対応するゲート範囲
を選別するプロセッサと、該プロセッサでの選択された
反射エコーを上記選択されたゲート範囲に従ってＡスコ
ープ表示させる表示手段と、よシ成る超音波探傷装置。 ２、上記反射エコーの選別は、反射エコー許容路程長範
囲内の条件の他に反射エコー基準ビニク以上の条件のも
とに行ってなる特許請求の範囲第１項記載の超音波探傷
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57110759A JPS593254A (ja) | 1982-06-29 | 1982-06-29 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57110759A JPS593254A (ja) | 1982-06-29 | 1982-06-29 | 超音波探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS593254A true JPS593254A (ja) | 1984-01-09 |
| JPH0252217B2 JPH0252217B2 (ja) | 1990-11-09 |
Family
ID=14543839
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57110759A Granted JPS593254A (ja) | 1982-06-29 | 1982-06-29 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS593254A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02216050A (ja) * | 1989-02-16 | 1990-08-28 | Mitsubishi Electric Corp | 鋼板用超音波自動探傷装置 |
| JPH02227662A (ja) * | 1989-02-28 | 1990-09-10 | Mitsubishi Electric Corp | 鋼板用超音波自動探傷装置 |
| CN108459082A (zh) * | 2018-03-27 | 2018-08-28 | 润电能源科学技术有限公司 | 一种材料检测方法及材料检测装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR3068134B1 (fr) * | 2017-06-23 | 2021-01-08 | Vallourec Tubes France | Controle non destructif pour produit tubulaire a forme complexe |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5051384A (ja) * | 1973-09-05 | 1975-05-08 | ||
| JPS5057691A (ja) * | 1973-09-21 | 1975-05-20 |
-
1982
- 1982-06-29 JP JP57110759A patent/JPS593254A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5051384A (ja) * | 1973-09-05 | 1975-05-08 | ||
| JPS5057691A (ja) * | 1973-09-21 | 1975-05-20 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02216050A (ja) * | 1989-02-16 | 1990-08-28 | Mitsubishi Electric Corp | 鋼板用超音波自動探傷装置 |
| JPH02227662A (ja) * | 1989-02-28 | 1990-09-10 | Mitsubishi Electric Corp | 鋼板用超音波自動探傷装置 |
| CN108459082A (zh) * | 2018-03-27 | 2018-08-28 | 润电能源科学技术有限公司 | 一种材料检测方法及材料检测装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0252217B2 (ja) | 1990-11-09 |
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